IMPRESSを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 304件
In the fluorescent display tube driving power supply circuit for generating AC voltage from a DC input and driving a filament of a fluorescent display tube, two main current passages containing switching elements are connected to both the ends of the filament and the switching elements of the two main current passages are alternately turned on/off by an output from a waveform generator for generating a prescribed waveform to impress AC voltage to the filament.例文帳に追加
直流入力から交流電圧を発生させて蛍光表示管のフィラメントを駆動する蛍光表示管駆動電源回路において、フィラメントの両端にスイッチング素子を含む2つの主電流路を接続し、所定の波形を発生する波形発生器の出力によって2つの主電流路のスイッチング素子を交互にオンオフさせることによってフィラメントに交流電圧を印加する。 - 特許庁
In such a manner, the waveform generating device 15 impresses a deletion pulse for erasing a write pulse and write information and also impress a bipolar pulse with a first polarity and a second polarity between the erase pulse and the write pulse, and thereby erases remaining of an optical memory by irradiation with reading light and also prevent liquid crystal 9 from being reversed by the write pulse also in the unirradiated part.例文帳に追加
これによって波形発生装置15は書込みパルスおよび書込み情報を消去する消去パルスを印加するとともに、消去パルスと書込みパルスとの間に第1極性と第2極性との双極性パルスを印加して、読出し光の照射による光メモリの残留を消去するとともに、光未照射部分も書込みパルスによって液晶9を反転させないようにする。 - 特許庁
The inspection method for the semiconductor integrated circuit 1 which is provided with multiple leads 3 comprises a step for inserting detection electrodes 5 between each of multiple lead 3, a voltage impress step for impressing voltage on the detection electrodes 5, and a step for inspecting existence of foreign mutter on the multiple leads 3 based on the current flow of the inspection electrodes 5 in the previous step.例文帳に追加
本発明の半導体集積回路素子の検査方法は、複数のリード3を備える半導体集積回路素子1の検査方法であって、複数のリード3の各々の間に検出用電極5を挿入する挿入工程と、検出用電極5に電圧を印加する工程と、電圧を印加する工程における検出用電極5の通電の有無に基づいて、複数のリード3に存在する異物の有無を検査する工程とを備えている。 - 特許庁
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