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Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5388件
METHOD OF TESTING SUPERCONDUCTING WIRE例文帳に追加
超電導線材の試験方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING WATER PRESSURE例文帳に追加
水圧試験方法及び装置 - 特許庁
CHARACTERISTIC TESTING MACHINE OF POWDER, CHARACTERISTIC TESTING METHOD OF POWDER AND EVALUATION METHOD OF POWDER例文帳に追加
粉体特性の試験装置、試験方法及び評価方法 - 特許庁
BALANCE TESTING MACHINE, BALANCE TESTING METHOD, AND BALANCE ADJUSTING METHOD例文帳に追加
バランス試験機及びバランス試験方法並びにバランス調整方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING STRESS CORROSION CRACKING例文帳に追加
応力腐食割れ試験方法 - 特許庁
WITHSTAND VOLTAGE TESTING METHOD OF BREAKER例文帳に追加
遮断器の耐電圧試験方法 - 特許庁
SWITCHING CIRCUIT AND TESTING METHOD例文帳に追加
スイッチング回路および試験方法 - 特許庁
MATERIAL-TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加
材料試験方法および装置 - 特許庁
BEDROCK SAMPLE PERMEABILITY TESTING METHOD例文帳に追加
岩盤試料透水試験方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF MAGNETIC HEAD FOR TESTING, AND TESTING METHOD USING SAME例文帳に追加
試験用磁気ヘッドの製造方法及びそれを用いた試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING ERYTHROCYTE ANTIGEN例文帳に追加
赤血球抗原の検査方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING CONNECTION OF IP TELEPHONE例文帳に追加
IP電話接続試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, SEMICONDUCTOR TESTING SYSTEM, AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置、半導体試験システム、及び半導体装置の試験方法 - 特許庁
DURABILITY PERFORMANCE TESTING METHOD FOR TIRE例文帳に追加
タイヤの耐久性能テスト方法 - 特許庁
GATEWAY AND ORIGINATION TESTING METHOD例文帳に追加
ゲートウェイおよび発信試験方法 - 特許庁
ARITHMETIC METHOD FOR EQUIVALENCE TESTING DEVICE例文帳に追加
等価試験装置の演算方法 - 特許庁
AIR PERMEABILITY TESTING METHOD OF RUBBER例文帳に追加
ゴムの気体透過性試験方法 - 特許庁
FLASH MEMORY AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
フラッシュメモリ及びその試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR TEMPERATURE CHARACTERISTIC OF SENSOR例文帳に追加
センサの温度特性検査方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING FUNCTION OF ELECTRICAL CIRCUIT例文帳に追加
電気回路の機能検査方法 - 特許庁
CANCER EXAMINATION TEST DRUG AND TESTING METHOD例文帳に追加
ガン検査薬および検査方法 - 特許庁
TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
試験方法及び半導体装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
半導体試験装置及び方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加
半導体装置及び試験方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING SOLID INSULATION CABLE例文帳に追加
固体絶縁ケーブルの試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING EXPANSIVITY OF COAL例文帳に追加
石炭の膨張性試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加
半導体チップを検査する方法 - 特許庁
TEST CIRCUIT AND CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加
テスト回路及び回路テスト方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING TRANSFORMER FOR GAUGE例文帳に追加
計器用変成器の試験方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING SUSCEPTIBILITY TO CARCINOSTATIC例文帳に追加
制癌剤感受性試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING OPERATION OF COMMUNICATION APPARATUS例文帳に追加
通信機器の動作試験方法 - 特許庁
LINE CONNECTION STATE TESTING METHOD例文帳に追加
回線接続状態試験方式 - 特許庁
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