「Integrated Test」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST METHOD OF THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置および半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND SELF-TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置、及び半導体集積回路装置の自己テスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, DELAY TEST CIRCUIT, AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路、ディレイテスト回路、及び半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR SHARING TEST TERMINAL OF INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路のテスト端子共用化方法および方式 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR GENERATING TEST PATTERN例文帳に追加

半導体集積回路およびそのテストパターン生成方法 - 特許庁

HIGH RELIABILITY TRIPLE REDUNDANT LATCH WITH INTEGRATED TEST FACILITY例文帳に追加

テスト機能が組み込まれた高信頼性三重冗長ラッチ - 特許庁

METHOD OF INTEGRATED TEST OF SEMICONDUCTOR AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体統合試験方法、および半導体試験装置 - 特許庁

TEST METHOD FOR INTEGRATED CIRCUIT WITH FLEXIBLE TIMING CONTROL例文帳に追加

フレキシブルタイミング制御を有する集積回路のテスト方法 - 特許庁

An integrated circuit 100 comprises a target circuit 102 and a test circuit 104.例文帳に追加

集積回路(100)は、ターゲット回路(102)とテスト回路(104)からなる。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INFERRING TEST TIME OF INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

集積回路装置のテスト時間推定方法及び装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, IC CARD, AND TEST DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置、ＩＣカードおよび検査装置 - 特許庁

TEST CORRESPONDING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

テスト対応型半導体集積回路及びそのテスト方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TRANSACTION METHOD例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法および取引方法 - 特許庁

To stably perform scan test of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のスキャンテストを安定的に行う。 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT USING IT例文帳に追加

スキャンテスト回路及びこれを用いた半導体集積回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TEST MODE SETTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置およびテストモード設定方法 - 特許庁

SCAN TEST PATTERN INPUT METHOD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

スキャンテストパタン入力方法および半導体集積回路 - 特許庁

TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

テスト回路、半導体集積回路及びその製造方法 - 特許庁

An integrated instrument 10 processes fluid test samples using disposable test devices.例文帳に追加

一体型器具１０は、使い捨て試験装置を使用して流体試験試料を処理する。 - 特許庁

Examples of these applications include built-in test function for test equipment and integrated circuit.例文帳に追加

アプリケーションの例にはテスト機器および集積回路用の組込み自己テスト機能が含まれる。 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING TEST SPECIFICATION FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND SYSTEM FOR SUPPORTING PREPARATION OF TEST SPECIFICATION例文帳に追加

半導体集積回路のテスト仕様生成方法およびテスト仕様生成支援システム - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN DELAY TEST FACILITATION CIRCUIT AND PATH DELAY TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

ディレイテスト容易化回路を内蔵した集積回路および集積回路のパスディレイテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, SCAN TEST CIRCUIT DESIGN METHOD, SCAN TEST CIRCUIT DESIGN DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置、スキャンテスト回路設計方法、スキャンテスト回路設計装置 - 特許庁

TEST DESIGN SUPPORT DEVICE AND TEST DESIGN SUPPORT METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND PROGRAM例文帳に追加

半導体集積回路のテスト設計支援装置、テスト設計支援方法及びプログラム - 特許庁

TEST METHOD AND TEST PROGRAM GENERATING PROGRAM OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法及び半導体集積回路のテストプログラム生成プログラム - 特許庁

MEMORY TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND OPERATION CONTROL METHOD FOR MEMORY TEST CIRCUIT例文帳に追加

メモリテスト回路、半導体集積回路装置、およびメモリテスト回路の動作制御方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路、半導体集積回路の製造方法および半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TEST CIRCUIT DESIGNING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置および半導体集積回路装置のテスト回路設計方法 - 特許庁

PROBE CARD, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST METHOD例文帳に追加

プローブカード、半導体集積回路試験装置、及び、半導体集積回路試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST METHOD OF PRODUCT LOADING THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路および半導体集積回路を搭載した製品のテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND METHOD OF GATE SCREENING TEST OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路および半導体集積回路に対するゲートスクリーニング試験の方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT USING THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路用テスト回路装置およびこれを用いた半導体集積回路 - 特許庁

To achieve a semiconductor integrated circuit and its test method which can facilitate the decision of the quality of an analog integrated circuit in a test of the semiconductor integrated circuit including the analog integrated circuit.例文帳に追加

アナログ集積回路を含む半導体集積回路において、アナログ集積回路の良否の判定を容易化できる半導体集積回路およびその検査方法を実現する。 - 特許庁

To provide a scan test circuit for a semiconductor integrated circuit capable of shortening a scan test time, and to provide a scan test circuit design method.例文帳に追加

スキャンテスト時間を短縮する半導体集積回路のスキャンテスト回路、スキャンテスト回路設計方法を提供する。 - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR CONTROLLING TEST ON INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路におけるテスト制御回路およびテスト制御方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT, TEST CONDITION SETTING METHOD THEREFOR, AND PROGRAM例文帳に追加

集積回路及びそのテスト条件設定方法並びにプログラム - 特許庁

To provide testing device, test method and integrated circuit for testing a circuit having a counter, in a short time.例文帳に追加

カウンタを有する回路のテストを短時間で行うこと。 - 特許庁

THREE-CORE INTEGRATED CONNECTION BOX, METHOD OF WITHSTAND VOLTAGE TEST ON TEST SUBJECT CABLE, AND METHOD OF ASSEMBLING THREE-CORE INTEGRATED CONNECTION BOX例文帳に追加

３心一括型接続箱、試験対象ケーブルの耐電圧試験方法、及び３心一括型接続箱の組立方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体集積回路の試験方法及び半導体集積回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND DELAY FAULT TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体集積回路装置及びその遅延故障テスト方法 - 特許庁

TRANSFERRING OF INTEGRATED CIRCUIT AND ACTIVE TEMPERATURE CONTROL FOR TEST例文帳に追加

テストのための集積回路の搬送および能動温度制御 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR INSERTING TEST CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト回路挿入方法及び装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND SCAN PATH TEST CIRCUIT DESIGN METHOD例文帳に追加

半導体集積回路およびスキャンパステスト回路設計方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS TEST APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

半導体集積回路並びにその試験装置及び試験方法 - 特許庁

TEST SYSTEM AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

テストシステムおよび半導体集積回路装置の製造方法 - 特許庁