「Integrated Test」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

MEMORY TEST DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

メモリ検査装置および半導体集積回路装置 - 特許庁

RADIO FREQUENCY INTEGRATED CIRCUIT FOR LOOP-BACK SELF-TEST例文帳に追加

ループバック自己検査用無線周波数集積回路 - 特許庁

ON-CHIP TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT APPARATUS例文帳に追加

オンチップテスト回路及び半導体集積回路装置 - 特許庁

METHOD FOR DESIGNING BURN-IN TEST OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のバーンインテスト設計方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND BURN-IN TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体集積回路およびそのバーンインテスト方法 - 特許庁

INPUT-VOLTAGE TEST CIRCUIT AND INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

入力電圧テスト回路および集積回路装置 - 特許庁

DESIGN METHOD FOR TEST FACILITATED SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

テスト容易化半導体集積回路の設計方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM OF MIXED SIGNAL INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

混成信号集積回路用半導体試験システム - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置及びその試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND SCAN TEST CIRCUIT DESIGN METHOD例文帳に追加

半導体集積回路、スキャンテスト回路設計方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT DEVICE AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

テスト回路装置および半導体集積回路装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置およびそのテスト方法 - 特許庁

TEST MEDIATING SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST MEDIATING METHOD FOR IT例文帳に追加

半導体集積回路の試験仲介システム及びその試験仲介方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS TEST METHOD, AND PROBE JIG USED FOR TEST例文帳に追加

半導体集積回路とそのテスト方法、及びそのテストに使用するプローブ治具 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND INTERFACE TEST CONTROL CIRCUIT AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置、インターフェース試験制御回路および試験方法 - 特許庁

This test cell 12 provides a boundary scan test in an integrated circuit 10.例文帳に追加

テストセル１２は集積回路１０における境界走査テストを提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED DEVICE, AND GENERATING METHOD FOR TEST PATTERN例文帳に追加

半導体集積回路、半導体集積装置およびテストパターン生成方法 - 特許庁

TEST MODE SETTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテストモード設定方法及び半導体集積回路 - 特許庁

TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置のテスト方法及び半導体集積回路装置 - 特許庁

To reduce a test data quantity and a test application time in an ATE (automatic test equipment) in a scan-based integrated circuit.例文帳に追加

スキャンベースの集積回路中のＡＴＥでのテストデータ量およびテスト適用時間を削減する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS TEST METHOD, RAM/ROM TEST CIRCUIT AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置およびそのテスト方法、ＲＡＭ／ＲＯＭテスト回路およびそのテスト方法 - 特許庁

MERGED MEMORY AND LOGIC INTEGRATED SEMICONDUCTOR DEVICE, AND MERGED MEMORY TEST METHOD例文帳に追加

メモリロジック複合半導体装置及びメモリテスト方法 - 特許庁

POWER SUPPLY DEVICE AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST DEVICE例文帳に追加

電源装置及び半導体集積回路試験装置 - 特許庁

INTEGRATED TEST CASE LANGUAGE FOR VERIFYING HARDWARE DESIGN例文帳に追加

ハードウェア設計を検証するための統合テストケース言語 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND PREPARATION METHOD OF TEST PATTERN例文帳に追加

半導体集積回路およびテストパターン作成方法 - 特許庁

METHOD, APPARATUS, AND SYSTEM OF PARALLEL TEST FOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路の並行検査の方法、装置及びシステム - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE WITH TEST POINT INSERTED THERETO例文帳に追加

テストポイントを挿入した半導体集積回路装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TEST TERMINAL ARRANGEMENT METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置とテスト端子配置方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS AND TEST METHOD FOR CMOS INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

ＣＭＯＳ集積回路の試験装置及び試験方法 - 特許庁

PROBE CARD, AND TEST SYSTEM OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

プローブカードおよび半導体集積回路装置テストシステム - 特許庁

TEST-FACILITATED DESIGN PROCESSOR FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト容易化設計処理装置 - 特許庁

ELECTRON BEAM TEST SYSTEM EQUIPPED WITH INTEGRATED SUBSTRATE CONVEYANCE MODULE例文帳に追加

集積基板搬送モジュールを備えた電子ビームテストシステム - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST MODE SETTING CIRCUIT THEREFOR例文帳に追加

半導体集積回路およびそのテストモード設定回路 - 特許庁

TEST QUALITY EVALUATION DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST QUALITY EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト品質評価装置、および半導体集積回路のテスト品質評価方法 - 特許庁

PROBE CARD AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

プローブカードおよび半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR ENTERING BOUNDARY SCANNING TEST MODE例文帳に追加

集積回路及び境界走査テストモードに入る方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INCLUDING THE SAME例文帳に追加

テスト回路及びそれを備えた半導体集積回路 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト装置およびテスト方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT GENERATING METHOD IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST CIRCUIT GENERATING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路におけるテスト回路生成方法、テスト回路生成装置および半導体集積回路 - 特許庁

TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND POWER SUPPLY DEVICE例文帳に追加

テスト回路，半導体集積回路および電源装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST METHOD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体テスト方法および半導体集積回路装置 - 特許庁

EVALUATION SYSTEM FOR TEST CIRCUIT OF EQUALIZER AND INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

イコライザのテスト回路および集積回路の評価システム - 特許庁

LAYOUT METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST ELEMENT PATTERN例文帳に追加

半導体集積回路のテスト素子パターンのレイアウト方法 - 特許庁

TEST METHOD AND CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法およびテスト回路 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR PERFORMING PARALLEL TEST ON INTEGRATED CIRCUIT DEVICES例文帳に追加

集積回路素子の並列試験装置及び方法 - 特許庁