Microscopeを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8959件
FREQUENCY DETECTING DEVICE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING IT例文帳に追加
周波数検出装置およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
PRELIMINARY EXHAUST METHOD AND PRELIMINARY EXHAUST ROOM IN ANALYTICAL ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
分析電子顕微鏡における予備排気方法及び予備排気室 - 特許庁
PATTERN DIMENSION MEASURING METHOD, AND SCANNING TRANSMISSION CHARGED PARTICLE MICROSCOPE例文帳に追加
パターン寸法計測方法及び走査型透過荷電粒子顕微鏡 - 特許庁
LOW VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS METHOD FOR EXCHANGE OF TEST PIECE例文帳に追加
低真空走査電子顕微鏡及びその試料交換方法 - 特許庁
To eliminate distortions of the images obtained by a scanning optical microscope.例文帳に追加
走査型光学顕微鏡により得られる画像の歪みを無くす。 - 特許庁
NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND PROBLE FOR IT例文帳に追加
近接場光顕微鏡および近接場光顕微鏡用探針 - 特許庁
To improve visibility, operability, and work efficiency of an inverted microscope.例文帳に追加
倒立顕微鏡の視認性、操作性、作業性の向上を図る。 - 特許庁
To provide a compact and high-performance microscope.例文帳に追加
小型で高性能な顕微鏡を提供することができるようにする。 - 特許庁
SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF OBSERVING CHANGE IN MOLECULAR STRUCTURE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡および分子構造変化観測方法 - 特許庁
To provide a confocal microscope having good detection sensitivity.例文帳に追加
検出感度の良いコンフォーカル顕微鏡を提供できるようにする。 - 特許庁
The present invention is applicable to a scanning type multiphoton microscope, for example.例文帳に追加
本発明は、例えば、走査型多光子顕微鏡に適用できる。 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF SURFACE STRUCTURE OF SAMPLE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡及び試料の表面構造測定方法 - 特許庁
MAGNETIC FIELD GENERATING DEVICE AND MAGNETIC RESONANCE FORCE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加
磁場発生装置およびこれを用いた磁気共鳴力顕微鏡 - 特許庁
DEVICE FOR OBSERVING LIVING BODY AND MEDICAL MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加
生体観察装置及びその装置を用いた医療用顕微鏡 - 特許庁
ULTRASONIC TRANSDUCER, ULTRASONIC DIAGNOSTIC SYSTEM AND ULTRASONIC MICROSCOPE例文帳に追加
超音波トランスデューサ、超音波診断装置及び超音波顕微鏡 - 特許庁
NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加
近接場光プローブおよび走査型近接場光学顕微鏡 - 特許庁
DEVICE FOR PUTTING ON GRID ULTRA-THINLY SLICED PIECE OF SPECIMEN FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡試料の超薄切片をグリッドに載せる用具。 - 特許庁
This invention can be used in, for example, the illuminator for the microscope.例文帳に追加
本発明は、例えば、顕微鏡用照明装置に適用できる。 - 特許庁
a very thin slice (of tissue or mineral or other substance) for examination under a microscope 例文帳に追加
検鏡用の(組織や鉱物や他の物質の)非常に薄い片 - 日本語WordNet
To provide a Kerr effect microscope capable of specifying a magnetization direction.例文帳に追加
磁化の方向を特定可能なカー効果顕微鏡を提供する。 - 特許庁
FIELD-EMISSION ELECTRON GUN, ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM EXPOSURE APPARATUS例文帳に追加
電界放出型電子銃、電子顕微鏡、及び電子ビーム露光機 - 特許庁
ELECTRON BEAM ENERGY SPECTRUM DEVICE AND ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME例文帳に追加
電子線エネルギー分光装置及びそれを備えた電子顕微鏡 - 特許庁
UNWANTED SUBSTANCE REMOVING METHOD FOR NANOTUBE AND PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加
ナノチューブ不要物質除去方法及び走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING PROBE MADE OF IRIDIUM FOR OBSERVATION OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加
走査トンネル顕微鏡観察用イリジウム製探針の製作方法 - 特許庁
ELECTRIC FIELD ION RADIATING APPARATUS, ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE AND MACHINING APPARATUS例文帳に追加
電界イオン放射装置と、電界イオン顕微鏡および加工装置 - 特許庁
ARRAY FOR IRRADIATION BY USING SEVERAL WAVELENGTHS INSIDE MICROSCOPE例文帳に追加
顕微鏡内で数個の波長を用いて照射するための配列 - 特許庁
SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE WITH EXTERNAL AC MAGNETIC FIELD CANCELLATION MECHANISM例文帳に追加
外部交流磁場キャンセル機構を有した走査形電子顕微鏡 - 特許庁
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR OBSERVING IMAGE THEREOF例文帳に追加
透過形電子顕微鏡及び透過電子顕微鏡像観察方法 - 特許庁
DISPLACEMENT DETECTION MECHANISM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE HAVING THE SAME例文帳に追加
変位検出機構およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
IMAGING OPTICAL SYSTEM AND CONFOCAL SCANNING MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加
結像光学系、及びそれを用いた共焦点走査型顕微鏡 - 特許庁
IMAGE ADJUSTING METHOD AND DEVICE OF A PLURALITY OF SIGNALS IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡における複数信号の画像調整法と装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTION AND OPERATION OF OBJECT FOR MICROSCOPE例文帳に追加
顕微鏡用物体の検査及び操作のための装置及び方法 - 特許庁
SCAN ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND IMAGE OBTAINING METHOD USING THE SAME例文帳に追加
走査電子顕微鏡装置及びそれを用いた画像取得方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING MEASUREMENT TARGET PATTERN USING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加
電子顕微鏡装置を用いた計測対象パターンの計測方法 - 特許庁
SYSTEM FOR OPTIMIZING PULSE FORM IN LASER-SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加
レーザ走査顕微鏡におけるパルス形態の最適化のためのシステム - 特許庁
SURFACE ANALYSIS METHOD OF INSULATION MATERIAL WITH ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
原子間力顕微鏡による絶縁材料の表面分析方法 - 特許庁
AUTO-FOCUS DEVICE, METHOD FOR CONTROLLING THE SAME, PROGRAM, AND MICROSCOPE例文帳に追加
オートフォーカス装置及びその制御方法、プログラム、並びに顕微鏡 - 特許庁
PHOTOELECTRIC SENSOR, PATTERN-INSPECTING DEVICE, MICROSCOPE AND METHOD FOR MANUFACTURING MASK例文帳に追加
光電センサ、パターン検査装置、顕微鏡およびマスクの製造方法 - 特許庁
SCANNING FORCE MICROSCOPE AND MOVEMENT CONTROL METHOD FOR PROBE TIP THEREOF例文帳に追加
走査型力顕微鏡のプローブ・ティップの動きを制御する方法 - 特許庁
MICROSCOPE HAVING PIVOTABLE HOLDING APPARATUS FOR A PLURALITY OF OPTICAL COMPONENTS例文帳に追加
複数の光学要素のための枢動担持装置を有する顕微鏡 - 特許庁
SURFACE OBSERVATION METHOD USING SCANNING PROBE ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
走査プローブ原子間力顕微鏡を用いた表面の観察方法 - 特許庁
SLIT-LAMP MICROSCOPE AND OPHTHALMIC LASER TREATMENT APPARATUS WITH THE SAME例文帳に追加
細隙灯顕微鏡及びこれを備える眼科用レーザ治療装置 - 特許庁
MAGNETIC MATERIAL SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加
磁性材料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法 - 特許庁
SAMPLE FOR MICROSCOPE, SAMPLE PREPARING METHOD AND MICROSCOPIC OBSERVATION METHOD例文帳に追加
顕微鏡用試料、その作製方法及び顕微鏡観察方法 - 特許庁
To provide an electron microscope with an improved observation property and operability.例文帳に追加
電子顕微鏡における観察性及び操作性を向上させる。 - 特許庁
SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC-CONSTANT MICROSCOPE FOR MEASURING THREE-DIMENSIONAL POLARIZATION例文帳に追加
三次元分極計測用の走査型非線形誘電率顕微鏡 - 特許庁
PHASE PLATE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
位相板及びその製造方法、並びに位相差電子顕微鏡 - 特許庁
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