| 例文 (999件) |
回路試験の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2047件
第１及び第２の端子に接続された２端子対の被試験回路の電気的特性を試験する試験回路に関する。例文帳に追加
The test circuit having first and second terminals tests the electrical characteristic of a circuit to be tested having a pair of two terminals connected to the first and the second terminals. - 特許庁
自己試験回路１０Ａ，１０Ｂは、試験制御回路２０によって交互に試験動作を行うように制御される。例文帳に追加
The self test circuits 10A, 10B are controlled so that test operation is performed alternately by a test control circuit 20. - 特許庁
複数の入力端子を備えたＬＳＩの試験を短時間かつ低コストで行うことができる回路試験装置および回路試験方法を提供する。例文帳に追加
To conduct a test of an LSI provided with a plurality of input terminals in a short time and at low cost. - 特許庁
試験制御装置２０は、ロット内の少なくとも１つの被試験回路をサンプルとして試験し、このサンプルに対する試験結果に基づいて、条件設定部１０により許可情報が設定された試験項目の、サンプル以外の被試験回路に対する試験を省略する。例文帳に追加
A test controlling device 20 performs a test while using at least one tested circuit in the lot as a sample, and on the basis of the result of the test on this sample, a test on a tested circuit other than the sample is omitted as to the test item for which the allowance information is set by the condition setting part 10. - 特許庁
電気回路に関する試験を行う小型の計器例文帳に追加
a small gauge used for testing an electric circuit - EDR日英対訳辞書
波形補正回路およびそれを用いた半導体試験装置例文帳に追加
WAVEFORM CORRECTION CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR TEST DEVICE USING THE SAME - 特許庁
半導体試験装置におけるドライバ波形生成回路例文帳に追加
DRIVER WAVEFORM GENERATION CIRCUIT IN SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE - 特許庁
流量計の試験用の流れシミュレーション用回路例文帳に追加
FLOW SIMULATING CIRCUIT FOR TESTING OF FLOWMETER - 特許庁
半導体試験装置におけるコンパレータ回路例文帳に追加
電圧印加回路およびそれを用いた半導体試験装置例文帳に追加
VOLTAGE APPLICATION CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS USING IT - 特許庁
半導体装置および半導体装置の回路試験方法例文帳に追加
SEMICONDUCTOR DEVICE AND CIRCUIT TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
半導体集積回路及びその試験方法例文帳に追加
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD - 特許庁
波形発生回路及び半導体試験装置例文帳に追加
WAVEFORM GENERATING CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE - 特許庁
半導体集積回路及び半導体試験装置例文帳に追加
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR- TESTING APPARATUS - 特許庁
半導体集積回路装置およびその試験方法例文帳に追加
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS TESTING PROCESS - 特許庁
半導体装置試験回路及び半導体装置例文帳に追加
SEMICONDUCTOR DEVICE TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
ドライバ回路及びそれを用いた半導体試験装置例文帳に追加
DRIVER CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS USING IT - 特許庁
半導体集積回路とその試験方法例文帳に追加
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD - 特許庁
半導体集積回路の試験方法及びＩＣテスタ例文帳に追加
TESTING METHOD AND IC TESTER OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
半導体試験装置のピンレジスタ回路例文帳に追加
PIN REGISTER CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS - 特許庁
半導体試験装置のタイミング信号発生回路例文帳に追加
TIMING SIGNAL GENERATING CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR TEST DEVICE - 特許庁
半導体集積回路の試験装置及びその管理方法例文帳に追加
TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS MAINTENANCE METHOD - 特許庁
半導体集積回路、およびその試験方法例文帳に追加
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TEST METHOD - 特許庁
半導体集積回路およびその試験方法例文帳に追加
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TEST METHOD - 特許庁
ボールグリッドアレイ集積回路装置の試験用ソケット例文帳に追加
電流電圧増幅回路および半導体試験装置例文帳に追加
CURRENT-VOLTAGE AMPLIFIER CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS - 特許庁
半導体集積回路及びその最大遅延試験定方法例文帳に追加
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND MAXIMUM DELAY TESTING METHOD - 特許庁
プローブカードおよび半導体集積回路の試験方法例文帳に追加
PROBE CARD AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
半導体メモリ試験装置のデータ転送回路例文帳に追加
DATA TRANSFER CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR MEMORY TESTING APPARATUS - 特許庁
コンパレータ回路およびそれを用いた試験装置例文帳に追加
COMPARATOR CIRCUIT AND TEST EQUIPMENT USING THE SAME - 特許庁
半導体試験装置用バイアス電源回路例文帳に追加
BIAS POWER CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE - 特許庁
混成信号集積回路用半導体試験システム例文帳に追加
SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM OF MIXED SIGNAL INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
アドレス変換回路および半導体メモリ試験装置例文帳に追加
ADDRESS CONVERSION CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR MEMORY TESTING DEVICE - 特許庁
半導体集積回路試験装置及び方法例文帳に追加
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING APPARATUS AND METHOD - 特許庁
データ転送回路および半導体試験装置例文帳に追加
DATA TRANSFER CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE - 特許庁
半導体集積回路装置及びその試験方法例文帳に追加
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS TEST METHOD - 特許庁
半導体集積回路の試験方法及びその装置例文帳に追加
TESTING METHOD AND DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
データ伝送装置、光電変換回路、及び試験装置例文帳に追加
DATA TRANSMISSION APPARATUS, PHOTOELECTRIC CONVERSION CIRCUIT, AND TEST APPARATUS - 特許庁
半導体試験装置における温度補正回路例文帳に追加
TEMPERATURE CORRECTING CIRCUIT IN SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE - 特許庁
半導体集積回路の試験方法および装置例文帳に追加
METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
単相三線式回路遮断器およびその試験方法例文帳に追加
SINGLE-PHASE THREE-WIRE TYPE CIRCUIT BREAKER AND ITS TESTING METHOD - 特許庁
半導体不揮発記憶回路及びその試験方法例文帳に追加
SEMICONDUCTOR NONVOLATILE STORAGE CIRCUIT AND TEST METHOD THEREOF - 特許庁
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