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「投影法」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 投影法の意味・解説 > 投影法に関連した英語例文

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投影法の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 2151



例文

面形状測定方、面形状測定装置、投影光学系の製造方投影光学系、及び投影露光装置例文帳に追加

SURFACE SHAPE MEASURING METHOD, SURFACE SHAPE MEASURING INSTRUMENT, PROJECTION OPTICAL SYSTEM MANUFACTURING METHOD, PROJECTION OPTICAL SYSTEM, AND PROJECTION EXPOSURE DEVICE - 特許庁

投影システム、投影装置、光ポイント装置、投影制御方、ポイント光制御方及びプログラム例文帳に追加

PROJECTION SYSTEM, PROJECTOR, LIGHT POINTER, PROJECTION CONTROL METHOD, AND POINT LIGHT CONTROL METHOD AND PROGRAM - 特許庁

干渉測定方、干渉測定装置、及び投影光学系の製造方投影光学系、並びに投影露光装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING INTERFERENCE, PROJECTION OPTICAL SYSTEM, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME AND PROJECTION EXPOSURE UNIT - 特許庁

面形状測定装置および測定方、並びに、投影光学系の製造方投影光学系及び投影露光装置例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR MEASURING SURFACE SHAPE, MANUFACTURING METHOD OF PROJECTION OPTICAL SYSTEM, PROJECTION OPTICAL SYSTEM, AND PROJECTION EXPOSING DEVICE - 特許庁

例文

フォトマスク、該フォトマスクの製造方、該フォトマスクを扱う投影露光装置、及び投影露光方例文帳に追加

PHOTOMASK, METHOD FOR MANUFACTURING THE PHOTOMASK, PROJECTION ALIGNER HANDLING THE PHOTOMASK AND PROJECTION ALIGNMENT METHOD - 特許庁


例文

波面収差測定方、波面収差測定装置、投影露光装置、及び投影光学系の製造方例文帳に追加

WAVEFRONT ABERRATION MEASURING METHOD, WAVEFRONT ABERRATION MEASURING DEVICE, PROJECTION EXPOSURE APPARATUS, AND MANUFACTURING METHOD OF PROJECTION OPTICAL SYSTEM - 特許庁

3次元再投影及び逆投影の方、並びにこの方を実現するためのアルゴリズム例文帳に追加

THREE-DIMENSIONAL REPROJECTION AND BACKPROJECTION METHOD AND ALGORITHM FOR IMPLEMENTATION OF THE METHOD - 特許庁

投影露光装置、投影露光方、被露光部材の製造方、被露光部材および半導体デバイス例文帳に追加

PROJECTION EXPOSURE APPARATUS AND METHOD, MANUFACTURING METHOD OF MEMBER TO BE EXPOSED, MEMBER TO BE EXPOSED, AND SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

走査型投影露光装置、走査型投影露光装置の照度キャリブレーション方及び露光方例文帳に追加

SCANNING PROJECTION ALIGNER, AND ILLUMINANCE CALIBRATING METHOD AND ALIGNING METHOD THEREOF - 特許庁

例文

画像信号処理装置、画像信号処理方、画像投影システム、画像投影及びプログラム例文帳に追加

IMAGE SIGNAL PROCESSING APPARATUS, IMAGE SIGNAL PROCESSING METHOD, IMAGE PROJECTING SYSTEM, IMAGE PROJECTING METHOD, AND PROGRAM - 特許庁

例文

波面収差測定方、波面収差測定装置、投影露光装置、投影光学系の製造方例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING WAVEFRONT ABERRATION, PROJECTION EXPOSURE DEVICE AND MANUFACTURING METHOD FOR PROJECTION OPTICAL SYSTEM - 特許庁

波面収差測定方、波面収差測定装置、投影露光装置、投影光学系の製造方例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING WAVEFRONT ABERRATION, PROJECTION EXPOSURE DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING PROJECTION OPTICAL SYSTEM - 特許庁

画像投影装置、情報処理システム、画像投影、及び、情報処理方例文帳に追加

IMAGE PROJECTING DEVICE, INFORMATION PROCESSING SYSTEM, IMAGE PROJECTING METHOD, AND INFORMATION PROCESSING METHOD - 特許庁

偏光変換ユニット、画像投影装置、偏光変換方、及び画像投影例文帳に追加

POLARIZATION CONVERSION UNIT, IMAGE PROJECTION APPARATUS, POLARIZATION CONVERSION METHOD, AND IMAGE PROJECTION METHOD - 特許庁

投影露光方及びこの方を実施するのに適する投影露光装置を提供する。例文帳に追加

To provide a projection exposure method and a projection exposure device suitable for performing this method. - 特許庁

荷電粒子線投影露光方、荷電粒子線投影露光装置及び半導体デバイス製造方例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR PROJECTING CHARGED-PARTICLE BEAM FOR EXPOSURE, AND MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

干渉測定方及び干渉測定装置、並びに投影レンズの製造方及び投影露光装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING INTERFERENCE, METHOD FOR MANUFACTURING PROJECTION LENS, AND PROJECTION EXPOSURE APPARATUS - 特許庁

投影装置およびその方、並びに投影装置を用いた形状認識装置およびその方例文帳に追加

PROJECTION DEVICE AND METHOD THEREFOR, SHAPE RECOGNITION APPARATUS USING PROJECTION DEVICE, AND METHOD THEREFOR - 特許庁

小型投影装置、設置位置調整方および小型投影装置のパラメータ調整方例文帳に追加

SMALL PROJECTION APPARATUS AND ITS INSTALLATION LOCATION ADJUSTING METHOD, AND PARAMETER ADJUSTING METHOD FOR SMALL PROJECTION APPARATUS - 特許庁

投影露光装置のフォーカス位置検出方投影露光方、及びマスク例文帳に追加

FOCUS POSITION DETECTING METHOD FOR PROJECTION ALIGNER AND PROJECTION EXPOSING METHOD AND MASK - 特許庁

偏心測定方、偏心測定装置、投影光学系の製造方、及び投影光学系例文帳に追加

METHOD AND INSTRUMENT FOR MEASURING ECCENTRICITY, MANUFACTURING METHOD FOR PROJECTION OPTICAL SYSTEM, AND PROJECTION OPTICAL SYSTEM - 特許庁

投影光学系、投影光学装置、走査型露光装置、光加工方および露光方例文帳に追加

PROJECTION OPTICAL SYSTEM, PROJECTION OPTICAL DEVICE, SCANNING EXPOSURE DEVICE, OPTICAL PROCESSING METHOD AND EXPOSURE METHOD - 特許庁

X線投影露光装置、X線投影露光方及び半導体デバイスの製造方例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR X-RAY PROJECTION AND EXPOSURE AND PRODUCING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

投影光学系の検査方、検査装置、及び投影光学系の製造方例文帳に追加

METHOD FOR TESTING PROJECTION OPTICAL SYSTEM, TESTING DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME SYSTEM - 特許庁

投影露光方投影露光装置、及びそれを用いたデバイスの製造方例文帳に追加

PROJECTION EXPOSING METHOD, PROJECTION ALIGNER AND MANUFACTURE OF DEVICE USING THE SAME - 特許庁

軟X線縮小投影露光装置、軟X線縮小投影露光方及びパターン形成方例文帳に追加

SOFT X-RAY REDUCTION PROJECTION ALIGNER, SOFT X-RAY REDUCTION PROJECTION EXPOSURE METHOD, AND PATTERN FORMATION METHOD - 特許庁

フォーカス合わせ方投影露光方、フォーカス合わせ装置及び投影露光装置例文帳に追加

FOCUSING METHOD, PROJECTION EXPOSING METHOD, FOCUSING DEVICE AND PROJECTION ALIGNER - 特許庁

投影光学系の検査装置及び検査方、並びに投影光学系の製造方例文帳に追加

INSPECTING DEVICE AND METHOD FOR PROJECTION OPTICAL SYSTEM AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR - 特許庁

波面収差測定方、波面収差測定装置、投影露光装置、投影光学系の製造方例文帳に追加

METHOD AND DEVICE OF MEASURING WAVEFRONT ABERRATION, PROJECTION ALIGNER, AND METHOD OF MANUFACTURING PROJECTION OPTICAL SYSTEM - 特許庁

投影光学系、投影光学系の製造方、露光装置及びマイクロデバイスの製造方例文帳に追加

PROJECTION OPTICAL SYSTEM, MANUFACTURING METHOD FOR PROJECTION OPTICAL SYSTEM, AND MANUFACTURING METHOD FOR EXPOSURE DEVICE AND MICRODEVICE - 特許庁

投影光学系、投影光学系の調整方、露光装置、および露光方例文帳に追加

PROJECTION OPTICAL SYSTEM AND ADJUSTMENT METHOD THEREOF, AND ALIGNER AND EXPOSURE METHOD - 特許庁

マイクロリソグラフィ投影露光機の製造方、対応する投影露光機及びそのための投影対物レンズ例文帳に追加

MANUFACTURING METHOD OF MICROLITHOGRAPHY PROJECTION EXPOSURE APPARATUS, CORRESPONDING PROJECTION EXPOSURE APPARATUS AND PROJECTION OBJECTIVE LENS FOR THE SAME - 特許庁

投影装置から投影面上までの距離を迅速且つ高精度に測距出来る投影装置及びレーザー測距方を提供する。例文帳に追加

To provide a projection apparatus and a laser distance measurement method that are capable of rapidly and accurately measuring a distance from the projection apparatus to a projection screen. - 特許庁

情報投影システム、情報投影装置、画像形成データ生成装置、情報投影およびプログラム例文帳に追加

INFORMATION PROJECTION SYSTEM, INFORMATION PROJECTION DEVICE, IMAGE FORMATION DATA GENERATING DEVICE, AND INFORMATION PROJECTING METHOD AND PROGRAM - 特許庁

投影露光装置、ならびに、特にミクロリソグラフィのための投影露光装置の投影光学系で発生する結像誤差を補正する方例文帳に追加

METHOD FOR CORRECTING IMAGE ERROR IN PROJECTION ALIGNER AND ESPECIALLY IN PROJECTION OPTICAL SYSTEM PROJECTION ALIGNER FOR MICROLITHOGRAPHY - 特許庁

簡単な構成で、良好な画像を投影することが可能な画像投影装置、携帯端末、及び画像投影の提供を実現する。例文帳に追加

To provide an image projector which projects an excellent image with a simple configuration, a portable terminal and a method of projecting an image. - 特許庁

反射屈折型投影光学系及び投影反射屈折型投影光学系を有する露光装置、デバイス製造方例文帳に追加

CATA-DIOPTRIC PROJECTION SYSTEM, EXPOSING DEVICE HAVING CATA-DIOPTRIC PROJECTION SYSTEM, AND METHOD FOR PRODUCING DEVICE - 特許庁

3次元データから作成した投影画像に、投影軸上の全てのデータの値を反映させる画像投影を提供する。例文帳に追加

To provide a picture projection method which makes reflect values of all data on projection axis to a projection picture made from three-dimensional data. - 特許庁

フォトマスクユニット、フォトマスク装置、投影露光装置、投影露光方及び半導体装置例文帳に追加

PHOTOMASK UNIT, PHOTOMASK DEVICE, PROJECTION EXPOSURE DEVICE, PROJECTION EXPOSURE METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

フォトマスク収納装置、フォトマスクユニット、フォトマスク装置、投影露光装置及び投影露光方例文帳に追加

PHOTOMASK CONTAINER, PHOTOMASK UNIT, PHOTOMASK DEVICE, PROJECTION ALIGNER AND PROJECTION EXPOSING METHOD - 特許庁

フォトマスク収納装置、投影露光装置、投影露光方及び半導体装置例文帳に追加

PHOTOMASK HOUSING DEVICE, PROJECTION ALIGNER, PROJECTION ALIGNING METHOD AND SEMICONDUCTOR EQUIPMENT - 特許庁

疑似電子白板装置、疑似電子白板投影、および疑似電子白板投影プログラム例文帳に追加

PSEUDO ELECTRONIC WHITE BOARD DEVICE, PSEUDO ELECTRONIC WHITE BOARD PROJECTION METHOD, AND PSEUDO ELECTRONIC WHITE BOARD PROJECTION PROGRAM - 特許庁

リソグラフィ投影装置及びそのリソグラフィ投影装置を使用するデバイス製造方例文帳に追加

LITHOGRAPHY PROJECTION EQUIPMENT AND DEVICE MANUFACTURING METHOD USING THE LITHOGRAPHY PROJECTION EQUIPMENT - 特許庁

リソグラフィ投影装置用可動ステージ・システム、リソグラフィ投影装置、及びデバイス製造方例文帳に追加

MOVING STAGE FOR LITHOGRAPHY PROJECTION EQUIPMENT SYSTEM, LITHOGRAPHY PROJECTION EQUIPMENT, AND METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE - 特許庁

投影光学系の敏感度計測方、及びそれを有する投影露光装置例文帳に追加

METHOD OF MEASURING SENSITIVITY OF PROJECTION OPTICAL SYSTEM AND PROJECTION EXPOSURE APPARATUS HAVING THE SAME - 特許庁

撮像投影装置及び撮像投影システムと、表示画像生成装置、表示画像生成方例文帳に追加

IMAGE PROJECTION APPARATUS AND IMAGE PROJECTION SYSTEM, AND DISPLAY IMAGE GENERATING APPARATUS AND DISPLAY IMAGE GENERATING METHOD - 特許庁

第1面(3)の像を第2面(7)上に投影する投影光学系(6)の製造方例文帳に追加

The manufacturing method manufactures the projection optical system (6) for projecting the image of a first surface (3) on a second surface (7). - 特許庁

CADシステムの投影、CADシステムの投影プログラム及びCADシステム例文帳に追加

PROJECTION METHOD FOR CAD SYSTEM, PROJECTION PROGRAM FOR CAD SYSTEM, AND CAD SYSTEM - 特許庁

投影光学系、該投影光学系を有する露光装置、デバイス製造方及びデバイス例文帳に追加

PROJECTION OPTICAL SYSTEM, ALIGNER HAVING THE PROJECTION OPTICAL SYSTEM, DEVICE MANUFACTURING METHOD AND DEVICE - 特許庁

例文

マイクロリソグラフィ用縮小対物レンズ,投影露光装置及び投影露光方例文帳に追加

REDUCTION OBJECTIVE LENS FOR MICROLIGHOGRAPHY, PROJECTION EXPOSURE DEVICE AND PROJECTION EXPOSURE METHOD - 特許庁

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