「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(62ページ目) - Weblio英語例文検索

OPTICAL PROBE, ITS MANUFACTURE, AND SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

光プローブとその製造方法および走査型近接場光顕微鏡 - 特許庁

ELECTRIC STAGE MONITORING SYSTEM FOR MICROSCOPE, ITS MONITORING DEVICE AND ITS MONITORING METHOD例文帳に追加

顕微鏡用電動ステージ監視システム、該監視装置、及び該監視方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SURFACE SHAPE MEASUREMENT METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡及びそれを用いた表面形状計測方法 - 特許庁

To recognize to which port of a microscope a camera has been mounted.例文帳に追加

カメラが顕微鏡のいずれのポートにマウントされたかを認識すること。 - 特許庁

light microscope that has two converging lens systems: the objective and the eyepiece 例文帳に追加

2つの収束レンズシステムを持つ軽い顕微鏡：対物レンズと接眼レンズ - 日本語WordNet

the electrode that is the source of electrons in a cathode-ray tube or electron microscope 例文帳に追加

ブラウン管または電子顕微鏡における電子源である電極 - 日本語WordNet

electron microscope used to observe the surface structure of a solid 例文帳に追加

固体の表層構造を観察するために使用される電子顕微鏡 - 日本語WordNet

POSITIVE ELECTRON ANALYSIS MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING POSITIVE ELECTRON BEAM例文帳に追加

陽電子分析顕微鏡および陽電子ビームを用いた測定方法 - 特許庁

PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND MICROSCOPE AND TESTER HAVING PROBE例文帳に追加

プローブ及びその製造方法並びにプローブを有する顕微鏡及びテスタ - 特許庁

To provide a charged particle source for a focused particle beam system such as a transmission electron microscope (TEM), scanning transmission electron microscope (STEM), scanning electron microscope (SEM), or focused ion beam (FIB) system.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）、走査透過型電子顕微鏡（ＳＴＥＭ）、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）、集束イオン・ビーム（ＦＩＢ）システムなどの集束粒子ビーム・システム用の荷電粒子源を提供すること。 - 特許庁

APPARATUS DIFFERENCE CONTROL SYSTEM IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND ITS METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡装置における機差管理システムおよびその方法 - 特許庁

CANTILEVER, CANTILEVER SYSTEM, PROBE MICROSCOPE AND ADSORPTION MASS SENSOR例文帳に追加

カンチレバー、カンチレバーシステム及びプローブ顕微鏡並びに吸着質量センサ - 特許庁

SAMPLE FOR ELECTRON BEAM DIFFRACTION AND METHOD FOR PRODUCING ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE例文帳に追加

電子線回折用試料および電子顕微鏡試料の製造方法 - 特許庁

MICROSCOPE AND SYSTEM OBTAINED BY ELECTRICALLY COUPLING PLURAL MICROSCOPES例文帳に追加

顕微鏡並びにこの顕微鏡複数個を電気的に結合したシステム - 特許庁

ELECTRON BEAM SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME, AND ANALYTICAL METHOD例文帳に追加

電子線分光器、それを備えた電子顕微鏡及び分析方法 - 特許庁

PHOTOACTIVATION LOCALIZATION MICROSCOPE AND PHOTOACTIVATION LOCALIZATION OBSERVATION METHOD例文帳に追加

光活性化限局顕微鏡及び光活性化限局観察方法 - 特許庁

To provide an observation system of an electronic microscope with which the highly reliable measured result can be provided by operating an electronic microscope such as scanning electronic microscope away from the installation place of it.例文帳に追加

走査電子顕微鏡等の電子顕微鏡の設置場所から離れた場所から電子顕微鏡の操作が行え、信頼性の高い測定結果を得ることができる電子顕微鏡の観察システムを実現する。 - 特許庁

LASER BEAM EMITTER AND MICROSCOPE EQUIPMENT WITH LASER BEAM EMITTER例文帳に追加

レーザ光照射装置およびレーザ光照射装置付顕微鏡装置 - 特許庁

The present invention is applicable to an analyzer device for a phase difference microscope.例文帳に追加

本発明は、例えば、位相差顕微鏡のアナライザ装置に適用できる。 - 特許庁

MICROSCOPE SYSTEM, OBSERVATION IMAGE CORRECTION PROGRAM, AND OBSERVATION IMAGE CORRECTION METHOD例文帳に追加

顕微鏡システム、観察画像補正プログラム、及び観察画像補正方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING BY SCANNING ELECTROSTATIC CAPACITY MICROSCOPE例文帳に追加

走査型静電容量顕微鏡による測定方法および測定装置 - 特許庁

The present invention is applicable to a microscope using the ring lighting device.例文帳に追加

本発明は、リング照明装置を使用する顕微鏡に適用できる。 - 特許庁

REFLECTION IMAGE FORMING ELECTRON MICROSCOPE AND DEFECT INSPECTING DEVICE USING IT例文帳に追加

反射結像型電子顕微鏡、及びそれを用いた欠陥検査装置 - 特許庁

An optical-microscope unit 24, which detects reflected light while emitting light in an oblique direction to the observation face of a scanning electron microscope, is provided inside or outside a sample chamber of the scanning electron microscope.例文帳に追加

走査電子顕微鏡の試料室外もしくは試料室内に、走査電子顕微鏡の観察面に対して斜め方向に光を照射して反射光を検出する光学顕微鏡ユニット２４を設ける。 - 特許庁

SCANNING TYPE CONFOCAL LASER MICROSCOPE, CONTROL METHOD THEREFOR, AND PROGRAM例文帳に追加

走査型共焦点レーザ顕微鏡、及びその制御方法、並びにプログラム - 特許庁

This acceleration recording device utilizes STM (scanning tunnel microscope).例文帳に追加

ＳＴＭ（走査型トンネル顕微鏡）を利用した加速度記録装置である。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND LOCAL THIN FILM ADHESION EVALUATION METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び局所薄膜密着性評価方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MANUFACTURING PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡用探針の作製方法及びそのための装置 - 特許庁

OPTICAL ADDRESS SPATIAL LIGHT MODULATOR AND MICROSCOPE SYSTEM USING THE SAME例文帳に追加

光アドレス型空間光変調器及びそれを用いた顕微鏡装置 - 特許庁

PROBE FOR ELECTROCONDUCTIVE SCANNING MICROSCOPE AND PROCESSING METHOD USING THIS PROBE例文帳に追加

導電性走査型顕微鏡用プローブ及びこれを用いた加工方法 - 特許庁

FOCUS DETECTOR, FOCUSING DEVICE AND MICROSCOPE HAVING THE SAME例文帳に追加

焦点検出装置、焦点合わせ装置、およびそれを備えた顕微鏡 - 特許庁

SEMICONDUCTOR SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAMPLE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用半導体試料およびその製造方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN DIMENSION MEASUREMENT METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びこれを用いたパターン寸法計測方法 - 特許庁

OBJECTIVE LENS EXCHANGE AND MICROSCOPE HAVING OBJECTIVE LENS EXCHANGER例文帳に追加

対物レンズ交換装置および対物レンズ交換装置を有する顕微鏡 - 特許庁

SLIT WIDTH ADJUSTING APPARATUS AND MICROSCOPE LASER REPAIR APPARATUS FURNISHED WITH THE SAME例文帳に追加

スリット幅調整装置およびこれを備えた顕微鏡レーザリペア装置 - 特許庁

NONCONTACT INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

非接触型原子間力顕微鏡およびそれを用いた観察方法 - 特許庁

MAPPING TYPE ELECTRON MICROSCOPE REDUCING GEOMETRICAL ABERRATIONS AND SPACE-CHARGE EFFECTS例文帳に追加

幾何収差と空間電荷効果を低減した写像型電子顕微鏡 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope preventing damage to a tube scanner.例文帳に追加

チューブスキャナーの破損を防止した走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The three-dimensional transmission microscope system 1 consisting of a combination of a transmission microscope 2 and an image processor 13 for image processing the image signals of the images obtained by the transmission microscope and for displaying the images is used.例文帳に追加

透過型顕微鏡２と、該透過型顕微鏡で得られた画像の画素信号を画像処理して表示する画像処理装置１３との組み合わせからなる三次元透過型顕微鏡システム１を使用する。 - 特許庁

IMAGING APPARATUS FOR MICROSCOPE, AND PIXEL DEFECT DETECTING METHOD OF IMAGING APPARATUS例文帳に追加

顕微鏡用撮像装置及び撮像素子の画素欠陥検出方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE INSPECTION METHOD例文帳に追加

荷電粒子線装置、走査電子顕微鏡、および試料検査方法 - 特許庁

ACCURATE AXIS ADJUSTMENT METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE例文帳に追加

透過電子顕微鏡の高精度な軸調整方法及びその装置 - 特許庁

To avoid illumination undesirable to a specimen in a scanning microscope.例文帳に追加

走査顕微鏡において、試料の望ましくない照明を回避する。 - 特許庁

ELECTRIC MANIPULATOR FOR POSITIONING SPECIMEN ON TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の試料を位置決めするための電動マニピュレーター - 特許庁

ADAPTER FOR MICROSCOPIC OBSERVATION, MICROSCOPIC OBSERVATION METHOD, AND MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加

顕微鏡観察用アダプタ、顕微鏡観察方法および顕微鏡装置 - 特許庁