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「Test data」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Test dataの意味・解説 > Test dataに関連した英語例文

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Test dataの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 3606



例文

TEST DATA GENERATION SUPPORT PROGRAM AND TEST DATA GENERATION SUPPORT METHOD例文帳に追加

テストデータ作成支援プログラムおよびテストデータ作成支援方法 - 特許庁

CONTROL SYSTEM FOR DATA ON DRUG TEST例文帳に追加

薬品試験データ管理システム - 特許庁

TDM DATA COMPARISON TEST CIRCUIT例文帳に追加

TDMデータ比較試験回路 - 特許庁

To provide a test data generation system, a test data generation method and a test data generation program for efficiently generating test data to be used in a test environment.例文帳に追加

テスト環境において用いるテストデータを効率的に生成するためのテストデータ生成システム、テストデータ生成方法及びテストデータ生成プログラムを提供する。 - 特許庁

例文

TEST DEVICE OF DATA STORAGE DEVICE AND TEST METHOD OF DATA STORAGE DEVICE例文帳に追加

データ記憶装置のテスト装置及びデータ記憶装置のテスト方法 - 特許庁


例文

DATA WRITE-IN DEVICE, DATA WRITE-IN METHOD, TEST DEVICE, AND TEST METHOD例文帳に追加

データ書込装置、データ書込方法、試験装置、及び試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DATA ANALYZING SYSTEM例文帳に追加

半導体試験データ解析システム - 特許庁

A test data comparing means 1g compares the received test data with test data attached by the test data attaching means 1c.例文帳に追加

試験データ比較手段1gは、受信された試験データと、試験データ付加手段1cによって付加された試験データとを比較する。 - 特許庁

The test print material is formed by printing the test data after processing the test data by means of the RIP.例文帳に追加

また、そのテストデータをRIPによって処理した後に印刷したテスト印刷物。 - 特許庁

例文

TEST CELL GENERATING CIRCUIT AND TEST DATA GENERATING CIRCUIT例文帳に追加

試験セル生成回路および試験データ生成回路 - 特許庁

例文

TEST DATA GENERATION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

テストデータ生成装置及び方法 - 特許庁

TEST DATA GENERATION METHOD AND SYSTEM例文帳に追加

テストデータ生成方法及びシステム - 特許庁

A test data attaching means 1c attaches test data to the first data frame and the second data frame.例文帳に追加

試験データ付加手段1cは、第1のデータフレームと第2のデータフレームとに試験データを付加する。 - 特許庁

TEST EQUIPMENT AND TEST METHOD FOR OBTAINING MEASURED DATA例文帳に追加

測定データを得るための試験装置及び試験方法 - 特許庁

TEST DATA GENERATING PROGRAM AND TAPE LIBRARY TEST PROGRAM例文帳に追加

試験データ生成プログラムおよびテープライブラリ試験プログラム - 特許庁

To speed up a test processing or generation of test data.例文帳に追加

試験処理や試験データの生成を高速化すること。 - 特許庁

METHOD FOR PROCESSING TEST DATA OF SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体試験データ処理方法 - 特許庁

A test data voltage is applied to the data lines through a data pad.例文帳に追加

データパッド部は、データラインに検査用データ電圧を印加する。 - 特許庁

TEST DATA GENERATION SYSTEM, TEST SYSTEM, TEST DATA GENERATING METHOD, COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH RECORDED TEST DATA GENERATING PROGRAM, AND TEST DATA GENERATING PROGRAM例文帳に追加

テストデータ生成方式及び試験方式及びテストデータ生成方法及びテストデータ生成プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体及びテストデータ生成プログラム - 特許庁

The test data is received thereafter from the data document.例文帳に追加

次いで、データ・ドキュメントからテキスト・データを受け取る。 - 特許庁

TEST TUBE HAVING DATA STORAGE FUNCTION例文帳に追加

データ保存機能を有するテストチューブ - 特許庁

Example 58-4. Ignoring test and data files 例文帳に追加

例 58-4テストファイルやデータファイルの無視 - PEAR

Test data storing memory 6 stores the results of the test on the predetermined electric characteristics as test data.例文帳に追加

テストデータ格納メモリ6は、この所定の電気的特性テストの結果をテストデータとして格納する。 - 特許庁

After the test data is written in the DRAM array 100, data corresponding to the test data is read.例文帳に追加

DRAMアレイ100にテストデータを書込んだ後、テストデータに対応するデータを読出す。 - 特許庁

To provide selective test data log method and selective test data log system for selectively logging to test data.例文帳に追加

テストデータに選択的にログするための選択的テストデータログ方法および選択的テストデータログシステムを提供する。 - 特許庁

A test data request section 21 requests a receiver side 2 to transmit test data, and a test data transmission section 12 transmits the test data in response to the request.例文帳に追加

試験データ要求部21は、受信側2に対して試験データを要求し、試験データ送出部12は、その要求に応じて試験データを送出する。 - 特許庁

DISPLAY SYSTEM FOR BOUNDARY SCANNING TEST DATA例文帳に追加

境界走査テスト・デ—タ表示システム - 特許庁

PRINTER, TEST PATTERN PRINTING METHOD, TEST PATTERN PRINTING PROGRAM, AND TEST PATTERN DATA例文帳に追加

印刷装置、テストパターン印刷方法、テストパターン印刷プログラムおよびテストパターンデータ - 特許庁

DATA PROCESSOR AND TEST METHOD FOR DATA PROCESSOR例文帳に追加

データ処理装置及びデータ処理装置のテスト方法 - 特許庁

DATA PATTERN/TEST DATA GENERATION/STORAGE METHOD AND SYSTEM例文帳に追加

データパターン/テストデータ生成・蓄積方法及びシステム - 特許庁

DATA PROCESSING SYSTEM OF TEST EQUIPMENT USING IMAGE DATA例文帳に追加

画像データを用いる検査装置のデータ処理システム - 特許庁

TEST CONDUCTING SYSTEM FOR DATA PROCESSOR例文帳に追加

データ処理装置の試験実行方式 - 特許庁

CONTENTS DATA TEST METHOD AND SYSTEM例文帳に追加

コンテンツデータの試験方法およびシステム - 特許庁

IMMUNOGLOBULIN TEST DATA MANAGEMENT SYSTEM例文帳に追加

免疫グロブリン検査情報管理システム - 特許庁

Creating a Sample Database with Test Data 例文帳に追加

テストデータを持つサンプルデータベースの作成 - NetBeans

・Test data serving as basis for classification in GHS 3.5.2例文帳に追加

・GHS 3.5.2 分類の基礎となる試験データ - 経済産業省

A data manager may ensure variability in test case data.例文帳に追加

データマネージャは、テストケースデータの可変性を保証し得る。 - 特許庁

PIPING PRESSURE TEST DATA COLLECTION SYSTEM例文帳に追加

配管耐圧試験データ収集システム - 特許庁

To provide a test data generation device and a test data generation method, allowing generation of test data of an effective date.例文帳に追加

有効な日付のテストデータを生成することが出来るテストデータ生成装置、及びテストデータ生成方法を提供する。 - 特許庁

CALIBRATION DATA INPUT SYSTEM FOR TEST DEVICE例文帳に追加

試験機器の較正データ入力システム - 特許庁

MEMORY DEVICE AND TEST DATA SETTING METHOD例文帳に追加

メモリ装置およびテストデータ設定方法 - 特許庁

PROGRAM AND DEVICE FOR GENERATING TEST DATA例文帳に追加

テストデータ生成用プログラム、および装置 - 特許庁

TEST DATA GENERATION SYSTEM, ITS PROGRAM, ITS RECORDING MEDIUM AND TEST DATA GENERATION METHOD例文帳に追加

テストデータ生成システム、そのプログラム、その記録媒体、及びテストデータ生成方法 - 特許庁

SOFTWARE FUNCTION TEST DATA PREPARATION PROGRAM, AND SOFTWARE FUNCTION TEST DATA PREPARATION METHOD例文帳に追加

ソフトウェア機能テストデータ生成プログラムおよびソフトウェア機能テストデータ生成方法 - 特許庁

A data transfer control circuit 15 is provided with a test data register 151 holding temporarily test data from the outside, and a test code register 152 holding temporarily a test code corresponding to the test data.例文帳に追加

データ転送制御回路15は、外部からのテストデータを一時保持するテストデータレジスタ151と、このテストデータに対応するテストコードを一時保持するテストコードレジスタ152とを備える。 - 特許庁

Test data is written on a test track to measure a second difference between the wobble reference signal and the test data.例文帳に追加

テスト・データをテスト・トラック上に書き込んで、ウォブル基準信号とテスト・データとの第2の差を測定する。 - 特許庁

This self-test circuit responds to an external test activating signal WBIZ and activated, generates a test operation command WBI-CMD, generates a test address WBI-ADD, and generates a test data WBI-DATA.例文帳に追加

この自己試験回路は、外部からの試験活性化信号WBIZに応答して活性化し、試験動作コマンドWBI-CMDを発生し、試験アドレスWBI-ADDを発生し、試験データWBI-DATAを発生する。 - 特許庁

The test data generator 200 can be utilized in an automatic test system.例文帳に追加

このテストデータ発生器200は自動テストシステムに利用できる。 - 特許庁

METHOD OF TESTING DATA PROCESSING SYSTEM, TEST PROGRAM, AND TEST APPARATUS例文帳に追加

データ処理システムの試験方法、試験プログラム及び試験装置 - 特許庁

例文

IC TEST SYSTEM AND DATA TRANSFER METHOD IN IC TEST SYSTEM例文帳に追加

ICテストシステム及びICテストシステムにおけるデ—タ転送方法 - 特許庁




  
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