Microscopeを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8962件
The present invention can be applied to the multiphoton microscope.例文帳に追加
本発明は、例えば、多光子顕微鏡に適用できる。 - 特許庁
MICROSCOPE HAVING FOCUS LOCKING SECTION AND FOCUS LOCKING DEVICE例文帳に追加
フォーカスロック部を備えた顕微鏡、および、フォーカスロック装置 - 特許庁
ULTRAVIOLET MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING THE SAME例文帳に追加
紫外線顕微鏡およびこれを用いた観察方法 - 特許庁
SLIT LIGHT PARALLEL RECIPROCATING TYPE DEPTH/HEIGHT MEASURING MICROSCOPE例文帳に追加
スリット光平行往復型深さ高さ測定顕微鏡 - 特許庁
VERTICAL ILLUMINATING FLUORESCENT ILLUMINATION DEVICE AND MICROSCOPE EQUIPPED THEREWITH例文帳に追加
落射蛍光照明装置、及びこれを備えた顕微鏡 - 特許庁
This invention is applied to, for example, a microscope system.例文帳に追加
本発明は、例えば、顕微鏡システムに適用できる。 - 特許庁
METHOD OF PREPARING OBSERVATION SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過電子顕微鏡用観察試料の作製方法 - 特許庁
MICRO-AREA SCANNING DEVICE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
微小領域走査装置および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
A digital holographic microscope or a scan confocal laser microscope is used as the altitude distribution data generating unit.例文帳に追加
高度分布データ生成部として、デジタルホログラフィック顕微鏡または走査型共焦点レーザ顕微鏡を用いる。 - 特許庁
CHARGED POTENTIAL MEASURING METHOD, AND CHARGED PARTICLE MICROSCOPE例文帳に追加
帯電電位測定方法、及び荷電粒子顕微鏡 - 特許庁
FIBER ILLUMINATION TYPE MICROSCOPE SYSTEM, AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加
ファイバ照明型顕微鏡システム及びその制御方法 - 特許庁
OPHTHALMIC OPERATION MICROSCOPE WITH SUBJECT LIGHTING例文帳に追加
被検対象照明を伴う眼科用手術顕微鏡 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE APPLICATION DEVICE, AND TESTPIECE INSPECTION METHOD例文帳に追加
電子顕微鏡応用装置および試料検査方法 - 特許庁
To provide a device and method for mounting an adjusted microscope stage to a microscope stand.例文帳に追加
顕微鏡ステージを調節済みの状態で顕微鏡スタンドに取り付けるための装置と方法を提供する。 - 特許庁
SCATTERING TYPE NEAR FIELD MICROSCOPE AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加
散乱型近接場顕微鏡およびその測定方法 - 特許庁
MICROSCOPE CONTROL DEVICE AND OPTICAL DISTORTION CORRECTION METHOD例文帳に追加
顕微鏡制御装置及び光学的歪み補正方法 - 特許庁
This invention is applicable to the microscope system for instance.例文帳に追加
本発明は、例えば、顕微鏡システムに適用できる。 - 特許庁
ILLUMINATOR AND INFRARED MICROSCOPE HAVING ILLUMINATOR例文帳に追加
照明装置及び照明装置を備えた赤外顕微鏡 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING SAMPLE USING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OR SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過電子顕微鏡又は走査型透過電子顕微鏡を用いた試料の分析方法及び分析装置 - 特許庁
FLUORESCENCE MICROSCOPE AND TURRET DEVICE FOR THE SAME例文帳に追加
蛍光顕微鏡および蛍光顕微鏡用ターレット装置 - 特許庁
HIGH RESOLUTION/CHEMICAL BOND ELECTRON/SECONDARY ION MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加
高分解能・化学結合電子・2次イオン顕微鏡装置 - 特許庁
OBJECTIVE LENS FOR MICROSCOPE, FLUORESCENT DETECTION SYSTEM EQUIPPED WITH THE SAME, AND MULTIPHOTON EXCITATION LASER SCANNING TYPE MICROSCOPE例文帳に追加
顕微鏡用対物レンズおよびそれを備えた蛍光検出システムと多光子励起レーザー走査型顕微鏡 - 特許庁
SPECTRUM DATA PROCESSING METHOD OF TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE USING ENERGY FILTER AND ITS TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
エネルギーフィルタを用いた透過型電子顕微鏡の分光データ処理方法、及びその透過型電子顕微鏡 - 特許庁
APPEARANCE INSPECTION APPARATUS WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE DATA PROCESSING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像データの処理方法 - 特許庁
OBJECTIVE LENS, PROBER MEMBER, AND MICROSCOPE HAVING THE SAME例文帳に追加
対物レンズと、プローバ部材と、これらを具備する顕微鏡 - 特許庁
To provide an infrared microscope and an infrared microscope system for efficiently using infrared light flux.例文帳に追加
赤外光線束をより効率よく利用することができる赤外顕微鏡、及び赤外顕微システムを提供する。 - 特許庁
PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE BY FOCUSED ION BEAM PROCESSING例文帳に追加
集束イオンビーム加工による走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁
PROBE FOR NEAR-FIELD MICROSCOPE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE PROBE例文帳に追加
近接場顕微鏡用プローブおよびその製造方法ならびにそのプローブを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
OPERATION MICROSCOPE EQUIPPED WITH OCT SYSTEM AND ILLUMINATION MODULE FOR OPERATION MICROSCOPE EQUIPPED WITH OCT SYSTEM例文帳に追加
OCTシステムを備える手術用顕微鏡、およびOCTシステムを備える手術用顕微鏡照明モジュール - 特許庁
SCANNING MAGNETIC FORCE MICROSCOPE, ITS SAMPLE MOUNT, MAGNETISM OBSERVATION METHOD USING THE SCANNING TYPE MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型磁気力顕微鏡およびそのサンプル台、ならびに走査型磁気力顕微鏡を用いた磁気観察方法 - 特許庁
SUCTION TYPE LOCAL MICROPLASMA ETCHING APPARATUS WITH MICROSCOPE例文帳に追加
顕微鏡付吸引型局所マイクロプラズマエッチング装置 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING DISTURBANCE CORRECTING DEVICE例文帳に追加
外部擾乱補正装置を有した走査電子顕微鏡 - 特許庁
ASTIGMATISM CORRECTION METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE例文帳に追加
電子顕微鏡の非点収差補正方法とその装置 - 特許庁
SURGICAL MICROSCOPE FOR OBSERVING INFRARED FLUORESCENCE, MICROSCOPIC EXAMINATION METHOD, AND USE OF SURGICAL MICROSCOPE CORRESPONDING METHOD例文帳に追加
赤外蛍光を観察するための手術用顕微鏡、顕微鏡検査方法、および手術用顕微鏡の使用 - 特許庁
ELECTRON BEAM ADJUSTMENT METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子ビーム調整方法、及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁
METHOD FOR IRRADIATING ELECTRON BEAM AND ELECTRON SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加
電子ビームの照射方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|