「Integrated Test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

TEST CIRCUIT FOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路のテスト回路 - 特許庁

TEST CIRCUIT FOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路用テスト回路 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT WITH TEST FUNCTION例文帳に追加

テスト機能付き集積回路 - 特許庁

TEST APPARATUS, TEST METHOD, AND INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

テスト装置、テスト方法および集積回路 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT, TEST CIRCUIT AND TEST METHOD例文帳に追加

集積回路、テスト回路およびテスト方法 - 特許庁

PROBE FOR TEST OF INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路のテスト用プローブ - 特許庁

CONTROLLER FOR INTEGRATED CIRCUIT TEST例文帳に追加

集積回路テスト制御装置 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT AND TEST METHOD例文帳に追加

集積回路および試験方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT CONDUCTING SELF-TEST例文帳に追加

自己試験を行う集積回路 - 特許庁

TEST DEVICE, TEST SYSTEM AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト装置、テストシステム、及びテスト方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト回路、テスト方法 - 特許庁

TEST SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路テストシステム - 特許庁

TEST SYSTEM, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST METHOD例文帳に追加

テストシステム、半導体集積回路及びテスト方法 - 特許庁

SCAN TEST METHOD, INTEGRATED CIRCUIT AND SCAN TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャンテスト方法、集積回路及びスキャンテスト回路 - 特許庁

HIGH-FREQUENCY INTEGRATED CIRCUIT TEST APPARATUS例文帳に追加

高周波集積回路テスト装置 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT AND MEMORY TEST METHOD例文帳に追加

集積回路及びメモリテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST CIRCUIT AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路のテスト回路、及びテスト方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

集積回路及びそのテスト方法 - 特許庁

TEST DEVICE FOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

集積回路装置用のテスト装置 - 特許庁

TEST SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテストシステム - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

集積回路およびそのテスト方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT WITH FREQUENCY DIVISION TEST FUNCTION例文帳に追加

分周テスト機能付集積回路 - 特許庁

TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST SYSTEM AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路試験システム及び半導体集積回路試験方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト回路 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT COMPRISING TEST CIRCUIT AND TEST METHOD FOR IT例文帳に追加

テスト回路を備える集積回路及びそのテスト方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト回路およびテスト方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT, TEST METHOD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

テスト回路、テスト方法、及び半導体集積回路装置 - 特許庁

TEST CIRCUIT, TEST DEVICE AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト回路およびテスト装置並びにテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT AND INTEGRATED CIRCUIT TEST SYSTEM例文帳に追加

集積回路のテスト方法、集積回路および集積回路テストシステム - 特許庁

SCANNING TEST CIRCUIT IN INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路におけるスキャンテスト回路 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

集積回路およびその試験方法 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT OF INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路におけるスキャンテスト回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路とテスト方法 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

WIRELESS NONCONTACT TEST OF INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路の無線非接触試験 - 特許庁

TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の検査回路 - 特許庁

INTEGRATED ELEMENT TEST SYSTEM AND ITS METHOD例文帳に追加

集積素子テストシステム及びその方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT WITH TEST MODE AND TEST DEVICE FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

テストモードを備えた集積回路および集積回路のテストのためのテスト装置 - 特許庁

SCAN-TEST POINT CIRCUIT AND INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

スキャンテストポイント回路、及び集積回路 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT WITH SELF-TEST CIRCUIT例文帳に追加

自己試験回路を備えた集積回路 - 特許庁

HIGH SPEED TEST OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の高速テスト - 特許庁

TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

テスト回路及び半導体集積回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST SYSTEM例文帳に追加

半導体集積回路及びテストシステム - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT HAVING TEST CONSTITUTION AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

テスト構成の半導体集積回路およびそのテスト方法 - 特許庁