Microscopeを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8962件
POSITIONING METHOD OF MEASURING POSITION OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡の測定位置の位置決め方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR ENCODING LIVE IMAGE OBTAINED THROUGH MICROSCOPE例文帳に追加
顕微鏡の生画像を符号化する方法および装置 - 特許庁
PREPARATION METHOD FOR OBSERVING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過型電子顕微鏡用観察試料作製方法 - 特許庁
CATHODOLUMINESCENCE DETECTION DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE例文帳に追加
走査電子顕微鏡等のカソードルミネッセンス検出装置 - 特許庁
CHARGED POTENTIAL MEASURING METHOD, AND CHARGED PARTICLE MICROSCOPE例文帳に追加
帯電電位測定方法、及び荷電粒子顕微鏡 - 特許庁
3-DIMENSIONAL IMAGE BUILDING METHOD AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
3次元像構築方法および透過電子顕微鏡 - 特許庁
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR ADJUSTING ITS AXIS例文帳に追加
走査透過電子顕微鏡及びその軸調整方法 - 特許庁
SUBMERGED CELL, ATOMIC FORCE MICROSCOPE HAVING THE SAME AND MEASURING METHOD USING THE ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
液中セルと該液中セルを有する原子間力顕微鏡、及び該原子間力顕微鏡による測定方法 - 特許庁
AUTOMATIC FOCUSING DEVICE, MICROSCOPE, AND AUTOMATIC FOCUSING METHOD例文帳に追加
自動合焦装置、顕微鏡および自動合焦方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING TILTING STAGE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡の傾斜ステージ補正方法及び装置 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加
電子顕微鏡観察用の試料片の製造方法 - 特許庁
OBSERVATION METHOD BY PHASE RETRIEVAL TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
位相回復方式の電子顕微鏡による観察方法 - 特許庁
AUTOMATIC FOCUSING DEVICE AND MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加
自動焦点装置及びそれを用いた顕微鏡装置 - 特許庁
FIBER ILLUMINATION TYPE MICROSCOPE SYSTEM, AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加
ファイバ照明型顕微鏡システム及びその制御方法 - 特許庁
OPHTHALMIC OPERATION MICROSCOPE WITH SUBJECT LIGHTING例文帳に追加
被検対象照明を伴う眼科用手術顕微鏡 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE APPLICATION DEVICE, AND TESTPIECE INSPECTION METHOD例文帳に追加
電子顕微鏡応用装置および試料検査方法 - 特許庁
To provide a device and method for mounting an adjusted microscope stage to a microscope stand.例文帳に追加
顕微鏡ステージを調節済みの状態で顕微鏡スタンドに取り付けるための装置と方法を提供する。 - 特許庁
MICROSCOPE HAVING FOCUS LOCKING SECTION AND FOCUS LOCKING DEVICE例文帳に追加
フォーカスロック部を備えた顕微鏡、および、フォーカスロック装置 - 特許庁
ULTRAVIOLET MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING THE SAME例文帳に追加
紫外線顕微鏡およびこれを用いた観察方法 - 特許庁
SLIT LIGHT PARALLEL RECIPROCATING TYPE DEPTH/HEIGHT MEASURING MICROSCOPE例文帳に追加
スリット光平行往復型深さ高さ測定顕微鏡 - 特許庁
The particle diameter ratio would be measured by the electron microscope pictures. 例文帳に追加
粒径比の測定には電子顕微鏡写真を用いる。 - 特許庁
To provide a microscope system such that a moving stage mounted with a microscope main body can easily be operated with one hand.例文帳に追加
顕微鏡本体を載置した移動ステージを片手で簡単に操作できる顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁
This invention can be applied to, for example, a microscope device.例文帳に追加
本発明は、例えば、顕微鏡装置に適用できる。 - 特許庁
A sample on a prepared specimen 1 is observed by a microscope 2, and the optical image of the microscope 2 is picked up by a CCD camera 4.例文帳に追加
プレパラート上の標本を顕微鏡で観察し、顕微鏡の光学画像をCCDカメラで撮像する。 - 特許庁
SYSTEM FOR MEASURING SIGNAL LIGHT BY NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加
近接場光学顕微鏡の信号光測定システム - 特許庁
The invention is applied to the inverted microscope.例文帳に追加
本発明は、倒立型顕微鏡に適用可能である。 - 特許庁
VERTICAL ILLUMINATING FLUORESCENT ILLUMINATION DEVICE AND MICROSCOPE EQUIPPED THEREWITH例文帳に追加
落射蛍光照明装置、及びこれを備えた顕微鏡 - 特許庁
This invention is applied to, for example, a microscope system.例文帳に追加
本発明は、例えば、顕微鏡システムに適用できる。 - 特許庁
ILLUMINATOR AND INFRARED MICROSCOPE HAVING ILLUMINATOR例文帳に追加
照明装置及び照明装置を備えた赤外顕微鏡 - 特許庁
SCATTERING TYPE NEAR FIELD MICROSCOPE AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加
散乱型近接場顕微鏡およびその測定方法 - 特許庁
MICROSCOPE CONTROL DEVICE AND OPTICAL DISTORTION CORRECTION METHOD例文帳に追加
顕微鏡制御装置及び光学的歪み補正方法 - 特許庁
This invention is applicable to the microscope system for instance.例文帳に追加
本発明は、例えば、顕微鏡システムに適用できる。 - 特許庁
A digital holographic microscope or a scan confocal laser microscope is used as the altitude distribution data generating unit.例文帳に追加
高度分布データ生成部として、デジタルホログラフィック顕微鏡または走査型共焦点レーザ顕微鏡を用いる。 - 特許庁
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