「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(99ページ目) - Weblio英語例文検索

To obtain the method and device for transmission line capacitance measurement of a packet switching network which can measure the capacitance of a transmission line at a distance from a testing device sending test packets, specially, transmission capacitance of the line beyond a bottleneck.例文帳に追加

テストパケットを送信する試験装置から離れた伝送路の容量、特に、ボトルネック以遠の伝送路容量も測定可能なパケット交換網の伝送路容量測定方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for operation control for low-voltage load capable of precisely and continuously following to the load control value, without using industrial water and capable of maintaining the value at the load characteristic testing for an electric generator and the like.例文帳に追加

発電機等の負荷特性試験において、工業用水を使用せずに負荷制御値に連続的に精度よく追従し、その値を持続できる低圧負荷演算制御方法及び装置の提供。 - 特許庁

To provide a bonding method for the production of a transparent material having thin thickness, producible at a low cost and exhibiting excellent adhesiveness, impact resistance, penetration resistance, temperature cycle testing resistance, transparency, anti-crime property, or the like.例文帳に追加

厚みが薄く、かつ安価で接着性、耐衝撃性、耐貫通性、耐温度サイクル性、透明性、防犯性等に優れる等の特徴をもつ透明材料を作製する際に用いられる接着方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for generating a test signal for testing the accuracy of the CINR measurement of a subscriber station through a base station emulator with which a trigger line for synchronization and a combiner are not necessary and the costs of the establishment of a test environment can be reduced.例文帳に追加

同期維持のためのトリガーラインや結合器が不要であり、テスト環境の構築費用を減らせる基地局エミュレータを利用した端末のＣＩＮＲ測定の精度テスト信号生成方法に関する。 - 特許庁

To provide a performance test for deciding the performance for removing fine particles in a membrane, and to provide a new method for testing the integrity to verify whether the membrane, after use is within a preset range in the performance for removing fine particles.例文帳に追加

膜の微粒子除去能を確定する性能試験および使用後の膜が微粒子除去性能においてあらかじめ設定内であることを確認する完全性試験の新しい方法を提供する。 - 特許庁

To realize a probe card and a method of testing a semiconductor device, capable of obtaining satisfactory contact with chips and electrode pads of a CSP at all times, when the chips and the CSP are tested in the form of a wafer.例文帳に追加

チップやＣＳＰをウエハ状態で試験する際に、各チップやＣＳＰの電極パッドと常に良好なコンタクトの得られるプローブカード及び半導体装置の試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a facing connection testing method confirming whether a function to respond to various errors which can only occur rarely in communication between communicating functions implemented in relation to communication protocol of a certain hierarchy.例文帳に追加

或る階層の通信プロトコルに準拠した通信機能同士の通信において稀にしか起きえない各種エラーに対処するための機能が適切に動作するかを確認できる対向接続試験方法を、提供する。 - 特許庁

To provide a method for restoring the state of algorithmic control at that by returning a branch to a proper position in a test program when an error occurs within a DUT during testing the DUT by a memory tester.例文帳に追加

メモリテスタでのＤＵＴの試験中にＤＵＴ内でエラーが生じた場合に、テストプログラム中の適正な位置に分岐を戻し、アルゴリズム的制御のその時点の状態を回復するための方法を提供する。 - 特許庁

The method is carried out by isolating a chromosomal DNA containing a human DGCR8 gene or the human DGCR8 cDNA and carrying out Southern hybridization or a quantitative PCR (polymerase chain reaction) of the chromosomal DNA extracted from the object of testing.例文帳に追加

ヒトＤＧＣＲ８遺伝子を含む染色体ＤＮＡまたはヒトＤＧＣＲ８ｃＤＮＡを単離し、検査対象から抽出した染色体ＤＮＡに対し、サザン・ハイブリダイゼーションや定量的ＰＣＲを行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and a control method of a semiconductor memory device by which a testing time can be shortened at the time of a test, while keeping low current consumption operation at the time of normal access operation.例文帳に追加

通常のアクセス動作時における低消費電流動作を維持しながら、試験時において、試験時間を短縮することが可能な半導体記憶装置及び半導体記憶装置の制御方法を提供すること - 特許庁

To provide a method and a device for testing a relationship between an axial load applied on a rotary shaft such as a main spindle 2 after the start of use and the output signal of a sensor unit 7 disposed to obtain the axial load.例文帳に追加

使用開始後に、主軸２等の回転軸に加わるアキシアル荷重と、このアキシアル荷重を求める為に設けたセンサユニット７の出力信号との関係を検定する方法及び装置を実現する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing a model structure, which can test physical phenomena occurring when a mobile object moves in a structure, by using a simple model, and to provide the model structure.例文帳に追加

構造物内を移動体が移動する際に発生する物理現象を簡単な模型によって試験することができる模型構造物の試験装置とその試験方法及び模型構造物を提供する。 - 特許庁

To provide a monitor and a method for monitoring an optical path, which specify the optical path where a trouble is generated, even when splitters and terminal devices are multi-stage connected by the optical path in a testing device.例文帳に追加

試験装置に、スプリッタ、終端装置が光線路により多段接続されている場合であっても、障害が発生した光線路を特定することができる光線路監視装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a tire durability testing method capable of effectively and precisely reproducing and evaluating the internal failure tend to occur in the pneumatic tire mounted on the vehicle running continuously in a comparatively hot area.例文帳に追加

比較的暑い地域で連続走行する車両に装着される空気入りタイヤに発生しがちな内部故障を効率的に精度良く再現評価することが可能なタイヤ耐久試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a handheld analyzer for testing a sample for a medically significant component, and a method for causing the handheld analyzer to operate in such a way as to reduce the possibility of malfunctions or operating errors.例文帳に追加

試料の医療上有意な成分を検査するための手持ち式分析装置、およびそのような手持ち式分析装置を、故障または誤作動の可能性が低くなるように動作させる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic head test device and test method capable of testing the characteristic of a magnetic head with higher precision, and of heightening the quality of the magnetic head by allowing electromagnetic waves to act on the magnetic head.例文帳に追加

磁気ヘッドに電磁波を作用させることによって、磁気ヘッドの特性をさらに精度よく試験することができ、磁気ヘッドの品質向上を図ることができる磁気ヘッドの試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a portable twisting tester for simply measuring the elastic constant and twisting strength of an existing structure and an elastic constant/twisting strength testing method, using a twist to measure the elastic constant and destruction constant of the existing structure on the spot, in real time.例文帳に追加

本発明は、既存構造物の弾性定数とねじり強度とを簡易に測定する携帯型ねじり試験器およびねじりを利用した弾性定数とねじり強度の試験方法に関する発明である。 - 特許庁

To provide a device power supply system for a semiconductor tester to suppress variation in power supply voltage for a testing-object semiconductor device without consuming extra current, and also to provide a voltage correction data generating method.例文帳に追加

余分な電流を消費することなく試験対象の半導体デバイスの電源電圧の変動を抑えることのできる半導体試験装置用デバイス電源システムおよび電圧補正データ生成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method of a semiconductor device capable of performing a test, while optional one of a plurality of semiconductor devices is pressed onto a contactor from the back side.例文帳に追加

本発明は、複数の半導体装置のうち任意の一つを背面側からコンタクタに対して押圧しながら試験を施すことができる半導体装置の試験装置及び試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a method for testing the detection voltage level kept by the voltage detection circuit of the semiconductor voltage detection circuit with a small number of DC measurement units for the semiconductor integrated circuit with a built-in voltage detection function.例文帳に追加

電圧検出機能を内蔵した半導体集積回路において、その半導体集積回路の電圧検出回路が保持する検出電圧レベルを少ないＤＣ測定ユニットで検査する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a timing correction device, a timing correction method, and a device evaluation device provided with the timing correction device capable of supplying correction data of highly accurate timing calibration even to a testing device of tester pin branching.例文帳に追加

テスタピン分岐の試験装置に対しても高精度なタイミングキャリブレーションの補正データを供給することができるタイミング補正装置、タイミング補正方法及びタイミング補正装置を備えたデバイス評価装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test method and a semiconductor testing device capable of determining propriety of each level and timing of differential signals Pos and NegPos individually, relative to DUT having a differential output Pos/Neg.例文帳に追加

差動出力Ｐｏｓ／Ｎｅｇを有するＤＵＴについて、差動信号ＰｏｓとＮｅｇＰｏｓのレベルとタイミングの良否を個別に判定できる半導体試験方法および半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

This method uses control valve (28) positions as feedback into a compensation algorithm to minimize flow disturbance caused by the closing and reopening of a turbine control valve (28) during periodic operational testing.例文帳に追加

本発明の方法は、制御弁（２８）位置を補償アルゴリズムへのフィードバックとして使用して、周期的動作試験中のタービン制御弁（２８）の閉じおよび再開によって引き起こされる流れの乱れを最小限に抑える。 - 特許庁

To provide a method for improved diagnosis of medically relevant conditions by solution-based biochemical testing procedures that is performed in test sample solutions.例文帳に追加

本発明は、試験試料溶液中でおこなわれる溶液ベースの生化学試験手順によって、医学的に関連した状態を、さらに改善されたかたちで診断するための方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for testing and evaluating industrial machine components, particularly gas turbine engine components, under simulated in-situ thermal operating conditions to efficiently evaluate new component designs and repair techniques.例文帳に追加

産業用機械、特にガスタービンエンジンの部品を模擬現場熱作動条件下で試験及び評価する、新品部品の設計及び補修技術を効率的に評価するための装置及び方法を提供する。 - 特許庁

This method of testing IC package which is performed for evaluating the reliability of semiconductor packages 10 includes a step of performing thermal resistance tests on the packages 10.例文帳に追加

上記課題は、半導体パッケージ１０の信頼性を評価する試験方法であって、半導体パッケージ１０の熱抵抗試験を行う工程を有することを特徴とする半導体パッケージの試験方法にて解決される。 - 特許庁

To provide a method of testing semiconductor package by which all objective IC packages can be judged quantitatively by performing thermal resistance inspections on the packages regardless of design assurance.例文帳に追加

本発明の課題は、ＩＣパッケージの熱抵抗検査を設計保証によらず行うことによって、対象となるＩＣパッケージの全数を定量的に判断することのできるＩＣパッケージの試験方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing method capable of securing reliability to rated voltage of a semiconductor without thermal runaway of the semiconductor in a reliability test where voltage is applied in the reverse direction of semiconductor having pn junction.例文帳に追加

ｐｎ接合を有する半導体の逆方向に電圧を印加する信頼性試験において、該半導体を熱暴走させることなく半導体の定格電圧に対する信頼性を保証できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a compact and simple rubbing color fastness tester for testing a color fade of fabric based on a rubbing tester defined in a rubbing color fastness test method (JISL0849).例文帳に追加

本発明は、摩擦に対する染色堅牢度試験方法（ＪＩＳＬ０８４９）に規定されている摩擦試験機にもとづき、繊維の色落ちの検査を行う小型の簡易摩擦染色堅牢度試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for fluorescent magnetic particle testing which enables an enhancement of detection precision while avoiding the scaling-up the device and an enhancement of the dustproof properties of an electronic equipment system.例文帳に追加

装置の大型化を回避しつつ検出精度を向上させることができるとともに、電子機器系統の防塵性を向上させることができる蛍光磁粉探傷方法および蛍光磁粉探傷装置を提供する。 - 特許庁

To simplify production work to enhance the productivity, and to enhance the production accuracy for a microreactor chip, for a method for testing a chemical reaction, and for a thin film material for the microreactor chip.例文帳に追加

マイクロリアクタチップ，化学反応試験方法及びマイクロリアクタチップ用薄膜部材において、製作作業を簡便化して生産性を向上させることができるとともに、製作精度を向上させることができるようにする。 - 特許庁

To provide a block failure detecting method and a burn-in testing device therefor in a burn-in test capable of reducing mistakes in determining block failure and operator burdens, and of shortening a retest time.例文帳に追加

ブロック不良の誤判定の削減、オペレータの負担の削減および再試験時間の短縮を可能とするバーンイン試験におけるブロック不良検出方法およびそのためのバーンイン試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test procedure for a temperature rise of a transformer that can highly precisely estimate a winding temperature when testing a temperature rise in a single transformer with many secondary windings by a short-circuit method even if a short-circuit current may not pass 100% through all the secondary windings.例文帳に追加

多数の２次巻線をもつ変圧器単体の短絡法による温度上昇試験に、全２次巻線にＩ００％短絡電流が流れない場合にも高い精度で巻線温度を推定できる。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device including a temperature detection function for detecting a predetermined temperature with little variation and optimizing an operation condition according to the detected predetermined temperature.例文帳に追加

所定温度をばらつき少なく検出し、検出された所定温度に応じて動作状態を最適化する温度検出機能を備えた半導体装置の試験方法を提供することを目的とすること - 特許庁

To provide a useful method for delivering substances useful in the diagnosis, prognosis, testing, screening, treatment, or prevention of a pathological condition, e.g. a disease, in living organism, such as a human, a plant, or an animal.例文帳に追加

病態(例えば、ヒト、植物、または動物などの生体における疾患)の診断、予後診断、試験、スクリーニング、治療、または予防に有用な物質の送達に有用な方法およびリポソーム組成物の提供。 - 特許庁

To provide a method for testing an acuiclude earth material which can quickly execute various kinds of characteristic tests in a moisture-saturated state without containing air by surely completing a moisture saturating process in a short time.例文帳に追加

水分飽和の過程を短時間で確実に完了させて、空気の含有が無い水分飽和の状態で各種特性試験を迅速に実施することができる難透水性土質材料の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a diagnostic method dispensing with reloading a test pattern after diagnosis, and capable of shortening the time required from the finish of the diagnosis to the start of mass production, and to provide a semiconductor testing device that uses the same.例文帳に追加

診断後に試験パターンを再ロードする必要がなく、診断終了から量産開始までにかかる時間を短縮することが可能な診断方法及びこれを用いた半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a test circuit structure capable of executing the test of an I/O part and the test of an internal test in parallel in order to shorten the testing time in a semiconductor integrated circuit equipped with scan test function, and a test method therefor.例文帳に追加

スキャンテスト機能を備えた半導体集積回路において、テスト時間短縮のため、Ｉ/Ｏ部のテストと内部回路のテストの並列実行が可能なテスト回路構成やそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To measure and evaluate before formation of a thin deposition film, behaviors of a weblike plastic film under various conditions in vacuum inside a film testing machine in the weblike plastic film formed thereon with the thin deposition film by a chemical vapor deposition method(CVD) or the like, grasp the optimum film-forming condition based on a measuered result provided by the testing machine, and form the stable thin deposition film.例文帳に追加

化学気相成長法（ＣＶＤ）等により蒸着薄膜を成膜させるウェブ状プラスチックフイルムを薄膜形成前に、フイルム試験機内で真空中の各種条件下でのフイルムの挙動を測定、評価出来るようにし、該フイルム試験機で得られた測定結果を基に成膜の最適条件を把握し、安定した蒸着薄膜を形成させることを可能にすることである。 - 特許庁

A testing method includes the steps of: creating design specifications 11 and 12 indicating a plurality of individual specifications and a plurality of common specifications distinguishably; causing a computer to execute the operation of generating test specifications and test data from the design specifications 11 and 12; and testing a program created according to the design specifications 11 and 12 on the basis of the test specifications and test data.例文帳に追加

複数の個別仕様と複数の共通仕様とを判別可能に示す設計書１１、１２を作成するステップと、設計書１１、１２に基づいてテスト仕様書とテストデータとを生成する動作をコンピュータに実行させるステップと、設計書１１、１２に基づいて作成されたプログラムをそのテスト仕様書とそのテストデータとに基づいてテストするステップとを備えている。 - 特許庁

A method for generating, by an electronic circuit, at least one prime number by testing the primality of successive candidate numbers for asymmetric encrypted algorithm of RSA type includes a step (43) of testing, for each candidate number, primality with respect to prime numbers of at least one set of consecutive prime numbers, wherein the order of application of the tests is modified at least from one prime number generation to another.例文帳に追加

RSA タイプの非対称暗号化アルゴリズムのために連続した候補数の素数性を判定することにより少なくとも１つの素数を電子回路により生成する方法は、候補数毎に、少なくとも一組の連続した素数に対して素であるか否かを判定するステップ(43)を備えており、判定する順番を、少なくとも一の素数生成で変更する。 - 特許庁

In the testing device for the safety evaluation testing method, a nail penetration test for an Li ion battery unit 3 is carried out within a container 2 for nail penetration, the container being filled with Ar gas, the gas generated in the Li ion battery unit 3 during this nail penetration test is accumulated within the container 2 for nail penetration, and the gas is moved from the container 2 for nail penetration to a buffer tank 80 through piping 70.例文帳に追加

Ａｒガスを満たした釘刺し用容器２内でＬｉイオン電池ユニット３の釘刺し試験を行ない、この釘刺し試験中にＬｉイオン電池ユニット３から発生したガスが釘刺し用容器２内に蓄積されるとともに、釘刺し用容器２から配管７０を通ってバッファタンク８０にも移動されるように構成されていることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a bolt testing machine installing device for a roof and its installation method, to be put in a stable installation state on an existing slate roof so that a worker can safely operate a bolt testing machine for the roof for measuring whether or not an existing hook bolt has strength endurable against reuse, for leaving the existing slate roof as it is, in roof remodeling work.例文帳に追加

屋根改修工事において、既設スレート等屋根をそのままにするために、前記既設フックボルトが再利用に耐え得る強度を有しているか否かを測定するための屋根用ボルト試験機を作業員が安全に操作することができるように、既設スレート等屋根上に安定した設置状態にする屋根用ボルト試験機の取付装置及びその設置方法とすること。 - 特許庁

To provide a simple and efficient method for measuring the size of coke cake particles and the number of cracks on coke cakes in a coal dry distillation testing furnace, by measuring directly the surface profile without decomposition of coke cakes derived from the coal dry distillation testing furnace to thereby determine the number of cracks on the coal cakes and additionally to determine the coke particle diameter from the number of cracks.例文帳に追加

石炭乾留試験炉でのコークス粒度及びコークスケーキの亀裂数の測定を、石炭乾留試験炉で乾留して得られたコークスケーキを解体せずに直接その表面形状を測定することによりコークスケーキの亀裂数を求め、さらにこの亀裂数からコークス粒径を求めるコークス粒度及びコークスケーキの亀裂数の簡易且つ効率的な測定方法を提供する。 - 特許庁

This testing method comprises calculating the shape characteristic of the solder paste from the image data of the fillet forming spot by use of the above testing device, and measuring the time required until the shape characteristic is laid in a prescribed stable state from the time of starting the melting of the solder paste or the time of reaching substantially the same temperature as the liquid phase line temperature for the solder paste.例文帳に追加

試験方法は、上記試験装置を用い、フィレット形成個所の画像データよりはんだペーストの形状特性を算出し、はんだペーストが溶融し始めた時点、または前記はんだペーストについての液相線温度と実質的に同一の温度に到達した時点から、前記形状特性が所定の安定状態に至るまでに要する時間を測定する。 - 特許庁