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「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(44ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Microscopeの意味・解説 > Microscopeに関連した英語例文

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Microscopeを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 8962



例文

POSITIONING METHOD OF MEASURING POSITION OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の測定位置の位置決め方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ENCODING LIVE IMAGE OBTAINED THROUGH MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡の生画像を符号化する方法および装置 - 特許庁

PREPARATION METHOD FOR OBSERVING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用観察試料作製方法 - 特許庁

SOLUTION DISCHARGE MACHINE AND MICROSCOPE SAMPLE ENCAPSULATING DEVICE例文帳に追加

溶液吐出機および顕微鏡標本封入装置 - 特許庁

例文

CATHODOLUMINESCENCE DETECTION DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE例文帳に追加

走査電子顕微鏡等のカソードルミネッセンス検出装置 - 特許庁


例文

CULTURE OBSERVATION METHOD AND INVERTED MICROSCOPE USED THEREFOR例文帳に追加

培養観察方法及びそれに用いる倒立顕微鏡 - 特許庁

CELL CULTURE TOOL AND MICROSCOPE DEVICE HAVING THE SAME例文帳に追加

細胞培養器具及びこれを備えた顕微鏡装置 - 特許庁

MICROSCOPE DEVICE, OBSERVATION METHOD AND SAMPLE LOADING MECHANISM例文帳に追加

顕微鏡装置、観察方法および試料搭載機構 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた測定方法 - 特許庁

例文

CHARGED POTENTIAL MEASURING METHOD, AND CHARGED PARTICLE MICROSCOPE例文帳に追加

帯電電位測定方法、及び荷電粒子顕微鏡 - 特許庁

例文

3-DIMENSIONAL IMAGE BUILDING METHOD AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

3次元像構築方法および透過電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR ADJUSTING ITS AXIS例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡及びその軸調整方法 - 特許庁

SUBMERGED CELL, ATOMIC FORCE MICROSCOPE HAVING THE SAME AND MEASURING METHOD USING THE ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

液中セルと該液中セルを有する原子間力顕微鏡、及び該原子間力顕微鏡による測定方法 - 特許庁

AUTOMATIC FOCUSING DEVICE, MICROSCOPE, AND AUTOMATIC FOCUSING METHOD例文帳に追加

自動合焦装置、顕微鏡および自動合焦方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING TILTING STAGE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の傾斜ステージ補正方法及び装置 - 特許庁

MICROSCOPE IMAGE ANALYZING APPARATUS AND ITS IMAGE ANALYZING METHOD例文帳に追加

顕微鏡画像解析装置とその画像解析方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

電子顕微鏡観察用の試料片の製造方法 - 特許庁

OBSERVATION METHOD BY PHASE RETRIEVAL TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

位相回復方式の電子顕微鏡による観察方法 - 特許庁

AUTOMATIC FOCUSING DEVICE AND MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

自動焦点装置及びそれを用いた顕微鏡装置 - 特許庁

FIBER ILLUMINATION TYPE MICROSCOPE SYSTEM, AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加

ファイバ照明型顕微鏡システム及びその制御方法 - 特許庁

OPHTHALMIC OPERATION MICROSCOPE WITH SUBJECT LIGHTING例文帳に追加

被検対象照明を伴う眼科用手術顕微鏡 - 特許庁

PROBE TIP EVALUATION METHOD FOR SCAN TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針先端評価方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE APPLICATION DEVICE, AND TESTPIECE INSPECTION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡応用装置および試料検査方法 - 特許庁

CANTILEVER WITH HIGH PROBE FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡用背高探針付き片持ちレバー - 特許庁

SAMPLE BASE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND OBSERVING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の試料台及び観察方法 - 特許庁

To provide a device and method for mounting an adjusted microscope stage to a microscope stand.例文帳に追加

顕微鏡ステージを調節済みの状態で顕微鏡スタンドに取り付けるための装置と方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING BY SCANNING ELECTROSTATIC CAPACITY MICROSCOPE例文帳に追加

走査型静電容量顕微鏡による測定方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED WITH SAMPLE- CHANGING DEVICE例文帳に追加

試料交換装置を備えた走査型電子顕微鏡 - 特許庁

MICROSCOPE HAVING FOCUS LOCKING SECTION AND FOCUS LOCKING DEVICE例文帳に追加

フォーカスロック部を備えた顕微鏡、および、フォーカスロック装置 - 特許庁

ULTRAVIOLET MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

紫外線顕微鏡およびこれを用いた観察方法 - 特許庁

SLIT LIGHT PARALLEL RECIPROCATING TYPE DEPTH/HEIGHT MEASURING MICROSCOPE例文帳に追加

スリット光平行往復型深さ高さ測定顕微鏡 - 特許庁

The particle diameter ratio would be measured by the electron microscope pictures. 例文帳に追加

粒径比の測定には電子顕微鏡写真を用いる。 - 特許庁

CHARGED-PARTICLE MICROSCOPE DEVICE AND IMAGE PICKUP METHOD例文帳に追加

荷電粒子顕微鏡装置および画像撮像方法 - 特許庁

CONVEYING DEVICE, CONVEYING METHOD, AND MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

搬送装置及び搬送方法並びに顕微鏡システム - 特許庁

SAMPLE HOLDER, STAGE FURNISHED WITH THE SAME AND MICROSCOPE例文帳に追加

標本ホルダ及びこれを具えたステージ及び顕微鏡 - 特許庁

To provide a microscope system such that a moving stage mounted with a microscope main body can easily be operated with one hand.例文帳に追加

顕微鏡本体を載置した移動ステージを片手で簡単に操作できる顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

CONFOCAL MICROSCOPE AND METHOD FOR ADJUSTING FOCAL POSITION例文帳に追加

共焦点顕微鏡、及び焦点位置調整方法 - 特許庁

This invention can be applied to, for example, a microscope device.例文帳に追加

本発明は、例えば、顕微鏡装置に適用できる。 - 特許庁

A sample on a prepared specimen 1 is observed by a microscope 2, and the optical image of the microscope 2 is picked up by a CCD camera 4.例文帳に追加

プレパラート上の標本を顕微鏡で観察し、顕微鏡の光学画像をCCDカメラで撮像する。 - 特許庁

SYSTEM FOR MEASURING SIGNAL LIGHT BY NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

近接場光学顕微鏡の信号光測定システム - 特許庁

The invention is applied to the inverted microscope.例文帳に追加

本発明は、倒立型顕微鏡に適用可能である。 - 特許庁

VERTICAL ILLUMINATING FLUORESCENT ILLUMINATION DEVICE AND MICROSCOPE EQUIPPED THEREWITH例文帳に追加

落射蛍光照明装置、及びこれを備えた顕微鏡 - 特許庁

This invention is applied to, for example, a microscope system.例文帳に追加

本発明は、例えば、顕微鏡システムに適用できる。 - 特許庁

BARREL ANGLE VARIABLE LENS BARREL AND MICROSCOPE EQUIPPED WITH SAME例文帳に追加

鏡筒角可変鏡筒及びこれを備える顕微鏡 - 特許庁

ILLUMINATOR AND INFRARED MICROSCOPE HAVING ILLUMINATOR例文帳に追加

照明装置及び照明装置を備えた赤外顕微鏡 - 特許庁

SCATTERING TYPE NEAR FIELD MICROSCOPE AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

散乱型近接場顕微鏡およびその測定方法 - 特許庁

MICROSCOPE CONTROL DEVICE AND OPTICAL DISTORTION CORRECTION METHOD例文帳に追加

顕微鏡制御装置及び光学的歪み補正方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR CONTROLLING POSITION OF MICROSCOPE LENS例文帳に追加

顕微鏡レンズの位置を制御する方法及びシステム - 特許庁

This invention is applicable to the microscope system for instance.例文帳に追加

本発明は、例えば、顕微鏡システムに適用できる。 - 特許庁

例文

A digital holographic microscope or a scan confocal laser microscope is used as the altitude distribution data generating unit.例文帳に追加

高度分布データ生成部として、デジタルホログラフィック顕微鏡または走査型共焦点レーザ顕微鏡を用いる。 - 特許庁




  
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