「Measuring microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

RADIATION DETECTING DEVICE, ELECTRON MICROSCOPE AND MEASURING APPARATUS例文帳に追加

放射線検出装置および電子顕微鏡および計測装置 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING OSCILLATION AMPLITUDE OF CANTILEVER IN NONCONTACT SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

ノンコンタクト走査プローブ顕微鏡におけるカンチレバーの発振振幅測定方法および走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING DISTANCE BETWEEN PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE SURFACE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針と試料表面との距離測定方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

AUTOCOLLIMATOR PROVIDED WITH MICROSCOPE, AND INSTRUMENT FOR MEASURING SHAPE USING THE SAME例文帳に追加

顕微鏡を備えたオートコリメータ、これを用いた形状測定装置 - 特許庁

HEIGHT MEASURING METHOD, CONFOCAL SCANNING OPTICAL MICROSCOPE, AND PROGRAM例文帳に追加

高さ測定方法、共焦点走査型光学顕微鏡、及びプログラム - 特許庁

SCANNING TYPE CONFOCAL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING SAMPLE INFORMATION例文帳に追加

走査型共焦点顕微鏡および試料情報測定方法 - 特許庁

CONFOCAL SCANNING OPTICAL MICROSCOPE, HEIGHT MEASURING METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

共焦点走査型光学顕微鏡、高さ測定方法、及びプログラム - 特許庁

LASER SCANNING MICROSCOPE APPARATUS, AND SURFACE SHAPE MEASURING METHOD THEREOF例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡及びその表面形状の測定方法 - 特許庁

PATTERN DIMENSION MEASURING METHOD, AND SCANNING TRANSMISSION CHARGED PARTICLE MICROSCOPE例文帳に追加

パターン寸法計測方法及び走査型透過荷電粒子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF SURFACE STRUCTURE OF SAMPLE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び試料の表面構造測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING MEASUREMENT TARGET PATTERN USING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

電子顕微鏡装置を用いた計測対象パターンの計測方法 - 特許庁

SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC-CONSTANT MICROSCOPE FOR MEASURING THREE-DIMENSIONAL POLARIZATION例文帳に追加

三次元分極計測用の走査型非線形誘電率顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING ITS PROBE RELATIVE POSITION例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びその探針相対位置測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING CANTILEVER AMPLITUDE AND NONCONTACT INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

カンチレバー振幅測定方法および非接触原子間力顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND PATTERN DIMENSION MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

電子顕微鏡システム及びそれを用いたパターン寸法計測方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR LINE-AND-SPACE PATTERN USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を用いたライン・アンド・スペースパターンの測定方法 - 特許庁

PUMP PROBE MEASURING INSTRUMENT AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

ポンププローブ測定装置及びそれを用いた走査プローブ顕微鏡装置 - 特許庁

To provide a position determination method capable of easily determining the position of a measuring object in electron microscope observation from position information or the like of the measuring object acquired by observation by a first microscope such as an optical microscope, a phase contrast microscope, a differential interference microscope or a polarization microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡、位相差顕微鏡、微分干渉顕微鏡または偏光顕微鏡等の第１の顕微鏡で観察した測定対象物の位置情報等から電子顕微鏡観察における測定対象物の位置を簡単に求めることができる位置決定方法を提供する。 - 特許庁

Next, a tilt angle of a measuring surface of the measuring sample is detected by the scanning tunnel microscope.例文帳に追加

次に、走査型トンネル顕微鏡により測定試料の測定面の傾斜角度を検出する。 - 特許庁

FLUORESCENCE MICROSCOPE, MEASURING METHOD OF FLUORESCENT LIFETIME, AND MEASURING PROGRAM OF FLUORESCENT LIFETIME例文帳に追加

蛍光顕微鏡及び蛍光寿命の測定方法、並びに蛍光寿命の測定用プログラム - 特許庁

SCANNING CAPACITIVE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査型容量顕微鏡およびこの顕微鏡を用いた測定方法 - 特許庁

DISPLACEMENT MEASURING METHOD, INSTRUMENT THEREFOR, STAGE DEVICE, AND PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

変位計測方法及びその装置、ステージ装置並びにプローブ顕微鏡 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR MEASURING PATTERN WITH USE OF DISPLAY MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

ディスプレイ顕微鏡画像を用いたパターン測定方法及び測定システム - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING SAMPLE SURFACE SHAPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および試料表面形状の計測方法 - 特許庁

SLIT CONFOCAL MICROSCOPE AND SURFACE SHAPE MEASURING APPARATUS USING IT例文帳に追加

スリット共焦点顕微鏡とそれを用いた表面形状計測装置 - 特許庁

At first, a measuring sample is placed on a stage of a scanning tunnel microscope.例文帳に追加

まず、走査型トンネル顕微鏡のステージ上に測定試料を載置する。 - 特許庁

ELECTROSTATIC CHARGE MEASURING METHOD, FOCUS ADJUSTING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

帯電測定方法、焦点調整方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING BY SCANNING ELECTROSTATIC CAPACITY MICROSCOPE例文帳に追加

走査型静電容量顕微鏡による測定方法および測定装置 - 特許庁

SUBMERGED CELL, ATOMIC FORCE MICROSCOPE HAVING THE SAME AND MEASURING METHOD USING THE ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

液中セルと該液中セルを有する原子間力顕微鏡、及び該原子間力顕微鏡による測定方法 - 特許庁

To provide a compound microscope capable of analyzing shape information acquired by an optical microscope or physical property information acquired by a scanning type probe microscope irrespective of a measurement mode, and to provide a measuring method of the compound microscope.例文帳に追加

測定モードに関係なく光学顕微鏡により取得される形状情報又は走査型プローブ顕微鏡により取得される物性情報を解析すること。 - 特許庁

In this position determination method of the measuring object, when performing same-field observation of the measuring object on a substrate by the first microscope and the electron microscope, the coordinate of the measuring object in the electron microscope is determined based on the coordinates of two points on the measuring object and the substrate in the first microscope and the coordinates of two points on the substrate in the electron microscope.例文帳に追加

基板上の測定対象物を第１の顕微鏡と電子顕微鏡とで同視野観察するに際して、第１の顕微鏡における測定対象物および基板の２つの点の座標と、電子顕微鏡における基板の２つの点の座標とに基づいて電子顕微鏡における測定対象物の座標を決定する方法。 - 特許庁

SCANNING TYPE SHAPE MEASURING INSTRUMENT, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND SURFACE SHAPE MEASURING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査型形状測定装置、原子間力顕微鏡及びそれを用いた表面形状測定方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEASURING INSTRUMENT AND SEMICONDUCTOR MEASURING METHOD, SAMPLE FABRICATING METHOD, AND SCANNING CAPACITANCE MICROSCOPE例文帳に追加

半導体測定装置及び半導体測定方法、サンプル作製方法、並びに走査型容量顕微鏡 - 特許庁

To provide an optical microscope achieving the shortening of measuring time.例文帳に追加

測定時間を短縮することができる光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

In the scanning probe microscope, SMP measurement is performed by the measuring parts.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡では、測定部によりＳＰＭ測定が行われる。 - 特許庁

To operate an observation mode and a measuring mode at the same time in an infrared microscope.例文帳に追加

赤外顕微鏡において、観察モードと測定モードとを同時に行う。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING ILLUMINATION REFLECTION MODE IN SCANNING NEAR-FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

走査型近接場顕微鏡におけるイルミネーション反射モードの測定方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING FILM THICKNESS DISTRIBUTION USING THE SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びそれを用いた膜厚分布測定方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING MAGNETIC FORCE OF SPECIMEN USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた試料の磁気力測定方法及び装置 - 特許庁

APPARATUS FOR MEASURING OPENING OF PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

プローブ開口作製装置、及びそれを用いた近接場光学顕微鏡 - 特許庁

CONFOCAL SCANNING MICROSCOPE, HEIGHT MEASURING METHOD, PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡、高さ測定方法、プログラム及び記憶媒体 - 特許庁

SCANNING NONLINEAR PERMITTIVITY MICROSCOPE FOR MEASURING HIGHER ORDER NONLINEAR PERMITTIVITY例文帳に追加

高次非線形誘電率を計測する走査型非線形誘電率顕微鏡 - 特許庁

DATA MEASURING METHOD AND DEVICE OF TOMOGRAPH IN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡におけるトモグラフのデータ測定方法及び装置 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE IMAGE AND LASER EXCITATION EMISSION DISTRIBUTION IMAGE MEASURING APPARATUS例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡像及びレーザ励起発光分布像測定装置 - 特許庁

PATTERN CHARACTERISTICS MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS SYSTEM例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いたパターン特性測定方法およびそのシステム - 特許庁