「回路試験」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

電圧均等化回路の試験方法及び装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING VOLTAGE EQUALIZER CIRCUIT - 特許庁

半導体集積回路装置の試験方法例文帳に追加

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE - 特許庁

直流レベルシフト回路、及び試験装置例文帳に追加

DC LEVEL SHIFT CIRCUIT, AND TESTING DEVICE - 特許庁

半導体集積回路装置、及び、遅延故障試験方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND DELAYED FAULT TESTING METHOD - 特許庁

ディジタル回路装置および半導体装置の試験方法例文帳に追加

DIGITAL CIRCUIT DEVICE, AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

試験回路および、半導体記憶装置例文帳に追加

TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE - 特許庁

集積回路試験装置及びアナログ波形測定方法例文帳に追加

INTEGRATED CIRCUIT TESTER AND METHOD OF MEASURING ANALOG WAVEFORM - 特許庁

シリアルインターフェイス回路及びその試験方法例文帳に追加

SERIAL INTERFACE CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD - 特許庁

半導体デバイス試験装置・ウォームアップ回路例文帳に追加

SEMICONDUCTOR DEVICE TESTER AND WARM-UP CIRCUIT - 特許庁

検出装置、アナログ変調回路、及び試験装置例文帳に追加

DETECTION DEVICE, ANALOG MODULATION CIRCUIT AND TESTING DEVICE - 特許庁

試験用コネクタを備えた電子回路ユニット例文帳に追加

ELECTRONIC CIRCUIT UNIT HAVING CONNECTOR FOR TESTING - 特許庁

リーク電流試験方法及び半導体集積回路例文帳に追加

METHOD FOR TESTING LEAK CURRENT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

半導体集積回路及び試験方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST METHOD - 特許庁

半導体試験装置のインタフェース回路例文帳に追加

INTERFACE CIRCUIT OF APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

半導体集積回路の試験方法及び装置例文帳に追加

TEST METHOD AND DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

半導体集積回路の試験装置および方法例文帳に追加

TEST DEVICE AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

デジタルパッド回路試験方法および装置例文帳に追加

DIGITAL PAD CIRCUIT TESTING METHOD AND DEVICE - 特許庁

インターポーザ、プローブカード及び回路試験装置例文帳に追加

INTERPOSER, PROBE CARD AND CIRCUIT TESTER - 特許庁

半導体電力変換装置の試験回路例文帳に追加

CIRCUIT FOR TESTING SEMICONDUCTOR POWER CONVERTER - 特許庁

マルチストローブ回路および試験装置例文帳に追加

MULTI-STROBE CIRCUIT AND TESTING DEVICE - 特許庁

半導体集積回路及び動作試験方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND OPERATION TEST METHOD - 特許庁

故障検出方法、試験回路及び半導体装置例文帳に追加

FAILURE DETECTION METHOD, TESTING CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

アクチュエータ駆動回路の試験装置例文帳に追加

TESTING DEVICE FOR ACTUATOR DRIVING CIRCUIT - 特許庁

電圧マージン試験回路及び劣化診断装置例文帳に追加

VOLTAGE MARGIN TEST CIRCUIT AND DETERIORATION DIAGNOSTIC DEVICE - 特許庁

半導体集積回路及びその試験手法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING THE SAME - 特許庁

ＥＣＣ回路の有効／無効切り替え機能を利用して、試験用の回路を追加することなく簡単にＥＣＣ回路の動作試験を行うことができるメモリ誤り訂正・検出回路試験システムおよび試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a memory error correction and detection circuit test system which utilizes the validity/invalidity switching function of an ECC circuit and simply performs an operation test of the ECC circuit without adding a circuit for test, and also to provide its testing method. - 特許庁

半導体試験装置のフェイルデータメモリ回路例文帳に追加

FAIL DATA MEMORY CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE - 特許庁

回路試験装置及びその運用方法例文帳に追加

CIRCUIT TESTING DEVICE AND ITS OPERATION METHOD - 特許庁

ウエハ上の回路を試験するシステム及び方法例文帳に追加

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING CIRCUIT ON WAFER - 特許庁

半導体集積回路のバーンイン試験装置例文帳に追加

BURN-IN TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

半導体集積回路のバーンイン試験方法例文帳に追加

BURN-IN TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

信号発生装置、試験装置、及びＰＬＬ回路例文帳に追加

SIGNAL GENERATING DEVICE, TESTING DEVICE, AND PLL CIRCUIT - 特許庁

ジッタ測定装置及び半導体集積回路試験装置例文帳に追加

JITTER MEASURING INSTRUMENT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE - 特許庁

半導体記憶回路装置及びその試験方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS TEST METHOD - 特許庁

電源安定化回路、電子デバイス、および、試験装置例文帳に追加

POWER SUPPLY STABILIZING CIRCUIT, ELECTRONIC DEVICE AND TESTING APPARATUS - 特許庁

ドライバ制御信号生成回路・ＩＣ試験装置例文帳に追加

DRIVER CONTROL SIGNAL GENERATING CIRCUIT AND IC TESTING DEVICE - 特許庁

試料用電源中継回路及び半導体試験装置例文帳に追加

POWER SUPPLY RELAY CIRCUIT FOR SAMPLE AND SEMICONDUCTOR TEST DEVICE - 特許庁

加入者回路試験方法と装置ならびにプログラム例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SUBSCRIBER CIRCUIT, AND PROGRAM - 特許庁

ヒューズ付き回路用の省ヒューズ試験器例文帳に追加

FUSE SAVING TEST DEVICE FOR CIRCUIT WITH FUSE - 特許庁

集積回路を試験するための方法および装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

電子回路装置及びその試験方法例文帳に追加

ELECTRONIC CIRCUIT DEVICE AND ITS TEST METHOD - 特許庁

半導体集積回路、およびバーンイン試験方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND BURN-IN TEST METHOD - 特許庁

超小型回路の試験ソケット用接点インサート例文帳に追加

CONTACT INSERT FOR TESTING SOCKET OF SUBMINIATURE CIRCUIT - 特許庁

ＣＭＯＳ集積回路の試験方法および解析方法例文帳に追加

TESTING METHOD OF CMOS INTEGRATED CIRCUIT AND ANALYZING METHOD - 特許庁

容量素子を有する回路、およびその試験方法例文帳に追加

CIRCUIT HAVING CAPACITATIVE ELEMENT AND TEST METHOD FOR IT - 特許庁