「Measuring microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an optical microscope that can accurately measure spectra in a short time, and to provide a method of measuring the spectra.例文帳に追加

精度の高いスペクトル測定を短時間で行うことができる光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a length-measuring method of a scanning electron microscope wherein no error in measuring length takes place from the configuration of a sample or film kind, etc.例文帳に追加

試料の構成や膜種等によって測長誤差の生じることのない走査形電子顕微鏡の測長方法を提供する。 - 特許庁

A surface state measuring part (microscope camera 9, surface measuring part 53a) observes the surface state of the substrate to be measured as image data.例文帳に追加

表面状態計測部（顕微鏡カメラ９、表面計測部５３ａ）は、基板の表面状態を観察して画像データとして計測する。 - 特許庁

To provide a length measuring method by a scanning electron microscope, capable of preventing a length measuring error from being generated by the constitution of a sample, a kind of film or the like.例文帳に追加

試料の構成や膜種等によって測長誤差の生じることのない走査形電子顕微鏡の測長方法を提供する。 - 特許庁

To provide a stage position measuring device for an electronic microscope using a laser interference measuring machine for measuring the position of a stage, if inclinable, with high accuracy.例文帳に追加

傾斜可能なステージであっても、レーザ干渉測長器を用いて高精度のステージの位置測定を行うことができる走査電子顕微鏡等のステージ位置測定装置を実現する。 - 特許庁

At one embodiment, a laser beam is focused on a measuring point on the optical element by the microscope, the microscope gathers the reflection light or the scattered light from the damage of the optical element.例文帳に追加

一実施形態において、顕微鏡は、光学素子内の測定点にレーザビームを集束させ、光学素子の損傷からの反射光または散乱光も収集する。 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL MEMBRANE STRUCTURE ANALYSIS METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE, THREE-DIMENSIONAL MEMBRANE STRUCTURE ANALYZER AND THREE-DIMENSIONAL MEMBRANE STRUCTURE MEASURING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いた立体膜構造解析方法および立体膜構造解析装置、並びに走査型プローブ顕微鏡の立体膜構造測定方法 - 特許庁

To provide a method for measuring a tilt angle of a liquid crystal cell, which can be carried out by measuring only once the intensity of transmitted light in the liquid crystal cell without requiring microscope optics.例文帳に追加

顕微光学系の必要がなく、液晶セルの透過光強度を１回測定するだけでできる液晶セルのチルト角測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a light-receiving unit which is to be connected to a confocal optical microscope to constitute a measuring apparatus for measuring the light emitted from a sample.例文帳に追加

試料から発せられる光を測定するための測定装置を構成するために共焦点光学顕微鏡に接続される受光ユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope by which the change of height information along an arbitrary measuring line is obtained and also a time required for measuring is made short.例文帳に追加

任意の測定ラインに沿う高さ情報の変化を得ることができ、しかも測定に要する時間が短い共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a cantilever driven by a dynamic mode; to provide an atomic force microscope; and to improve measuring precision of an interatomic force in a method of measuring the interatomic force.例文帳に追加

ダイナミックモードで駆動されるカンチレバー、原子間力顕微鏡、および原子間力の測定方法において、原子間力の測定精度を高める。 - 特許庁

This measuring method of a dimension of a register pattern consists of cooling a sample before measuring a regist pattern dimension with a scanning electron microscope.例文帳に追加

レジストパターンの寸法を走査型電子顕微鏡で測定するにあたり、試料を冷却して測定することを特徴とするレジストパターンの寸法測定方法。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and its measuring method for utilizing a gradient method and automatically measuring a sidewall.例文帳に追加

傾斜法を利用して側壁等を測定する方法で自動的な計測を行うことができる走査型プローブ顕微鏡およびその計測方法を提供する。 - 特許庁

As the measurement of the average surface potential distribution, a measuring method of an atomic force microscope image can be enumerated.例文帳に追加

前記平均表面電位分布の測定としては原子間力顕微鏡像による測定法が挙げられる。 - 特許庁

To provide an improved technology for measuring small dimensions quickly and accurately by using a probe microscope.例文帳に追加

プローブ顕微鏡を用いた、迅速且つ精度のよい微小寸法を計測する方法の改良技術を提供する。 - 特許庁

To provide a measuring microscope configured to be connected to a plurality of operation terminals, as necessary.例文帳に追加

複数の操作端末と必要なときに接続可能なように構成された測定顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

When the cross section is exposed, a scanning electron microscope is used for measuring dimensions of the feature.例文帳に追加

各断面が暴露される際、フィーチャの該当寸法を測定するために、走査電子顕微鏡が使用される。 - 特許庁

In this measuring microscope apparatus, an XY stage 27 and a column 30 are fitted on the upper surface of a base 26.例文帳に追加

この測定顕微鏡装置にあっては、ベース２６上面にＸＹステージ２７及びコラム３０が取付けられる。 - 特許庁

ELECTRON ENERGY LOSS SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED THEREWITH, AND ELECTRON ENERGY LOSS SPECTRUM MEASURING METHOD例文帳に追加

電子エネルギー損失分光装置、及びそれを備えた電子顕微鏡、及び電子エネルギー損失スペクトル測定方法 - 特許庁

To provide an optical microscope and a spectrum measurement method for measuring a spectrum in a short time.例文帳に追加

短時間にスペクトル測定を行うことができる光学顕微鏡、及びスペクトル測定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning method for a scanning electron microscope improving degradation of length measuring precision by shrink of a sample.例文帳に追加

試料のシュリンクによる測長精度の低下を改善する走査電子顕微鏡の走査法を提供する。 - 特許庁

To make measurement data easy for other computer software to use as to the video microscope which has an image measuring function.例文帳に追加

画像計測機能を有するビデオマイクロスコープにおいて、計測データを他のコンピュータソフトウェアで活用しやすくする。 - 特許庁

OPTICAL MEASURING DEVICE USING PHOTOELECTRON MULTIPLIER FOR PHOTO ACCEPTANCE UNIT, CONFOCAL MICROSCOPE SYSTEM AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

受光素子に光電子増倍管を用いた光学測定装置、共焦点顕微鏡システム及びコンピュータプログラム - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, ITS SYSTEM, AND DIMENSION MEASURING METHOD USING THEM例文帳に追加

電子顕微鏡装置およびそのシステム並びに電子顕微鏡装置およびそのシステムを用いた寸法計測方法 - 特許庁

INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE, MEASURING METHOD FOR SURFACE SHAPE USING IT AND MANUFACTURE OF MAGNETIC RECORDING MEDIUM例文帳に追加

原子間力顕微鏡、それを用いた表面形状の測定方法及び磁気記録媒体の製造方法 - 特許庁

A light intensity measuring unit 1 for measuring intensity of light emitted from a microscope includes: an aperture diaphragm 3; a field diaphragm 5; at least one measuring lens 4 arranged between the aperture diaphragm 3 and the field diaphragm 5; and an interface section 2a for being mounted to the microscope.例文帳に追加

顕微鏡から射出される光の強度を測定する光強度測定ユニット１は、開口絞り３と、視野絞り５と、開口絞り３と視野絞り５の間に配置される少なくとも１枚の測定レンズ４と、顕微鏡に装着するためのインターフェース部２ａとを含んで構成される。 - 特許庁

This etching dispersion estimation device has a length-measuring scanning electron microscope 10 for respectively measuring the line widths of a resist pattern used as a measuring object at a plurality of positions with first and second threshold values.例文帳に追加

複数の位置で、測定対象となるレジストパターンの線幅を、第１および第２の閾値でそれぞれ測定する測長用走査型電子顕微鏡１０を持つエッチングばらつき予測装置である。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope, an evaluation method of a probe of the scanning probe microscope, and a program, capable of evaluating a probe without measuring a standard sample.例文帳に追加

標準試料を測定することなく探針の評価を行うことのできる走査型プローブ顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡の探針の評価方法、およびプログラムを提供する。 - 特許庁

The measuring method is used for a nanostructure substrate, and also a nanostructure such as an atomic force microscope-use probe, a near-field optical microscope-use probe or the like which uses the enhancing effect.例文帳に追加

本発明は、ナノ構造体基板に限らず、原子間力顕微鏡用プローブ，近接場顕微鏡用プローブなど、増強度を利用するナノ構造体に対しても用いることができる。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope suitable for measuring an accurate probe current at the time of sample observation, even in a sample chamber held in lower vacuum than the inside of a microscope body part.例文帳に追加

鏡体部内よりも低い真空に保たれた試料室においても、試料観察時に正確なプローブ電流を測定するのに適した走査電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning type probe microscope controlling luminous energy with automatic measurement by the scanning type probe microscope for in-line inspection to enhance measuring precision of the automatic measurement.例文帳に追加

インライン検査のための走査型プローブ顕微鏡による自動計測で、光量を制御し、当該自動計測の測定精度を向上できる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To introduce four-probe type probe having a new constitution capable of measuring an electric conductivity into an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡に、電気伝導率を計測できる新しい構成の４探針のプローブを導入すること。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope capable of measuring height information inexpensively and highly precisely at a high speed.例文帳に追加

安価で高精度且つ高速に高さ情報を測定可能な走査型レーザ顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of measuring a three-dimensional shape with no limitation on shape.例文帳に追加

形状の制約なしに３次元の立体形状を測定することが可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system capable of surely measuring the movement of a sample in a long-term observation analysis.例文帳に追加

長時間観察解析において標本の動きを確実に測定することが可能な顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING DISTANCE BETWEEN OPTICAL OBSERVATION DEVICE AND EXAMINED SAMPLE WITH EXTENT, AND MICROSCOPE IMPLEMENTING THE SAME METHOD例文帳に追加

光学的観察装置と広がりのある被検試料との間の距離測定方法及び該方法を実行する顕微鏡 - 特許庁

To easily inspect local variance in a pattern of an exposure mask only by measuring diffracted light without using a microscope.例文帳に追加

露光用マスクのパターンのローカルばらつきを、顕微鏡を用いることなく回折光の測定だけで簡易に検査する。 - 特許庁

To provide a scanning type proximity field microscope measuring a specimen at a high S/N ratio and a high resolution.例文帳に追加

高いＳ／Ｎ比で試料を高分解能に測定することが可能な走査型近接場顕微鏡を提供する。 - 特許庁

SONIC SPEED MEASURING METHOD AND DEVICE USING ULTRASONIC MICROSCOPE, AND IMAGE DIAGNOSING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

超音波顕微鏡を使用した音速測定方法、その音速測定装置、画像診断方法およびその画像診断装置 - 特許庁

To enhance a scanning speed for a scanning X-ray microscope to provide a means capable of shortening a measuring time.例文帳に追加

走査型Ｘ線顕微鏡のスキャンスピードを向上させることにより、測定時間を短縮できる手段を提供する。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, PATTERN MEASURING METHOD USING THE SAME, AND APPARATUS FOR CORRECTING DIFFERENCE BETWEEN SCANNING ELECTRON MICROSCOPES例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びそれを用いたパターン計測方法並びに走査型電子顕微鏡の機差補正装置 - 特許庁

HETERODYNE BEAT PROBE SCANNING PROBE TUNNEL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING MICRO SIGNAL SUPERIMPOSED THEREBY ON TUNNEL CURRENT例文帳に追加

ヘテロダインビートプローブ走査プローブトンネル顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of measuring a large-sized sample while keeping precision of several ten picometers.例文帳に追加

数十ピコメートルの精度を備えつつ、大型の試料を測定することができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR FORMING AUTOMATIC SEQUENCE FILE SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD OF AUTOMATIC MEASURING SEQUENCE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の自動検出シーケンスファイル作成方法及び走査電子顕微鏡の自動測長シーケンス方法 - 特許庁

To enhance the sensitivity of a cantilever as a probe for measuring an elastic coefficient in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における、弾性係数を測定するためのプローブである片持ちはり（カンチレバー）を高感度にする。 - 特許庁