「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(49ページ目) - Weblio英語例文検索

GAS FIELD IONIZATION ION SOURCE, CHARGED PARTICLE MICROSCOPE, AND DEVICE例文帳に追加

ガス電界電離イオン源，荷電粒子顕微鏡、及び装置 - 特許庁

EXTERNAL MAGNETIC FIELD SWEEP MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD例文帳に追加

外部磁場掃引磁気力顕微鏡および計測方法 - 特許庁

MICROMOTION MECHANISM AND MICROSCOPE DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME例文帳に追加

微動機構及びその微動機構を備えた顕微鏡装置 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL TRANSMISSION MICROSCOPE SYSTEM AND IMAGE DISPLAY METHOD例文帳に追加

三次元透過型顕微鏡システムおよび画像表示方法 - 特許庁

SAMPLE STAGE AND MICROSCOPE OR MEASURING INSTRUMENT USING THE SAME例文帳に追加

試料ステージ及びそれを用いた顕微鏡又は測定器 - 特許庁

Consequently, the tablet terminal 11 artificially serves as a microscope.例文帳に追加

その結果、タブレット端末１１が擬似的な顕微鏡となる。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び該顕微鏡による測定方法 - 特許庁

SETTING METHOD FOR PRESSURE FORCE OF PROBE IN PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針押付け力設定方法 - 特許庁

This can be applied in a confocal microscope.例文帳に追加

本発明は、共焦点顕微鏡に適用することができる。 - 特許庁

LATTICE ILLUMINATION MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

格子照明顕微鏡およびこれを用いた観察方法 - 特許庁

The simple microscope is provided with a condenser composed of one lens.例文帳に追加

単式顕微鏡に一個のレンズからなるコンデンサを設けた。 - 特許庁

CROSS-SLIDE STAGE, AND MICROSCOPE SYSTEM HAVING CROSS-SLIDE STAGE例文帳に追加

クロススライドステージ及びクロススライドステージを有する顕微鏡システム - 特許庁

CANTILEVER FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND PREPARATION METHOD THEREOF例文帳に追加

走査型プロ—ブ顕微鏡用カンチレバ—およびその作製方法 - 特許庁

WEAK LIGHT OBSERVATION MICROSCOPE AND WEAK LIGHT OBTAINING METHOD例文帳に追加

微弱光観察顕微鏡及び微弱光取得方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR PHYSICAL PROPERTY VALUE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

物性値の測定方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

MEASURING METHOD OF PHYSICAL PROPERTY VALUE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

物性値の測定方法および走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR PROCESSING MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

顕微鏡画像処理装置及び顕微鏡画像処理方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING IT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びこれを用いた観察方法 - 特許庁

CORRECTION METHOD OF MEASURED DATA IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における測定データの補正方法 - 特許庁

The present invention is applicable to a scanning microscope.例文帳に追加

本発明は、走査型顕微鏡に適用することができる。 - 特許庁

FEEDING DEVICE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

送り装置、及びそれを用いた近接場光学顕微鏡 - 特許庁

DETECTING DEVICE FOR OPTICAL DEVICE AND CONFOCAL MICROSCOPE例文帳に追加

光学装置用検出装置および共焦点顕微鏡 - 特許庁

ILLUMINATOR AND ZOOM MICROSCOPE WITH THIS ILLUMINATOR例文帳に追加

照明装置及びこの照明装置を備えたズーム顕微鏡 - 特許庁

SURFACE TREATMENT METHOD FOR TEST SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料の表面処理方法 - 特許庁

To provide a method for using a virtual microscope slide.例文帳に追加

仮想顕微鏡スライドを使用する方法を提供すること。 - 特許庁

APPROACH CONTROL METHOD AND APPARATUS OF INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡のアプローチ制御方法及び装置 - 特許庁

TOTAL INTERNAL REFLECTION MICROSCOPE APPARATUS AND METHOD FOR ANALYZING FLUORESCENT SAMPLE例文帳に追加

全反射顕微鏡装置、及び蛍光試料分析方法 - 特許庁

FOCUS-MAINTAINING DEVICE AND INVERSION TYPE MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME例文帳に追加

フォーカス維持装置及びそれを備える倒立型顕微鏡 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING CONFOCAL LASER MICROSCOPE例文帳に追加

共焦点レーザ顕微鏡の調整方法及びその装置 - 特許庁

HIGH RESOLVING POWER MICROSCOPE AND PHASE RELAXING TIME MEASURING METHOD例文帳に追加

高分解能顕微鏡、及び位相緩和時間測定法 - 特許庁

RECTILINEAR GUIDE MECHANISM AND MICROSCOPE STAGE HOLDER USING THE SAME例文帳に追加

直進ガイド機構およびそれを用いた顕微鏡ステージホルダ - 特許庁

SCANNING MICROSCOPE FOR OPTICALLY MEASURING AN OBJECT例文帳に追加

物体の光学的測定を行うための走査型顕微鏡 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR CLUSTER SIZE OF WATER BY INTER ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間顕微鏡による水のクラスタ—サイズ測定方法 - 特許庁

DOVETAIL CLAMPING MECHANISM AND MICROSCOPE HAVING DOVETAIL CLAMPING MECHANISM例文帳に追加

アリ締結機構及びアリ締結機構を備えた顕微鏡 - 特許庁

CONFOCAL MICROSCOPE AND METHOD OF CONTROLLING THE SAME, AS WELL AS PROGRAM例文帳に追加

コンフォーカル顕微鏡及びその制御方法、並びにプログラム - 特許庁

DIMENSION-MEASURING DEVICE USING CONFOCAL SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡を用いた寸法測定装置 - 特許庁

EYE POINT POSITION VARIABLE LENS BARREL AND MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

アイポイント位置可変鏡筒及びそれを用いた顕微鏡 - 特許庁

OPTICAL COMPONENT AND PHASE CONTRAST MICROSCOPE USING THE OPTICAL COMPONENT例文帳に追加

光学部品及び光学部品を用いた位相差顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE POSITION DETECTING METHOD AND DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡試料位置検出方法及び装置 - 特許庁

MICROSCOPE WITH POSITION DISCRIMINATION DEVICE OF CONVERTER FOR OPTICAL ELEMENT例文帳に追加

光学素子用変換器のポジション識別装置付き顕微鏡 - 特許庁

PROBE MICROSCOPE SYSTEM SUITED FOR LONG BODY SPECIMEN OBSERVATION例文帳に追加

長尺体の試料観察に適したプローブ顕微鏡システム - 特許庁

DEVICE FOR EXCHANGING OBJECTIVE LENS FOR MICROSCOPE AND FOCUSING例文帳に追加

顕微鏡対物レンズの交換およびフォ—カシングのための装置 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びそれを用いた計測方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING MICROSCOPE OBSERVATION SAMPLE MOUNT IN POROUS BODY例文帳に追加

多孔質体の顕微鏡観察試料マウント製作方法 - 特許庁

COVER GLASS, SLIDE GLASS, PREPARATION, OBSERVING METHOD AND MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

カバーガラス、スライドガラス、プレパラート、観察方法、及び顕微鏡装置 - 特許庁