意味 | 例文 (780件) |
Test boardの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 780件
TEST BOARD AND STRUCTURE FOR ATTACHING TEST BOARD TO TEST HEAD例文帳に追加
テストボード、およびテストボードのテストヘッドへの取付構造 - 特許庁
TEST BOARD USED FOR RELIABILITY TEST, AND RELIABILITY TEST METHOD例文帳に追加
信頼性試験に用いられるテストボード及び信頼性試験方法 - 特許庁
TEST BOARD FOR SEMICONDUCTOR TESTER例文帳に追加
半導体テスター用テストボード - 特許庁
TEST BOARD FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体試験用テストボード - 特許庁
TEST BOARD FOR SEMICONDUCTOR EVALUATION例文帳に追加
半導体評価用テストボード - 特許庁
TEST METHOD FOR PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加
プリント回路基板のテスト方法 - 特許庁
TEST BOARD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置用テストボ—ド - 特許庁
TEST BOARD FOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路用テストボード - 特許庁
TEST DEVICE FOR DISPLAY BOARD例文帳に追加
表示用基板の検査装置 - 特許庁
TEST BOARD AND MANUFACTURE THEREOF例文帳に追加
テストボード及びその製造方法 - 特許庁
TEST DEVICE OF ELECTRONIC COMPONENT BOARD例文帳に追加
電子部品基板の試験装置 - 特許庁
HIGH PERFORMANCE TEST BOARD例文帳に追加
ハイパフォ—マンステストボ—ド - 特許庁
TEST BOARD AND TESTING METHOD例文帳に追加
テスト基板とテスト方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TEST DEVICE AND TEST BOARD例文帳に追加
半導体試験装置及びテストボード - 特許庁
TEST PRINTED WIRING BOARD, AND BENDING TEST METHOD例文帳に追加
試験用プリント配線基板及び屈折試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, TEST BOARD, AND TEST METHOD例文帳に追加
半導体記憶装置と検査ボード及び検査方法 - 特許庁
TRAY FOR ELECTRONIC COMPONENT BOARD TEST AND TEST DEVICE OF ELECTRONIC COMPONENT BOARD例文帳に追加
電子部品基板試験用トレイおよび電子部品基板の試験装置 - 特許庁
PIXEL CIRCUIT BOARD, TEST METHOD OF PIXEL CIRCUIT BOARD, TRANSISTOR GROUP, TEST METHOD AND TEST DEVICE OF TRANSISTOR GROUP例文帳に追加
画素回路基板、画素回路基板の検査方法、トランジスタ群、トランジスタ群の検査方法、検査装置 - 特許庁
MULTILAYER PRINTED BOARD AND SEMICONDUCTOR TEST DEVICE USING MULTILAYER PRINTED BOARD例文帳に追加
多層プリント基板とそれを用いた半導体試験装置 - 特許庁
TEST METHOD AND TEST BOARD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
半導体集積回路装置のテスト方法およびテストボード - 特許庁
TEST APPARATUS AND TEST CIRCUIT BOARD FOR ROTARY-DRUM TYPE GAME MACHINE例文帳に追加
回胴式遊技機用試験装置及び回胴式遊技機用試験基板 - 特許庁
In this case, a memory test is performed through a single board processing sequence, in which the test starts from a test board which is finished mounting semiconductor devices, and a semiconductor device is outputted from a test board whose test is finished.例文帳に追加
この場合、半導体装置を詰め終わったテストボードからテストスタート、テスト終了したテストボードから半導体装置を払い出すという枚葉処理のシーケンスによってメモリテストが実行される。 - 特許庁
To easily fit a test board different in thickness to a test head and facilitate the fitting work of the test board different in thickness.例文帳に追加
板厚の異なるテストボードを容易にテストヘッドに装着できるとともに板厚の異なるテストボードを取り付ける作業を容易にする。 - 特許庁
BOARD FOR SEMICONDUCTOR TEST AND SEMICONDUCTOR TESTING SYSTEM例文帳に追加
半導体試験用ボード及び半導体試験システム - 特許庁
TESTING METHOD AND TEST BOARD FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加
半導体素子のテスト方法及びテスト基板 - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT, ELECTRONIC CIRCUIT BOARD AND TEST METHOD例文帳に追加
集積回路、電子回路基板及び検査方法 - 特許庁
CIRCUIT FOR TEST BOARD IN BURN-IN TESTING SYSTEM例文帳に追加
バーンイン試験システムにおける試験ボード用回路 - 特許庁
意味 | 例文 (780件) |
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