「Measuring microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

POSITIONING METHOD OF MEASURING POSITION OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の測定位置の位置決め方法 - 特許庁

CHARGED POTENTIAL MEASURING METHOD, AND CHARGED PARTICLE MICROSCOPE例文帳に追加

帯電電位測定方法、及び荷電粒子顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING BY SCANNING ELECTROSTATIC CAPACITY MICROSCOPE例文帳に追加

走査型静電容量顕微鏡による測定方法 - 特許庁

SLIT LIGHT PARALLEL RECIPROCATING TYPE DEPTH/HEIGHT MEASURING MICROSCOPE例文帳に追加

スリット光平行往復型深さ高さ測定顕微鏡 - 特許庁

SYSTEM FOR MEASURING SIGNAL LIGHT BY NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

近接場光学顕微鏡の信号光測定システム - 特許庁

SCATTERING TYPE NEAR FIELD MICROSCOPE AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

散乱型近接場顕微鏡およびその測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING PATTERN USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いたパターン計測方法 - 特許庁

SAMPLE DIMENSION LENGTH MEASURING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料寸法測長方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MICRO-PATTERN MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び微細パターン測定方法 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING AND MEASURING SAMPLE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料の検査，測定方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON PAIR MEASURING APPARATUS AND SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加

電子対測定装置および走査形トンネル顕微鏡 - 特許庁

The surface-measuring instrument integrated scanning probe microscope is equipped with an optical microscope 7, which is the surface- measuring instrument and a probe microscope 8.例文帳に追加

表面測定器一体型走査型プローブ顕微鏡は、表面測定器である光学顕微鏡７とプローブ顕微鏡８とを備えている。 - 特許庁

PROBE, CANTILEVER BEAM, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND MEASURING METHOD OF SCANNING TUNNEL MICROSCOPE例文帳に追加

探針、片持ち梁、走査型プローブ顕微鏡、及び走査型トンネル顕微鏡の測定方法 - 特許庁

POSITION DETERMINATION METHOD OF MEASURING OBJECT IN ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡における測定対象物の位置決定方法および電子顕微鏡 - 特許庁

PEDESTAL BASE PLATE, MEASURING HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, MEASURING SAMPLE ASSEMBLY, METHOD FOR PRODUCING MEASURING SAMPLE AND MEASURING METHOD例文帳に追加

ペデスタル基板、電子顕微鏡用測定治具、測定試料組み立て体、測定試料の作製方法及び測定方法 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE FOR MEASURING ELECTRIC FIELD MODULATION SPECTRUM例文帳に追加

電場変調スペクトル測定用近接場光学顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING DISPLACEMENT OF CANTILEVER IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡におけるカンチレバー変位測定方法 - 特許庁

SCANNING MICROSCOPE FOR OPTICALLY MEASURING AN OBJECT例文帳に追加

物体の光学的測定を行うための走査型顕微鏡 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR CLUSTER SIZE OF WATER BY INTER ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間顕微鏡による水のクラスタ—サイズ測定方法 - 特許庁

EXTERNAL MAGNETIC FIELD SWEEP MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD例文帳に追加

外部磁場掃引磁気力顕微鏡および計測方法 - 特許庁

SAMPLE STAGE AND MICROSCOPE OR MEASURING INSTRUMENT USING THE SAME例文帳に追加

試料ステージ及びそれを用いた顕微鏡又は測定器 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び該顕微鏡による測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR PHYSICAL PROPERTY VALUE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

物性値の測定方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びそれを用いた計測方法 - 特許庁

HIGH RESOLVING POWER MICROSCOPE AND PHASE RELAXING TIME MEASURING METHOD例文帳に追加

高分解能顕微鏡、及び位相緩和時間測定法 - 特許庁

DIMENSION-MEASURING DEVICE USING CONFOCAL SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡を用いた寸法測定装置 - 特許庁

MEASURING METHOD OF PHYSICAL PROPERTY VALUE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

物性値の測定方法および走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE COMBINED WITH SURFACE MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

表面測定器と組み合わされた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SURFACE INFORMATION MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び表面情報測定方法 - 特許庁

DISTORTION MEASURING METHOD AND LUMINANCE CORRECTION METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の歪み測定方法及び輝度補正方法 - 特許庁

ELECTROSTATIC CAPACITY MEASURING METHOD BY SCANNING CAPACITIVE MICROSCOPE例文帳に追加

走査容量顕微鏡による静電容量測定方法 - 特許庁

MEASURING TECHNIQUE OF SAMPLE DIMENSION AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料寸法測定方法及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁

INFORMATION TRANSMISSION LIMIT MEASURING METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE WITH THE MEASURING METHOD APPLIED例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の情報伝達限界測定法およびこの測定法が適用された透過型電子顕微鏡 - 特許庁

CONFOCAL IMAGE MEASURING SYSTEM, CONFOCAL MICROSCOPE, AND CONFOCAL IMAGE MEASURING METHOD例文帳に追加

共焦点像計測システム、共焦点顕微鏡、及び共焦点像計測方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, ITS MEASURING ORDER DETERMINATION METHOD, AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、その測定順序決定方法、およびその測定方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、走査用プローブ及び走査型プローブ顕微鏡を用いた測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD OF PHYSICAL DATA USING SCANNING PROBE MICROSCOPE, CANTILEVER AND THE SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた物性情報の測定方法、カンチレバー及び走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

CANTILEVER FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING INTERATOMIC FORCE例文帳に追加

原子間力顕微鏡用のカンチレバー、原子間力顕微鏡、および、原子間力の測定方法 - 特許庁

MIXING METHOD OF MICROSCOPE OBJECTIVE LIQUID IMMERSION OIL, AND MEASURING SET OF THE MICROSCOPE OBJECTIVE LIQUID IMMERSION OIL例文帳に追加

顕微鏡対物用液浸油の混合方法および顕微鏡対物用液浸油計量セット - 特許庁

CANTILEVER FOR SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND SCANING-TYPE PROBE MICROSCOPE AND SURFACE CHARGE-MEASURING MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー及びその製造方法、並びに走査型プローブ顕微鏡及び表面電荷測定顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING PHYSICAL CHARACTERISTICS OF SPM, MEASURING PROGRAM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加

ＳＰＭの物理特性測定方法、測定プログラム及び走査型プローブ顕微鏡装置 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING RESIST PATTERN, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE TYPE DIMENSION MEASURING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

レジストパターン測定方法、走査電子顕微鏡型測長装置及び半導体装置 - 特許庁

SURFACE PROPERTY MEASURING PROBE AND MICROSCOPE USING IT例文帳に追加

表面性状測定用探針およびこれを用いた顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE FITTED WITH DYNAMIC VIBRATION REDUCER AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

動吸振器付き走査型プローブ顕微鏡及びその測定方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および該顕微鏡による測定方法 - 特許庁