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Particle Controlの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 532件
CHARGED PARTICLE BEAM CONTROL ELEMENT AND CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS例文帳に追加
荷電粒子ビーム制御素子および荷電粒子ビーム装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE IRRADIATION DEVICE AND CHARGED PARTICLE CONTROL METHOD例文帳に追加
荷電粒子照射装置及び荷電粒子制御方法 - 特許庁
PARTICLE SEPARATOR USING BOUNDARY LAYER CONTROL例文帳に追加
境界層制御による粒子分離機 - 特許庁
The production method can control the particle diameters and also can control even the distribution of the particle diameters.例文帳に追加
粒子径の制御とともに粒子径分布の制御をも行うことが出来る。 - 特許庁
CONTROL METHOD OF CHARGED PARTICLE ENERGY AND CHARGED PARTICLE ACCELERATOR例文帳に追加
荷電粒子エネルギーの制御方法および荷電粒子加速装置 - 特許庁
PARTICLE RADIOTHERAPY SYSTEM, AND CONTROL SYSTEM FOR PARTICLE RADIOTHERAPY SYSTEM例文帳に追加
粒子線治療システム及び粒子線治療システムの制御システム - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND CONTROL METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加
荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置の制御方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE DETECTING METHOD, CHARGED PARTICLE CONTROL METHOD USING IT例文帳に追加
荷電粒子検出方法、これを用いる荷電粒子制御方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND CONTROL METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加
荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビーム装置の制御方法 - 特許庁
GENERATION OF PARTICLE BEAM AND MEASUREMENT AND CONTROL OF PARTICLE BEAM CHARACTERISTIC例文帳に追加
粒子ビ—ムの発生並びに粒子ビ—ムの特性の測定及び調節 - 特許庁
OPTICAL AXIS CONTROL METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加
荷電粒子線の光軸調整方法、及び荷電粒子線装置 - 特許庁
PARTICLE SIZE MEASURING INSTRUMENT OF PARTICLE IN LIQUID AND FLOCCULANT ADDING CONTROL DEVICE例文帳に追加
液中粒子の粒径測定機器および凝集剤添加制御装置 - 特許庁
ORBIT CONTROL DEVICE OF CHARGED PARTICLE BEAM AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加
荷電粒子ビームの軌道制御装置及びその制御方法 - 特許庁
PARTICLE NUMBER MEASURING SYSTEM, AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加
粒子数計測システム及びその制御方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE IRRADIATION APPARATUS AND ITS CONTROL METHOD例文帳に追加
荷電粒子照射装置とその制御方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM IRRADIATION CONTROL DEVICE, AND CHARGED PARTICLE BEAM IRRADIATION METHOD例文帳に追加
荷電粒子線照射制御装置及び荷電粒子線照射方法 - 特許庁
FINE PARTICLE ARRANGEMENT CONTROL METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加
微粒子の配列制御方法およびその装置 - 特許庁
POSTURE CONTROL METHOD AND POSTURE CONTROL DEVICE FOR SHAPE-ANISOTROPIC PARTICLE例文帳に追加
形状異方性粒子の姿勢制御方法および姿勢制御装置 - 特許庁
CONTROL METHOD OF CHARGED PARTICLE FLOW, AND CONTROL METHOD OF MOLTEN METAL例文帳に追加
荷電粒子流の制御方法及び溶融金属の制御方法 - 特許庁
MULTI-BEAM CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, AND CONTROL METHOD FOR THE MULTIBEAM CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS例文帳に追加
マルチビーム荷電粒子線装置及びマルチビーム荷電粒子線装置の制御方法 - 特許庁
DYNAMIC PARTICLE-SIZE CONTROL FOR TRANSPORTING AEROSOLIZABLE DRUG例文帳に追加
エアロゾル化薬物を輸送するための動的粒径制御 - 特許庁
FERRITE PARTICLE CONTAINING ELECTRIFYING CONTROL AGENT AND ITS PRODUCTION例文帳に追加
帯電制御剤含有フェライト粒子及びその製法 - 特許庁
PARTICLE BEHAVIOR SIMULATION DEVICE, PARTICLE BEHAVIOR SIMULATION METHOD, CONTROL PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
粒子挙動シミュレーション装置、粒子挙動シミュレーション方法、制御プログラム、および記録媒体 - 特許庁
To produce hydrophilic polymer particles under control for achieving a small particle size and a narrow particle size distribution.例文帳に追加
粒径を小さく且つ粒径分布を狭く制御して親水性ポリマー粒子を製造する。 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM CONTROLLER, CHARGED PARTICLE BEAM OPTICAL DEVICE USING THE SAME, CHARGE PARTICLE BEAM DEFECT INSPECTION DEVICE AND CONTROL METHOD FOR CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加
荷電粒子ビーム制御装置、及びそれを用いた荷電粒子ビーム光学装置、荷電粒子ビーム欠陥検査装置、並びに荷電粒子ビーム制御方法 - 特許庁
To provide a process for producing a monodisperse resin particle good in monodispersion properties that permits a fast particle production rate and facilitates the control of a particle size and to provide an apparatus for producing the monodisperse resin particle.例文帳に追加
生成速度が速く粒径制御が容易な単分散性のよい単分散樹脂粒子の製造方法および製造装置を提供する。 - 特許庁
To provide a particle control method by which control of the macrostructure of a particle agglomerate, control of aggregation/dispersion of particles and separation of different kinds of such agglomerates can be performed.例文帳に追加
粒子集合体のマクロ構造の制御、凝集・分散の制御、分離を行うことができる粒子の制御方法を提供する。 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM CONTROL DEVICE AND CHARGED PARTICLE BEAM OPTICAL DEVICE USING THE SAME, AND CHARGED PARTICLE BEAM DEFECT CHECKING DEVICE例文帳に追加
荷電粒子ビーム制御装置及びそれを用いた荷電粒子ビーム光学装置、ならびに荷電粒子ビーム欠陥検査装置 - 特許庁
CHARGED-PARTICLE-BEAM CONTROL DEVICE, CHARGED-PARTICLE- BEAM OPTICAL DEVICE USING IT, AND CHARGED-PARTICLE-BEAM DEFECTION INSPECTING DEVICE例文帳に追加
荷電粒子ビーム制御装置及びそれを用いた荷電粒子ビーム光学装置、ならびに荷電粒子ビーム欠陥検査装置 - 特許庁
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