Microscopeを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8962件
SAMPLE MEASURING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND SAMPLE MEASURING SYSTEM THEREFOR例文帳に追加
原子間力顕微鏡を用いた試料測定方法およびシステム - 特許庁
To provide an infrared imaging microscope.例文帳に追加
赤外線イメージングマイクロスコープ(赤外線画像化顕微鏡)を提供する。 - 特許庁
FREQUENCY DETECTING DEVICE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING IT例文帳に追加
周波数検出装置およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF SURFACE STRUCTURE OF SAMPLE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡及び試料の表面構造測定方法 - 特許庁
MAGNETIC FIELD GENERATING DEVICE AND MAGNETIC RESONANCE FORCE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加
磁場発生装置およびこれを用いた磁気共鳴力顕微鏡 - 特許庁
DEVICE FOR OBSERVING LIVING BODY AND MEDICAL MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加
生体観察装置及びその装置を用いた医療用顕微鏡 - 特許庁
METHOD FOR ADJUSTING LIGHTNESS OF IMAGE IN IMAGING TYPE MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加
撮像型顕微鏡装置における画像の明度の調整方法 - 特許庁
To provide a Kerr effect microscope capable of specifying a magnetization direction.例文帳に追加
磁化の方向を特定可能なカー効果顕微鏡を提供する。 - 特許庁
FIELD-EMISSION ELECTRON GUN, ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM EXPOSURE APPARATUS例文帳に追加
電界放出型電子銃、電子顕微鏡、及び電子ビーム露光機 - 特許庁
ELECTRIC FIELD ION RADIATING APPARATUS, ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE AND MACHINING APPARATUS例文帳に追加
電界イオン放射装置と、電界イオン顕微鏡および加工装置 - 特許庁
ARRAY FOR IRRADIATION BY USING SEVERAL WAVELENGTHS INSIDE MICROSCOPE例文帳に追加
顕微鏡内で数個の波長を用いて照射するための配列 - 特許庁
SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE WITH EXTERNAL AC MAGNETIC FIELD CANCELLATION MECHANISM例文帳に追加
外部交流磁場キャンセル機構を有した走査形電子顕微鏡 - 特許庁
ELECTRON BEAM ENERGY SPECTRUM DEVICE AND ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME例文帳に追加
電子線エネルギー分光装置及びそれを備えた電子顕微鏡 - 特許庁
UNWANTED SUBSTANCE REMOVING METHOD FOR NANOTUBE AND PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加
ナノチューブ不要物質除去方法及び走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁
This invention can be used in, for example, the illuminator for the microscope.例文帳に追加
本発明は、例えば、顕微鏡用照明装置に適用できる。 - 特許庁
ULTRASONIC TRANSDUCER, ULTRASONIC DIAGNOSTIC SYSTEM AND ULTRASONIC MICROSCOPE例文帳に追加
超音波トランスデューサ、超音波診断装置及び超音波顕微鏡 - 特許庁
NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加
近接場光プローブおよび走査型近接場光学顕微鏡 - 特許庁
DEVICE FOR PUTTING ON GRID ULTRA-THINLY SLICED PIECE OF SPECIMEN FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡試料の超薄切片をグリッドに載せる用具。 - 特許庁
A microscope 56 is also equipped to observe condition of progress.例文帳に追加
顕微鏡56も進行状況を観察されるために装備される。 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING THIN-FILM SAMPLE FOR OBSERVING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過型電子顕微鏡観察用薄膜試料の作製方法 - 特許庁
To eliminate distortions of the images obtained by a scanning optical microscope.例文帳に追加
走査型光学顕微鏡により得られる画像の歪みを無くす。 - 特許庁
NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND PROBLE FOR IT例文帳に追加
近接場光顕微鏡および近接場光顕微鏡用探針 - 特許庁
MICROSCOPE PROVIDED WITH DEVICE FOR REMOVING CONDENSABLE GAS BY AIR BLAST例文帳に追加
凝縮性ガスを送風により除く装置を具備したマイクロスコープ - 特許庁
To improve visibility, operability, and work efficiency of an inverted microscope.例文帳に追加
倒立顕微鏡の視認性、操作性、作業性の向上を図る。 - 特許庁
SUPER-RESOLUTION MICROSCOPE AND SPATIAL MODULATION OPTICAL ELEMENT USED THEREIN例文帳に追加
超解像顕微鏡およびこれに用いる空間変調光学素子 - 特許庁
a very thin slice (of tissue or mineral or other substance) for examination under a microscope 例文帳に追加
検鏡用の(組織や鉱物や他の物質の)非常に薄い片 - 日本語WordNet
METHOD FOR MEASURING MEASUREMENT TARGET PATTERN USING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加
電子顕微鏡装置を用いた計測対象パターンの計測方法 - 特許庁
SYSTEM FOR OPTIMIZING PULSE FORM IN LASER-SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加
レーザ走査顕微鏡におけるパルス形態の最適化のためのシステム - 特許庁
MAPPING TYPE OBSERVATION METHOD AND MAPPING TYPE CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE例文帳に追加
写像型観察方法及び写像型荷電粒子線顕微鏡 - 特許庁
PROBE USED FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡用プローブ及びそのプローブの作製方法 - 特許庁
OPTICAL DETECTING CIRCUIT AND LASER MICROSCOPE WITH THE SAME例文帳に追加
光検出回路および該光検出回路を備えたレーザ顕微鏡 - 特許庁
IMAGE VIBRATION PROOF-IMAGING APPARATUS FOR IMAGING SYSTEM OF SURGICAL MICROSCOPE例文帳に追加
手術顕微鏡の撮像システムのための画像防振撮像装置 - 特許庁
SAMPLE HOLDER OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡の試料ホルダ、および試料の測定方法 - 特許庁
To provide an electron microscope with an improved observation property and operability.例文帳に追加
電子顕微鏡における観察性及び操作性を向上させる。 - 特許庁
SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC-CONSTANT MICROSCOPE FOR MEASURING THREE-DIMENSIONAL POLARIZATION例文帳に追加
三次元分極計測用の走査型非線形誘電率顕微鏡 - 特許庁
PHASE PLATE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
位相板及びその製造方法、並びに位相差電子顕微鏡 - 特許庁
SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING ITS PROBE RELATIVE POSITION例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡及びその探針相対位置測定方法 - 特許庁
To enhance the image quality of an image photographed by scanning electron microscope.例文帳に追加
走査型電子顕微鏡の撮像画像の画質を向上させる。 - 特許庁
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR OBSERVING IMAGE THEREOF例文帳に追加
透過形電子顕微鏡及び透過電子顕微鏡像観察方法 - 特許庁
DISPLACEMENT DETECTION MECHANISM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE HAVING THE SAME例文帳に追加
変位検出機構およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
IMAGING OPTICAL SYSTEM AND CONFOCAL SCANNING MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加
結像光学系、及びそれを用いた共焦点走査型顕微鏡 - 特許庁
IMAGE ADJUSTING METHOD AND DEVICE OF A PLURALITY OF SIGNALS IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡における複数信号の画像調整法と装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTION AND OPERATION OF OBJECT FOR MICROSCOPE例文帳に追加
顕微鏡用物体の検査及び操作のための装置及び方法 - 特許庁
SCAN ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND IMAGE OBTAINING METHOD USING THE SAME例文帳に追加
走査電子顕微鏡装置及びそれを用いた画像取得方法 - 特許庁
SLIT-LAMP MICROSCOPE AND OPHTHALMIC LASER TREATMENT APPARATUS WITH THE SAME例文帳に追加
細隙灯顕微鏡及びこれを備える眼科用レーザ治療装置 - 特許庁
SURFACE ANALYSIS METHOD OF INSULATION MATERIAL WITH ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
原子間力顕微鏡による絶縁材料の表面分析方法 - 特許庁
AUTO-FOCUS DEVICE, METHOD FOR CONTROLLING THE SAME, PROGRAM, AND MICROSCOPE例文帳に追加
オートフォーカス装置及びその制御方法、プログラム、並びに顕微鏡 - 特許庁
MAGNETIC MATERIAL SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加
磁性材料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法 - 特許庁
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
