「回路試験」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

保護継電器ロジック回路試験装置例文帳に追加

PROTECTIVE RELAY LOGIC CIRCUIT TESTER - 特許庁

遅延回路、試験装置、コンデンサ例文帳に追加

DELAY CIRCUIT, TEST DEVICE, CAPACITOR - 特許庁

パターン発生回路及び試験装置例文帳に追加

PATTERN GENERATING CIRCUIT AND TEST DEVICE - 特許庁

測定回路及び試験装置例文帳に追加

MEASURING CIRCUIT AND TESTING DEVICE - 特許庁

集積回路試験装置及び方法例文帳に追加

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

メモリ試験回路及びプロセッサ例文帳に追加

MEMORY TEST CIRCUIT AND PROCESSOR - 特許庁

抵抗試験回路及び抵抗試験回路を備えたバッテリ充電器例文帳に追加

RESISTOR TESTING CIRCUIT AND BATTERY CHARGER INCLUDING RESISTOR TESTING CIRCUIT - 特許庁

半導体集積回路試験システム及び半導体集積回路試験方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST SYSTEM AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST METHOD - 特許庁

半導体集積回路、試験パターン生成方法、及び回路試験方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST PATTERN GENERATING METHOD, AND CIRCUIT TESTING METHOD - 特許庁

集積回路試験装置及び方法、並びに集積回路試験用プログラム例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT, AND PROGRAM FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

主回路検相試験装置および主回路検相試験方法例文帳に追加

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING MAIN CIRCUIT PHASE DETECTION - 特許庁

通信試験回路及び通信インタフェース回路並びに通信試験方法例文帳に追加

COMMUNICATION TEST CIRCUIT, COMMUNICATION INTERFACE CIRCUIT, AND COMMUNICATION TEST METHOD - 特許庁

電源制御集積回路装置の試験方法および試験回路例文帳に追加

TEST METHOD AND CIRCUIT FOR POWER SUPPLY CONTROL INTEGRATED CIRCUIT DEVICE - 特許庁

集積回路、集積回路の動作試験方法および動作試験プログラム例文帳に追加

INTEGRATED CIRCUIT, OPERATION TEST METHOD THEREFOR AND OPERATION TEST PROGRAM - 特許庁

半導体集積回路試験装置及び試験用ボード並びに半導体集積回路試験方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING APPARATUS, TESTING BOARD, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING METHOD - 特許庁

ラッチ回路およびラッチ回路を利用した試験回路例文帳に追加

LATCH CIRCUIT AND TEST CIRCUIT USING THE SAME - 特許庁

半導体回路、半導体回路特性監視方法、半導体回路試験方法、半導体回路試験装置及び半導体回路試験プログラム例文帳に追加

SEMICONDUCTOR CIRCUIT, SEMICONDUCTOR CIRCUIT CHARACTERISTICS MONITORING METHOD, SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING PROGRAM - 特許庁

半導体試験装置、半導体試験回路の接続装置および半導体試験方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, CONNECTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR TEST CIRCUIT, AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR - 特許庁

重み付けされた擬似ランダム試験パターンを用いた集積回路試験装置および試験方法例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT USING WEIGHTED PSEUDO-RANDOM TEST PATTERN - 特許庁

半導体デバイス、半導体デバイス試験ユニット及び半導体試験回路例文帳に追加

SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING UNIT, AND SEMICONDUCTOR TESTING CIRCUIT - 特許庁

半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験回路例文帳に追加

TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

半導体装置の試験用回路および試験方法並びに半導体チップ例文帳に追加

CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR CHIP - 特許庁

半導体集積回路、その試験装置、及びその試験方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS TESTING DEVICE AND ITS TEST METHOD - 特許庁

半導体試験回路、半導体記憶装置および半導体試験方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD - 特許庁

半導体集積回路及びその試験を行う試験システム例文帳に追加

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND SYSTEM FOR TESTING THE SAME - 特許庁

半導体試験装置及び半導体集積回路の試験方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

半導体試験装置および半導体集積回路の試験方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

半導体装置の試験を行うための回路及び半導体装置の試験装置例文帳に追加

CIRCUIT FOR PERFORMING TEST FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE TEST APPARATUS - 特許庁

半導体回路の試験方法および試験装置および半導体装置例文帳に追加

TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

半導体集積回路試験装置のソケット間相関試験方法例文帳に追加

METHOD OF TESTING CORRELATION BETWEEN SOCKETS OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTER - 特許庁

半導体集積回路装置の試験方法および試験プログラム例文帳に追加

TESTING METHOD AND TESTING PROGRAM OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE - 特許庁

半導体集積回路並びにその試験装置及び試験方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS TEST APPARATUS AND METHOD - 特許庁

半導体集積回路の試験システムおよびその試験方法例文帳に追加

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

半導体集積回路装置の試験方法および試験装置例文帳に追加

TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE - 特許庁

ＤＡ変換部の試験装置、試験方法、及び半導体集積回路装置例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR TESTING D/A CONVERTING PART AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE - 特許庁

半導体集積回路装置、その試験装置及び試験方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, TESTING DEVICE THEREFOR, AND TESTING METHOD - 特許庁

スキャン試験回路及びそれに用いるスキャン試験方式例文帳に追加

SCAN TEST CIRCUIT AND SCAN TEST METHOD USED FOR IT - 特許庁

メモリ誤り訂正・検出回路試験システムおよび試験方法例文帳に追加

MEMORY ERROR CORRECTION AND DETECTION CIRCUIT TEST SYSTEM AND TESTING METHOD - 特許庁

半導体集積回路試験装置及び試験パターン診断方法例文帳に追加

TEST APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST PATTERN DIAGNOSTIC METHOD - 特許庁

半導体集積回路の試験仲介システム及びその試験仲介方法例文帳に追加

TEST MEDIATING SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST MEDIATING METHOD FOR IT - 特許庁

半導体集積回路試験装置及びその試験結果操作方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE AND METHOD FOR OPERATING TEST RESULT THEREOF - 特許庁

多くのＤＵＴを同時に試験可能な半導体試験回路を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor testing circuit for simultaneously testing many DUTs. - 特許庁

プリント回路基板試験装置、プリント回路基板試験方法、プリント回路基板試験プログラム、プリント回路基板製造方法例文帳に追加

PRINTED CIRCUIT BOARD TESTING DEVICE, PRINTED CIRCUIT BOARD TESTING METHOD, PRINTED CIRCUIT BOARD TESTING PROGRAM, AND PRINTED CIRCUIT BOARD MANUFACTURING METHOD - 特許庁

半導体集積回路のストレス試験回路、及びこの回路を用いたストレス試験方法例文帳に追加

STRESS-TESTING CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND STRESS-TESTING METHOD USING THE STRESS-TESTING CIRCUIT - 特許庁

電荷検出回路の試験回路およびＬＳＩならびに電荷検出回路の試験方法例文帳に追加

TESTING CIRCUIT OF CHARGE DETECTOR, AND LSI AND METHOD FOR TESTING CHARGE DETECTOR - 特許庁