「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(56ページ目) - Weblio英語例文検索

ELECTRONIC IMAGING APPARATUS AND ELECTRONIC IMAGING APPARATUS FOR MICROSCOPE例文帳に追加

電子的撮像装置および顕微鏡用電子的撮像装置 - 特許庁

REMOTE CONTROL METHOD AND REMOTE CONTROL SYSTEM FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の遠隔制御方法及び遠隔制御システム - 特許庁

SPHERICAL ABERRATION CORRECTION ELECTRON MICROSCOPE HAVING LESS COLOR ABERRATION例文帳に追加

色収差も小さく抑えた球面収差補正電子顕微鏡 - 特許庁

Someone go get a microscope so we locate mr. demarco's pecker.例文帳に追加

誰か顕微鏡を取りに行け それでデマルコ氏の ペニスを見つける - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Did not happen alone in the lab, in front of the microscope.例文帳に追加

研究室の顕微鏡を前に一人で思いつくのではなく - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

This is taken through a fiber optics microscope. it's down inside the nest.例文帳に追加

光ファイバー顕微鏡を使って巣の中を撮影しました - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

And so we peer through a legal microscope, and look at everything.例文帳に追加

そこで すべてのことを法律という顕微鏡をのぞきこんで - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Sometimes they send you pictures of them using the microscope.例文帳に追加

時には顕微鏡を使っている写真が届いたりもします - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

In the unlikely event that someone shows up with a microscope you can blame me, okay?例文帳に追加

顕微鏡を持ってくる 人がいたら ママを責めればいい - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Has all the functionalities of a standard microscope例文帳に追加

標準的な顕微鏡にある すべての機能を備えています - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

He adjusted the microscope so as to get a clearer view.例文帳に追加

彼はもっとはっきりと見えるように顕微鏡を調整した - Eゲイト英和辞典

QUANTITY-OF-LIGHT DETECTOR, MICROSCOPE, AND QUANTITY-OF-LIGHT DETECTION METHOD例文帳に追加

光量検出装置、顕微鏡及び光量検出方法 - 特許庁

WORKING DEVICE AND WORKING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた加工装置及び加工方法 - 特許庁

An EDS detector is attached to the column of this microscope. 例文帳に追加

EDS検出器が、この顕微鏡の鏡筒に取り付けられている。 - 科学技術論文動詞集

The objective lens 113 of a microscope 110 is put in a state of being covered with a cover member 120 installed on the microscope 110.例文帳に追加

顕微鏡１１０の対物レンズ１１３を、顕微鏡１１０に取り付けたカバー部材１２０で覆った状態とする。 - 特許庁

To provide a supporting member for X-ray microscope image observation suitable for X-ray microscope observation of a biological sample.例文帳に追加

生物試料のＸ線顕微鏡観察に好適なＸ線顕微鏡像観察用試料支持部材を提供すること。 - 特許庁

To provide an inexpensive shutter device which can be compactly attached to a microscope without changing design of the microscope.例文帳に追加

顕微鏡の設計変更をすることなく、安価でコンパクトに顕微鏡に装着することができるシャッタ装置を提供する。 - 特許庁

The microscope apparatus is so constituted that a microscope casing 5 provided with an objective lens 6 is placed on a moving stage 9 movable to an x-y direction.例文帳に追加

対物レンズ６を備えた顕微鏡筐体５はｘｙ方向に移動できる移動ステージ９上に載置されている。 - 特許庁

To provide superior waterproofness at a low cost without impairing the operability of an erect type microscope as well as a tilted type microscope.例文帳に追加

倒立型顕微鏡だけでなく正立型顕微鏡の操作性を損うことなく、安価で優れた防水性を有すること。 - 特許庁

To provide an inspection device for a microscope capable of preventing incorrect inspection; and to provide an inspection method by the microscope.例文帳に追加

誤検査を防止することができる顕微鏡用の検査装置および顕微鏡による検査方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a correction device in which a chromatic aberration and an aperture aberration in a scanning electron microscope or a scanning transmission type electron microscope are removed.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡または走査透過型電子顕微鏡における色収差および開口収差を除去する。 - 特許庁

This scanning probe microscope includes the scanning probe unit 160 attached to the objective revolver of the scanning optical microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、走査型光学顕微鏡の対物レボルバーに取り付けられる走査型プローブユニット１６０を含んでいる。 - 特許庁

COMMON SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND FOCUSED-ION BEAM DEVICE, AND SAMPLE-PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡と集束イオンビーム装置との共用試料ホルダー及び透過型電子顕微鏡用の試料作製方法 - 特許庁

To provide a stage for a microscope which can facilite the relative movement of an upper plate, and to provide a microscope provided with the stage.例文帳に追加

上板の相対移動を容易に行うことができる顕微鏡用ステージ及びこれを備える顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide an X-ray microscope and a microscope capable of easily switching bright field/dark field observation and having simple system constitution.例文帳に追加

明視野・暗視野観察を容易に切替え可能で、かつシステム構成が簡便なＸ線顕微鏡及び顕微鏡の提供。 - 特許庁

This optical device is used for a confocal scanning microscope 2 and acts to scan the illumination light of the microscope 2.例文帳に追加

光学装置１２は、共焦点走査型顕微鏡２に用いられ、この顕微鏡２の照明光を走査させるものである。 - 特許庁

A contrast calculation part 48 detects the change of the state of a microscope from the change of the observation image accompanying the operation of the microscope.例文帳に追加

コントラスト演算部４８は、顕微鏡の操作に伴う観察像の変化から顕微鏡の状態の変化を検出する。 - 特許庁

Further, good images can be obtained by utilizing the optical system to the optical microscope or the fluorescent microscope.例文帳に追加

さらに、この光学系を光学顕微鏡あるいは蛍光顕微鏡へ利用することによって、良好な画像が得られるようにする。 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING THICKNESS OF AMORPHOUS LAYER OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料のアモルファス層の厚さ評価方法および透過型電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁

With the position of a crossover A as the table face of this electron microscope, the energy filter can be settled under the table of the electron microscope.例文帳に追加

クロスオーバーＡの位置を電子顕微鏡のテーブル面とし、エネルギーフィルタを電子顕微鏡のテーブルの下に納めることができる。 - 特許庁

SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, SAMPLE SUPPORT STRUCTURE FOR THE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, SAMPLE HOLDER AND CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料作製方法、透過電子顕微鏡用試料支持構造、試料ホルダ及び荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

The method includes use of an optical microscope linked to an image processing apparatus or use of a microscope linked to a spectroscopic apparatus.例文帳に追加

測定は、画像加工装置に接続した光学顕微鏡又は分光学的装置に結合した顕微鏡の使用を含む。 - 特許庁

The optical system of the observation microscope 20 and that of the laser device are independent in the microscope device 1.例文帳に追加

この顕微鏡装置１において、観察顕微鏡２０の光学系と、上記レーザ装置の光学系とは、夫々独立している。 - 特許庁

METHOD FOR OBSERVING SAMPLE BY SCANNING PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND ULTRA-FLAT SAPPHIRE SUBSTRATE FOR SCANNING PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

走査近接場光学顕微鏡による試料観測方法および走査近接場光学顕微鏡用超平坦サファイア基板 - 特許庁

The scanning microscope is provided with a means (3) for acquiring and displaying preview images (7) and a microscope optical system (51).例文帳に追加

走査型顕微鏡は、プレビュー画像（７）を取得して表示するための手段（３）および顕微鏡光学系（５１）を具備する。 - 特許庁

To prevent the exertion of thermal damage on the respective parts of a microscope when a specimen temperature management device for the microscope is used in a high temperature state.例文帳に追加

顕微鏡用の検体温度管理器を高温にして使用すると、顕微鏡の各部に熱的ダメージを与えてしまう。 - 特許庁

To provide a mask for rapidly searching and observing the specific region of a sample, which is observed by an optical microscope, by an existing electron microscope even if a device which incorporates the optical microscope in the electron microscope is not used, and also to provide a sample analyzing method using it.例文帳に追加

電子顕微鏡内部に光学顕微鏡を組み込んだ装置を用いなくても既存の電子顕微鏡で、光学顕微鏡で観察した試料の特定部位を迅速に探索・観察することが可能なマスク及びそれを用いた方法を提供すること。 - 特許庁

When a microscope 9 is moved in its optical axis direction, the processing unit 18 calculates the correction amount in the X-direction and the Y-direction of the microscope 9 on the basis of the deviation amount, a microscope and CCD drive system 12 is controlled, and the microscope 9 is driven by its correction amount portion.例文帳に追加

そして、光軸方向に顕微鏡８を移動させる際には、ズレ量に基づいて演算処理装置１８が顕微鏡８のＸ、Ｙ方向の補正量を算出し、顕微鏡・ＣＣＤ駆動系１２を制御して顕微鏡８を補正量分駆動する。 - 特許庁

A microscope 12 is configured to include a microscope head part 21 which has an imaging means imaging the sample 15 and can be independently used and a microscope stand part 22 which has a stage 43 on which the sample 15 is placed and to and from which the microscope head part 21 can be attached and detached.例文帳に追加

試料１５を撮像する撮像手段を有し、単独で使用可能な顕微鏡ヘッド部２１と、試料１５が載置されるステージ４３を有し、顕微鏡ヘッド部２１が着脱可能な顕微鏡スタンド部２２とを備えて顕微鏡１２は構成される。 - 特許庁

To accurately conduct inspection with a magnetic force microscope, with a scanning Hall probe microscope, or with a scanning magneto-resistive microscope with high speed by greatly shortening inspection time (tact time) with an atomic force microscope, and holding height of an inspection probe uniform.例文帳に追加

原子間力顕微鏡による検査時間（タクトタイム）を大幅に短縮化し、検査用探針の高さを一定に保持して磁気力顕微鏡、走査型ホールプローブ顕微鏡又は走査型磁気抵抗効果顕微鏡による検査を正確かつ高速に行なえるようにする。 - 特許庁

This microscope is provided with a microscope body for observing a subject to be examined, the operation unit for operating the observation work of the microscope body by at least the foot of the observer and respective mechanisms operating respective parts inside and outside of the microscope body on the basis of the operation of the operation unit.例文帳に追加

被検対象を観察する顕微鏡本体と、顕微鏡本体の観察作業を観察者の少なくとも足にて操作する操作装置と、操作装置の操作に基づき顕微鏡本体内外の各部を動作させるための各機構と、を有する。 - 特許庁

A front case 800A and a rear case 800B are attached to the base housing part 50 so as to cover over the atomic force microscope 10, the optical microscope 20 and the microscope coupling member 40.例文帳に追加

ベース筐体部５０には、原子間力顕微鏡１０、光学顕微鏡２０および顕微鏡連結部材４０を覆うように、フロントケース８００Ａおよびリアケース８００Ｂが取り付けられる。 - 特許庁

To provide a microscope device having an upright microscope and an inverted microscope, which allows the same horizontal-direction part of a specimen to be easily and securely observed from above and below.例文帳に追加

本発明は、正立顕微鏡と倒立顕微鏡とを備えた顕微鏡装置に関し、試料の水平方向の同一位置を上方および下方から容易，確実に観察することを目的とする。 - 特許庁

To provide a laser-introducing device for a laser microscope by which a plurality of laser beams introduced into a laser microscope can simply and quickly be adjusted into a predetermined state, and to provide the laser microscope that has the laser-introducing device.例文帳に追加

レーザ顕微鏡に導入する複数のレーザ光を所定の状態に簡単かつ迅速に調整できるレーザ顕微鏡用レーザ導入装置、およびこれを具備するレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To identify a cell to be observed using an electron microscope among floating cells in a liquid, by using an optical microscope, and observe the identified cell in detail by using the electron microscope.例文帳に追加

液体中に浮遊している浮遊細胞の中から、電子顕微鏡の観察対象とすべき細胞を、光学顕微鏡を用いて特定し、その特定した細胞を電子顕微鏡で詳細に観察する。 - 特許庁