「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(61ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a focal point detector for a microscope, which is excellent in noise resistance.例文帳に追加

耐ノイズ性に優れた顕微鏡の焦点検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide new cantilever feed mechanism and cantilever mounting method for scanning probe microscope.例文帳に追加

新規なカンチレバー供給機構及びカンチレバー取り付け方法を得る。 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL PHASE MEASUREMENT METHOD, AND DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE USED FOR SAME例文帳に追加

３次元位相計測方法とそれに使われる微分干渉顕微鏡 - 特許庁

ANGLE OF INCIDENCE DETERMINING METHOD, AND SCAN NEAR- FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

入射角度決定方法及び走査型近接場光学顕微鏡 - 特許庁

OPTICAL MEMBER CHANGEOVER MECHANISM AND MICROSCOPE HAVING THE OPTICAL MEMBER CHANGEOVER MECHANISM例文帳に追加

光学部材切換機構及び光学部材切換機構を備える顕微鏡 - 特許庁

METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE HOLDER例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の試料作製方法及び試料保持体 - 特許庁

The present invention is applicable to, for example, a confocal laser scanning microscope.例文帳に追加

本発明は、例えば、共焦点レーザスキャン顕微鏡に適用できる。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a transmission electron microscope grid.例文帳に追加

本発明は、透過型電子顕微鏡グリッドの製造方法に関する。 - 特許庁

To provide a digital microscope capable of appropriately imaging a sample.例文帳に追加

適切に試料を映し出すことができるデジタル顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Such defective part can be measured by an emission microscope.例文帳に追加

このような欠陥部はエミッション顕微鏡により測定することができる。 - 特許庁

The present invention can be applied to a scanning confocal microscope.例文帳に追加

本発明は、走査型の共焦点顕微鏡に適用することができる。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR MEASURING PATTERN WITH USE OF DISPLAY MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

ディスプレイ顕微鏡画像を用いたパターン測定方法及び測定システム - 特許庁

To provide a sample holder for a scanning electron microscope which can use a slide glass using for observation by an optical microscope as an observation sample as it is, and also to provide the scanning electron microscope on which the sample holder is mounted.例文帳に追加

光学顕微鏡での観察に使用したスライドガラスをそのまま観察試料として使用可能な、走査電子顕微鏡用試料ホルダおよび当該試料ホルダを搭載した走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING SCANNED IMAGE AND PROGRAM THEREFOR, AND LASER SCANNING TYPE MICROSCOPE例文帳に追加

走査画像の補正方法、そのプログラム、及びレーザ走査型顕微鏡 - 特許庁

IMAGE PICKUP DEVICE PROVIDED WITH AUTOMATIC MICROSCOPE RECOGNIZING FUNCTION AND ITS CONTROL METHOD例文帳に追加

顕微鏡自動認識機能付き撮像装置及びその制御方法 - 特許庁

OPTICAL DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL DEVICE, RECTIFIER AND POLARIZATION MICROSCOPE例文帳に追加

光学素子、光学素子の製造方法、レクティファイア、及び偏光顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING SAMPLE SURFACE SHAPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および試料表面形状の計測方法 - 特許庁

To provide a small-sized microscope apparatus which provides clear images.例文帳に追加

明瞭な画像を得ることができる小型の顕微鏡装置の提供 - 特許庁

DEVICE FOR OBSERVING SAMPLE WITH PARTICLE BEAM AND OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

粒子ビーム及び光を用いる顕微鏡で試料を観察する装置 - 特許庁

Thus, an electrostatic breakdown preventive function is imparted to the microscope.例文帳に追加

これにより、顕微鏡に静電破壊防止機能を付与することができる。 - 特許庁

METHOD OF SURFACE TREATMENT, AND METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

表面処理方法及び電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁

SLIT CONFOCAL MICROSCOPE AND SURFACE SHAPE MEASURING APPARATUS USING IT例文帳に追加

スリット共焦点顕微鏡とそれを用いた表面形状計測装置 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for detection with a scanning microscope.例文帳に追加

走査顕微鏡を用いた検出装置および方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING OBSERVATION SAMPLE USED FOR SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡で使用する被観察試料の調製方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD AND OBSERVATION METHOD OF SAMPLE FOR OPTICAL MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

光学顕微鏡観察用試料の製造方法及び観察方法 - 特許庁

To provide a surgical microscope that enables fluorescence observation in a short time.例文帳に追加

短時間で蛍光観察が可能な手術顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus capable of reducing the time for initialization operation.例文帳に追加

初期化動作の時間を短縮できる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

APPARATUS FOR DETERMINING LIGHT POWER LEVEL, MICROSCOPE, AND METHOD FOR MICROSCOPY例文帳に追加

光パワーレベルを決定するための装置、顕微鏡および顕微鏡法 - 特許庁

At first, a measuring sample is placed on a stage of a scanning tunnel microscope.例文帳に追加

まず、走査型トンネル顕微鏡のステージ上に測定試料を載置する。 - 特許庁

FREQUENCY DETECTING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

周波数検出方法およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

To provide a sensor for a scanning probe microscope, and its manufacturing method.例文帳に追加

走査型探針顕微鏡用センサ及びその製造方法の提供。 - 特許庁

To provide a micro wave microscope probe which can make a quantitative measurement.例文帳に追加

従来のマイクロ波顕微鏡プローブでは定量的測定ができない。 - 特許庁

To provide a microscope used for total reflection fluorescent microscopy(TIREM).例文帳に追加

全反射蛍光検鏡(TIRFM)に使用するための顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive microscope for learning having high magnification and taking a photograph.例文帳に追加

安くて高倍率で写真も撮れる学習用の顕微鏡を作る。 - 特許庁

ELECTROSTATIC CHARGE MEASURING METHOD, FOCUS ADJUSTING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

帯電測定方法、焦点調整方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

The present invention can be applied to a scanning confocal microscope.例文帳に追加

本発明は、走査型の共焦点顕微鏡に適用することができる。 - 特許庁

INTERFERENCE FRINGE PROJECTION OPTICAL SYSTEM AND MICROSCOPE USING THIS OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

干渉縞投影光学系及びこの光学系を用いた顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TYPE CONFORCAL MICROSCOPE AND POSITIONING METHOD FOR LIGHT SHIELDING PLATE例文帳に追加

走査型共焦点顕微鏡及びその遮光板の位置調整方法 - 特許庁

OPTICAL SCANNING MICROSCOPE OF DOTWISE LIGHT SOURCE DISTRIBUTION TYPE, AND USE THEREOF例文帳に追加

点状光源分布式の光走査型顕微鏡およびそれの使用 - 特許庁

DISPLACEMENT DETECTING DEVICE, MICROSCOPE APPARATUS, REFERENCE POINT DETECTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

変位検出装置、顕微鏡装置、基準点検出方法、及びプログラム - 特許庁

Such a defective part can be measured by an emission microscope.例文帳に追加

このような欠陥部はエミッション顕微鏡により測定することができる。 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING GAIN OF TRANSMISSION DETECTOR IN IMAGING TYPE MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加

撮像型顕微鏡装置における透過ディテクタのゲイン決定方法 - 特許庁

IMAGE PROCESSING DEVICE, MICROSCOPE DEVICE, INSPECTION DEVICE, AND IMAGE PROCESSING PROGRAM例文帳に追加

画像処理装置、顕微鏡装置、検査装置および画像処理プログラム - 特許庁

X-RAY DETECTING DEVICE, ELECTRON MICROSCOPE AND APPLICATION DEVICE THEREFOR例文帳に追加

Ｘ線検出装置並びに電子線顕微鏡およびその応用装置 - 特許庁

An assistant microscope 7 to which an objective optical system 15, a zoom optical system 16 and an eyepiece optical system 18 are independently provided with respect to the microscope main body 2, are mounted onto a taking-in port 3 of the microscope main body 2.例文帳に追加

顕微鏡本体２の取入口３に、顕微鏡本体２とは別の対物光学系１５、ズーム光学系１６、接眼光学系１８を独立して有するアシスタント顕微鏡７が、取付けられている。 - 特許庁