「Test board」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

This eliminates the need for manufacturing a burn-in board in performing a burn-in test.例文帳に追加

これにより、バーンイン試験を行う際にバーンインボードを作製する必要がない。 - 特許庁

A printed circuit board 38 is coupled to the pressure mechanism 20 for providing electrical connection to test apparatus.例文帳に追加

圧力機構２０には、検査装置に電気接続を供するプリント回路基板３８が結合されている。 - 特許庁

In a step S4 the continuity test is conducted on each of the pressure contact connector and pressure contact distribution board.例文帳に追加

ステップＳ４で圧接コネクタと圧接配線盤毎に導通検査が施される。 - 特許庁

To rapidly test defects of terminal connection to a circuit board, using a simple structure.例文帳に追加

回路基板への端子接続の良、不良を簡単な設備で迅速に試験する。 - 特許庁

The shift from the test mode to the normal operation is made by the switch provided on the main control board.例文帳に追加

テストモードから通常動作へは、メイン制御基板上に設けたスイッチによって移行させる。 - 特許庁

METHOD OF PREPARING ELECTROLYTIC CORROSION TEST SAMPLE FROM DEFECT GENERATING BASE MATERIAL OF THROUGH HOLE SECTION OF PRINTED BOARD例文帳に追加

プリント板のスルーホール部基材欠陥発生品の電食試験サンプル作製方法 - 特許庁

QUALITY JUDGING BOARD FOR BURN-IN TEST SYSTEM AND QUALITY JUDGMENT RESULT MEMORY METHOD例文帳に追加

バーンインテストシステムの良否判定ボードおよびその良否判定結果記憶方法 - 特許庁

To provide a system which can test easily an operation of a microcomputer board for an uninterrupted power supply apparatus.例文帳に追加

無停電電源装置に用いるマイコン基板8の動作を容易に検査できる方式を提供する。 - 特許庁

To provide a circuit board whose area of circuit pattern of boundary scan test is reduced.例文帳に追加

バウンダリスキャンテストの回路パターンの面積を縮小した回路基板を提供することである。 - 特許庁

To provide a test board and a testing method which enables high-speed testing, using simple configuration.例文帳に追加

簡単な構成で高速試験を可能にしたテスト基板とテスト方法を提供する。 - 特許庁

The semiconductor-testing device includes: a test board including a plurality of test pins, where the semiconductor device to be tested is mounted; a test part for testing continuity between the plurality of test pins and a plurality of device pins; and a control part for identifying test pins continuous to the device pins from among the plurality of test pins to allocate test pins connected to the device pins by referring to coordinates of the device pins.例文帳に追加

試験対象の半導体装置が搭載される、複数のテストピンを含むテストボードと、複数のテストピンと複数のデバイスピンとの導通を試験するテスト部と、複数のテストピンのうち、デバイスピンと導通するテストピンを特定し、デバイスピンの座標を参照してデバイスピンに接続するテストピンを割り当てる制御部とを有する。 - 特許庁

The performance board 22 is thereby diagnosed without detaching the performance board 22 from a test head 12.例文帳に追加

従って、パフォーマンスボード２２をテストヘッド１２から取り外さないで、パフォーマンスボード２２を診断することができる。 - 特許庁

AUXILIARY PRINTED WIRING BOARD FOR AREA ARRAY PACKAGE IC, IC TEST METHOD, AND REPAIRING METHOD OF PRINTED WIRING BOARD例文帳に追加

エリアアレイパッケージＩＣ用の補助プリント配線板、ＩＣのテスト方法およびプリント配線板の修復方法 - 特許庁

To provide a socket board circulating structure of a semiconductor device testing system capable of conveying a socket board to each test unit.例文帳に追加

各試験ユニットへソケットボードを搬送することができる半導体デバイステストシステムのソケットボード循環構造を提供する。 - 特許庁

DIELECTRIC BREAKDOWN TEST METHOD OF SUBSTRATE MATERIAL FOR PRINTED WIRING BOARD AND PRINTED WIRING BOARD BY VOLTAGE IMPRESSION FOR LONG TIME OR REPETITIVE VOLTAGE APPLICATION例文帳に追加

プリント配線板用基板材料およびプリント配線板の長時間電圧印加あるいは繰り返し電圧印加による絶縁破壊試験方法 - 特許庁

To provide a wiring circuit board and a connection structure of the wiring circuit board that can omit electric conduction test.例文帳に追加

電気的な導通検査を省略することのできる、配線回路基板および配線回路基板の接続構造を提供すること。 - 特許庁

A BOST board 44 is equipped with a connector 52, a BOST board substrate 50, and an external self-test circuit.例文帳に追加

ＢＯＳＴボード４４は、コネクタ５２と、ＢＯＳＴボード用基板５０と、外部自己試験回路とを備える。 - 特許庁

When divided at the part of the V-cut processing part 7, a continuity test board piece 8 is separated from the mounting printed circuit board 1c.例文帳に追加

そして、Ｖカット加工部７の部分で分断されたときに、導通テスト基板片８が、実装プリント基板１ｃより分離される。 - 特許庁

The test land 14 in continuity with the wiring pattern of a printed circuit board 10 is formed on the end surface of the printed circuit board 10.例文帳に追加

プリント基板１０の端面に、プリント基板１０の配線パターンと導通するテストランド１４を形成する。 - 特許庁

This formation eliminates a need to form the test land on the upper surface of the circuit board and enables a reduction of the area or the circuit board by the amount of elimination described above.例文帳に追加

これにより、基板上面にテストランドを形成する必要がなくなり、その分だけ基板面積を小さくすることができる。 - 特許庁

With such a testing jig board, required continuity test can be executed for all wiring networks of the tested board.例文帳に追加

本発明の検査方法は、上記の検査用治具基板を用い、各配線ネットワークの導通検査と、絶縁検査を行う。 - 特許庁

COMPOUND ALARM BOARD FOR APARTMENT COMPLEX, ALARM SYSTEM FOR APARTMENT COMPLEX, AND TEST PROGRAM FOR THIS COMPOUND ALARM BOARD例文帳に追加

共同住宅警報複合盤、共同住宅警報システム及び共同住宅警報複合盤の試験プログラム - 特許庁

The radiation test system includes a daughter board, a mother board, a power source, a near end monitor, and a far end monitor.例文帳に追加

さらに放射線テストシステムはドーターボード、マザーボード、電源、ニヤエンドモニタ、ファーエンドモニタを含む。 - 特許庁

The test device for display board moves the board from and to a plurality of stages spaced between each other using a pair of moving arms.例文帳に追加

表示用基板の検査装置は、相互に間隔をおいた複数のステージに対する基板の受け渡しを一対の搬送アームにより行う。 - 特許庁

To provide an automatic wiring board system that can decrease a waiting time for test connection and select a matrix board connected to a testing apparatus.例文帳に追加

本発明は、試験接続待ち時間を短縮させることと、試験機と接続させるマトリックスボードを選択できるようにすることを目的とする。 - 特許庁

The wiring material 6 is connected for relaying to a connector board 7 connected to a test board of an IC tester.例文帳に追加

ＩＣテスタのテストボードに接続するコネクタボード７に前記配線材６が中継接続する。 - 特許庁

A circuit board inspection system 100 comprises a circuit board 10 as a test object, a signal converter 20, and an image display device 30.例文帳に追加

回路基板検査システム１００は、検査対象としての回路基板１０と、信号変換装置２０と、画像表示装置３０とから構成される。 - 特許庁

This spring device is provided with: a terminal connected either to a terminal board or a cable connected to a terminal board having a security function; and a test spring means for carrying out the spring test of at least one line of the terminal board or the terminal board having the safety function.例文帳に追加

端子板又は保安機能を有した端子板に接続されたケーブルに接続される端子と、前記端子板又は保安機能を有した端子板の少なくとも１つの回線の弾器試験を行うための試験弾器手段とを有することにより上記課題を解決する。 - 特許庁

In a test burn-in apparatus, twenty four test boards are sequentially processed while keeping time difference, and each test board is circulated one by one.例文帳に追加

テストバーンイン装置において、２４枚のテストボードは順次時間差を持って処理されることになり、各々のテストボードは１枚単位で循環する。 - 特許庁

The plurality of semiconductor memory apparatuses 1 are arranged on a plurality of test boards being divided, test boards TB_1-TB_n have corresponding test board synchronizing circuits TSC_1-TSC_n respectively.例文帳に追加

複数の半導体記憶装置１は、複数のテストボード上に分割して配置され、各テストボードＴＢ_1〜ＴＢ_nは、それぞれ対応するテストボード同期回路ＴＳＣ_1〜ＴＳＣ_nを有する。 - 特許庁

Accordingly, the confirmation work can be easily performed only by outputting a corresponding test command from the test command output device without replacing a circuit board with the one for the test.例文帳に追加

よって、テスト用の基板に差し替えることなく、テストコマンド出力装置から対応するテストコマンドを送出させるだけで、容易に確認作業を行うことができる。 - 特許庁

The test device two-dimensionally moves a video camera for photographing the alignment mark in a plane parallel to the board supported on a test stage and a camera stage of a test station in first and second directions crossing each other.例文帳に追加

検査装置は、アライメントマーク撮影用のビデオカメラを、検査ステーションにおいてカメラステージ、検査ステージに受けられた基板と平行の面内で互いに交差する第１及び第２の方向に二次元的に移動させる。 - 特許庁

The apparatus can reduce the time required to manufacture the test piece and can improve uniformity in quality of test piece by directly manufacturing the test piece from the board using the laser beam in am automated manner.例文帳に追加

自動化方式にレーザービームを利用して基板から直接試片を製造することによって、試片製造に必要とする時間を短縮し、試片品質の均一度も向上させることができる。 - 特許庁

A display control board 30 reads test display data from the storage device and allows the display to display a test picture based on the read test display data.例文帳に追加

表示制御基板３０は、記憶装置からテスト表示データを読み出し、この読み出したテスト表示データに基づいて表示器にテスト画像を表示させる。 - 特許庁

A test can be executed on an ATE (automatic test equipment) by using a simple test vector, and is executed by a field engineer on a actual board provided with a chip.例文帳に追加

テストは、簡単なテストベクタを用いてＡＴＥ（自動試験装置）上で実行されえ、チップを備える実際のボード上でフィールドエンジニアによって実行されえる。 - 特許庁

The test board is provided with a socket for mounting a non-test device, and first and second signal lines connected between an output terminal, an input terminal of the non-test device and a switch, respectively.例文帳に追加

テスト基板には、非テストデバイスを搭載させるソケットと、上記非テストデバイスの出力端子と入力端子とスイッチとの間をそれぞれ接続する第１及び第２信号線が設けられる。 - 特許庁

A noncontact energy source such as a plasma source which urges the test place on the printed-circuit board and which is attached to the end part of the test head is included in the test head.例文帳に追加

テストヘッドには、プリント回路板のテスト場所を付勢するためテストヘッドの端部に取付けされたプラズマ源といった無接触エネルギ源が含まれている。 - 特許庁

To provide a connector for a test head which enables to replace a test board within a limited space and moreover, facilitate the connection of the test head to an automatic handler.例文帳に追加

限られたスペースのなかでテストボードの交換ができ、しかもテストヘッドをオートハンドラに容易に接続できるテストヘッドの接続装置を提供する。 - 特許庁

The switching circuit 4 is electrically connected to the TBIB 1 on which the IC 1A to be tested is mounted, and a first test signal of the IC test circuit 2 and a second test signal of the burn-in board checker 3 are switched.例文帳に追加

切換回路４は、被試験ＩＣ１Ａが実装されたＴＢＩＢ１と電気接続し、ＩＣ試験回路２の第１の試験信号とバーンインボードチェッカ３の第２の試験信号を切り換える。 - 特許庁

To perform a test by one burn-in test using one kind of a burn-in board even with respect to a case performing the burn-in test of an IC requiring the arrangement of a plurality of pins.例文帳に追加

複数のピン配置が必要なＩＣに対するバーンイン試験を行う場合についても、１種類のバーンインボードを使用し、１回のバーンイン試験にて試験の実施を可能とすることである。 - 特許庁

A test management apparatus 10 is placed to an attendant board 10-1 to perform user interface control with maintenance personnel and transmits test line information to designate a test line.例文帳に追加

試験管理装置１０は、受付台１０−１に配置され、保守者とのユーザインタフェース制御を行い、試験回線を指定するための試験回線情報を送出する。 - 特許庁

To provide a contact test set for easily actualizing sure connection between a DUT being a testing object and a load board of a test device, and sure regulation of a small-sized connector used in the test device.例文帳に追加

テスト対象となるＤＵＴとテストデバイスのロードボードとの確実な接続と、テストデバイスで用いられる小型のコネクタの確実な規制とを容易に実現する接触テストセットを提供する。 - 特許庁

A display control board 30 reads the test display data from the storage device and displays a test image at the display device on the basis of the read test display data.例文帳に追加

表示制御基板３０は、記憶装置からテスト表示データを読み出し、この読み出したテスト表示データに基づいて表示器にテスト画像を表示させる。 - 特許庁

A test card 33 loaded on a slot instead of a storage device loaded on a slot generates test data, and transmits the generated test data to an interface board 30, and receives response data from the interface board 30, and compares the transmitted test data with the received response data, and determines whether the test data and the response data are matched with each other.例文帳に追加

スロットに搭載される記憶装置に代えてスロットに搭載されるテストカード３３が、テストデータを作成し、作成したテストデータをインタフェースボード３０に対して送信し、インタフェースボード３０からの応答データを受信し、送信されたテストデータと受信された応答データとを比較し、テストデータと応答データとが一致するかを判断する。 - 特許庁

These spaces are utilized for mounting new component mounting areas 14a of the test board 12, thereby using both surfaces of the test board 12 as areas 14, 14a for mounting wafer measuring components.例文帳に追加

この空間をテストボード１２の新たな部品実装エリア１４ａとして利用することにより、テストボード１２の両面をウエハ測定用部品類の実装エリア１４，１４ａとして使用する。 - 特許庁