Microscopeを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8959件
A state of a probe tip is observed therein by an optical microscope, an electron microscope or an ion microscope, and the rotation of the low-vibration stepping motor is stopped when the micro sample is directed along a desired direction.例文帳に追加
この時プローブ先端の様子を工学顕微鏡、電子顕微鏡、あるいはイオン顕微鏡により観察し、微小試料が所望の向きになった時点で低振動ステッピングモータの回転を止める。 - 特許庁
The base 1 for the microscope is roughly bisected to a rack 2 on a floor side and a microscope placing part 13 on the microscope A side, and the placing part 13 is horizontally moved with respect to the rack 2.例文帳に追加
この顕微鏡台１は、床側の架台２と顕微鏡Ａ側の顕微鏡載置部１３とに大きく二分され、架台２に対し顕微鏡載置部１３を水平に移動させることができる。 - 特許庁
A scanning probe microscope apparatus 1 comprises a scanning electron microscope 2 having a sample base 3 on which a sample A is set and a scanning probe microscope 4 mounted on the sample base 3.例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡装置１は、試料Ａがセットされる試料台３を有する走査型電子顕微鏡２と、前記試料台３に装着される走査型プローブ顕微鏡４とを具備する。 - 特許庁
To provide an electron beam hologram, a method of producing a transmission electron microscope image and an electron transmission microscope, capable of preventing the positional misalignment of the transmission electron microscope image from the electron beam hologram.例文帳に追加
電子線ホログラムと透過電子顕微鏡像との位置ずれを防止することができる電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法及び透過電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁
To provide a microscopic system wherein the operability of a pointing device loaded to a microscope controller is enhanced in the case of operating the electric stage of the microscope through the microscope controller.例文帳に追加
顕微鏡の電動ステージを顕微鏡制御装置を介して操作する際に、該顕微鏡制御装置に備えられたポインティングデバイスの操作性の向上を図った顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁
To provide a semi-hermetically sealed observation environment for an electron microscope, which is applicable for electron microscope observation of a general test piece or a living cell and an electron microscope observation of high resolution.例文帳に追加
一般の試料または生体細胞の電子顕微鏡観察に適用でき、高解像度の電子顕微鏡の観測に適用できる電子顕微鏡用の半密閉式観測環境を提供する。 - 特許庁
To provide a magnification calibrating method of deriving calibration regarding the entire magnification area by easily calibrating the magnification of a microscope, such as a variable magnification stereoscopic microscope, to arbitrary magnification and the microscope.例文帳に追加
倍率可変のステレオ顕微鏡等の顕微鏡の倍率の較正を任意の倍率に対し容易に実行し、倍率全域に関する較正を導出する倍率較正方法及び顕微鏡を提供する。 - 特許庁
A microscope 56 is also equipped to observe condition of progress.例文帳に追加
顕微鏡５６も進行状況を観察されるために装備される。 - 特許庁
MICROSCOPE PROVIDED WITH DEVICE FOR REMOVING CONDENSABLE GAS BY AIR BLAST例文帳に追加
凝縮性ガスを送風により除く装置を具備したマイクロスコープ - 特許庁
AUTOCOLLIMATOR PROVIDED WITH MICROSCOPE, AND INSTRUMENT FOR MEASURING SHAPE USING THE SAME例文帳に追加
顕微鏡を備えたオートコリメータ、これを用いた形状測定装置 - 特許庁
IRIS DEVICE TO BE USED FOR ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR MANUFACTURING IRIS DEVICE例文帳に追加
電子顕微鏡に用いる絞り装置及びその製造方法 - 特許庁
SUPER-RESOLUTION MICROSCOPE AND SPATIAL MODULATION OPTICAL ELEMENT USED THEREIN例文帳に追加
超解像顕微鏡およびこれに用いる空間変調光学素子 - 特許庁
The present invention is applicable to a shield cover for a microscope.例文帳に追加
本発明は、例えば、顕微鏡用の遮蔽カバーに適用できる。 - 特許庁
The present invention can be used in an illuminator for a microscope.例文帳に追加
本発明は、例えば、顕微鏡用照明装置に適用できる。 - 特許庁
CULTURE CONTAINER, AND MICROSCOPE FOR OBSERVING SAMPLES IN THE CONTAINER例文帳に追加
培養容器、及び培養容器内の試料を観察する顕微鏡 - 特許庁
REGION-EXTRACTING DEVICE, MICROSCOPE SYSTEM AND REGION-EXTRACTING PROGRAM例文帳に追加
領域抽出装置、顕微鏡システムおよび領域抽出プログラム - 特許庁
The microscope 70 has an illumination optical system and an observation optical system.例文帳に追加
顕微鏡７０は照明光学系と観察光学系を有する。 - 特許庁
CONDENSER LENS USED FOR IMMERSION SYSTEM TRANSMISSION ILLUMINATOR FOR MICROSCOPE例文帳に追加
顕微鏡用液浸系透過照明装置に用いられるコンデンサーレンズ - 特許庁
FOCUS DETECTOR AND MICROSCOPE PROVIDED WITH FOCAL DETECTION FUNCTION例文帳に追加
焦点検出装置、および、焦点検出機能を備えた顕微鏡 - 特許庁
PROBE, MANUFACTURE OF THE PROBE, AND MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加
プローブおよびプローブ製造方法およびこのプローブを用いた顕微鏡 - 特許庁
To provide a microscope which has aperture diameter according to magnification.例文帳に追加
倍率に応じた開口径が得られる顕微鏡を提供する。 - 特許庁
WIDE-FIELD SUPER-RESOLUTION OPTICAL MICROSCOPE USING SPATIAL LIGHT MODULATOR例文帳に追加
空間光変調器を用いた広視野超解像光学顕微鏡 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR CROSS-SECTIONAL OBSERVATION BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査電子顕微鏡による断面観察用サンプルの作製方法 - 特許庁
METHOD FOR ANALYSIS OF ELECTRON BEAM DIFFRACTION IMAGE AND TRANSMISSIVE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子線回折像の解析方法及び透過型電子顕微鏡 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING THIN-FILM SAMPLE FOR OBSERVING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過型電子顕微鏡観察用薄膜試料の作製方法 - 特許庁
The focus of the microscope 5 is adjusted by the position controller mechanism 6.例文帳に追加
位置調整機構６で顕微鏡５の焦点合わせを行う。 - 特許庁
OPTICAL DISPLACEMENT DETECTION MECHANISM, AND PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加
光学式変位検出機構及びそれを用いたプローブ顕微鏡 - 特許庁
HEIGHT MEASURING METHOD, CONFOCAL SCANNING OPTICAL MICROSCOPE, AND PROGRAM例文帳に追加
高さ測定方法、共焦点走査型光学顕微鏡、及びプログラム - 特許庁
LUMINOUS FLUX CONTROLLER, INTERFERENCE DEVICE AND DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE例文帳に追加
光束制御装置、干渉装置及び微分干渉顕微鏡装置 - 特許庁
MOUNT FOR SURGICAL MICROSCOPE IN PARTICULAR WITH FORCE ACCUMULATION ELEMENT例文帳に追加
力蓄積要素を備える、とりわけ手術用顕微鏡用架台 - 特許庁
ULTRASONIC TRANSDUCER, ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS AND ULTRASONIC MICROSCOPE例文帳に追加
超音波トランスデューサ、超音波診断装置及び超音波顕微鏡 - 特許庁
CORPUSCULAR RAY MICROSCOPE AND COMPONENT SHIFT STRUCTURE FOR VACUUM ANALYTICAL INSTRUMENT例文帳に追加
粒子線顕微鏡、及び真空分析装置用部材移動機構 - 特許庁
SCANNING TYPE CONFOCAL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING SAMPLE INFORMATION例文帳に追加
走査型共焦点顕微鏡および試料情報測定方法 - 特許庁
SPECIMEN PREPARATION METHOD FOR MICROSCOPE, AND SAMPLE OBSERVATION CONTROL SYSTEM例文帳に追加
顕微鏡用標本作成方法および試料観測管理システム - 特許庁
SPECIMEN OBSERVATION METHOD, OPTICAL MICROSCOPE, AND FLUORESCENT CORRELATION ANALYZER例文帳に追加
試料観測方法、光学顕微鏡及び蛍光相関分析装置 - 特許庁
MAGNETIC DOMAIN STRUCTURAL IMAGE ACQUISITION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
磁区構造画像取得方法および走査透過電子顕微鏡 - 特許庁
DISTANCE CONTROL METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加
距離制御方法およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
CHARGED PARTICLE MICROSCOPE AND IMAGE PROCESSING METHOD USING IT例文帳に追加
荷電粒子顕微鏡装置及びそれを用いた画像処理方法 - 特許庁
SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND INFORMATION- REPRODUCING APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡およびこれを用いた情報再生装置 - 特許庁
HOLDER MECHANISM FOR ARRANGING MICROSCOPE, AND MOUSE INPUT DEVICE例文帳に追加
顕微鏡設置用ホルダ機構及びそれに用いるマウス入力装置 - 特許庁
CONFOCAL SCANNING OPTICAL MICROSCOPE, HEIGHT MEASURING METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
共焦点走査型光学顕微鏡、高さ測定方法、及びプログラム - 特許庁
LASER SCANNING MICROSCOPE APPARATUS, AND SURFACE SHAPE MEASURING METHOD THEREOF例文帳に追加
レーザ走査型顕微鏡及びその表面形状の測定方法 - 特許庁
MAPPING TYPE OBSERVATION METHOD AND MAPPING TYPE CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE例文帳に追加
写像型観察方法及び写像型荷電粒子線顕微鏡 - 特許庁
PROBE USED FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡用プローブ及びそのプローブの作製方法 - 特許庁
OPTICAL DETECTING CIRCUIT AND LASER MICROSCOPE WITH THE SAME例文帳に追加
光検出回路および該光検出回路を備えたレーザ顕微鏡 - 特許庁
SAMPLE MEASURING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND SAMPLE MEASURING SYSTEM THEREFOR例文帳に追加
原子間力顕微鏡を用いた試料測定方法およびシステム - 特許庁
To provide an infrared imaging microscope.例文帳に追加
赤外線イメージングマイクロスコープ（赤外線画像化顕微鏡）を提供する。 - 特許庁
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