「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(107ページ目) - Weblio英語例文検索

Besides, this testing method performs steps of: mounting, on the shaft, a base material to which deposition substances are applied, immersing a film coated base material in a solution housed inside a container, utilizing the drive system for rotating the shaft and the film coated base material at a given rotating speed, and determining an amount of the deposition substances removed from the base material.例文帳に追加

この試験方法はさらに、堆積物質が塗布されている基材をシャフトに載置するステップと、その塗膜基材を容器に収容された溶液内に沈浸するステップと、シャフトと塗膜基材とを所定回転速度で回転させるために駆動システムを利用するステップと、基材から除去された堆積物量を決定するステップとを含んでいる。 - 特許庁

To provide a device, method and program for testing a branch prediction circuit of an information processor, in which verification of the branch prediction circuit can be easily and efficiently performed without performing processing for specifying a branch point and substituting a branch instruction by the other instruction.例文帳に追加

分岐ポイントを特定して分岐命令を他の命令で置き換える処理を行うことなく、容易に、かつ効率的に分岐予測回路の検証を可能とする情報処理装置の分岐予測回路の試験装置、情報処理装置の分岐予測回路の試験方法及び情報処理装置の分岐予測回路の試験プログラムを提供すること。 - 特許庁

The method for testing the secondary battery of this invention includes a step of discharging and charging that carries out discharging and charging in the secondary battery treated initial discharging and charging treatment under a discharging and charging current larger than that of the initial discharging and charging current of the initial discharging and charging treatment.例文帳に追加

本発明の二次電池の検査方法は、初期充放電処理が施された二次電池に、初期充放電処理の初期充放電電流より大きな電流値を有する充放電電流での充放電を行う充放電工程と、充放電工程が施された二次電池の電池特性の変化を測定する測定工程と、を有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a device for testing local load smaller than a conventional apparatus, easily carried, conveniently measuring a strength in a desired depth from an artificial structure or all ground levels, reducing a damage applied to the artificial structure or the ground to the minimum, and overcoming a troublesome operation, and also to provide a test method.例文帳に追加

従来よりも小型で持ち運びに便利で、人工構造物または地盤のあらゆる面から所望の深さ位置での強度を簡便に計測することができ、さらに人工構造物または地盤に与える損傷を最小限にとどめ、また操作の煩雑さを解消することができる局部載荷試験装置および試験方法を提供することである。 - 特許庁

The method and apparatus are for testing wirings in a circuit base mounted with an integrated circuit, and has a circuit having the function of executing embedded-type time domain reflectivity test is incorporated therein, by sending out a test transition signal generated by the integrated circuit (IC) mounted thereon to the wiring 102 and capturing the reflection 502 of the test transition signal.例文帳に追加

集積回路を搭載した回路基盤の配線を試験する方法及び装置であって、搭載された集積回路より発生される試験遷移信号を配線１０２に送出し、その試験遷移信号の反射５０２をキャプチャすることにより、時間領域反射率試験を実施する機能を有する回路が組み込まれたＩＣを含む方法及び装置。 - 特許庁

Typical configuration of the method for manufacturing the vertical magnetic recording disk includes a writing process which applies an alternating current with a frequency less than a predetermined value or a direct current while rotating the magnetic disk, and a signal quality testing process after writing.例文帳に追加

上記課題を解決するために、本発明に係る垂直磁気記録方式の磁気ディスクの製造方法の代表的な構成は、磁気ディスクを回転させつつ、所定の周波数以下の交流信号または直流信号を印加して書き込みを行う工程と、書き込みを行った後に信号品質テストを行う工程と、を含むことを特徴とする。 - 特許庁

In addition, the semiconductor integrated circuit used for the scan testing method has a separation means to isolate each of the plurality of blocks to be tested from other blocks during the scan test, and an input terminal to input the scan clock with deviated phase for each block to be tested.例文帳に追加

更に、このスキャンテスト方法に用いられる半導体集積回路であって、スキャンテスト時に複数の複数のテスト対象ブロックが各々排他的に他のブロックとアイソレーションする分離手段と、上記テスト対象ブロック毎に位相をずらしたスキャンクロックを入力する入力端子とを有することを特徴とする半導体集積回路を提示する。 - 特許庁

In the testing method where a result value is acquired while changing each level of a plurality of factors, a proper orthogonal table 1 and a reverse orthogonal table 2 which is an orthogonal table of the same type as the proper orthogonal table 1 and in which in each column a level obtained by inverting the level written to a column corresponding to the proper orthogonal table 1 are first created.例文帳に追加

複数の因子の水準をそれぞれ変化させながら結果値を取得する試験方法において、先ず、正直交表１と、正直交表１と同型の直交表であって、各欄に正直交表１の対応する欄に記載された水準を逆転させた水準が記載された逆直交表２を作成する。 - 特許庁

The defrost detection device includes a detecting section in which an electrode is formed on a substrate with a predetermined pattern, a dielectric constant instrument connected with the electrode of the detecting section to obtain the dielectric constant of the detecting section by means of the TDR (Time Domain Reflectometry) method, and a testing apparatus identifying defrost conditions based on the dielectric constant obtained from the dielectric constant instrument.例文帳に追加

基板上に電極が所定のパターンで形成された検知部と、前記検知部の前記電極に接続されてＴＤＲ（Ｔｉｍｅ Ｄｏｍａｉｎ Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｒｙ）法によって前記検知部の比誘電率を求める比誘電率測定器と、前記比誘電率測定器で求められた前記比誘電率に基づいて降霜状態を判定する判定装置とを備える。 - 特許庁

To securely carry out screening for a defective pixel by effectively avoiding deterioration in reliability even when a transistor with low breakdown voltage is used by applying a flat display device and a testing method for the flat display device to, for example, a liquid crystal display device having a driving circuit formed on an insulating substrate in one body.例文帳に追加

本発明は、フラットディスプレイ装置及びフラットディスプレイ装置の試験方法に関し、例えば絶縁基板上に駆動回路を一体に形成した液晶表示装置に適用して、耐圧の低いトランジスタを用いる場合であっても、信頼性の劣化を有効に回避して確実に欠陥画素に係るスクリーニングを実行することができるようにする。 - 特許庁

The method for producing products for reducing infantile colic includes testing the capability of the strains of lactic acid bacteria to promote expression of IL-10 in a proper host cell, selecting the strains of lactic acid bacteria that cause the host cell to increase IL-10 production and producing the products containing cells of the selected strains.例文帳に追加

適切な宿主細胞でのＩＬ−１０の発現を促進する乳酸菌菌株の能力を試験すること、該宿主細胞によるＩＬ−１０産生の増加を引き起こす乳酸菌菌株を選択すること、及び該選択された菌株の細胞を含む製品を製造することを含む、乳児仙痛を低減するための製品を製造する方法。 - 特許庁

To provide a highly reliable testing method of cans and a device realizing it by analyzing echo vibration having a vibration waveform which becomes gradually complicated because of the increase in noise constituents along with the lapse of time in hammering test of a two-piece can, providing a precise frequency spectrum, and accurately grasping the frequency which matches a can internal pressure.例文帳に追加

本発明の課題は、時間と共にノイズ成分が多くなり複雑な振動波形となっている２ピース缶の打検における反響振動を解析して、精度のよい周波数スペクトルを得て缶内圧力に対応する周波数を正確に把握し、信頼性が高い缶の検査法並びにそれを実現する検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a testing device for determination of a display defect including display irregularity and the like to be appeared on a display surface of a plane display device and a manufacturing method of the plane display device using this which are capable of making determination of display irregularity and the like precisely and reliably without being affected by skill level and some difference of operation conditions.例文帳に追加

平面表示装置の表示面に表れる表示ムラその他の表示欠陥を判定するのに用いる検査具、及びこれを用いる平面表示装置の製造方法において、表示ムラ等の判定を、熟練度や多少の作業条件の違いに左右されることなく、高い精度及び信頼度にて行うことができるものを提供する。 - 特許庁

A method for identifying new therapeutic uses for a test subject which is a drug or drug candidate includes (A) selecting the test subject, (B) testing activities of the test subject on protein complexes in cells, and (C) using results obtained in (B) to identify new activities of the test subject.例文帳に追加

被験体について新規の治療上の用途を同定するための方法であって、上記被験体が薬物又は薬物候補であり、上記方法が(A)被験体を選択すること、(B)細胞中の蛋白複合体に対する上記被験体の活性を試験すること、(C)上記被験体の新規活性を同定するために(B)から得られた結果を使用すること、を含む。 - 特許庁

To provide a data processor and method for testing stability of a cell using a reliable, effective and practical (in connection with test time period) mechanism for detecting a defective memory cell that may malfunction in normal use due to unstableness of the cell caused by a hysteresis effect in a body region of transistors configuring the memory cell in a memory device.例文帳に追加

メモリ・デバイス内のメモリ・セルを構成するトランジスタのボディ領域の履歴効果が引き起こすセルの不安定性により通常の使用中に誤動作するかもしれない欠陥メモリ・セルの検出のための信頼できる効果的で現実的な（テスト時間に関して）メカニズムを用いて、セルの安定性をテストするデータ処理装置と方法を提供すること。 - 特許庁

A method and system for testing sugar contents irradiates the measured object with a generated electromagnetic wave to obtain a transmission or reflection intensity thereof, using an electromagnetic wave generation source having 10GHz-10THz of oscillation frequency constituted of a terahertz generator, and using a suitable frequency of oscillation element, and obtains thereby the sugar content in the measured object and a distribution situation thereof.例文帳に追加

テラヘルツ発生装置によって構成される１０ＧＨｚから１０ＴＨｚの発振周波数を持つ電磁波発生源を用い、適した周波数の発振素子を用い、被測定物に前記発生電磁波を照射しその透過あるいは反射強度を得ることによって、被測定物中の糖度およびその分布状況を得ることを可能にした。 - 特許庁

Regarding concrete suffering from a freezing and fusing action, a tensile strength testing method of the concrete surface section according to the patent 2121279 is performed, the state when the tensile strength of any depth decreases by 50%±5% comparing that before the freezing and fusing action is determined as a degradation state of the concrete, and the degradation depth due to frost damage is determined.例文帳に追加

凍結融解作用を受けるコンクリートにおいて、特許２１２１２７９によるコンクリート表層部の引張強度試験方法を実施し、その任意深さの引張強度が凍結融解作用を受ける前と比べて５０％±５％低下した時点をコンクリートの劣化状態と判定し、凍害劣化深さを求めようとするものである。 - 特許庁

In the ink jet recording adhesive sheet obtained by laminating an ink jet recording surface base material, an adhesive layer and a mold release sheet, a ratio of an MD direction tensile strength to a CD direction tensile strength measured according to a paper and cardboard tensile characteristic testing method in accordance with JIS P 8113 is 1.00 to 1.60.例文帳に追加

インクジェット記録用表面基材、粘着剤層、および剥離紙を積層してなるインクジェット記録用粘着シートにおいて、ＪＩＳ−Ｐ−８１１３規定の紙および板紙−引張特性の試験方法で測定した、該剥離紙のＣＤ方向引張強さに対するＭＤ方向引張強さの比率が１．００〜１．６０であるインクジェット記録用粘着シート。 - 特許庁

To provide a small-sized measuring apparatus capable of providing accurately a timely measured result by reaction control, detection and computation, to a testing tool having a hemocyte separation part, and capable of measuring a specified component in blood quickly, easily, inexpensively and precisely in a medical field, using the blood as a specimen, and a measuring method using the apparatus.例文帳に追加

血液を検体とし、血球分離可能部を有し、血液中の特定成分について、診療の現場で迅速、簡便、安価に精度良く測定ができる試験用具に対して、反応制御、検出、演算によって正確に適時測定結果を提供可能な小型の測定装置及びそれを用いる測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a circuit and a method for testing a semiconductor integrated circuit, which can easily test a limitation of an operation cycle, i.e., a delay characteristic of the semiconductor integrated circuit device at an arbitrary cycle in a function test pattern of the semiconductor integrated circuit, by using the function test pattern and a relatively slow clock signal input from the outside.例文帳に追加

半導体集積回路の機能試験パタンと、外部からの比較的遅いクロック信号とを用いて、機能試験パタンの任意のサイクルでの動作周期の限界、つまり本半導体集積回路装置の遅延性能を容易に試験することができる半導体集積回路の試験回路およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a high pressure gas fatigue testing method and an apparatus which have the advantages of preventing hydrogen gas from leaking from a gasket between a pressure vessel as a specimen and a pull rod, implementing fatigue test of a material in a short cycle time, evaluating the fatigue characteristics and easily controlling the temperature of the specimen, etc.例文帳に追加

被試験体の圧力容器とプルロッド間のパッキン部分からの水素ガスの漏洩を生じることなく、更に短いサイクルタイムで材料の疲労試験を行なって疲労特性を評価することが可能であり、また更に被試験体の温度制御が容易である、等の利点を有する高圧気体疲労試験方法及び装置の提供を目的とする。 - 特許庁

The method, system, and computer program product pertain directly to the enhancement of existing home blood glucose monitoring devices, by introducing an intellectual data interpretation component predicting and alerting the user to periods of increased risk for hyperglycemia, hypoglycemia, increased glucose variability, and ineffective testing, and to the enhancement of emerging self-monitoring blood glucose devices by the same features.例文帳に追加

本方法、システム、コンピュータプログラム製品は直接的には、使用者に、高血糖、低血糖、グルコース変動の増大、無効な検査の期間を予測して警告することができるデータ知的解釈部を導入することによる既存の家庭用血中グルコース監視装置を改善、及び同機能を導入することによる血中グルコース自己監視装置の改善に関する。 - 特許庁

The device 10 contains a plurality of load generation mechanisms for testing the strength of a material under pressure, in which each mechanism simultaneously operates independently of other mechanisms and each load mechanism applies a load to simulate a pressure condition with at least one method from among deformation, in-plane shear, a cyclic load, gas permeability, layer or film delamination.例文帳に追加

複数の負荷発生機構を含み圧力下での材料の強度をテストする装置１０であって、機構のそれぞれは互いに他の機構から独立して同時に動作し、各負荷発生機構は、変形、面内せん断、周期的負荷、気体透過性、層又はフィルム剥離のうち少なくとも一つの形式で、圧力状態をシミュレートする負荷を加える装置１０。 - 特許庁

The solid pharmaceutical formulation containing ranitidine is characterized in that it has acid-controlling power larger than 200 mL which is determined by the acid-controlling power testing method according to the fifteenth Revision of Japanese Pharmacopoeia and that it contains the ranitidine-supporting particle which supports the ranitidine on an inorganic compound containing magnesium and/or calcium having a magnesium and/or calcium content of 20 mass% or higher.例文帳に追加

第十五改正日本薬局方の制酸力試験法によって求められる制酸力が２００ｍＬを超え、かつマグネシウム及び／又はカルシウム含有量が２０質量％以上であるマグネシウム及び／又はカルシウム含有無機化合物に、ラニチジンを担持させたラニチジン担持粒子を含有することを特徴とするラニチジン含有医薬固形製剤。 - 特許庁

To provide a method and device for testing a grounding device for certainly determining abnormal conditions when an apparatus grounding device and a remote control grounding device in a substation are interconnected by erroneous wiring in a switchboard or when a grounding electrode of the grounding device is electrically connected to another grounding electrode in a erroneous wiring state.例文帳に追加

変電所における機器接地装置と遠制接地装置が配電盤内の誤配線で接続状態になっている場合や、接地装置の接地極が他の接地極と電気的に誤接続状態となっている場合に、確実に異常の判定を得ることができる接地装置の試験方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

There is disclosed method of measuring gear errors where two small gears 1, 3 are engaged with a testing gear 2, a rotational transmission error obtained by measuring the rotational angle of one small gear 3, on the basis of the rotation of the other small gear is subjected to frequency analysis, and then errors including an eccentricity error can be calculated.例文帳に追加

試験歯車２に二つの小歯車１、３をかみ合わせ、一方の小歯車１の回転を基準として他方の小歯車３の回転角度を測定して得られた回転伝達誤差を周波数解析することにより、試験歯車の偏心誤差を含む誤差を演算可能とすることを特徴とする歯車誤差測定方法。 - 特許庁

To provide an insulation test method for a solar battery module and an insulation test apparatus for testing the insulation of the solar battery module easily even in manufacturing test, construction test or after-construction test and capable of specifying any defective position in insulation for the solar battery having defective insulation at a position thereof.例文帳に追加

製造検査時、施工時、施工後のいずれにおいても、太陽電池モジュールの絶縁不良検査を容易に、確実かつ安全に行うことができ、また任意の場所で絶縁不良が発生している太陽電池モジュールにおいても、絶縁不良場所を特定することが可能な太陽電池モジュールの絶縁試験方法及び絶縁試験装置を提供する。 - 特許庁

In this method, a conductive liquid material 22 is laid in between rotating electrode 21 and fixed electrode 23 fixed on rotor of the fluid bearing motor to accurately achieve surfacing revolution testing of motor, without the occurrence of reduction in motor revolution or motor rotation stoppage due to load onto the rotor from the fixed electrode 23.例文帳に追加

流体軸受モータの回転子に固定された回転電極２１と固定電極２３との間に導電性液状物質２２を介在させることで、固定電極２３からの回転子への負荷による、モータ回転数の減少やモータの回転停止は発生せず、正確にモータの浮上回転数の検査を行うことが可能となる。 - 特許庁

In a process of manufacturing a semiconductor device including an adjustment circuit for adjustment according to results of tests, the method includes testing the semiconductor device (at step S3), and forming a wiring pattern or a via pattern by electronic beam lithography with an electronic beam lithography device according to the results of the tests, and finishing the circuit pattern of the adjustment circuit (at step S4).例文帳に追加

試験結果に応じた調整を行う調整回路を含む半導体装置の製造途中において、当該半導体装置を試験し（ステップＳ３）、その試験結果に応じて電子ビーム描画装置による電子ビーム描画によって、配線パターンやビアパターンなどを形成することにより、調整回路の回路パターンを確定させる（ステップＳ４）。 - 特許庁

To provide a circuit board and a manufacturing method of the same circuit board for realizing size reduction and high density of circuit board, accurately testing natural circuit wires for propagating high-frequency signals in the course of the board manufacturing process, assuring higher application efficiency of electronic components to be embedded in the circuit board, removing restrictions on the manufacturing process, and improving the board manufacturing yield.例文帳に追加

回路基板の小型化や高密度化を実現し、基板製造工程途中で高周波信号の伝搬する本来の回路配線を正確に検査でき、回路基板に埋設する電子部品の利用効率が高くでき、製造工程の制限を除くことができ、基板製造歩留を向上できる回路基板およびその製造方法の提供。 - 特許庁

The method of testing further includes: a step of attaching a substrate coated with deposit material to the shaft; a step of immersing the coated substrate in a solution contained in the vessel; a step of using the drive system to rotate the shaft and coated substrate at a predetermined velocity; and a step of determining an amount of deposit material removed from the substrate.例文帳に追加

この試験方法は、さらに、堆積物質が塗布されている基材をシャフトに載置するステップと、その塗膜基材を容器に収容された溶液内に沈浸するステップと、シャフトと塗膜基材とを所定回転速度で回転させるために駆動システムを利用するステップと、基材から除去された堆積物量を決定するステップとを含んでいる。 - 特許庁

The molding method for the alicyclic structure-containing thermoplastic resin is characterized in using the injection molding machine made of a material showing a contact angle of 77 to 87 degrees with water, and peeling strength of not more than 127 N when 10 to 30 mg of the alicyclic structure-containing thermoplastic resin is melted for 30 minutes at 350°C and peeled by a compression testing machine.例文帳に追加

水との接触角が７７〜８７度の範囲にあり、且つ、脂環式構造含有熱可塑性樹脂１０〜３０ｍｇを３５０℃、３０分間溶融し、圧縮試験機によって剥離した時の剥離強度が１２７Ｎ以下の材質を有する射出成形機を用いた該脂環式構造含有熱可塑性樹脂の成形方法。 - 特許庁

In the method for testing a function of an electrical circuit which has a sensor module 2 having a switch circuit and a diagnostic device 3, where the sensor module 2 has one output terminal and power supply terminals 12a, 12b connected to the diagnostic device 3, drive voltage is applied to the power supply terminals 12a, 12b via lead wires 13a, 13b.例文帳に追加

切替え回路を有するセンサモジュール２と診断装置３とを有し、センサモジュール２が診断装置３と接続された１つの出力端子と電力供給端子１２ａ，１２ｂを有した電気回路の機能を検査する方法において、リード線１３ａ，１３ｂを介して駆動電圧が電力供給端子１２ａ，１２ｂへ印加される。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspecting device and a semiconductor inspecting method capable of shortening testing time whereby suppressing an increase in inspection cost while preventing destruction of a semiconductor device by preventing spikes from being generated when power supply voltage is changed, even if the semiconductor device to be inspected is a semiconductor device for IEEE 1394.例文帳に追加

もし、被検査用半導体装置がＩＥＥＥ１３９４用半導体装置の場合であっても、テスト時間を短縮し、検査コストの増加を抑えることができるとともに、電源電圧切り替え時のスパイクの発生を抑え、半導体装置の破壊を防止することができる半導体検査装置および半導体検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a simple waste water treatment testing method and device capable of a short-time measurement which predict a risk of activated sludge rising trouble due to denitrifying reactions in a sedimentation tank, evaluate the reactivities of the denitrifying reactions for judging whether nitrogen removal is normally performed or not in a biological denitrification method, and evaluate whether methane fermentation reactions are normally performed in anaerobic treatment.例文帳に追加

活性汚泥においては沈殿槽における脱窒反応による汚泥浮上トラブルの危険性を予知し、生物学的脱窒素法においては窒素除去が正常におこなわれるか否かを判断するための脱窒反応の反応性を評価し、嫌気性処理においてはメタン発酵反応が正常におこなわれているか否かを判断する簡便でしかも短時間で測定可能な廃水処理試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for optically testing weatherability which relate to the method and the apparatus employing liquid hydrogen peroxide, make the work simple and easy by carrying out all test steps without taking out a sample therefrom, make drained water harmless, generate oxygen by catalyzing the liquid hydrogen peroxide, eliminate the need for a unit such as an oxygen gas cylinder and its cost by utilizing the oxygen and can carry out recycling resource.例文帳に追加

過酸化水素水を用いる耐候光試験装置及び方法に関するものであって、（イ）試料を取り出さずに全工程の試験ができて作業が簡便で、（ロ）排水を無害な水にすること、及び（ハ）過酸化水素水に触媒を作用させることにより酸素を発生させ、その酸素を利用することで酸素ボンベ等の装置やコストを不要とし、資源の再利用ができる耐候光試験装置及び方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a heat characteristic testing method of a temperature regulating material capable of simply and rapidly evaluating the temperature characteristics or heat quantity moving characteristics of the temperature regulating material especially useful for the temperature regulating material for relaxing the temperature change of a material due to the temperature change of an outside environment by utilizing a phase changing substance, and a heat characteristic tester of the temperature regulating material.例文帳に追加

相変化物質を利用して外部環境の温度変化による材料の温度変化を緩和するための温度調節材料を評価するのに特に適した、温度調節材料の温度特性または熱量移動特性の評価を、簡便、迅速かつ再現性良く評価することができる温度調節材料の熱特性試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

The method for testing an electronic circuit 16 comprises selection of an input signal using a first multiplexer 208, selection of an signal to be input to the first multiplexer 208 using at least one of other multiplexers 202, 204, 206, and control of at least one of other multiplexers 202, 204, 206, using a selection signal output from a control circuit 222.例文帳に追加

電子回路１６をテストするための方法は、第１のマルチプレクサ２０８を用いる入力信号の選択、少なくとも１つの他のマルチプレクサ２０２，２０４，２０６を用いる第１のマルチプレクサ２０８に入力されるべき信号の選択、および制御回路２２２から出力される選択信号を用いる少なくとも１つの他のマルチプレクサ２０２，２０４，２０６の制御を含む。 - 特許庁

To provide a method for automatically calibrating a detection level in a measuring part of a shutter testing machine, in which manual adjusting operation of an adjusted value VR is eliminated and an output level of a comparator to electric output (voltage) of reflected light is automatically set just by opening the shutter of a camera, whereby the shutter speed of the camera is easily, speedily and accurately detected.例文帳に追加

人手による調整値VRの調整操作を無くし、カメラのシャッタを開くだけで自動的に反射光の電気出力（電圧）に対するコンパレータの出力レベルを設定できるようにし、これによってカメラのシャッタスピード検出を簡便かつスピーディに精度よく行うことができるようにしたシャッタ試験機の測定部における検出レベルの自動校正方法を提供すること。 - 特許庁

The testing method of semiconductor device comprises a steps of forming an electrode 10 on the main surface of a semiconductor test sample, cutting out a semiconductor test sample, exposing the cross-section of the semiconductor test sample, and obtaining carrier distribution within the cross-section by scanning the cross-section with a probe 14 of the scanning probe microscope while the predetermined potential is applied to the electrode 10.例文帳に追加

半導体試料の主面上に電極１０を形成する工程と、半導体試料を切断し、該半導体試料の断面を露出させる工程と、前記電極１０に所定電位を与えながら、走査型プローブ顕微鏡のプローブ１４で上記断面を走査することにより、該断面内におけるキャリア分布を得ることを特徴とする半導体装置の検査方法。 - 特許庁

A method for inspecting the precision of the tire testing machine has a rotating radius different from a drum 42 and higher circularity than a tire T in place of the tire T, mounts a dummy tire 60 having rigidity capable of maintaining circularity on a spindle shaft 11 even when receiving load in a radial direction, and measure variation load generated by rotating the dummy tire 60 while giving load from the drum 42.例文帳に追加

タイヤＴに代えて、ドラム４２とは異なる回転半径とタイヤＴよりも高い真円度とを有すると共に、荷重を径方向に受ける場合にも真円度を維持可能な剛性を有するダミータイヤ６０をスピンドル軸１１に装着し、ダミータイヤ６０をドラム４２からの荷重を与えた状態で回転させることにより生じる変動荷重を計測する。 - 特許庁

This method for testing the computer system by applying a load includes: receiving of a load specification which identifies at least one resource of the system and specifies the load applied to the resource(s); and applying of the corresponding and specified load to the resource specified by the load specification.例文帳に追加

本発明にかかる負荷を適用することによってコンピュータシステムをテストする方法は、負荷仕様を受け取ることであって、当該負荷仕様が、システムの少なくとも１つの資源を特定し、かつ、当該資源に適用される負荷を指定する、負荷仕様を受け取ることと、および負荷仕様で特定された各資源について、対応する指定された負荷を当該資源に適用することとを含む。 - 特許庁

The method for testing a memory by writing and reading test date in and from the memory comprises a comparing step of comparing one of two data continuously read of data sequentially read in synchronization with a clock with another as expected data, and a decision step of deciding a fault of the memory based on a comparison result obtained by the comparison step.例文帳に追加

テストデータをメモリに書き込んで読み出すことでメモリを試験するメモリ試験方法において、クロックに同期して順次読み出されるデータのうち、連続して読み出される２つのデータのうち一方を期待データとして他方と比較する比較ステップと、比較ステップで得られる比較結果に基づいてメモリの不良を判定する判定ステップとを含むように構成する。 - 特許庁

To provide a very epoch-making film evaluation tester and a film evaluation testing method capable of evaluating the characteristics of a thin film as much as several ten μm or less, measuring the wear resistance in a short time by a very simple operating procedure without scattering of a propellant injected on a subject, lessening a measurement error, attaining good reproducibility and miniaturizing the tester.例文帳に追加

数十μｍ以下の薄い皮膜の特性でも評価することができ、被験体に噴射された噴射材が飛散したりせず、極めて簡易な操作手順で短時間に摩耗性を測定することができ、測定誤差が小さくて再現性に秀れ、しかも、装置を小型化し得ることもできる極めて画期的な皮膜評価試験機及び皮膜評価試験方法を提供すること。 - 特許庁

A method for producing a probe test head for testing a semiconductor integrated circuit includes a step in which a plurality of probes 81 are defined for one or a plurality of masks, a step in which a plurality of probes are produced by using the masks, and a step in which a plurality of probes 81 are arranged by inserting them into the corresponding holes of a first die 42 and a second die 44.例文帳に追加

半導体集積回路をテストするためのプローブ・テスト・ヘッドを製造する方法は、１つ又は複数のマスクとして、複数のプローブ８１の形状を画成するステップと、該マスクを使用して、複数のプローブを製造するためのステップと、第１のダイ４２と第２のダイ４４内の対応するホールを通して複数のプローブ８１を配置するステップとを含んでいる。 - 特許庁