「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(51ページ目) - Weblio英語例文検索

MICROSCOPE OBSERVATION SYSTEM AND MICROSCOPIC IMAGE DISPLAY METHOD例文帳に追加

顕微鏡観察システムおよび顕微鏡画像の表示方法 - 特許庁

PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF MANUFACTURING SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用探針およびその製造方法。 - 特許庁

CONTROLLER FOR SYSTEM MICROSCOPE, AND UNIT RECOGNITION METHOD THEREOF例文帳に追加

システム顕微鏡の制御装置、及びそのユニット認識方法 - 特許庁

MICRO STATE OBSERVING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

微細状態の観察方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SPECIMEN AND METHOD FOR PREPARING THE SAME例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料及びその作製方法 - 特許庁

IMAGE ACQUISITION DEVICE, IMAGE COMPOSITION METHOD, AND MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

画像取得装置、画像合成方法、及び顕微鏡システム - 特許庁

ANALYSIS OF DOUBLE STRANDED NUCLEIC ACID BY SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による二本鎖核酸の分析 - 特許庁

LASER SCANNING MICROSCOPE, AND ILLUMINATOR OR DETECTOR例文帳に追加

レ—ザ走査顕微鏡および照明およびまたは検出装置 - 特許庁

ELECTRON BEAM INTERFERENCE DEVICE AND ELECTRON BEAM INTERFERENCE MICROSCOPE METHOD例文帳に追加

電子線干渉装置、および電子線干渉顕微方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND PROBE FOR THE SAME例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡用プローブおよび走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

LINEWIDTH MEASUREMENT REGULATION METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

線幅測定調整方法及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁

PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND PROBE MICROSCOPE OF SCANNING TYPE例文帳に追加

プローブとその製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

CONFOCAL LASER SCANNING MICROSCOPE AND CONTROL PROGRAM例文帳に追加

共焦点レーザ走査型顕微鏡装置および制御プログラム - 特許庁

IMAGE ACQUISITION CONTROLLER AND MICROSCOPE SYSTEM HAVING THE SAME例文帳に追加

画像取得制御装置とこれを有する顕微鏡装置 - 特許庁

DISTORTION MEASURING METHOD AND LUMINANCE CORRECTION METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の歪み測定方法及び輝度補正方法 - 特許庁

IMAGING APPARATUS, MICROSCOPE SYSTEM, AND WHITE BALANCE ADJUSTMENT METHOD例文帳に追加

撮像装置、顕微鏡システム、及びホワイトバランス調整方法 - 特許庁

IN SITU OBSERVATION SYSTEM IN COMPOSITE EMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

複合放出電子顕微鏡におけるその場観察システム - 特許庁

AUTOMATIC FOCUSING METHOD IN SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡における自動焦点合わせ方法 - 特許庁

AXIS ADJUSTMENT METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE例文帳に追加

透過電子顕微鏡の軸調整方法およびその装置 - 特許庁

ENERGY FILTER AND ELECTRON MICROSCOPE AND SLIT TRAVELLING MECHANISM例文帳に追加

エネルギーフィルタおよび電子顕微鏡ならびにスリット移動機構 - 特許庁

METHOD OF CORRECTING DEFECT OF PHOTOMASK AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

フォトマスクの欠陥修正方法及び走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

MICRO RUGGEDNESS VALUE MEASUREMENT DEVICE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

微細凹凸量測定装置及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁

ANISOTROPIC FRICTION DATA ACQUISITION METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の異方摩擦データ取得方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM IRRADIATION EQUIPMENT AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加

電子線照射装置および走査型電子顕微鏡装置 - 特許庁

FOCUSING DEVICE AND DISPLACEMENT SENSOR, AND CONFOCAL MICROSCOPE例文帳に追加

合焦装置及び変位センサ、並びに共焦点顕微鏡 - 特許庁

PROBE FOR SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND METHOD OF FABRICATION例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡用探針およびその作製方法 - 特許庁

DUAL CHIP ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBE AND MANUFACTURING METHOD FOR IT例文帳に追加

デュアルチップ原子間力顕微鏡プローブとその製造方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING SAME例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びそれを用いる測定方法 - 特許庁

OPERATIONAL AMPLIFIER AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

演算増幅器及びそれを用いた走査電子顕微鏡 - 特許庁

CANTILEVER HOLDER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE EQUIPPED THEREWITH例文帳に追加

カンチレバーホルダーおよびこれを備えた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーおよびその製造方法 - 特許庁

OBSERVATION CONDITIONS SUPPORT DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査形電子顕微鏡における観察条件支援装置 - 特許庁

AUTOMATIC STAGE TRACKING DEVICE FOR MICROSCOPE WITH IMAGE PROCESSING FUNCTION例文帳に追加

画像処理機能付き顕微鏡用ステージ自動トラッキング装置 - 特許庁

SCANNING IMAGE SIGNAL ACQUIRING METHOD AND SCAN TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査像信号取得方法および走査電子顕微鏡 - 特許庁

OBJECTIVE LENS AND SCANNING MICROSCOPE HAVING OBJECTIVE LENS例文帳に追加

対物レンズおよび対物レンズを備えた走査型顕微鏡 - 特許庁

ADJUSTMENT METHOD OF ELECTRON BEAM IN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡における電子ビーム調整方法 - 特許庁

PROBE SCANNING CONTROL METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

探針走査制御方法および走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING LASER MICROSCOPE, ITS CONTROL METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡、及びその制御方法、並びにプログラム - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED WITH DETECTION PART IN OBJECTIVE LENS例文帳に追加

対物レンズ内検出器を備えた走査電子顕微鏡 - 特許庁

IMAGING OPTICAL SYSTEM, MICROSCOPE DEVICE AND STEREOMICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

結像光学系、顕微鏡装置及び実体顕微鏡装置 - 特許庁

LASER SCANNING MICROSCOPE, CONTROL METHOD AND PROGRAM THEREOF例文帳に追加

レーザ走査顕微鏡及びその制御方法、並びにプログラム - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND EXCITATION METHOD FOR CANTILEVER ARRAY例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバーアレイの励振方法 - 特許庁

SELF DISPLACEMENT SENSING CANTILEVER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

自己変位検出型カンチレバーおよび走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

PRODUCING METHOD OF SILVER NANO-STRUCTURE BY SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡による銀ナノ構造の作製方法 - 特許庁

OBJECTIVE LENS FOR POLARIZATION OBSERVATION AND MICROSCOPE HAVING THE SAME例文帳に追加

偏光観察用対物レンズとそれを備える顕微鏡 - 特許庁