Microscopeを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8959件
To provide a method for remote controlling an electron microscope capable of accurately adjusting an electron microscope such as a scanning electron microscope even in bad environment of a network.例文帳に追加
ネットワーク回線の環境が悪い場合でも、より正確に走査電子顕微鏡などの電子顕微鏡の調整を行なうことができる電子顕微鏡の遠隔調整方法を実現する。 - 特許庁
This microscope is constituted so that a microscope base 4 supporting the microscope main body 7 having an objective lens 9 can be turned with the optical axis of the lens 9 as a center together with a scanning unit 8.例文帳に追加
対物レンズ９を有する顕微鏡本体７を支持する顕微鏡基台４を走査ユニット８とともに、対物レンズ９の光軸を中心に回動可能にしている。 - 特許庁
To provide a liquid absorption member for a microscope, preventing the degradation of a function due to the intrusion of an immersion liquid into the microscope and reducing the load of cleaning work, and also to provide an objective lens equipped with the liquid absorption member for the microscope, a condenser lens, and the microscope.例文帳に追加
液浸液が顕微鏡内部に侵入することによる機能低下を防止するとともに、クリーニング作業の負担を小さくする顕微鏡用液体吸収部材、それを備えた対物レンズ、コンデンサレンズ及び顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a ceiling attaching device for a microscope restricting vibration caused in the microscope, preventing the freedom of user's behavior and user's visual field from being disturbed and further avoiding deviation from a position where the microscope should exist regardless of the position of the microscope.例文帳に追加
顕微鏡に生じうる振動を制限し、かつ使用者の行動の自由及び視野を妨げず、更に顕微鏡の位置にかかわらず顕微鏡のあるべき位置からの「ずれ」を避けうる顕微鏡用天井取付装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a microscope controller having improved operability, capable of operating a microscope and optional devices, and configured to display, on a display part, a screen corresponding to a device connected thereto, and to provide a microscope system including the microscope controller.例文帳に追加
顕微鏡及びオプション装置の操作が可能で、コントローラに接続されている装置に応じた画面が表示部に表示される、操作性に優れた顕微鏡用コントローラ及び該顕微鏡用コントローラを備えた顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁
The scanning tunneling microscope emission converging apparatus includes a scanning tunneling microscope and a plurality of optical fibers 2 arranged radially about the end of a scanning tunneling microscope probe 1 and around the scanning tunneling microscope probe 1 to converge emission caused by the operation of the scanning tunneling microscope.例文帳に追加
走査トンネル顕微鏡発光集光装置において、走査トンネル顕微鏡と、この走査トンネル顕微鏡の操作での発光を集光するために、前記走査トンネル顕微鏡探針１の先端を中心として前記走査トンネル顕微鏡探針１の周りに放射状に配置される複数の光ファイバー２を具備する。 - 特許庁
To obtain a scanning probe microscope that is capable of accurate observation.例文帳に追加
高精度観察可能な走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
The present invention is applied to a confocal microscope.例文帳に追加
本発明は、共焦点顕微鏡に適用することができる。 - 特許庁
ILLUMINATION OPTICAL SYSTEM AND MICROSCOPE PROVIDED WITH THE SAME例文帳に追加
照明光学系及び照明光学系を備えた顕微鏡 - 特許庁
To provide a microscope apparatus which easily searches an image.例文帳に追加
画像の探索を容易に行える顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁
To provide a properly automatically surface engageable scanning force microscope.例文帳に追加
自動表面係合の走査型力顕微鏡を提供する。 - 特許庁
SAMPLE-ATTACHING AND DETACHING MECHANISM OF SAMPLE- FORMING APPARATUS FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡用試料作成装置の試料着脱機構 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR ILLUMINATING DARK FIELD OF MICROSCOPE例文帳に追加
顕微鏡の暗視野照明装置および暗視野照明方法 - 特許庁
To provide an inspection method of a test piece in an electron microscope.例文帳に追加
電子顕微鏡における試料の検査方法を提供する。 - 特許庁
LASER SCANNING MICROSCOPE, AND SUBASSEMBLY FOR NON-DESCANNED DETECTION例文帳に追加
走査型レーザ顕微鏡および非デスキャン検出のためのサブアセンブリ - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE FITTED WITH DYNAMIC VIBRATION REDUCER AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加
動吸振器付き走査型プローブ顕微鏡及びその測定方法 - 特許庁
MICROFOCUS ELECTRONIC MICROSCOPE ADAPTER FOR ENLARGED X-RAY IMAGING例文帳に追加
Ｘ線拡大撮影用徴小焦点電子顕微鏡アダプター - 特許庁
I usually bring medicines, syringes, latex gloves and a microscope. 例文帳に追加
通常は，薬，注射器，ゴム手袋，顕微鏡を持って行きます。 - 浜島書店 Catch a Wave
CANTILEVER FOR DETECTING NORMAL FORCE FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
原子間力顕微鏡のための垂直力検出用カンチレバー - 特許庁
OPTICAL PATH-SELECTING DEVICE, ILLUMINATION DEVICE HAVING THE SAME, AND MICROSCOPE例文帳に追加
光路選択装置と、これを有する照明装置と、顕微鏡 - 特許庁
EYEBALL PROTECTION CAP AND EYEBALL MICROSCOPE PROVIDED WITH THE SAME例文帳に追加
眼球保護キャップ、及びこれを備える眼球顕微鏡装置。 - 特許庁
OPTICAL MEASUREMENT APPARATUS, OPTICAL MICROSCOPE, AND OPTICAL MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
光学測定装置、光学顕微鏡及び光学測定方法 - 特許庁
MICROMACHINING, MAGNETIC PROBE FOR MICROSCOPE AND ELECTRIC FIELD SENSOR例文帳に追加
微細加工方法、磁気力顕微鏡用プローブおよび電場センサ - 特許庁
To prepare a sample for an electron microscope having uniform thickness.例文帳に追加
均一な厚さとなる電子顕微鏡用の試料を作製する。 - 特許庁
This invention can be applied to the microscope observation system.例文帳に追加
本発明は、顕微鏡観察システムに適用することができる。 - 特許庁
ILLUMINATING SYSTEM AND ILLUMINATING METHOD FOR HIGH- RESOLUTION OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加
高解像光顕微鏡用の照明系及び照明方法 - 特許庁
MICROSCOPE DEVICE, VISUAL FIELD DIAPHRAGM ADJUSTMENT PROGRAM AND PROGRAM RECORDING MEDIUM例文帳に追加
顕微鏡装置、視野絞り調節プログラム、プログラム記録媒体 - 特許庁
MAGNETIC PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加
磁気力顕微鏡用の磁性探針及びその製造方法 - 特許庁
LAMP LIGHTING CIRCUIT AND SLIT LAMP MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME例文帳に追加
ランプ点灯回路及び該回路を備えた細隙灯顕微鏡 - 特許庁
METHOD FOR AUTOMATICALLY DETERMINING ARRANGEMENT OF TILT SERIES IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡におけるチルト系列の自動配置決定方法 - 特許庁
INCUBATOR, AND MICROSCOPE AND GAS FEEDER EACH EQUIPPED THEREWITH例文帳に追加
インキュベータとこれを備えた顕微鏡及び気体供給装置 - 特許庁
MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND HIGH SPATIAL RESOLUTION MAGNETIC FIELD MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
磁気力顕微鏡及び高空間分解能磁場測定方法 - 特許庁
CONTROL PROGRAM, CONTROL PROGRAM RECORDED MEDIUM, AND MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加
制御プログラム、制御プログラムを記録した媒体、顕微鏡システム - 特許庁
LENS HOLDING STRUCTURE, OBJECTIVE LENS, OPTICAL MICROSCOPE, AND ASSEMBLY METHOD例文帳に追加
レンズ保持構造、対物レンズ、光学顕微鏡および組立方法 - 特許庁
MEASURING INSTRUMENT AND METHOD USING MICROSCOPE, AND ITS PROGRAM例文帳に追加
顕微鏡を用いた測定装置、測定方法およびそのプログラム - 特許庁
SPECIMEN CONTAINER, METHOD FOR ADJUSTING PHASE CONTRAST MICROSCOPE, AND PROGRAM例文帳に追加
被検体容器、位相差顕微鏡の調整方法およびプログラム - 特許庁
FINE CONTROL MEANS AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加
微動手段およびそれを利用する走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
OBSERVATION METHOD OF FIB-PROCESSED SAMPLE BY ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
ＦＩＢによる加工試料の電子顕微鏡による観察方法 - 特許庁
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND INSPECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加
透過電子顕微鏡システムおよびそれを用いた検査方法 - 特許庁
CONFOCAL SCANNING TYPE MICROSCOPE AND IMAGE INFORMATION CONSTRUCTING METHOD例文帳に追加
共焦点走査型顕微鏡および画像情報構築方法 - 特許庁
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