Microscopeを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8962件
SAMPLE INFORMATION MEASURING METHOD AND SCANNING TYPE CONFOCAL MICROSCOPE例文帳に追加
試料情報測定方法および走査型共焦点顕微鏡 - 特許庁
OBJECTIVE OPTICAL SYSTEM AND MICROSCOPE WITH THE SAME例文帳に追加
対物光学系およびその対物光学系を備えた顕微鏡 - 特許庁
WIEN FILTER USED IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE例文帳に追加
走査型電子顕微鏡等において使用するためのウィーンフィルタ - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR PRODUCING MAGNIFIED IMAGES OF MICROSCOPE SLIDE例文帳に追加
顕微鏡スライドの拡大イメージを作成するシステム及び方法 - 特許庁
LASER SCANNING MICROSCOPE AND SENSITIVITY SETTING METHOD FOR PHOTODETECTOR例文帳に追加
レーザ走査顕微鏡および光検出器の感度設定方法 - 特許庁
WEIGHT BALANCING SWITCH STRUCTURE OF STAND APPARATUS FOR OPERATION MICROSCOPE例文帳に追加
手術顕微鏡用スタンド装置の重量均衡スイッチ構造 - 特許庁
REVOLVER ROTATIONAL POSITION DETECTING DEVICE AND MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加
レボルバ回転位置検出装置およびそれを用いた顕微鏡 - 特許庁
CONDENSER LENS COVER AND SHIELD COVER FOR MICROSCOPE ILLUMINATION LIGHT例文帳に追加
コンデンサレンズ用カバーおよび顕微鏡照明光用遮蔽カバー - 特許庁
SCANNING LASER MICROSCOPE, AND DETECTION WAVELENGTH RANGE SETTING METHOD例文帳に追加
走査型レーザ顕微鏡および検出波長範囲設定方法 - 特許庁
BEAM SPLITTER DEVICE AND LASER SCANNING MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加
ビームスプリッター装置ならびにそれを使用したレーザー走査顕微鏡 - 特許庁
The microscope (2) includes a support (4) with a stay (6) thereon.例文帳に追加
顕微鏡(2)は、上に支柱(6)を有する支持部(4)を含む。 - 特許庁
ELECTRON EMITTING CATHODE, ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON BEAM EXPOSING MACHINE例文帳に追加
電子放射陰極、電子顕微鏡および電子ビーム露光機 - 特許庁
ELECTRON BEAM DEVICE AND GAS REACTION SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子線装置及び電子顕微鏡用ガス反応試料ホルダ - 特許庁
ELECTRONIC CAMERA, MICROSCOPE, AND IMAGING APPARATUS WITH COOLING CONTROL FUNCTION例文帳に追加
電子カメラ、顕微鏡、及び冷却制御機能付き撮像装置 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING THREE-DIMENSIONAL SHAPE ANALYSIS FUNCTION例文帳に追加
三次元形状解析機能を有する走査型電子顕微鏡 - 特許庁
LOW VACUUM OF SECONDARY ELECTRON DETECTING APPARATUS SUCH AS SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ETC例文帳に追加
走査電子顕微鏡等の低真空二次電子検出装置 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND METHOD OF MANUFACTURING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
走査電子顕微鏡システムおよび集積回路の製造方法 - 特許庁
MICROSCOPE HAVING SURGICAL SLIT LAMP HAVING LASER LIGHT SOURCE例文帳に追加
レーザ光源を有する手術用スリットランプを有する顕微鏡 - 特許庁
To obtain a scanning probe microscope that is capable of accurate observation.例文帳に追加
高精度観察可能な走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
The present invention is applied to a confocal microscope.例文帳に追加
本発明は、共焦点顕微鏡に適用することができる。 - 特許庁
OPTICAL DEVICE TO BE DETACHABLY ATTACHED TO MICROSCOPE例文帳に追加
顕微鏡に取外し可能に取り付けるための光学的な装置 - 特許庁
To provide a microscope device having improved autofocus accuracy.例文帳に追加
オートフォーカスの精度を向上させた顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁
POSITIONING DEVICE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加
位置決め装置、及びそれを用いた近接場光学顕微鏡 - 特許庁
To provide a microscope apparatus which easily searches an image.例文帳に追加
画像の探索を容易に行える顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁
light microscope consisting of a single convex lens that is used to produce an enlarged image 例文帳に追加
拡大像を作るのに単純な凸レンズが用いられる - 日本語WordNet
microscope consisting of an optical instrument that magnifies the image of an object 例文帳に追加
物体の像を拡大する光学装置からなる顕微鏡 - 日本語WordNet
a small platform on a microscope where the specimen is mounted for examination 例文帳に追加
試料を観察するために載せる顕微鏡の小さな台 - 日本語WordNet
ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH GRAPHICAL USER INTERFACE AND ITS NOISE ELIMINATION METHOD例文帳に追加
GUIを備えた電子顕微鏡及びそのノイズ除去方法 - 特許庁
Additionally, the confocal microscope using the spectroscope is adopted.例文帳に追加
また、この分光器をそなえた共焦点顕微鏡を採用した。 - 特許庁
SPIN DETECTING SHAFT ROTATING TYPE SPIN POLARIZED SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加
スピン検出軸回転型スピン偏極走査型トンネル顕微鏡 - 特許庁
OBSERVATION METHOD OF FIB-PROCESSED SAMPLE BY ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
FIBによる加工試料の電子顕微鏡による観察方法 - 特許庁
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND INSPECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加
透過電子顕微鏡システムおよびそれを用いた検査方法 - 特許庁
REAL-TIME PROCESSING SYSTEM FOR PLURAL-DETECTOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
複数検出器電子顕微鏡装置のリアルタイム処理方式 - 特許庁
APPROACH METHOD FOR PROBE AND SAMPLE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡における探針とサンプルの近接方法 - 特許庁
IMAGE PROCESSOR, DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE AND IMAGE PROCESSING METHOD例文帳に追加
画像処理装置、微分干渉顕微鏡、および、画像処理方法 - 特許庁
The invention can be applied to an objective lens for a microscope.例文帳に追加
本発明は、例えば、顕微鏡の対物レンズに適用できる。 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROL METHOD OF THE SAME例文帳に追加
走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法 - 特許庁
ALIGNMENT METHOD FOR MEASUREMENT, CANTILEVER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
測定位置合わせ方法、カンチレバ及び走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁
SCANNING TYPE CONFOCAL MICROSCOPE AND ITS OPTICAL AXIS CHECKING METHOD例文帳に追加
走査型共焦点顕微鏡およびその光軸チェック方法 - 特許庁
PROBE CONTROL DEVICE AND METHOD OF SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡の探針制御の装置および方法 - 特許庁
IMMERSION OBJECTIVE, FLUORESCENCE ANALYZING DEVICE, AND INVERTED TYPE MICROSCOPE例文帳に追加
液浸対物レンズ、蛍光分析装置および倒立型顕微鏡。 - 特許庁
FOCAL POSITION DETECTOR AND FLUORESCENCE MICROSCOPE EQUIPPED THEREWITH例文帳に追加
焦点位置検出装置およびそれを備えた蛍光顕微鏡 - 特許庁
MICROSCOPE OBJECTIVE LENS AND ITS MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加
顕微鏡対物レンズ及び顕微鏡対物レンズの製造方法 - 特許庁
DRIVE APPARATUS AND SCANNING PROBE MICROSCOPE APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加
駆動装置及びこれを用いた走査型プローブ顕微鏡装置 - 特許庁
To provide a microscope with satisfactory visibility and operability.例文帳に追加
視認性および操作性が良好な顕微鏡を提供する。 - 特許庁
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
