「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(66ページ目) - Weblio英語例文検索

An inverted microscope body 1 has a revolver 5 below a stage 2.例文帳に追加

倒立顕微鏡本体１はステージ２の下方にレボルバー５を有している。 - 特許庁

To realize a scanning probe microscope having excellent operability with mounting holder.例文帳に追加

ホルダ装着の操作性が良い走査形プローブ顕微鏡を提供する事。 - 特許庁

SAMPLE CONVEYING MECHANISM AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING THE SAME例文帳に追加

試料搬送機構、及び試料搬送機構を備えた走査電子顕微鏡 - 特許庁

To save the space to provide a filter cassette of a vertically illuminating fluorescent microscope.例文帳に追加

本発明は落射蛍光顕微鏡のフィルタカセットを省スペースで提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PREPARING MINUTE OBJECT IN ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

電子顕微鏡装置内における微小物作成方法及びその装置 - 特許庁

ELEMENT-MAPPING DEVICE, SCANNING TRANSMISSION ELECTRONIC MICROSCOPE AND ELEMENT-MAPPING METHOD例文帳に追加

元素マッピング装置、走査透過型電子顕微鏡及び元素マッピング方法 - 特許庁

MULTIPLE POINTS SIMULTANEOUS MEASURING METHOD FOR SAMPLE AND MULTIPLE POINTS SIMULTANEOUS MEASURING MICROSCOPE例文帳に追加

試料の多点同時計測方法、及び多点同時計測用顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS PROBE FOR DETECTING ELECTROMAGNETIC FIELD WITH ULTRAHIGH SENSITIVITY例文帳に追加

超高感度電磁場検出用走査型プローブ顕微鏡とその探針 - 特許庁

OBSERVATION METHOD FOR SAMPLE BY USE OF SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いた試料の観察方法及びその装置 - 特許庁

SAMPLE-MANUFACTURING METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND CONVERGENT ION BEAM DEVICE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の試料作製方法および集束イオンビーム装置 - 特許庁

To provide a lens optical system achieving the miniaturization of a pen type microscope or the like.例文帳に追加

ペン型顕微鏡等の小型化を図れるレンズ光学系を提供する。 - 特許庁

MULTIPLE CHARGED PARTICLE DETECTOR, AND SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

多重荷電粒子検出器、及びそれを用いた走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

ABERRATION CORRECTION DEVICE AND ABERRATION CORRECTION METHOD OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型透過電子顕微鏡の収差補正装置及び収差補正方法 - 特許庁

ELECTRON LENS ADJUSTMENT STANDARD FOR PHOTOELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF PRODUCING THE SAME例文帳に追加

光電子顕微鏡の電子レンズ調整標準及びその製造方法 - 特許庁

FREE INSTALLATION DISPLAY DEVICE FOR MICROSCOPE DATA AND/OR IMAGE DATA例文帳に追加

顕微鏡データおよび／または画像データ用の自由設置可能な表示装置 - 特許庁

MULTI-POINT FLUORESCENCE SPECTROPHOTOMETRY MICROSCOPE AND MULTI-POINT FLUORESCENCE SPECTROPHOTOMETRY METHOD例文帳に追加

多点蛍光分光測光顕微鏡および多点蛍光分光測光方法 - 特許庁

LIGHT DETECTION DEVICE, LIGHT DETECTION METHOD, MICROSCOPE, AND ENDOSCOPE例文帳に追加

光検出装置および光検出方法、並びに、顕微鏡および内視鏡 - 特許庁

METHOD OF OBSERVATION OF SAMPLE FLOATING ON LIQUID SURFACE UNDER SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

液体の表面を浮遊する試料の走査電子顕微鏡観察方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF NEEDLE CRYSTAL, AND CANTILEVER OF SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

針状結晶の製造方法、及び走査型プローブ顕微鏡のカンチレバー - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE IMAGE AND LASER EXCITATION EMISSION DISTRIBUTION IMAGE MEASURING APPARATUS例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡像及びレーザ励起発光分布像測定装置 - 特許庁

SINGLE-LENS TYPE MICROSCOPE OBSERVATION DEVICE USING CCD CAMERA AND ITS ACCESSORY例文帳に追加

ＣＣＤカメラを使った単レンズ型の顕微鏡観察装置とその付属品 - 特許庁

METAL THIN FILM FORMING METHOD FOR MICROSCOPIC OBSERVATION SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡用検鏡試料の金属薄膜成膜方法 - 特許庁

Then the power of the laser light source of the 2nd microscope 21B is gradually increased.例文帳に追加

次に、第２マイクロスコープ２１Ｂのレーザ光源のパワーをゆっくり上げていく。 - 特許庁

This scanning electron microscope provided with a sample transfer device.例文帳に追加

試料移送装置を備えた走査電子顕微鏡を例にとって説明する。 - 特許庁

PATTERN CHARACTERISTICS MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS SYSTEM例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いたパターン特性測定方法およびそのシステム - 特許庁

The vibration attenuator (1) for the microscope (7) includes a housing (3).例文帳に追加

顕微鏡（７）のための振動減衰装置（１）は、ハウジング（３）を具備している。 - 特許庁

ACTUATOR, ACTUATOR USING THE SAME AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

アクチュエーターおよびこれを用いたアクチュエーターならびに走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

MULTIPLE-AZIMUTH SIMULTANEOUS DETECTION CONDENSING EQUIPMENT AND SCANNING TYPE PROXIMITY FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

多方位同時検出光集光器および走査型近接場顕微鏡 - 特許庁

DISTANCE MEASURING DEVICE, AND OPTICAL INTERFEROMETER AND OPTICAL MICROSCOPE EQUIPPED WITH THIS例文帳に追加

距離測定装置およびこれを備えた光学干渉計、光学顕微鏡 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND TESTPIECE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置、走査型電子顕微鏡、及び試料観察方法 - 特許庁

LASER SCANNING MICROSCOPE APPARATUS, CONTROL METHOD AND CONTROL PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡装置およびその制御方法ならびに制御プログラム - 特許庁

LASER BEAM SOURCE DEVICE AND LASER SCANNING MICROSCOPE USING IT例文帳に追加

レーザ光源装置及びこのレーザ光源装置を用いたレーザ走査顕微鏡 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR OBSERVING SAMPLE USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いた試料の観察方法およびそのシステム - 特許庁

DETECTOR AND METHOD FOR DETECTING WEAK FLUORESCENCE RADIATION BY MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

顕微鏡システムで弱い蛍光放射を検出するための検知器と方法 - 特許庁

ILLUMINATION APPARATUS FOR MICROSCOPE AND IMAGE PROCESSING APPARATUS USING ILLUMINATION APPARATUS例文帳に追加

顕微鏡の照明装置及びその照明装置を用いた画像処理装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE-PROCESSING METHOD THEREFOR例文帳に追加

走査電子顕微鏡、および、走査電子顕微鏡における画像処理方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING MOUNTING ANGLE OF PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE(SPM)例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）用プローブの取り付け角度測定方法 - 特許庁

PHOTOMASK DEFECT CORRECTION METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROCESSING DEVICE例文帳に追加

原子間力顕微鏡加工装置を用いたフォトマスク欠陥修正方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, EVALUATION POINT GENERATION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置、及び評価ポイント生成方法、並びにプログラム - 特許庁

IMAGE ACQUISITION APPARATUS, METHOD FOR CONTROLLING IMAGE ACQUISITION APPARATUS, AND MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

画像取得装置、画像取得装置の制御方法、及び顕微鏡システム - 特許庁

IMPROVEMENT OF CHARGE TRAP IN SAMPE INSPECTION USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を用いた試料検査における電荷トラップの改善 - 特許庁

METHOD FOR LIGHTING PHYSICAL OBJECT AND SURGICAL MICROSCOPE HAVING LIGHTING UNIT例文帳に追加

対象物の照明方法及び照明装置を有する手術顕微鏡 - 特許庁

CALIBRATION DEVICE AND SCANNING LASER MICROSCOPE WITH CALIBRATION DEVICE例文帳に追加

校正装置およびそのような校正装置を備えた走査型レーザ顕微鏡 - 特許庁

An atomic force microscope is equipped with an AFM scanner and a sample mounting stand.例文帳に追加

原子間力顕微鏡は、ＡＦＭスキャナおよび試料載置台を備える。 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM ENERGY SPECTROSCOPY USING IT例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡及びそれを用いた電子線エネルギー分光方法 - 特許庁