「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(60ページ目) - Weblio英語例文検索

SCANNING-TYPE ELECTROCHEMISTRY ION CONDUCTANCE MICROSCOPE MEASURING METHOD, SCANNING-TYPE ELECTROCHEMISTRY ION CONDUCTANCE MICROSCOPE, PROBE FOR THE SAME, AND PROBE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型電気化学イオンコンダクタンス顕微鏡測定法、走査型電気化学イオンコンダクタンス顕微鏡、その探針および探針の製造方法 - 特許庁

When a prepared specimen is set on a stage of the microscope 11, the microscope reads a two-dimensional barcode on the prepared specimen and transmits it to a terminal device 12.例文帳に追加

顕微鏡１１はプレパラートがステージにセットされると、プレパラート上の二次元バーコードを読み取って端末装置１２に送信する。 - 特許庁

This optical/ultrasonic microscope system 1 is equipped with a microscope body 3, an objective revolver 4, an X-Y stage 5, a personal computer 6 or the like.例文帳に追加

本発明の光学／超音波顕微鏡システム１は、顕微鏡本体３、対物レボルバ４、Ｘ−Ｙステージ５、パソコン６等を備える。 - 特許庁

The optical/ultrasonic microscope system 1 comprises: a microscope body 3; an objective revolver 4; an ultrasonic probe 5; a personal computer 6; and the like.例文帳に追加

本発明の光学／超音波顕微鏡システム１は、顕微鏡本体３、対物レボルバ４、超音波プローブ５、パソコン６等を備える。 - 特許庁

To switch various magnifications or illuminating methods rapidly and simply when an electron microscope and an optical microscope are jointly used.例文帳に追加

電子顕微鏡及び光学的顕微鏡の併用に際し種々の倍率又は照射方法を迅速かつ単純に切り替えること。 - 特許庁

The sample table for the microscope is used to observe and examine different peripheral positions of a linear element sample S using a microscope.例文帳に追加

線状体の試料における周方向の異なる位置を顕微鏡で観察し検査するための顕微鏡用試料台である。 - 特許庁

A mark position detection processor 134 is connected with the microscope 132 to process a mark image sent from the microscope 132.例文帳に追加

マーク位置検出処理装置１３４は、同顕微鏡１３２と接続されており、同顕微鏡１３２から送られたマーク画像を処理する。 - 特許庁

To provide a lighting device for fluorescence microscope which facilitates sample operation and visual observation upon eye contact observation of a fluorescence microscope.例文帳に追加

蛍光顕微鏡の接眼観察時における試料操作や目視を容易にすることができる顕微鏡用照明装置の提供。 - 特許庁

Thus, once a sample cooling holder is attached to an electron microscope, the sample stage of the electron microscope can be positioned.例文帳に追加

これにより、電子顕微鏡に試料冷却ホルダーを一度取り付けれるだけで電子顕微鏡の試料台の位置決めが可能になる。 - 特許庁

To provide a measurement method that uses a scanning probe microscope having high quantitative precision, and to provide the scanning probe microscope.例文帳に追加

高い定量精度を有する走査型プローブ顕微鏡を用いた測定方法、および、その走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ITS MAINTENANCE/MANAGEMENT PROGRAM, MAINTENANCE/MANAGEMENT METHOD, AND RESOURCE ALLOCATION METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

走査型電子顕微鏡、その保守・管理プログラム、保守・管理方法および走査型電子顕微鏡システムにおける資源割り当て方法 - 特許庁

PATTERN DIMENSION MEASUREMENT METHOD USING ELECTRON MICROSCOPE, PATTERN DIMENSION MEASUREMENT SYSTEM AND MONITORING METHOD OF SECULAR CHANGE OF ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

電子顕微鏡を用いたパターン寸法計測方法、パターン寸法計測システム並びに電子顕微鏡装置の経時変化のモニタ方法 - 特許庁

This gloss meter for the toner-printed matter is constituted of a microscope, a light source, a holding part for a measured object and a microscope image processing part.例文帳に追加

顕微鏡と、光源と、非測定物の保持部と顕微鏡と像処理部を設けた構成で、トナー印刷物のグロス計を構成した。 - 特許庁

A holder mechanism for arranging a microscope mounts the mouse input device having the CCD imaging means onto the eye piece of the microscope.例文帳に追加

ＣＣＤ撮像手段を備えたマウス入力装置を顕微鏡の接眼部に装着するための顕微鏡設置用ホルダー機構である。 - 特許庁

To provide a microscope to which measures for electrostatic discharge are taken without sacrificing a merit which is natural in the conventional microscope.例文帳に追加

従来の顕微鏡で当たり前であった利点を犠牲にすることなく、静電気放電対策が施された顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscopic illumination adjusting method and a microscope capable of reducing uneven illumination in an actual microscope.例文帳に追加

実際の顕微鏡について照明ムラを少なくすることができる顕微鏡用照明調整方法及び顕微鏡を提供する。 - 特許庁

REFERENCE MEMBER FOR CALIBRATING DIMENSION OF ELECTRONIC MICROSCOPE DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD OF CALIBRATING ELECTRONIC MICROSCOPE DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

電子顕微鏡装置の寸法校正用標準部材、その製造方法、およびそれを用いた電子顕微鏡装置の校正方法 - 特許庁

To provide a microscope for surgical operation by which the microscope body is surely prevented from being unpreparedly moved by simultaneous releasing of a brake and a clutch.例文帳に追加

ブレーキやクラッチが同時に解放されて鏡体が不用意に移動するのを確実に防止できる手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a laser microscope, an optical device and a microscope, capable of improving resolution in the XY plane of a specimen.例文帳に追加

標本のＸＹ平面内での解像度を向上させることができる、レーザ顕微鏡、光学装置、及び顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To obtain a fluorescent microscope by which stray light inside a microscope is extremely reduced and by which a single fluorescent molecule can be easily observed.例文帳に追加

顕微鏡内の迷光を極力少なくして、単一蛍光分子の観察が容易に行えるような蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning tunnel microscope that picks up an image in both going and returning ways for effectively utilizing the image when the microscope is driven by a triangular wave.例文帳に追加

三角波で駆動した場合に、行きだけでなく帰りでも像を取り有効に利用する走査トンネル顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

A predetermined representation of a magnetic field in the microscope is used to calculate the trajectories of electrons in the microscope, for different emergence angles.例文帳に追加

顕微鏡内の磁場の所定の表現が用いられ、顕微鏡内の電子の軌道が異なった出現角度に対して計算される。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING PROBE FOR SCANNING HEAR-FIELD MICROSCOPE, AND PROBE FOR SCANNING NEAR-FIELD MICROSCOPE MANUFACTURED BY THE SAME例文帳に追加

走査型近視野顕微鏡用プローブの製造方法とその製造方法によって作製された走査型近視野顕微鏡用プローブ - 特許庁

The subject surgical microscope arrangement comprises a stand unit with the surgical microscope having an ocular unit and a tubular unit 2.例文帳に追加

手術用顕微鏡装置１が、接眼ユニットならびに筒ユニット２を有する手術用顕微鏡とともにスタンド・ユニットを備えている。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope having a weight-reduced scanning probe unit attached to an objective revolver of an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡の対物レボルバーに取り付けられる走査型プローブユニットが軽量化された走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The three-dimensional confocal microscope images having the color information obtained by the color confocal microscope are first acquired.例文帳に追加

まず、カラー共焦点顕微鏡にて得られたカラー情報を有する三次元共焦点顕微鏡画像（カラー三次元画像）を取得する。 - 特許庁

A positional relation among a work mark microscope 15, the mask mark microscope 24, and the work stage 13 is ascertained.例文帳に追加

そして、該基準マークＢＭを用いて、ワークマーク用顕微鏡１５とマスクマーク顕微鏡２４とワークステージ１２の位置の関係を確認しておく。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope that can greatly reduce vibration of the image due to the mechanical vibration of the microscope body tube and the stage.例文帳に追加

鏡筒とステージの機械的な振動による像の振動を著しく軽減することができる走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To clear an observation image of a sample for transmission type electron microscope observation at a specific position to be observed by the transmission type electron microscope.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡で観察したい特定箇所の透過型電子顕微鏡観察用試料の観察像を鮮明にする。 - 特許庁

To provide a microscope system which can quickly detect a focal position as the microscope system equipped with an autofocus function of a contrast system.例文帳に追加

コントラスト方式のＡＦ機能を備えた顕微鏡システムにおいて、素早く合焦位置を検出することのできるシステムを提供する。 - 特許庁

A host system 2 captures a time series of microscope images obtained by photographing the image of a specimen 19 as a dynamic images, and also captures microscope information to be made correspond to respective microscope image and representing an observing state of a microscope device 1 when the microscope image photographed.例文帳に追加

ホストシステム２は、観察体１９を撮像して得られる時系列の顕微鏡画像を動画像として取得すると共に、当該顕微鏡画像の各々に対応付けられている情報であって当該顕微鏡画像が撮像されたときの顕微鏡装置１の観察状態を示している当該情報である顕微鏡情報を取得する。 - 特許庁

The electron microscope has: a specimen stage for making a specimen incline; a camera for taking an electron microscope image of the specimen; a monitor for displaying the electron microscope image of the specimen; and a domain means for calculating a domain in which the electron microscope image does not become blurred, wherein the monitor displays the domain in which the electron microscope image does not become blurred.例文帳に追加

本発明によると、電子顕微鏡は、試料を傾斜させる試料ステージと、試料の電子顕微鏡像を撮影するカメラと、試料の電子顕微鏡像を表示するモニタと、試料の傾斜角に基づいてボケがない領域を計算する領域手段と、を有し、上記モニタに上記ボケがない領域を表示する。 - 特許庁

In this position determination method of the measuring object, when performing same-field observation of the measuring object on a substrate by the first microscope and the electron microscope, the coordinate of the measuring object in the electron microscope is determined based on the coordinates of two points on the measuring object and the substrate in the first microscope and the coordinates of two points on the substrate in the electron microscope.例文帳に追加

基板上の測定対象物を第１の顕微鏡と電子顕微鏡とで同視野観察するに際して、第１の顕微鏡における測定対象物および基板の２つの点の座標と、電子顕微鏡における基板の２つの点の座標とに基づいて電子顕微鏡における測定対象物の座標を決定する方法。 - 特許庁

On the basis of position information included in the microscope information and representing the position of the specimen 19 when each microscope image is photographed, the microscope images constituting the dynamic image are composed, thereby forming a wide image wider in view field than the microscope image.例文帳に追加

そして、当該顕微鏡情報に含まれており前記顕微鏡画像が撮像されたときの観察体１９の位置を示している位置情報に基づいて、当該動画像を構成している各顕微鏡画像を合成することで、当該顕微鏡画像よりも視野の広いワイド画像を生成する。 - 特許庁

To provide a microscope controller by which an observer can clearly recognize in which recording medium a picked-up image is preserved when the observer performs imaging operation during observation of a microscope image and to provide a microscope system provided with the microscope controller.例文帳に追加

顕微鏡画像観察中、観察者が撮像動作を行ったときに、撮像した画像がどの記憶媒体に保存されたのかということを観察者が明確に認識することができる顕微鏡制御装置および当該顕微鏡制御装置を備えた顕微鏡システムを提供すること。 - 特許庁

The sample imaging apparatus A for imaging the expanded sample image obtained by the microscope includes: the microscope that expands the sample image; and an autofocus mechanism that adjusts the relative position of the sample and the objective lens 3 of the microscope, so as to align the focus of the microscope with the sample.例文帳に追加

標本の像を拡大する顕微鏡と、前記標本と顕微鏡の対物レンズ３との相対位置を調整して、当該顕微鏡の焦点を標本に合わせるオートフォーカス機構とを備えており、前記顕微鏡により得られる標本の拡大像を撮像する標本撮像装置Ａ。 - 特許庁

The automatic microscope includes a microscope for enlarging an image of an inspection body placed on a slide glass 2 arranged on a stage 1, and the automatic microscope has an automatic focusing function of adjusting the relative position of the microscope lens 3 and the stage 1 and focusing the lens 3 on the inspection body placed on the slide glass 2.例文帳に追加

ステージ１上に配置されたスライドガラス２上の検体の像を拡大する顕微鏡を備え、前記顕微鏡のレンズ３と前記ステージ１との相対位置を調整して当該レンズ３の焦点を前記スライドガラス２上の検体に合わせるオートフォーカス機能を有する自動顕微鏡。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of specifying constituents of a sample.例文帳に追加

試料の構成物質を特定可能な電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

MICROSCOPE SYSTEM, CONTROL METHOD FOR THE SAME, AND CONTROL PROGRAM FOR THE SAME例文帳に追加

顕微鏡システム、顕微鏡システムの制御方法、及び制御プログラム - 特許庁

The present invention is applied to, for example, a digital protractor for use in a microscope.例文帳に追加

本発明は、例えば、顕微鏡用のデジタルプロトラクタに適用できる。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope in which a scanning operation can be performed at high speed.例文帳に追加

高速走査が可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

SCANNING CAPACITIVE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査型容量顕微鏡およびこの顕微鏡を用いた測定方法 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING IMAGE DISTORTIONS IN CONFOCAL SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡における画像歪みを補正する方法 - 特許庁

DISPLACEMENT MEASURING METHOD, INSTRUMENT THEREFOR, STAGE DEVICE, AND PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

変位計測方法及びその装置、ステージ装置並びにプローブ顕微鏡 - 特許庁

TRANSMITTED ILLUMINATION DEVICE, MICROSCOPE EQUIPPED WIGHT THE SAME AND TRANSMITTED ILLUMINATION METHOD例文帳に追加

透過照明装置、それを備えた顕微鏡、及び透過照明方法 - 特許庁