「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(46ページ目) - Weblio英語例文検索

MICROSCOPE DEVICE, APPEARANCE INSPECTION DEVICE, SEMICONDUCTOR APPEARANCE INSPECTION DEVICE, AND SAMPLE ILLUMINATION METHOD IN MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

顕微鏡装置、外観検査装置、半導体外観検査装置及び顕微鏡装置における試料照明方法 - 特許庁

The microscope (1) is installed on the stand (2).例文帳に追加

顕微鏡（１）は顕微鏡架台（２）に設置されている。 - 特許庁

MATERIAL SUPPLY PROBE DEVICE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

物質供給プローブ装置及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

MICROSCOPE HAVING OPTICAL FIBER WHICH DISPERSES SHORT PULSE LASER例文帳に追加

短パルスレ—ザ—を分散する光ファイバ—を有する顕微鏡 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING DIELECTRIC RESONATOR例文帳に追加

誘電体共振器を利用した近接場顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING PATTERN USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いたパターン計測方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF ORGANIC EL ELEMENT BY EMISSION MICROSCOPE METHOD例文帳に追加

エミッション・マイクロスコープ法による有機ＥＬ素子の検査法 - 特許庁

To provide a microscope that prevents a microscope body and a specimen or specimen placing table from interfering with each other.例文帳に追加

顕微鏡本体と、試料または試料載台が干渉することを防止する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

THERMAL LENS MICROSCOPE ULTRATRACEANALYSIS METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

熱レンズ顕微鏡超微量分析方法とその装置 - 特許庁

SPIN POLARIZED SCANNING TUNNELING MICROSCOPE, AND REGENERATOR例文帳に追加

スピン偏極走査型トンネル顕微鏡及び再生装置 - 特許庁

TWO-DIMENSIONAL ELECTRON DETECTOR AND TRANSMISSIVE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

二次元電子検出器及び透過型電子顕微鏡 - 特許庁

DIAGNOSTIC DEVICE OF RECIPE USED FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡に用いられるレシピの診断装置 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of generating a sample image in a transmission type microscope with a different contrast.例文帳に追加

透過式での試料画像の生成が、異なるコントラスト付けで可能な走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR CLEANING THE SAME例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡及びそのプローブの洗浄方法 - 特許庁

VISUAL FIELD MOVEMENT CORRECTING DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査形電子顕微鏡等の視野移動補正装置 - 特許庁

LASER SCANNING TYPE MICROSCOPE AND MICROSCOPIC OBSERVATION METHOD例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡および顕微鏡観察方法 - 特許庁

CANTILEVER WITH FORCE AZIMUTH SENSOR FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡用力方位センサ付カンチレバー - 特許庁

MICROSCOPE OBJECTIVE LENS UNIT AND ADAPTER FOR OBJECTIVE LENS例文帳に追加

顕微鏡対物レンズユニットおよび対物レンズ用アダプタ - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR FOCUS CONTROL OF MICROSCOPE WITH DIGITAL IMAGING, IN PARTICULAR CONFOCAL MICROSCOPE例文帳に追加

デジタル画像式顕微鏡、それも特に共焦点顕微鏡に使用するフォーカス制御のための装置および方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM IRRADIATION DEVICE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

電子線照射装置及び走査電子顕微鏡装置 - 特許庁

MANUFACTURE OF NIOBIUM PROBE FOR SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡のニオブ製探針の製作方法 - 特許庁

LASER SCAN MICROSCOPE AND REFERENCE CORRECTION METHOD THEREFOR例文帳に追加

レーザー走査型顕微鏡およびその参照補正方法 - 特許庁

LIGHT SOURCE, WAVELENGTH CONVERSION APPARATUS, AND FLUORESCENCE MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加

光源、波長変換装置および蛍光顕微鏡装置 - 特許庁

To improve total throughput of a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡のトータルスループットを向上させる。 - 特許庁

AUTOMATIC POSITIONING SCANNING PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用自動位置決め走査プローブ - 特許庁

SCANNING LASER MICROSCOPE AND IMAGE ACQUIRING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

走査型レーザー顕微鏡及びその画像取得方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS FOCUS DETECTION METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びその焦点検出方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND EVALUATION METHOD OF ITS PROBE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡およびその探針評価方法 - 特許庁

DETECTOR SYSTEM FOR USE IN TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡で用いられる検出器システム - 特許庁

To provide a means (a vibration attenuator for microscope) of effectively lowering the natural oscillation of the microscope.例文帳に追加

顕微鏡の固有振動を効果的に低減する手段（顕微鏡のための振動減衰装置）を提供する。 - 特許庁

IMAGING DEVICE FOR MICROSCOPE AND MICROSCOPIC OBSERVATION METHOD例文帳に追加

顕微鏡用撮像装置および顕微鏡観察方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE SIGNAL PROCESSING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡および画像信号処理方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR FORMING VIRTUAL MICROSCOPE SLIDE例文帳に追加

仮想顕微鏡スライドを形成する方法及びその装置 - 特許庁

MEASUREMENT METHOD OF SAMPLE SIZE USING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡を用いた試料の寸法の測定方法 - 特許庁

SLIT WIDTH ADJUSTMENT APPARATUS AND MICROSCOPE LASER BEAM MACHINING APPARATUS例文帳に追加

スリット幅調整装置及び顕微鏡レーザ加工装置 - 特許庁

AUTOMATIC FOCUSING DEVICE AND MICROSCOPE PROVIDED WITH SAME例文帳に追加

自動焦点合わせ装置およびそれを備えた顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE DIMENSION LENGTH MEASURING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料寸法測長方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE ANALYSIS METHOD USING SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡を用いた試料解析方法 - 特許庁

TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH X- RAY SPECTROSCOPE例文帳に追加

Ｘ線分光器を備えた透過型電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE STATIC CHARGE CONTROL METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料帯電制御方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

To prevent resolution degradation of a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査電子顕微鏡(SEM)の分解能劣化を防止する。 - 特許庁

SMALL DETECTOR ARRAY FOR INFRARED IMAGING MICROSCOPE例文帳に追加

赤外線イメージングマイクロスコープのための小さな検出器アレイ - 特許庁

FOCUSING DEVICE, DISPLACEMENT SENSOR AND COFOCUSING MICROSCOPE例文帳に追加

合焦装置及び変位センサ並びに共焦点顕微鏡 - 特許庁

COOLING SYSTEM FOR CANTILEVER, AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

カンチレバーの冷却システムおよび走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

MICROWAVE WAVEGUIDE PROBE OF MICROWAVE ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

マイクロ波原子間力顕微鏡のマイクロ波導波プローブ - 特許庁