「Measuring microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

OPTICAL DEVICE FOR MICROSCOPE, MEASURING MICROSCOPE, AND IMAGE MEASURING MACHINE例文帳に追加

顕微鏡の光学装置、測定顕微鏡、および画像測定機 - 特許庁

FOCUSING DEVICE FOR MEASURING MICROSCOPE例文帳に追加

測定顕微鏡の焦準装置 - 特許庁

COMPOUND MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF COMPOUND MICROSCOPE例文帳に追加

複合顕微鏡及び複合顕微鏡の測定方法 - 特許庁

PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

プローブ顕微鏡およびプローブ顕微鏡の測定方法 - 特許庁

MEASURING DEVICE AND CONFOCAL MICROSCOPE例文帳に追加

測定器および共焦点顕微鏡 - 特許庁

MICROSCOPE ILLUMINATION INTENSITY MEASURING APPARATUS例文帳に追加

顕微鏡照明強度測定装置 - 特許庁

MEASURING MICROSCOPE HAVING FOCUSING DEVICE例文帳に追加

焦準装置を有する測定顕微鏡 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プロ—ブ顕微鏡の測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の測定方法 - 特許庁

DEFOCUSING AMOUNT MEASURING METHOD OF TEM (TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE)例文帳に追加

ＴＥＭのデフォーカス量測定方法 - 特許庁

PROBE MICROSCOPE AND PHYSICAL PROPERTY MEASURING METHOD例文帳に追加

プローブ顕微鏡及び物性測定方法 - 特許庁

DEVICE FOR MEASURING MICROSCOPE FIELD LIGHT QUANTITY DISTRIBUTION例文帳に追加

顕微鏡視野光量分布測定装置 - 特許庁

OPTICAL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING SPECTRUM例文帳に追加

光学顕微鏡及びスペクトル測定方法 - 特許庁

AUTOMATIC DISTORTION-MEASURING METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の自動歪み測定方法 - 特許庁

FLUORESCENCE MEASURING METHOD AND FLUORESCENCE MICROSCOPE例文帳に追加

蛍光測定方法及び蛍光顕微鏡 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL MICROSCOPE, AND OBSERVATION AND MEASURING METHOD USING THREE DIMENSIONAL MICROSCOPE例文帳に追加

三次元顕微鏡装置及び同装置を用いた観察・測定法 - 特許庁

CONFOCAL MICROSCOPE AND FILM THICKNESS MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

コンフォーカル顕微鏡及び膜厚測定装置 - 特許庁

MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた測定方法 - 特許庁

CONFOCAL MICROSCOPE AND HEIGHT MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

共焦点顕微鏡及び高さ測定装置 - 特許庁

MICROSCOPE IMAGING DEVICE AND DIMENSION MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

顕微鏡撮像装置及び寸法測定装置 - 特許庁

FORCE MEASURING METHOD AND SCANNING FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

力計測方法及び走査型力顕微鏡 - 特許庁

SHAPE MEASURING APPARATUS AND CONFOCAL MICROSCOPE例文帳に追加

形状測定装置及び共焦点顕微鏡 - 特許庁

LENGTH MEASURING METHOD FOR SAMPLE AND SACCNING MICROSCOPE例文帳に追加

試料の測長方法、及び走査顕微鏡 - 特許庁

STAGE POSITION MEASURING DEVICE FOR SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡のステージ位置測定装置 - 特許庁

CATHODE LUMINESCENCE MEASURING DEVICE AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

カソードルミネッセンス測定装置及び電子顕微鏡 - 特許庁

LENGTH MEASURING METHOD BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査形電子顕微鏡による測長方法 - 特許庁

SAMPLE MEASURING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND SAMPLE MEASURING SYSTEM THEREFOR例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた試料測定方法およびシステム - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡およびその測定方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びパターン測定方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びその測定方法 - 特許庁

PHASE CONTRAST MICROSCOPE AND SUPERPOSITION MEASURING DEVICE例文帳に追加

位相差顕微鏡及び重ね合わせ測定装置 - 特許庁

LENGTH MEASURING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いた測長方法 - 特許庁

SURFACE-MEASURING INSTRUMENT INTEGRATED SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

表面測定器一体型走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING MEASURING CONDITION BY ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡による測定条件決定方法 - 特許庁

ELECTRIC PROPERTY MEASURING METHOD AND MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

電気物性の測定方法および顕微鏡装置 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡およびその計測方法 - 特許庁

SCANNING AC HOLE MICROSCOPE AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型ＡＣホール顕微鏡とその測定方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING SURFACE SHAPE OF SOFT MATERIAL BY PROBE MICROSCOPE, AND PROBE MICROSCOPE USED FOR MEASURING METHOD例文帳に追加

プローブ顕微鏡による軟質物の表面形状測定方法、該測定方法に用いるプローブ顕微鏡 - 特許庁

MICROSCOPE STAGE, AND FOCAL POSITION MEASURING INSTRUMENT AND CONFOCAL MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

顕微鏡ステージ、および、焦点位置計測装置と共焦点顕微鏡システム - 特許庁

METHOD OF MEASURING VIBRATION, AND ULTRASONIC MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

振動計測方法及び超音波顕微鏡システム - 特許庁

MEASURING METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND DEVICE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の測定方法および装置 - 特許庁

PATTERN SIZE MEASURING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

パターン寸法計測方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION MEASURING METHOD例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法 - 特許庁

INFRARED MICROSCOPE AND ITS MEASURING POSITION DECISION METHOD例文帳に追加

赤外顕微鏡及びその測定位置確定方法 - 特許庁

KERR EFFECT MICROSCOPE, MAGNETIZATION DIRECTION MEASURING METHOD, AND KERR EFFECT MICROSCOPE CALIBRATION METHOD例文帳に追加

カー効果顕微鏡、磁化方向測定方法、及びカー効果顕微鏡校正方法 - 特許庁