「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(45ページ目) - Weblio英語例文検索

SYSTEM FOR MEASURING SIGNAL LIGHT BY NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

近接場光学顕微鏡の信号光測定システム - 特許庁

The particle diameter ratio would be measured by the electron microscope pictures. 例文帳に追加

粒径比の測定には電子顕微鏡写真を用いる。 - 特許庁

To provide a microscope system such that a moving stage mounted with a microscope main body can easily be operated with one hand.例文帳に追加

顕微鏡本体を載置した移動ステージを片手で簡単に操作できる顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

CHARGED-PARTICLE MICROSCOPE DEVICE AND IMAGE PICKUP METHOD例文帳に追加

荷電粒子顕微鏡装置および画像撮像方法 - 特許庁

NEAR-FIELD FIBER PROBE, AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

近接場ファイバープローブ、及び近接場光学顕微鏡 - 特許庁

CONVEYING DEVICE, CONVEYING METHOD, AND MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

搬送装置及び搬送方法並びに顕微鏡システム - 特許庁

SAMPLE HOLDER, STAGE FURNISHED WITH THE SAME AND MICROSCOPE例文帳に追加

標本ホルダ及びこれを具えたステージ及び顕微鏡 - 特許庁

CONFOCAL MICROSCOPE AND METHOD FOR ADJUSTING FOCAL POSITION例文帳に追加

共焦点顕微鏡、及び焦点位置調整方法 - 特許庁

This invention can be applied to, for example, a microscope device.例文帳に追加

本発明は、例えば、顕微鏡装置に適用できる。 - 特許庁

To provide a probe of a scanning heat microscope.例文帳に追加

本発明は、走査型熱顕微鏡のプローブに関する。 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

近接場光学顕微鏡、及び試料観察方法 - 特許庁

A sample on a prepared specimen 1 is observed by a microscope 2, and the optical image of the microscope 2 is picked up by a CCD camera 4.例文帳に追加

プレパラート上の標本を顕微鏡で観察し、顕微鏡の光学画像をＣＣＤカメラで撮像する。 - 特許庁

MICROSCOPE CONTROL DEVICE AND METHOD FOR DETERMINING PROCESSING RANGE例文帳に追加

顕微鏡制御装置及び処理範囲決定方法 - 特許庁

a light microscope adapted to the use of both eyes 例文帳に追加

両方の目の使用に適応された光学顕微鏡 - 日本語WordNet

the invention of the microscope led to the discovery of the cell 例文帳に追加

顕微鏡の発明は細胞の発見につながった - 日本語WordNet

SCANNING PROBE MICROSCOPE(SPM) PROBE AND SPM DEVICE例文帳に追加

走査型プロ—ブ顕微鏡（ＳＰＭ）プロ—ブ及びＳＰＭ装置 - 特許庁

SCANNING MICROSCOPE AND METHOD FOR SCANNING TARGET例文帳に追加

走査顕微鏡及び目標物を走査するための方法 - 特許庁

3-DIMENSIONAL IMAGE BUILDING METHOD AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

３次元像構築方法および透過電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR ADJUSTING ITS AXIS例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡及びその軸調整方法 - 特許庁

SUBMERGED CELL, ATOMIC FORCE MICROSCOPE HAVING THE SAME AND MEASURING METHOD USING THE ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

液中セルと該液中セルを有する原子間力顕微鏡、及び該原子間力顕微鏡による測定方法 - 特許庁

AUTOMATIC FOCUSING DEVICE, MICROSCOPE, AND AUTOMATIC FOCUSING METHOD例文帳に追加

自動合焦装置、顕微鏡および自動合焦方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING TILTING STAGE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の傾斜ステージ補正方法及び装置 - 特許庁

MICROSCOPE IMAGE ANALYZING APPARATUS AND ITS IMAGE ANALYZING METHOD例文帳に追加

顕微鏡画像解析装置とその画像解析方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

電子顕微鏡観察用の試料片の製造方法 - 特許庁

OBSERVATION METHOD BY PHASE RETRIEVAL TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

位相回復方式の電子顕微鏡による観察方法 - 特許庁

AUTOMATIC FOCUSING DEVICE AND MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

自動焦点装置及びそれを用いた顕微鏡装置 - 特許庁

SCANNING LASER MICROSCOPE SYSTEM AND LIGHT QUANTITY DETECTOR例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡装置及び光量検出装置 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE ANALYSIS METHOD例文帳に追加

透過型電子顕微鏡装置および試料解析方法 - 特許庁

BEAM OR RAY DEFLECTOR AND SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

ビームまたは光線偏向装置および走査型顕微鏡 - 特許庁

STANDARD SAMPLE FOR MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

顕微鏡用標準試料およびその製造方法 - 特許庁

SURFACE SHAPE DATA CORRECTION METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡の表面形状データ補正方法 - 特許庁

The user adjusts the magnification of the optical microscope during observing the sample with the optical microscope (step S2a).例文帳に追加

使用者は、光学顕微鏡による試料の観察時に光学顕微鏡の倍率の調整を行う（ステップＳ２ａ）。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF POSITIONING PROBE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および探針の位置決め方法 - 特許庁

SCANNER SYSTEM, AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

スキャナシステム、及びこれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

ILLUMINATION DEVICE AND METHOD FOR MICROSCOPE, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

顕微鏡用照明装置、方法およびコンピュータプログラム - 特許庁

FLAT PANEL TYPE LIGHT SOURCE FOR TRANSMISSION LIGHTING DEVICE FOR MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡の透過照明装置用フラットパネル型光源 - 特許庁

CONDENSER LENS POSITIONING DEVICE AND MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME例文帳に追加

コンデンサレンズ位置決め装置及びこれを備えた顕微鏡 - 特許庁

THIN FILM PHASE PLATE FOR PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE, THE PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE, AND AN ANTISTATIC METHOD FOR THE PHASE PLATE例文帳に追加

位相差電子顕微鏡用薄膜位相板並びに位相差電子顕微鏡及び位相板帯電防止法 - 特許庁

POLARIZING MICROSCOPIC OBSERVATION METHOD AND POLARIZING MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

偏光顕微鏡観察法及び偏光顕微鏡システム - 特許庁

MICROSCOPE EQUIPMENT AND RESOLVING METHOD OF MICROSCOPIC IMAGE例文帳に追加

顕微鏡装置および顕微鏡画像の解像方法 - 特許庁

FOREIGN SUBSTANCE REMOVAL METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いた異物除去方法 - 特許庁

CUTTING MACHINING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料の切り込み加工法 - 特許庁

MICROSCOPE SYSTEM, METHOD AND PROGRAM OF ITS VS IMAGE FORMATION例文帳に追加

顕微鏡システム、そのＶＳ画像生成方法、プログラム - 特許庁

OBSERVATION METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND HOLDING JIG例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の観察方法および保持治具 - 特許庁

MEASUREMENT PARAMETER SETTING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の測定パラメータ設定方法 - 特許庁