「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(45ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING SAMPLE USING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OR SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡又は走査型透過電子顕微鏡を用いた試料の分析方法及び分析装置 - 特許庁

NANOTUBE CUTTING METHOD AND PROBE FOR SCANNING TYPE MICROSCOPE例文帳に追加

ナノチューブ切断方法及び走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGING METHOD USING ELECTRON BEAM例文帳に追加

電子顕微鏡及び電子線を用いた撮像方法 - 特許庁

FLUORESCENCE MICROSCOPE AND TURRET DEVICE FOR THE SAME例文帳に追加

蛍光顕微鏡および蛍光顕微鏡用ターレット装置 - 特許庁

HIGH RESOLUTION/CHEMICAL BOND ELECTRON/SECONDARY ION MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加

高分解能・化学結合電子・２次イオン顕微鏡装置 - 特許庁

PROBE FOR NEAR-FIELD MICROSCOPE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE PROBE例文帳に追加

近接場顕微鏡用プローブおよびその製造方法ならびにそのプローブを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

OPERATION MICROSCOPE EQUIPPED WITH OCT SYSTEM AND ILLUMINATION MODULE FOR OPERATION MICROSCOPE EQUIPPED WITH OCT SYSTEM例文帳に追加

ＯＣＴシステムを備える手術用顕微鏡、およびＯＣＴシステムを備える手術用顕微鏡照明モジュール - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR CREATING VIRTUAL MICROSCOPE SLIDE例文帳に追加

バーチャル顕微鏡スライドを作成する方法および装置 - 特許庁

SCANNING MAGNETIC FORCE MICROSCOPE, ITS SAMPLE MOUNT, MAGNETISM OBSERVATION METHOD USING THE SCANNING TYPE MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型磁気力顕微鏡およびそのサンプル台、ならびに走査型磁気力顕微鏡を用いた磁気観察方法 - 特許庁

SUCTION TYPE LOCAL MICROPLASMA ETCHING APPARATUS WITH MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡付吸引型局所マイクロプラズマエッチング装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING DISTURBANCE CORRECTING DEVICE例文帳に追加

外部擾乱補正装置を有した走査電子顕微鏡 - 特許庁

ASTIGMATISM CORRECTION METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE例文帳に追加

電子顕微鏡の非点収差補正方法とその装置 - 特許庁

SURGICAL MICROSCOPE FOR OBSERVING INFRARED FLUORESCENCE, MICROSCOPIC EXAMINATION METHOD, AND USE OF SURGICAL MICROSCOPE CORRESPONDING METHOD例文帳に追加

赤外蛍光を観察するための手術用顕微鏡、顕微鏡検査方法、および手術用顕微鏡の使用 - 特許庁

ELECTRON BEAM ADJUSTMENT METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子ビーム調整方法、及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR IRRADIATING ELECTRON BEAM AND ELECTRON SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

電子ビームの照射方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

OBJECTIVE LENS FOR MICROSCOPE, FLUORESCENT DETECTION SYSTEM EQUIPPED WITH THE SAME, AND MULTIPHOTON EXCITATION LASER SCANNING TYPE MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡用対物レンズおよびそれを備えた蛍光検出システムと多光子励起レーザー走査型顕微鏡 - 特許庁

SPECTRUM DATA PROCESSING METHOD OF TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE USING ENERGY FILTER AND ITS TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

エネルギーフィルタを用いた透過型電子顕微鏡の分光データ処理方法、及びその透過型電子顕微鏡 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION APPARATUS WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE DATA PROCESSING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像データの処理方法 - 特許庁

OBJECTIVE LENS, PROBER MEMBER, AND MICROSCOPE HAVING THE SAME例文帳に追加

対物レンズと、プローバ部材と、これらを具備する顕微鏡 - 特許庁

To provide an infrared microscope and an infrared microscope system for efficiently using infrared light flux.例文帳に追加

赤外光線束をより効率よく利用することができる赤外顕微鏡、及び赤外顕微システムを提供する。 - 特許庁

PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE BY FOCUSED ION BEAM PROCESSING例文帳に追加

集束イオンビーム加工による走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁

SCANNER SYSTEM, AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

スキャナシステム、及びこれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

ILLUMINATION DEVICE AND METHOD FOR MICROSCOPE, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

顕微鏡用照明装置、方法およびコンピュータプログラム - 特許庁

FLAT PANEL TYPE LIGHT SOURCE FOR TRANSMISSION LIGHTING DEVICE FOR MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡の透過照明装置用フラットパネル型光源 - 特許庁

CONDENSER LENS POSITIONING DEVICE AND MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME例文帳に追加

コンデンサレンズ位置決め装置及びこれを備えた顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE(SPM) PROBE AND SPM DEVICE例文帳に追加

走査型プロ—ブ顕微鏡（ＳＰＭ）プロ—ブ及びＳＰＭ装置 - 特許庁

SCANNING MICROSCOPE AND METHOD FOR SCANNING TARGET例文帳に追加

走査顕微鏡及び目標物を走査するための方法 - 特許庁

POLARIZING MICROSCOPIC OBSERVATION METHOD AND POLARIZING MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

偏光顕微鏡観察法及び偏光顕微鏡システム - 特許庁

MICROSCOPE EQUIPMENT AND RESOLVING METHOD OF MICROSCOPIC IMAGE例文帳に追加

顕微鏡装置および顕微鏡画像の解像方法 - 特許庁

FOREIGN SUBSTANCE REMOVAL METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いた異物除去方法 - 特許庁

METHOD OF PREPARING OBSERVATION SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用観察試料の作製方法 - 特許庁

MICRO-AREA SCANNING DEVICE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

微小領域走査装置および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE/PROBE REPLACING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および試料・プローブ交換方法 - 特許庁

The microscope (1) is installed on the stand (2).例文帳に追加

顕微鏡（１）は顕微鏡架台（２）に設置されている。 - 特許庁

MATERIAL SUPPLY PROBE DEVICE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

物質供給プローブ装置及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

MICROSCOPE HAVING OPTICAL FIBER WHICH DISPERSES SHORT PULSE LASER例文帳に追加

短パルスレ—ザ—を分散する光ファイバ—を有する顕微鏡 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING DIELECTRIC RESONATOR例文帳に追加

誘電体共振器を利用した近接場顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING PATTERN USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いたパターン計測方法 - 特許庁

THIN FILM PHASE PLATE FOR PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE, THE PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE, AND AN ANTISTATIC METHOD FOR THE PHASE PLATE例文帳に追加

位相差電子顕微鏡用薄膜位相板並びに位相差電子顕微鏡及び位相板帯電防止法 - 特許庁

CUTTING MACHINING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料の切り込み加工法 - 特許庁

MICROSCOPE SYSTEM, METHOD AND PROGRAM OF ITS VS IMAGE FORMATION例文帳に追加

顕微鏡システム、そのＶＳ画像生成方法、プログラム - 特許庁

OBSERVATION METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND HOLDING JIG例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の観察方法および保持治具 - 特許庁

MEASUREMENT PARAMETER SETTING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の測定パラメータ設定方法 - 特許庁

SCANNING MECHANISM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査機構およびそれを用いる走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

ANALYSIS METHOD BY OPTICAL MICROSCOPE AND ELECTRON MICROSCOPY例文帳に追加

光学顕微鏡と電子顕微鏡とによる分析方法 - 特許庁