「Measuring microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

The microscope is also equipped with an optical microscope 17 for observing the measuring spot on the sample surface together with the cantilever, a camera 18 for generating image data from an observation image acquired by a second microscope, and transmitting the data to the control device, and a storage part 51 for storing the image data.例文帳に追加

さらに、試料の表面の測定箇所をカンチレバーと共に観察する光学顕微鏡１７と、第２顕微鏡で得られる観察像から画像データを作り、制御装置に送るカメラ１８と、画像データを記憶する記憶部５１を備える。 - 特許庁

To provide a pattern dimension measuring method capable of measuring a cross-sectional shape using a scanning charged particle microscope such as a STEM (Scanning Transmission Electron Microscope), as to a plurality of cross sections, by one time of sample preparation, and a system therefor.例文帳に追加

ＳＴＥＭ等の走査型荷電粒子顕微鏡を用いた断面形状計測を１回のサンプル作成で複数の断面について行うことができるようにしたパターン寸法計測方法及びそのシステムを提供することにある。 - 特許庁

To improve the accuracy of measuring marks themselves and to prevent the erroneous judgment by the personal differences among measuring persons, the optical axis misalignment of an optical microscope used for measurement, etc., in measuring misalignment in superposition between different layers.例文帳に追加

異なるレイヤー間の重ね合わせずれ測定において、測定マーク自身の精度自体の向上と、測定者間による個人差や測定に用いる光学顕微鏡の光軸ずれ等による誤判定を防止。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of automatically rationalizing various parameters in a measuring instrument corresponding to a cantilever and planned so as to enhance not only the efficiency of measuring work but also the stabilization and reliability of a measuring result.例文帳に追加

測定装置での各種パラメータを、カンチレバーに応じて自動的に適正化でき、測定作業の効率化、測定結果の安定化と信頼性向上を企図した走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a mixing method of microscope objective liquid immersion oil and a measuring set of microscope objective liquid immersion oil, which is used for improving the resolution of objective lens in a microscope and makes refractive index of the microscope objective liquid immersion oil optimum, in response to the temperature of a sample or the thickness of cover glass for the microscope.例文帳に追加

本発明は、顕微鏡において対物レンズの分解能を向上させるために使用される顕微鏡対物用液浸油の混合方法および顕微鏡対物用液浸油計量セットに関し、標本の温度あるいは顕微鏡用カバー硝子の厚さに対応して顕微鏡対物用液浸油の屈折率を最適な屈折率にすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of measuring a local electric characteristic highly accurately even in the case of a sample having irregularities.例文帳に追加

凹凸のある試料であっても局所的電気特性を高い精度で測定できる走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning optical microscope capable of easily measuring the quantity of illuminating light radiated to a sample.例文帳に追加

標本に照射される照明光の光量を容易に測定することが可能な走査型光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a probe apparatus for a magnetic force microscope having resolution suitable for measuring a high-recording-density magnetic recording medium.例文帳に追加

高記録密度の磁気記録媒体の測定に適した分解能を有する磁気力顕微鏡用プローブ装置を提供する。 - 特許庁

To provide an infrared microscope capable of reliably measuring a specific part of a sample.例文帳に追加

本発明の目的は、試料の特定部位の測定を、より確実に行うことのできる赤外顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide a magneto-optical microscope magnetometer capable of measuring a hysteresis loop of a hyperfine local area (on the order of 0.3×0.3 μm).例文帳に追加

超微細局所面積（約０．３×．０．３μｍ）のヒステリシスループを測定できる光磁気顕微鏡磁力計の提供。 - 特許庁

To provide a microscope system capable of measuring a biotic material such as a biotic cell particularly as a sample over a long time.例文帳に追加

特に生物細胞などの生物材料を試料と長時間にわたって測定することができる顕微鏡システムの提。 - 特許庁

To provide a length measuring method for a sample in which a length measurement error due to a beam diameter size can be reduced and to provide a scanning microscope.例文帳に追加

ビーム径寸法に由来する測長誤差を低減が可能な試料の測長方法、及び走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The method and device, for measuring a microscopic thermoelectric matter sample and analyzing its characteristics through the use of a scanning microscope, are provided.例文帳に追加

走査顕微鏡を用いて、微視的な熱電物質サンプルを測定及び特性解析する方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe microscope downsized in a simple constitution, and enabling a user to observe a measuring object W appropriately.例文帳に追加

簡素な構成で小型化することができ、被測定物Ｗを適切に観察することができるプローブ顕微鏡の提供。 - 特許庁

To shorten the time required for a process for measuring sample height performed by using a confocal scanning optical microscope.例文帳に追加

共焦点走査型光学顕微鏡を用いて行う試料の高さ測定のための工程に要する時間を短縮する。 - 特許庁

DEVICE FOR MEASURING SPECTRUM CHARACTERISTIC OF FLUORESCENCE CUBE, FLUORESCENCE MICROSCOPE WITH THE SAME, AND PHOTOMETRIC UNIT AND FLUORESCENCE CUBE例文帳に追加

蛍光キューブのスペクトル特性の測定装置及びこの測定装置を備えた蛍光顕微鏡並びに測光ユニット及び蛍光キューブ - 特許庁

To provide an eyepiece of measurement microscope capable of reducing the size and weight and accurately measuring the angle.例文帳に追加

小型、軽量化を図れるとともに、高精度の角度測定を行えるようになる測定顕微鏡の接眼レンズを提供する。 - 特許庁

METHOD FOR POSITIONING FOCUSING POINT IN CONFOCAL LASER MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING HEIGHT OF SURFACE OF OBJECT TO BE MEASURED例文帳に追加

共焦点型レーザー顕微鏡における合焦点位置判定方法および測定対象物の表面の高さ測定方法 - 特許庁

METHOD FOR POSITIONING FOCUSING POINT IN CONFOCAL LASER MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING HEIGHT OF SURFACE OF OBJECT TO BE MEASURED例文帳に追加

共焦点型レーザー顕微鏡における合焦点位置決定方法および測定対象物の表面の高さ測定方法 - 特許庁

To provide an imaging apparatus for a microscope, which is capable of accurately obtaining the time change of a phenomenon occurring in a biological sample by measuring a time from the input of a trigger signal to the start of exposure, and to provide an imaging program for the microscope and an imaging method for the microscope.例文帳に追加

トリガ信号入力から露光開始までの時間を測定し、生物標本に生じた現象の時間変化を正確に把握することが可能な顕微鏡用撮像装置、顕微鏡用撮像プログラムおよび顕微鏡用撮像方法を提供すること。 - 特許庁

The durability predicting apparatus 100 comprises a deterioration promoting apparatus 10 (a deterioration promoting means), an electron microscope 12, an energy dispersing X-ray analyzing apparatus 1206, a film thickness measuring instrument 14, a gloss measuring instrument 16, a contact angle measuring instrument 18 and a color measuring instrument 20.例文帳に追加

耐久性予測装置１００は、劣化促進装置１０（劣化促進手段）、電子顕微鏡１２、エネルギー分散形Ｘ線分析装置１２０６、膜厚測定器１４、光沢測定器１６、接触角測定器１８、色測定器２０を備えて構成されている。 - 特許庁

To provide a positioning method of the measuring position of a scanning probe microscope, capable of performing positioning at a high speed with high precision, by eliminating the positional shift caused by the coarse operation of a Z-coarse adjustment part, at positioning of the probe at the measuring position in the scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡での測定位置の探針位置決めで、Ｚ粗動部の粗動動作に起因する位置ズレを解消し、高精度でかつ高速な位置決めを行うことができる走査型プローブ顕微鏡の測定位置の位置決め方法を提供する。 - 特許庁

This scanning probe microscope is equipped with a cantilever 21 having a probe 20, measuring parts 24, 32, or the like, for measuring the interatomic force generated between the probe and a sample when scanning the sample 12 surface by the probe or the like, a sample stage 11 and an optical microscope 18.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、探針２０を有するカンチレバー２１、探針が試料１２の表面を走査するとき探針と試料の間で生じる原子間力等を測定する測定部（２４，３２等）、試料ステージ１１、光学顕微鏡１８を備える。 - 特許庁

To provide a measuring method for an object by switching for shifting a changeable mirror, largely reducing a measuring time with an easy structure, and a non-scanning confocal microscope using the same.例文帳に追加

構成が簡単で計測時間を大幅に短縮する可変鏡形状切替による物体計測方法及びそれを用いた非走査型共焦点顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a microscope measuring apparatus capable of accurately setting a spectroscopic measuring area of a test object such as a color filter or the like, and accurately grasping spectroscopic information of the test object.例文帳に追加

カラーフィルタなどの被検体の分光計測領域を正確に設定することが可能で、被検体の分光情報を正確に把握できる顕微鏡測定装置を提供する。 - 特許庁

To efficiently apply a relatively large magnetic field to a measuring target, for a polarization microscope and based on this, to observe the dynamic magnetization response of the measuring target.例文帳に追加

偏光顕微鏡において、被測定物に比較的大きな磁界を効率的に印加し、それにより被測定物の動的な磁化応答を観測することを可能とすることにある。 - 特許庁

To provide a magnetic field measuring technology for accurately measuring a magnetic field waveform when a magnetic head writes a high-frequency signal by using a low-resonance-frequency probe in a magnetic force microscope.例文帳に追加

磁気力顕微鏡において、高周波信号を低共振周波数のプローブを用いて磁気ヘッドの書き込み時の磁界波形の計測を精度良く行う磁界計測技術を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal image measuring system for preferably attaining synchronization of a Nieuwpoort disk and an imaging device, and to provide a confocal microscope and a confocal image measuring method.例文帳に追加

ニポウ円盤と撮像装置との同期を好適に実現することが可能な共焦点像計測システム、共焦点顕微鏡、及び共焦点像計測方法を提供する。 - 特許庁

CANTILEVER, CANTILEVER SYSTEM, SCANNING PROBE MICROSCOPE, MASS SENSOR DEVICE, ELASTIC MEASURING DEVICE, MANIPULATION DEVICE, DISPLACEMENT MEASURING METHOD OF CANTILEVER, EXCITATION METHOD OF CANTILEVER, AND DEFORMATION METHOD OF CANTILEVER例文帳に追加

カンチレバー、カンチレバーシステム、走査型プローブ顕微鏡、質量センサ装置、弾性計測装置及びマニピュレーション装置並びにカンチレバーの変位測定方法、カンチレバーの加振方法及びカンチレバーの変形方法 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and its measuring method capable of properly adjusting an explorer approaching position, when measuring a ridged/grooved shape and stroke of a Z-axis fine-movement element when an approaching action is finished, and measuring effectively utilizing the stroke.例文帳に追加

凹凸形状測定時に探針接近位置と接近動作終了時のＺ軸微動素子のストロークを適切に調整し、ストロークを有効に利用して測定できる走査型プローブ顕微鏡およびその測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of easily measuring the change with time of fluorescence in a short time, when the fluorescence is observed.例文帳に追加

蛍光観察を行う場合に、蛍光の経時変化を短時間で容易に測定することができる共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a measuring microscope apparatus simply switched between a condition suitable for in-plane measurement and a condition suitable for height measurement.例文帳に追加

面内測定に好適な条件と高さ測定に好適な条件とを簡単に切り換えられる測定顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical microscope and a method for judging viability or measuring cell activity without giving adverse influences on cells.例文帳に追加

細胞に悪影響を与えることなく生死判別及び細胞活動を測定できる光学顕微鏡及び方法を提供する。 - 特許庁

This application provides a method and device for acquiring a scanning electron microscope image without distortion by measuring and calibrating scanning distortion.例文帳に追加

走査歪みを計測し、校正することで歪みの無い走査電子顕微鏡像を取得するための方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope provided with a mean measuring a dose of particle beam such as electron beam and ion beam.例文帳に追加

電子ビームやイオンビーム等の粒子線の粒子線量を測定する手段を備えた走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope illumination intensity measuring apparatus which can measure intensity of illumination light (exciting light) irradiating a sample (a cell).例文帳に追加

標本（細胞）に照射される照明光（励起光）の強度を測定し得る顕微鏡照明強度測定装置を提供する。 - 特許庁

To reduce anxiety feeling and uncomfortable feeling which user senses when performing automatic measurement with a microscope accompanied by automatic setting of a measuring condition.例文帳に追加

測定条件の自動設定を伴う顕微鏡での自動測定を行う場合にユーザが感じる不安感や不快感を軽減する。 - 特許庁

To provide a digital microscope which is capable of measuring dimensions of a test piece accurately and is small and inexpensive.例文帳に追加

正確にその試料の大きさを測定することが可能であって小型でかつ低廉なデジタル顕微鏡を提供することができる。 - 特許庁

To provide an optical axis correcting method for a microscope, capable of automatically measuring a shift amount of an optical axis between magnifications in a microscope having a zoom lens, and automatically correcting the position of an imaged object in each magnification of the microscope according to the measured shift amount of the optical axis.例文帳に追加

ズームレンズを備える顕微鏡における倍率間の光軸のずれ量を自動的に測定し、測定された光軸のずれ量に基づいて顕微鏡の各倍率における被撮像物の位置を自動的に補正することができるような顕微鏡の光軸補正方法を提供する - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of reducing a measurement error caused by a creep without lowering a throughput in measurement by the scanning probe microscope equipped with a coarse movement Z-axis stage having a visco-elastic characteristic, its measuring order determination method, and its measuring method.例文帳に追加

粘弾性特性を有する粗動Ｚ軸ステージを備えた走査型プローブ顕微鏡による測定で、スループットを下げることなく、クリープに起因する計測誤差を低減できる走査型プローブ顕微鏡、その測定順序決定方法、およびその測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of measuring a surface shape of a soft material by a probe microscope allowing accurate measurement of the surface shape of the soft material including a droplet or a material that has high volatility, and is soft and easy to deform, and to provide a probe microscope used for the measuring method.例文帳に追加

液滴や揮発性が高い上に軟らかく変形し易い材料を含む軟質物の表面形状を、精度良く測定することが可能となるプローブ顕微鏡による軟質物の表面形状測定方法、該測定方法に用いるプローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a human sperm number-detecting kit capable of measuring human sperm numbers without using a microscope or a spectrophotometer by enzymatically producing NADH from fructose in a human semen and then adding luciferase emitting light with NADH thereto.例文帳に追加

顕微鏡や分光光度計などの設備がなくとも一般人が容易に測定できる精子数測定キットを開発すること。 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL PROBE UNIT, ITS PRODUCING SYSTEM AND METHOD, NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING SAMPLE USING NEAR-FIELD LIGHT例文帳に追加

近接場光プローブユニット、その作製装置および作製方法、近接場光顕微鏡ならびに近接場光による試料測定方法 - 特許庁

To enhance a through-put while restraining deterioration of measuring precision in height measurement carried out using a confocal scanning optical microscope.例文帳に追加

共焦点走査型光学顕微鏡を用いて行う高さ測定における測定精度の劣化を抑制しつつスループットを向上させる。 - 特許庁

In the etching process, the end point of the etching is controlled based on the result obtained by measuring the etching depth of the silicon substrate by an optical microscope.例文帳に追加

エッチング工程では、光学顕微鏡によりシリコン基板のエッチング深さを測定した結果に基づいて、エッチングの終点を管理する。 - 特許庁