「Particle Control」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for manufacturing an alloy nano-particle, which can control the grain size of the alloy nano-particle.例文帳に追加

合金ナノパーティクルの粒径を制御可能な合金ナノパーティクルの製造方法を提供することである。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM WRITING METHOD, CHARGED PARTICLE BEAM WRITING APPARATUS, WRITING DATA FORMING METHOD, AND WRITING CONTROL PROGRAM例文帳に追加

荷電ビーム描画方法、荷電ビーム描画装置、描画データ作成方法、及び描画制御プログラム - 特許庁

CONTROL METHOD FOR CHARGED PARTICLE FLOW, CONTROL METHOD FOR WELDING ARC AND PLASMA, AND CONTROL METHOD FOR MOLTEN METAL例文帳に追加

荷電粒子流の制御方法、溶接アーク及びプラズマの制御方法、及び溶融金属の制御方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND CONTROL METHOD OF THE SAME例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビーム装置の制御方法 - 特許庁

To control the diameter of particle in an oxide magnetic thin film on the nano-level.例文帳に追加

酸化物磁性薄膜中の粒子の径をナノレベルで制御する。 - 特許庁

FLOW RATE CONTROL DEVICE AND PARTICLE SIZE DISTRIBUTION MEASURING APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加

流量制御装置及びそれを用いた粒度分布測定装置 - 特許庁

To provide a method for producing a polymer microparticle excellent in monodispersibility, which can easily control particle shape, particle diameter, particle distribution and the like.例文帳に追加

容易に粒子形状、粒子径、粒子径分布等を制御でき、また、単分散性に優れたポリマー微粒子の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an emitting method of a charged particle beam capable of emitting the charged particle beam by means of simple control.例文帳に追加

簡単な制御で荷電粒子ビームを出射できる荷電粒子ビーム出射方法を提供することにある。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, CONTROL METHOD FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, AND METHOD FOR FORMING SCANNING DIGITAL SIGNAL例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビーム装置の制御方法並びに走査用デジタル信号の形成方法 - 特許庁

To continuously prepare a molecular sieve and to control both the particle size and the particle size distribution.例文帳に追加

分子ふるいを連続的に調製するばかりでなく、粒子サイズと粒子サイズ分布の両方も制御する。 - 特許庁

POSITION CONTROL METHOD OF PARTICLES IN SAMPLE LIQUID AND PARTICLE MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

試料液中粒子の位置制御方法および粒子測定装置 - 特許庁

DISPENSING DEVICE, AND CONTROL METHOD OF MAGNETIC PARTICLE IN DISPENSING DEVICE例文帳に追加

分注装置および分注装置における磁性粒子の制御方法 - 特許庁

PARTICLE OXIDATION PROCESS FOR REMOVAL AND EXHAUST EMISSION CONTROL DEVICE OF INTERNAL COMBUSTION ENGINE例文帳に追加

微粒子酸化除去方法および内燃機関の排気浄化装置 - 特許庁

ELECTROSTATIC CHARGE NEUTRALIZATION CONTROL METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE USING IT例文帳に追加

帯電中和制御方法、及びそれを用いた荷電粒子線装置 - 特許庁

To provide a particle separator improved by boundary layer control.例文帳に追加

境界層制御によって改善された粒子分離機を提供する。 - 特許庁

An average particle diameter of the surface property control material is 1-30 μm.例文帳に追加

前記表面性制御材の平均粒子径が１〜３０μｍである。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of fine polymer particles having excellent monodispersity that permits ready control of a particle shape, a particle size, a particle size distribution and the like.例文帳に追加

容易に粒子形状、粒子径、粒子径分布等を制御でき、また、単分散性に優れたポリマー微粒子の製造方法を提供すること。 - 特許庁

FOCUSING CONTROL METHOD FOR ADJUSTING FOCUS OF CHARGED PARTICLE ON SAMPLE例文帳に追加

試料に対する荷電粒子の焦点を調整する合焦制御方法 - 特許庁

ELECTRIFICATION CONTROL METHOD, ELECTROPHORETIC PARTICLE, ELECTROPHORETIC DISPLAY DEVICE AND ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

帯電制御方法、電気泳動粒子、電気泳動表示装置および電子機器 - 特許庁

EXHAUST EMISSION CONTROL CATALYST, METAL OXIDE PARTICLE, AND PRODUCTION METHOD THEREOF例文帳に追加

排ガス浄化触媒並びに、金属酸化物粒子及びその製造方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE DEVICE AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加

荷電粒子線露光装置の制御方法及び荷電粒子線露光装置 - 特許庁

STAGE TRANSFER CONTROL METHOD IN ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AS WELL AS OBSERVATION METHOD AND DEVICE USING ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置におけるステージ移動制御方法並びに荷電粒子ビームを用いた観察方法及び装置 - 特許庁

BEAM EMISSION CONTROL METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM ACCELERATOR, AND PARTICLE BEAM IRRADIATION SYSTEM USING CHARGED BEAM ACCELERATOR例文帳に追加

荷電粒子ビーム加速器のビーム出射制御方法及び荷電粒子ビーム加速器を用いた粒子ビーム照射システム - 特許庁

CHARGE CONTROL AGENT AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, CHARGE CONTROL RESIN PARTICLE AND ELECTROSTATIC CHARGE IMAGE DEVELOPING TONER例文帳に追加

荷電制御剤及びその製造方法、荷電制御樹脂粒子、並びに静電荷像現像用トナー - 特許庁

CHARGE CONTROL MATERIAL, DISPLAY PARTICLE DISPERSION, DISPLAY MEDIUM AND DISPLAY例文帳に追加

帯電制御材料、表示用粒子分散液、表示媒体、及び表示装置 - 特許庁

A path of a charged particle beam is controlled by multiple beam control parameters.例文帳に追加

帯電粒子ビームの経路は、複数のビーム制御パラメータにより制御される。 - 特許庁

CONTROL METHOD OF CHARGED PARTICLE AND ITS DEVICE AND ELECTRON BEAM LITHOGRAPHY DEVICE例文帳に追加

荷電粒子ビームの制御方法とその装置ならびに電子ビーム描画装置 - 特許庁

To provide a method for producing an emulsified particle, by which an emulsified particle having a fixed particle diameter is produced stably with time under an automatic control.例文帳に追加

粒子径が一定である乳化粒子を、自動制御の下、経時で安定して生産する事ができる乳化粒子製造方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a method for producing spherical polymethylsilsesquioxane particles, enabling the control of an average particle diameter and the irregularity of standard deviation based on the average particle diameter.例文帳に追加

平均粒子径と、平均粒子径に対する標準偏差のばらつきを制御可能な球状ポリメチルシルセスキオキサン微粒子。 - 特許庁

A control part 200 of an image forming apparatus 1 has a normal fixing temperature control mode and an ultrafine particle generation temperature control mode.例文帳に追加

画像形成装置１の制御部２００は，通常の定着温度制御モードと，超微粒子発生温度制御モードとを有する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a light control suspension enabling manufacture of a light control suspension having a target concentration by reproducibly and accurately determining particle concentration in a light control particle dispersion fluid and suppressing the variation of particle concentration in the light control suspension.例文帳に追加

光調整粒子分散液中の粒子濃度を再現良く正確に求め、光調整懸濁液における粒子濃度のバラつきの発生を抑え、目標とする濃度の光調整懸濁液の製造が可能な光調整懸濁液の製造方法を提供する。 - 特許庁

Further, the electrically charged particle beam drawing apparatus has a liquid cooling controller 55 as a temperature control unit for performing temperature control over a periphery of the guide 4.例文帳に追加

また、ガイド４近傍の温度制御をするための温度制御部として液冷コントローラ５５を有する。 - 特許庁

To provide an orbit control device and control method thereof which is capable of correcting an orbit deviation of charged particle beams.例文帳に追加

荷電粒子ビームの軌道のズレを修正する軌道制御装置及び制御方法を提供すること。 - 特許庁

To provide flaky Ba ferrite fine particles which are excellent in dispersibility and orientation in an organic matter, enables control of its particle size and particle thickness and shows uniform particle morphology and a uniform particle size distribution, and its production method.例文帳に追加

有機物中への分散性、配向性に優れ、粒子径及び粒子の厚さの制御が可能であり、粒子形態及び粒子径分布が均一な薄片状Baフェライト微粒子及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁

CHARGING CONTROL DEVICE AND CHARGED PARTICLE BEAM APPLICATION APPARATUS HAVING SAME例文帳に追加

帯電制御装置及び帯電制御装置を備えた荷電粒子線応用装置 - 特許庁

Then, an operation model of the heating furnace temperature control model 6 is corrected based on the ferrite particle size measured value and the ferrite particle size prediction value by a learning control means 7.例文帳に追加

そして、学習制御手段７により、フェライト粒径測定値及びフェライト粒径予測値に基づいて加熱炉温度制御モデル６の演算モデルを補正する。 - 特許庁

Based on the schedule, control sections (stage control sections 11a and 24a, a coil power source control section 16a, etc.), respectively control the stages 11 and 24 and the charged particle beam optical system.例文帳に追加

該スケジュールに基づいて制御部（ステージ制御部１１ａ、２４ａ及びコイル電源制御部１６ａ等）がステージ１１、２４及び荷電粒子線光学系を制御する。 - 特許庁

This device for an alignment process of the alignment film formed on the substrate includes a particle source which irradiates particle rays, a particle source control part which controls the particle source so that the particle source irradiates the particle rays intermittently, and a drive mechanism which moves the substrate.例文帳に追加

基板上に形成された配向膜の配向処理を行なう装置であって、粒子線を照射する粒子源と、前記粒子源が前記粒子線を間欠的に照射するように、前記粒子源を制御する粒子源制御部と、前記基板を移動させる駆動機構と、を備えているようにした。 - 特許庁

A charge control part 62 adds the thinned particle set by the thinned particle setting part 61 immediately before or after the printing particle or the empty particle whose particle kind is set by the particle kind setting part 60, and controls the application voltage of a charge electrode 3 according to the order thereof for charging the ink particles jetted from a jetting nozzle 1 independently.例文帳に追加

帯電制御部62は、粒種設定部60により粒種設定された印写粒又は空白粒の直前又は直後に、間引き粒設定部61により設定された間引き粒を加え、この順序に応じて帯電電極３の印加電圧を制御し、噴射ノズル１から噴射されるインク粒を各別に帯電させる。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM OPTICAL DEVICE, DIAPHRAGM FOR CHARGED PARTICLE BEAM OPTICAL DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM CONTROL METHOD, AND OBJECT INSPECTING DEVICE, OBJECT INSPECTING METHOD, AND SEMICONDUCTOR ELEMENT USING THESE例文帳に追加

荷電粒子ビーム光学装置、荷電粒子ビーム光学装置の絞り、荷電粒子ビーム制御方法、及びこれらを用いた物体検査装置ならびに物体検査方法、及び半導体素子 - 特許庁

To obtain a catalyst which can control the particle growth of a noble metal surely and is excellent in durability.例文帳に追加

貴金属の粒成長を確実に抑制でき耐久性に優れた触媒とする。 - 特許庁

Furthermore, the amount of water added can freely control the particle size of the granule.例文帳に追加

さらに、水の添加量により、造粒物の粒径を自由にコントロールすることができる。 - 特許庁

The resin particles for the toner into which at least either coloring agent particles or charge control agent particle are incorporated by a mini-emulsion polymerization method are provided.例文帳に追加

着色剤粒子を平均分散粒径２００ｎｍ以下で含有するトナー。 - 特許庁

ELECTRON BEAM ADJUSTING METHOD, CHARGED PARTICLE OPTICAL SYSTEM CONTROL DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子ビームの調整方法，荷電粒子光学系制御装置、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

FERRITE PARTICLE SIZE MEASURING DEVICE AND MATERIAL CONTROL DEVICE OF STEEL PLATE ON COLD ROLLING PROCESSING LINE例文帳に追加

冷延処理ラインにおける鋼板のフェライト粒径計測装置及び材質制御装置 - 特許庁