「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(55ページ目) - Weblio英語例文検索

SCANNING TYPE CONFOCAL MICROSCOPE AND ITS OPTICAL AXIS CHECKING METHOD例文帳に追加

走査型共焦点顕微鏡およびその光軸チェック方法 - 特許庁

PROBE CONTROL DEVICE AND METHOD OF SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針制御の装置および方法 - 特許庁

IMMERSION OBJECTIVE, FLUORESCENCE ANALYZING DEVICE, AND INVERTED TYPE MICROSCOPE例文帳に追加

液浸対物レンズ、蛍光分析装置および倒立型顕微鏡。 - 特許庁

REAL-TIME PROCESSING SYSTEM FOR PLURAL-DETECTOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

複数検出器電子顕微鏡装置のリアルタイム処理方式 - 特許庁

APPROACH METHOD FOR PROBE AND SAMPLE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における探針とサンプルの近接方法 - 特許庁

IMAGE PROCESSOR, DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE AND IMAGE PROCESSING METHOD例文帳に追加

画像処理装置、微分干渉顕微鏡、および、画像処理方法 - 特許庁

PROBE RELATIVE POSITION CALIBRATION TEMPLATE OF MULTI-PROBE SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

多探針走査型顕微鏡の探針相対位置校正テンプレート - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING LEAKAGE PHYSICAL QUANTITY例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および漏洩物理量の計測方法 - 特許庁

PATTERN MATCHING DEVICE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE EMPLOYING IT例文帳に追加

パターンマッチング装置及びそれを用いた走査型電子顕微鏡 - 特許庁

CHARGED PARTICLE SPIN POLARIMETER, MICROSCOPE, AND PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY DEVICE例文帳に追加

荷電粒子スピン検出器、顕微鏡、及び光電子分光装置 - 特許庁

STEREO SURGICAL MICROSCOPE HAVING INTEGRATED INCIDENT-ILLUMINATION DEVICE例文帳に追加

落射光照明装置が組み込まれたステレオ手術用顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE, AND PREPARATORY OPERATION METHOD FOR PIEZOELECTRIC ELEMENT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び圧電素子の準備動作方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE, AND IMAGING METHOD USING IT例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置およびそれを用いた撮像方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE HOLDER FOR SEEBECK EFFECT (THERMOELECTRIC MATERIAL) ANALYSIS例文帳に追加

ゼーベック効果（熱電材料）解析用電子顕微鏡試料ホルダ - 特許庁

SCANNING TYPE LASER MICROSCOPE, ITS ADJUSTMENT METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡及びその調整方法、並びにプログラム - 特許庁

SAMPLE PLATFORM AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAMPLE PLATFORM例文帳に追加

試料台及びその試料台を備えた走査電子顕微鏡 - 特許庁

OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION APPARATUS OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡の観察方法及び観察装置 - 特許庁

AUTOMATIC IMAGE DRIFT CORRECTION SYSTEM FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡における画像ドリフト自動修正システム - 特許庁

A microscope 21 comprises three laser beam sources 22, 23 and 24.例文帳に追加

マイクロスコープ２１は、３つのレーザー光源２２，２３，２４を備えている。 - 特許庁

PRECISION MACHINING METHOD USING NEAR FIELD SCANNING OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

近接場走査光学顕微鏡を用いた精密加工方法 - 特許庁

FIBER OPTIC PROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE HAVING THE SAME例文帳に追加

光ファイバープローブ及びそれを備える走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

PHASE COMPENSATION SYSTEM, AND LASER SCANNING MICROSCOPE SYSTEM USING SAME例文帳に追加

位相補償システムとそれを用いたレーザ走査型顕微鏡システム - 特許庁

To provide a multilayer observation type real time optical microscope.例文帳に追加

多層観察型リアルタイム光学顕微鏡を構成しようとする。 - 特許庁

This operation places the electron microscope into a beam shower mode.例文帳に追加

この動作によって、透過電子顕微鏡はビームシャワーモードとなる。 - 特許庁

MODE SYNCHRONOUS LASER DEVICE, PULSE LASER LIGHT SOURCE DEVICE, AND MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

モード同期レーザ装置、パルスレーザ光源装置、及び顕微鏡装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND CONTROL DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

荷電粒子線装置及び走査電子顕微鏡の制御装置 - 特許庁

ARRANGEMENT IN ILLUMINATION BEAM PATH OF LASER SCANNING MICROSCOPE (LSM)例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡（ＬＳＭ）の照明光路における配置 - 特許庁

To prevent charge of a sample in a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡において試料のチャージを防止する。 - 特許庁

APPARATUS STRUCTURE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE INCLUDING APPARATUS STRUCTURE例文帳に追加

装置構造及びその構造を備えた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

The image microscope focuses an observation object O with an objective lens 1.例文帳に追加

対物レンズ１によって観察物Ｏに焦点を合わせる。 - 特許庁

MIRROR ELECTRON MICROSCOPE, AND PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE USING IT例文帳に追加

ミラー電子顕微鏡及びそれを用いたパターン欠陥検査装置 - 特許庁

To provide a microscope securing color reproducibility.例文帳に追加

色再現性を確保することができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING PROBE, PROBE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

プローブの作製方法およびプローブ、ならびに走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

LASER SCANNING TYPE FLUORESCENCE MICROSCOPE AND UNIT OF OPTICAL DETECTION SYSTEM例文帳に追加

レーザ走査型蛍光顕微鏡および検出光学系ユニット - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND PROBE COLLISION AVOIDANCE METHOD THEREFOR例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びその探針衝突回避方法 - 特許庁

TOOL FOR COVERING GRID HOLE WITH THIN SLICE OF ELECTRON MICROSCOPE SPECIMEN例文帳に追加

電子顕微鏡試料の超薄切片をグリッド孔に張る器具。 - 特許庁

OFFSET TYPE SURGICAL MANIPULATOR AND SURGICAL MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

オフセット型手術用マニピュレータ及び手術用顕微鏡システム - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND TESTPIECE OBSERVATION METHOD USING IT例文帳に追加

走査電子顕微鏡及びそれを用いた試料観察方法 - 特許庁

FIXING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE TABLE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料の固定方法および試料台 - 特許庁

LIQUID IMMERSION OBSERVATION METHOD, LIQUID IMMERSION MICROSCOPE APPARATUS, AND INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

液浸観察方法、液浸顕微鏡装置、及び検査装置 - 特許庁

PROBE APPARATUS, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND SAMPLE DISPLAY METHOD例文帳に追加

プローブ装置、走査型プローブ顕微鏡および試料表示方法 - 特許庁

SCANNING LASER MICROSCOPE, THE CONTROL METHOD AND THE CONTROL PROGRAM FOR THE SAME例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡、該制御方法、及び該制御プログラム - 特許庁

MICROSCOPE WITH AUTOMATIC FOCUSING MECHANISM AND ADJUSTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

自動焦点機構を備えた顕微鏡およびその調整方法 - 特許庁

EMITTED ELECTRON ACCELERATING METHOD IN COMPOSITE EMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

複合放出電子顕微鏡における放出電子加速方法 - 特許庁

TARGET TRACKING DEVICE, MICROSCOPE SYSTEM AND TARGET TRACKING PROGRAM例文帳に追加

対象追跡装置、顕微鏡システムおよび対象追跡プログラム - 特許庁