「Measuring microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a data measuring method and a device of a tomograph, reducing an electron beam irradiation quantity to a sample, in the data measuring method and the device of the tomograph in a transmission type electron microscope.例文帳に追加

本発明は透過型電子顕微鏡におけるトモグラフのデータ測定方法及び装置に関し、試料への電子線照射量を減らすことができるトモグラフのデータ測定方法及び装置に関する。 - 特許庁

To provide a measuring device and a confocal microscope for obtaining picture information obtained by an inside synchronous image pickup device in the minimum time, and for quickening the measuring time.例文帳に追加

内部同期式撮像装置により得られる画像情報を最小限の時間で取得することができ、測定時間の高速化が図られた測定器および共焦点顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

To provide a multi-probe type scan probe microscope apparatus and a sample surface evaluation method which can reduce labor and time required for measuring work by facilitating the measurement of multiple kinds of scan probe microscope images.例文帳に追加

複数種の走査プローブ顕微鏡像の測定を容易に行えて、測定作業に要する労力および時間を軽減できるマルチプローブ型走査プローブ顕微鏡装置およびそれを用いた試料表面評価方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a probe suitable for measuring a biopolymer by a scanning probe microscope such as an atomic force microscope, etc., and a base material for immobilizing a polymer capable of immobilizing a biopolymer such as a substrate as a specimen.例文帳に追加

原子間力顕微鏡などの走査型プローブ顕微鏡による生体高分子の測定に適したプローブならびに被検体としての基板などの生体高分子固定可能な重合体を固定する基材を提供すること。 - 特許庁

This scanning probe microscope is provided with an optical high-sensitive proximity sensor to control approximation between a sample and a probe, allowing high-speed approach to each measuring point.例文帳に追加

光学式の高感度近接センサを具備して試料と探針との接近を制御することによって、各測定箇所へのアプローチを高速化した。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of detecting accurately the displacement quantity of a probe, and thereby observing the accurate surface structure of a measuring sample.例文帳に追加

探針の変位量を正確に検出し、ひいては被測定試料の正確な表面構造を観測できる走査型プローブ顕微鏡の提供。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a sample suitable for evaluating two-dimensional carrier distribution by a scanning probe microscope, wherein the sample is used for measuring the two-dimensional carrier distribution.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による２次元キャリア分布の評価に適した２次元キャリア分布測定用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a collimation plate reducing individual difference of a measurement result and reducing the load of measuring work, and also to provide a microscope device using the collimation plate.例文帳に追加

測定結果の個人差を低減し、測定作業の負荷を低減することが可能な視準板、及び、この視準板を用いた顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope capable of taking a three- dimensional image of a sample at high speed, and measuring the height of the sample highly accurately.例文帳に追加

試料の三次元画像を高速に取り込むことが可能で、且つ、試料の高さを高精度に測定可能な、走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning type probe microscope for accurately measuring a three-dimensional shape without extending measurement time even to an irregular sample.例文帳に追加

凹凸の激しい試料に対しても、測定時間を長くすることなく、正確な三次元形状測定を行なえる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an optical microscope for a Vickers hardness test which does not require a high degree of technology and many parts, etc., does not require a cost and has measuring lines.例文帳に追加

高度な技術や多数の部品等を必要とせず、製作コストのかからない測定線を有するビッカース硬さ試験用光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope of novel arrangement applicable to various fields, e.g. biochemical field, for measuring various physical properties.例文帳に追加

種々の物性測定が可能であるとともに、生化学分野など種々の分野に適用することのできる新規な構成の走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To make controllable the quality of printing area by visually measuring a printing area size easily and accurately without depending upon an assistant tool such as a microscope and a computer.例文帳に追加

顕微鏡やコンピュータ等の補助具に依存することなく、目視により容易かつ正確に画線寸法を測定し品質を管理することを可能にする。 - 特許庁

PROBE SCANNING CONTROL DEVICE, SCANNING PROBE MICROSCOPE BY THE SAME, PROBE SCANNING CONTROL METHOD, AND MEASURING METHOD BY THE SCANNING CONTROL METHOD例文帳に追加

プローブの走査制御装置、該走査制御装置による走査型プローブ顕微鏡、及びプローブの走査制御方法、該走査制御方法による測定方法 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of accurately controlling the distance between a probe and a sample and capable of measuring the magnetic force of a cooled sample with good reproducibility.例文帳に追加

プローブと試料の距離を正確に制御し、冷却した試料の磁気力が再現性良く測定できる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a shape measuring apparatus and a laser microscope which, even when external mechanical vibrations and acoustic vibrations are propagated, are unaffected by the external vibrations.例文帳に追加

外部からの機械振動や音響振動が伝達されても、外部振動の影響を受けない形状測定装置及びレーザ顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To measure an inclination and a distance of an object to be measured after being positioned using a microscope, without limiting the kind (wavelength) of measuring light.例文帳に追加

測定光の種類（波長）を制限することがなく、顕微鏡を用いた位置決めを行った上で被測定物の傾きや距離を測定すること。 - 特許庁

To provide a measuring method of a regist pattern with high accuracy by controlling the volume shrinkage of a scanning electron microscope which is caused by electron irradiation.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡の電子線照射によるレジストパータンの体積収縮を抑制して、測定精度を向上し得る方法を提供する - 特許庁

To analyze a chemical bonding condition of a measuring material, by analyzing a characteristic X-ray wavelength obtained from an electron microscope.例文帳に追加

測定用材料を電子顕微鏡から取得される特性Ｘ線波長を解析することによって化学結合状態を解析する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a phase-contrast microscope in which a phase ring of a phase-difference capacitor section is removed to assure a high degree of freedom and in which a measuring system can be incorporated.例文帳に追加

位相差コンデンサ部の位相リングを除去し、大幅な自由度を確保し、計測システムを組み込むことができる位相差顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To prevent measuring error and obtaining sufficient measuring precision when the reflection coefficient of a measuring object is low and a pattern having a higher reflection coefficient exists in the vicinity of the object, in an apparatus and a method for measuring the dimension of a pattern by obtaining an image with an optical microscope.例文帳に追加

光学式顕微鏡により画像を取得してパターンの寸法を測定する装置及び方法において、測定対象のパターンの反射率が低く、近傍に反射率のより高いパターンが存在する場合にも、測定ミスを防止でき充分な測定精度を得ることができるものを提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device of a critical-dimension measuring scanning electron microscope (CD-SEM) or the like, measuring accurately a pattern dimension on a photomask for nanoimprint by a retarding voltage application system.例文帳に追加

リターディング電圧印加方式によってナノインプリント用フォトマスク上のパターン寸法を正確に測定することができる微小寸法測定走査電子顕微鏡（CD-SEM）等の荷電粒子線装置を提供することにある。 - 特許庁

To solve such problems that a digital camera, an improved microscope or a coordinate measuring apparatus used for measuring the dimensions, position or attitude of a blade does not provide a desired accuracy or reliability and it is expensive, bulky and slow in response.例文帳に追加

ブレードの寸法や位置や姿勢を測定するのに用いられるデジタルカメラ、改良された顕微鏡又は座標測定機械は、所望の精度や信頼性を提供せず、高価で、かさばり、応答が遅い。 - 特許庁

To provide a physical quantity measuring instrument capable of two-dimensionally or three-dimensionally measuring the physical quantities, such as concentration, temperature, pH and the like of a fluid in the flow channel or the like of a microreactor with high accuracy and at a high speed by adapting a confocal microscope.例文帳に追加

共焦点顕微鏡を適用し、マイクロリアクタの流路などにおける流体の濃度、温度、ｐＨ等の物理量を高精度、高速に２次元または３次元測定できる装置を提供する。 - 特許庁

This probe control method is adopted for the scanning probe microscope for changing the relative position relation between the probe 20 and a sample 12, and measuring the sample surface by a measuring part, while scanning the sample surface by the probe.例文帳に追加

この探針制御方法は、探針２０と試料１２の相対的な位置関係を変化させ、探針が試料の表面を走査しながら測定部で試料表面を測定する走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁

In order to solve the problems, the standard position of a measuring spot by a scanning electron microscope or the like is set based on position information of a standard pattern on an image acquired by the scanning electron microscope or the like, which is formed on a position separated from the measuring spot, and on information of a position relation between the standard pattern detected based on the design data and the measuring spot.例文帳に追加

上述のような問題を解決するため、測定個所から離間した位置に形成され、走査電子顕微鏡等によって得られる画像上の基準パターンの位置情報と、設計データに基づいて検出される基準パターンと測定個所の位置関係の情報に基づいて、走査電子顕微鏡等による測定個所の基準位置を設定する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and its measurement setting method capable of specifying a measuring spot on the sample surface highly accurately at high speed, and aligning the spot with a probe, to thereby heighten measurement efficiency by an atomic force microscope or the like.例文帳に追加

試料表面の測定箇所を高速にかつ高精度に特定して探針との位置合わせを行い、原子間力顕微鏡等により測定の効率を高める走査型プローブ顕微鏡およびその測定設定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscopic surface temperature distribution measuring device capable of measuring a temperature of a microscopic area of 1μm or less without adopting a composition wherein a microscopic temperature measuring means is arranged on a microscopic tip of a cantilever which is a cause of error in temperature measurement in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における温度測定の際の、誤差の原因であるカンチレバーの微小先端に微小な温度計測手段を配置するという構成を採らずに、１μｍ以下の微小領域の温度を計測できる微小表面温度分布測定装置の提供。 - 特許庁

To provide a three-dimensional membrane structure measuring method of a scanning probe microscope capable of measuring the surface shapes of respective layers at every manufacturing process in a manufacturing process of a semiconductor device having a multilayered structure to synthesize the measurement results and capable of analyzing and evaluating those measuring results using the data of a multilayer.例文帳に追加

多層構造を有する半導体デバイスの製造プロセスで、各層の表面形状を製造工程毎に計測し、それらの計測結果を合成し、多層のデータを用いて解析・評価することができる走査型プローブ顕微鏡の立体膜構造測定方法等を提供する。 - 特許庁

To determine the exposure time for taking a picture of an image with an electron microscope without using a mechanism for measuring the brightness of an observed image on a fluorescent screen or the like.例文帳に追加

蛍光板等の観察像の輝度を測定する機構を利用することなく、電子顕微鏡の観察像を写真撮影するための露光時間を決定する。 - 特許庁

To provide a linewidth measurement regulation method and a scanning electron microscope capable of preventing a measured result from being fluctuated even when changing a magnification, a scanning direction and a measuring instrument.例文帳に追加

倍率、走査方向や測定装置を変更しても、測定結果の変動が生じない線幅測定調整方法及び走査型電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The measuring cell 8 is fixed on the sample stage of an atomic force microscope 20, and a probe is allowed to fall on the surface of the Al layer 4 of the sample 7 to measure the surface shape of the Al layer.例文帳に追加

この測定セル８を、原子間顕微鏡２０の試料ステージに固定し、試料７のＡｌ層４の表面に探針を降ろし表面形状測定を行う。 - 特許庁

To provide a probe microscope for easily measuring an identical region in a to-be-measured object by using first and second displacement detecting optical systems.例文帳に追加

第１変位検出光学系、及び第２変位検出光学系にて被測定物における同一の箇所を容易に測定することができるプローブ顕微鏡の提供。 - 特許庁

To provide a sample stage which stabilizes a sample position during sample observation and can smoothly move a sample and a microscope or measuring instrument using this sample stage.例文帳に追加

試料観察時には試料位置が安定し、かつ試料をスムーズに移動できる試料ステージ及びその試料ステージを用いた顕微鏡又は測定器を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of measuring the shape and the property of the sample surface by preventing growth of ice on the sample surface at the sample cooling time.例文帳に追加

試料冷却時に試料面の氷の成長を防止して試料面の形状、及び物性を測定することを可能とする走査型プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning capacitance microscope(SCM) with which a p-n junction position in a semiconductor sample can be specified with high detection sensitivity and to provide a measuring method using the SCM.例文帳に追加

半導体試料中のｐ−ｎ接合位置を高い検出感度で特定できる走査型容量顕微鏡（ＳＣＭ）とそれを用いた測定方法を提供する。 - 特許庁

When measuring a positional relationship between a first lot wafer and a reticle, a reticle microscope is focused (step 412), and its state is stored (step 414).例文帳に追加

ロット先頭のウエハとレチクルとの位置関係の計測を行うに際して、レチクル顕微鏡の合焦動作を行い（ステップ４１２）、その状態を記憶する（ステップ４１４）。 - 特許庁

APPARATUS FOR MEASURING CRYSTALLOGRAPHIC ORIENTATION RELATIONSHIP OF ADJACENT CRYSTAL GRAINS USING GONIOMETER OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD OF EXAMINING CHARACTERISTICS OF GRAIN BOUNDARY USING THE SAME例文帳に追加

透過電子顕微鏡のゴニオメ−タを利用した隣り合う結晶粒の結晶学的方位関係測定装置及びそれによる結晶粒界の特性の糾明方法 - 特許庁

To provide a confocal scanning type microscope in which compensation is easily carried out in consideration of the field curvature of an objective lens when measuring various specimens.例文帳に追加

様々な試料を測定する際に、簡単に対物レンズの像面湾曲を考慮した補正をすることの出来る共焦点走査型顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The abrasive plane of a whetstone 10 is imaged at a measuring object position on the whetstone 10, by changing the focusing position of a microscope 40 with a camera stepwise in the direction perpendicular to the abrasive plane.例文帳に追加

砥石１０上の測定対象位置について、カメラ付き顕微鏡４０の焦点位置を砥面と垂直の方向にステップ的に可変しながら砥面を撮像する。 - 特許庁

To provide a fine pattern measuring method which accurately measures a sidewall angle of a fine pattern from an image obtained by a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡で得られる画像から微細パターンの側壁角度を精度良く測定することができる微細パターン測定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an inexpensive scanning probe microscope fitted with a dynamic vibration reducer capable of accurately obtaining measuring data reduced in noise with high resolving power.例文帳に追加

ノイズを低減した測定データを正確に且つ高分解能に得ることが可能な低コストな動吸振器付き走査型プローブ顕微鏡及びその測定方法を提供する。 - 特許庁

In the scanning probe microscope, while keeping the physical quantities constant at the measuring parts, the sample surface is scanned by the probe by the moving mechanisms, to thereby measure the sample surface.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡では測定部で物理量を一定に保ちながら移動機構により探針で試料の表面を走査して試料の表面を測定する。 - 特許庁

To enable reliable measurement high in S/N in a scanning probe microscope measuring the surface state or surface vol. distribution of a sample.例文帳に追加

試料２５の表面状態や表面の容量分布を測定する走査型プロ−ブ顕微鏡において、Ｓ／Ｎが高く信頼性のある測定ができるようにする。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus which images an enlarged screen by using a line sensor, rapidly images a subject and can rapidly and easily set a measuring region.例文帳に追加

ラインセンサを使用して拡大画面を撮像する顕微鏡装置において、被写体を迅速に撮像すると共に、測定領域を迅速かつ容易に設定できるようにする。 - 特許庁