「Test data」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

When the coincidence signal SWp is outputted, an interruption control circuit 154 outputs the test data held in the test data register 151 to heads of a plurality of test data latch circuits 114.例文帳に追加

割込み制御回路１５４は、一致信号ＳＷｐが出力された場合に、複数のテストデータラッチ回路１１４の先頭に対しテストデータレジスタ１５１に保持されているテストデータを出力する。 - 特許庁

The data input circuit inputs, in parallel, a plurality of test writing data written in the memory based on the plurality of test output data and the strobe signal for test writing.例文帳に追加

前記データ入力回路は、前記複数のテスト出力データと前記テスト書き込み用ストローブ信号とに基づいて前記メモリに書き込まれた複数のテスト書き込みデータを並列に入力する。 - 特許庁

A pattern generating circuit generates a plurality of the same continuous pattern data of test rate in the generation of a test waveform at a general test rate on the basis of the clock of the test rate generated in a rate generator, and generates a plurality of different continuous pattern data of test rate in the generation of high-speed test waveform.例文帳に追加

パターン発生回路は、レート発生器で発生したテストレートのクロックに基づいて、通常のテストレートでテスト波形を生成するときはテストレートの複数の同じ連続パターンデータを発生し、高速のテスト波形を生成するときはテストレートの複数の異なる連続パターンデータを発生する。 - 特許庁

A multicycle test step and a single cycle test step are provided, the test for the multicycle path is carried out while holding the date, using the clock enable signal to the FFI in the data output side, when executing the multicycle test step, and the test is carried out while bringing constitution not capturing the data, as to the multicycle path, when executing the single cycle test step.例文帳に追加

マルチサイクルテストステップと、シングルサイクルテストステップとを設けて、マルチサイクルテストステップ時には、データの出し側のFF1に対してクロックイネーブル信号を用いて、データをホールドしてマルチサイクルパスのテストを行い、シングルサイクルテストステップ時に、マルチサイクルパスに関してはデータをキャプチャさせない構成をとってテストを行う。 - 特許庁

An SRAM 1017 for storing test setting data for each externally designated test item and a BIST (built-in self-test) controller 1005 for reading out the test setting data stored in the SRAM and for executing the BIST, in parallel with the operation of storing the test setting data in the SRAM, are provided.例文帳に追加

外部から指定されるテスト項目毎のテスト設定データを蓄積するＳＲＡＭ１０１７と、前記テスト設定データをＳＲＡＭに蓄積する動作と平行して、ＳＲＡＭに蓄積された前記テスト設定データを読み出してＢＩＳＴを実行するＢＩＳＴコントローラ１００５とを備える。 - 特許庁

Steps of (1) moving to a test writing area, (2) recording test data into the test writing area, (3) moving to a head position of an area into which the test data are recorded, (4) reproducing the test data, and (5) determining appropriate power, are performed in parallel for two optical pickup units respectively.例文帳に追加

（１）試し書き領域への移動、（２）試し書き領域へのテスト用データの記録、（３）テスト用データが記録された領域の先頭位置への移動、（４）テスト用データの再生、（５）適切なパワーの決定、が２つの光ピックアップ装置について、それぞれ並行して行われる。 - 特許庁

To automatically generate test data by giving a data generation rule and combination information to schema information stored in a data base.例文帳に追加

データベースが有するスキーマ情報にデータ生成ルールと結合情報とを与えて、テストデータを自動生成する。 - 特許庁

The control apparatus 2 includes: test condition setting means for setting the test condition; execution instructing means for instructing the semiconductor testing apparatus 1 to execute the test; and a capture section 20 serving as test data collecting means for collecting first data obtained by the test.例文帳に追加

制御装置２は、試験条件を設定する試験条件設定手段と試験の実行指示を行う実行指示手段と試験によって得られた第１のデータを収集する試験データ収集手段としてのキャプチャ部２０とを備える。 - 特許庁

The analysis means analyzes test image data acquired by reading a test image, detects a reference shadow generation region from a test image region that corresponds to the test image data based on the result of analyzing the test image data, and detects reference shadow image data that corresponds to the reference shadow generation region.例文帳に追加

前記解析手段は、テスト画像の読み取りにより得られるテスト画像データを解析し、前記テスト画像データの解析結果に基づき、前記テスト画像データに対応するテスト画像領域から基準影発生領域を検出し、前記基準影発生領域に対応する基準影画像データを検出する。 - 特許庁

In the IC tester 1, a test control part 71 executes an IC test based on a test program 61 to a device under test on a tester board part 5, the test result is stored in a data acquisition file 62 as the sorting data, and the sorting data which is stored in the file 62 is extracted via a data acquisition part 73.例文帳に追加

ＩＣテスタ１において、テスト制御部７１はテスタボード部５上の被測定デバイスにテストプログラム６１に基づくＩＣテストを実行し、テスト結果を分類データとしてデータ収集ファイル６２に格納し、データ収集ファイル６２に格納された分類データをデータ収集部７３を介して抽出する。 - 特許庁

Test scenario information is recorded in the scenario data 112 of them above.例文帳に追加

このうち、シナリオデータ１１２には、テストシナリオ情報が記録されている。 - 特許庁

TEST MEASUREMENT APPARATUS AND DATA ACQUISITION METHOD IN SAME例文帳に追加

試験測定装置及び試験測定装置におけるデータ取得方法。 - 特許庁

VISUALLY EXPRESSED GRAPH OF CLINICAL TEST DATA AND SYSTEM FOR GENERATING THE SAME例文帳に追加

臨床検査データの可視化表現グラフ及びその作成システム - 特許庁

SUPPORT DEVICE, METHOD, AND PROGRAM FOR CREATING TEST DATA例文帳に追加

テストデータ作成支援装置、作成支援方法、及び作成支援プログラム - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR BUILT-IN SELF-TEST FOR RECOVERY TYPE DATA TRANSMISSION SYSTEM例文帳に追加

再生型データ伝送システムの内部自己検査方法及びシステム - 特許庁

To provide a data transmission system test device that can accurately conduct testing by using time information.例文帳に追加

時刻情報を用いた試験を正確に行えるようにする。 - 特許庁

In S13, test writing data transfer to the free area is instructed.例文帳に追加

Ｓ１３で空き領域に対する試し書きデータ転送を指示する。 - 特許庁

To provide a production technique of test data for program operation confirmation.例文帳に追加

プログラム動作確認のためのテストデータの生成技術を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TEST PATTERN DATA GENERATING METHOD FOR THE DEVICE例文帳に追加

半導体メモリ装置およびこの装置のテストパターンデータ発生方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR GENERATING ELECTRONIC TEST PROGRAM AND DATA STRUCTURE例文帳に追加

電子テスト及びデータ構造を生成する為の方法及び装置 - 特許庁

Test if the operating system can send data to the printer. 例文帳に追加

オペレーティングシステムからプリンタにデータが送ら れているかをテストします。 - FreeBSD

METHOD FOR DIAGNOSING DATA PACKET TRANSFER FAILURE IN SYSTEM UNDER TEST例文帳に追加

被試験システムにおいてデータパケット転送障害を診断する方法 - 特許庁

At the time of a test, first, specific data is written in a memory cell array 30.例文帳に追加

テスト時には、まず、メモリセルアレイ３０に特定のデータを書き込む。 - 特許庁

A controller 30 records test data in a PCA area of the optical disk 10 and selects a recording condition which minimizes the jitter of the test data.例文帳に追加

コントローラ３０は、光ディスク１０のＰＣＡエリアにテストデータを記録し、該テストデータのジッタが最小となる記録条件を選択する。 - 特許庁

A test data confirmation section 210 determines which reception antennas 11-13 is out of order from a reception signal related to the test data S8.例文帳に追加

テストデータ確認部２１０は、テストデータＳ８に関する受信信号からどの受信アンテナ１１〜１３が故障しているかを判断する。 - 特許庁

In this read test, the test data are being written on the data track 113b prior to be written on the tracks 113a, 113c of its both sides.例文帳に追加

このリード・テストにおいて、データ・トラック１１３ｂには、両側トラック１１３ａ、１１３ｃよりも前にテスト・データがライトされている。 - 特許庁

To easily perform a test in a multi-bit test mode and to output a degeneration result to a same data terminal even when data bit width is different.例文帳に追加

データビット幅が異なる場合においても、容易にマルチビットテストモードでテストを行なって縮退結果を同じデータ端子に出力する。 - 特許庁

DEVICE FOR GENERATION OF TEST DATA, METHOD FOR GENERATING TEST DATA AND STORAGE MEDIUM WHICH STORES PROGRAM TO HAVE COMPUTER TO PROCESS ON THE SYSTEM例文帳に追加

テストデータ生成装置、テストデータ生成方法及びそのシステムでの処理をコンピュータに行なわせるためのプログラムを格納した記憶媒体 - 特許庁

A test data generation means 53 generates test alarm data for testing the operation of the information processing means 51 in accordance with user's operation.例文帳に追加

テストデータ生成手段５３は、ユーザの操作に従って、情報処理手段５１の動作をテストするためのテスト用アラームデータを生成する。 - 特許庁

From the wafer map data 30 which shows whether an effective chip area passed a test or not, one of defective chip coordinates is selected with a test data "1".例文帳に追加

有効チップ領域の検査合否を表すウエーハマップデータ３０から検査データが“１”である不良チップ座標を１つ選択する。 - 特許庁

The scan test register 104-106 has a function for transferring the content of data processing in serial at the time of test, in addition to the function of normal data processing.例文帳に追加

スキャンテスト対応レジスタ１０４〜１０６は通常のデータ処理の他に、テスト時にその内容をシリアルに転送する機能を持つ。 - 特許庁

This method is applied for read/write test on a check data, part and at the writing time of memory test, it is constituted so as to concurrently write the same date on a check data part as a data and certain specific part in the check data part.例文帳に追加

チェックデータ部分のリード・ライト試験の方法であって、メモリ試験のライト時に、チェックデータ部分にはデータ部のある特定部分と同じデータを同時にライトするように構成する。 - 特許庁

Among test data, wherein yi is an undefined value, a class yNNtest(i) of a data NNtest(i) is not an undefined value, and the data NNtest(i) is correctly leaned, a test data iB for providing a minimum d(i, NNtest(i)) is found out (Step 2).例文帳に追加

yiが未定義値でかつデータN Ntest(i)のクラスy_N Ntest(i_)が未定義値でなく、かつN Ntest(i)が正しく学習されているテストデータの中で、最小のd(i, N Ntest(i)）を与えるテストデータi_Bを見つける（ステップ３）。 - 特許庁

In the printer 200 where the test data are received, the test data of the plotting command are converted into image data by an image processing section 21 and rasterized to be converted into image data of a bit map format.例文帳に追加

受信したプリンタ２００では、描画コマンドのテストデータを画像処理部２１でイメージデータに変換してラスタライズ処理することによりビットマップ形式のイメージデータに変換する。 - 特許庁

To provide a memory device in which data stored in a memory cell array are compared with test data stored in the memory device or inverted data of the test data to detect defect of the memory device and to provide a parallel bit test method of the memory device.例文帳に追加

メモリセルアレイに貯蔵されたデータをメモリ装置の内部に貯蔵されたテストデータまたはテストデータの反転データと比較してメモリ装置の不良を検出するメモリ装置及びこの装置の並列ビットテスト方法を提供する。 - 特許庁

This semiconductor testing device for setting test condition data in a hardware and performing a test includes: a storage part for storing the test condition data; a selection output part for selecting the test condition data stored in the storage part, and outputting the data in each item; and a setting part for setting the test condition data output from the selection output part in the hardware.例文帳に追加

テスト条件データをハードウェアに設定して試験を行う半導体試験装置において、テスト条件データが記憶される記憶部と、記憶部に記憶されたテスト条件データを選択して項目毎に出力する選択出力部と、選択出力部から出力されたテスト条件データをハードウェアに設定する設定部とを備える。 - 特許庁

A test writing control circuit 12 operates in a test mode and in each regular cell array CA 1-4, writes test data in a regular memory cell at a position corresponding to the position of the parity memory cell where test parity data are written.例文帳に追加

試験書き込み制御回路１２は、試験モード中に動作し、各レギュラーセルアレイＣＡ１−４において、試験データを、試験パリティデータが書き込まれるパリティメモリセルの位置に対応する位置のレギュラーメモリセルに書き込む。 - 特許庁

The system is also provided with a statistic test controlling part for implementing a statistic test created by a statistic test part and evaluating a result when the test data such as the cipher, etc., created by the security factor data creating part is inputted.例文帳に追加

セキュリティ要素データ作成部で作成した暗号等のテストデータが入力されると，統計テスト部による統計テストを実行させて結果の評価を行う統計テスト制御部を備えるよう構成する。 - 特許庁

A test execution information acquisition means 11 acquires test execution information including simple body program names, the number of test data, and the frequency of total running until completing a test from a development progress state data storage means 14.例文帳に追加

テスト実行情報取得手段１１は、開発進捗状況データ記憶手段１４から、単体プログラム名、テストデータ件数およびテスト完了までの総ラン回数を含むテスト実行情報を取得する。 - 特許庁

For data belonging to the item having the data whose feature is determined by the data content determination part 12, the data is partially or entirely substituted by test data.例文帳に追加

データ内容判定部１２によってデータの特徴が判定された項目に属するデータについて、そのデータの一部または全部をテストデータに置換する。 - 特許庁

To provide a test interface circuit for mixed memory in which the number of test data input/output terminals is reduced and a practicable test pattern is increased.例文帳に追加

テストデータ入出力端子の数を低減しかつ実行可能なテストパターンを増加させる混載メモリ用テストインターフェイス回路を提供する。 - 特許庁

A test process determining part 12 determines the test process data indicating a schedule of a test, and an evaluation reference value as the reference for judging a progress.例文帳に追加

テスト工程設定部１２は、テストのスケジュールを示すテスト工程データと進捗判定の基準となる評価基準値とを設定する。 - 特許庁

A test-performing and comparing part 23 repeats performing of a CMIS service via a test data transmission/reception part 22 according to a test procedure file 11.例文帳に追加

テスト実行比較部２３はテスト手順ファイル１１にしたがって、テストデータ送受信部２２を介してＣＭＩＳサービスを繰り返し実行させる。 - 特許庁

In a test mode, pseudo input picture data S13a, a pseudo strobe signal S13b, and a test mode selection signal S13c are outputted from a test signal generating part 13.例文帳に追加

テストモードでは、テスト用信号発生部13から、擬似入力画像データS13a、擬似ストローブ信号S13b及びテストモードの選択信号S13cが出力される。 - 特許庁

An arithmetic circuit performs operation of the flag data stored in the flag register with a first test data stored in the data register for each cycle from the input time of the first test data to the plurality of number of cycles of the clock signal, and the data control circuit 1-2 generates test data to be written in the memory cell.例文帳に追加

そして、演算回路は、第１テストデータの入力時からクロック信号の複数サイクル目まで各々のサイクル毎に、フラグレジスタに記憶されたフラグデータとデータレジスタに記憶された第１テストデータとの演算を行って、前記データ制御回路１−２がメモリセルに書き込むテストデータを発生する。 - 特許庁