「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(96ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a spring limit value testing device and an efficient spring limit value measurement method for reducing a sample cost, working man-hours and a working time while securing accuracy of data.例文帳に追加

データの正確性を担保しつつ試料コストの削減が図れ、且つ作業工数および作業時間を軽減したばね限界値試験機および効率的なばね限界値測定方法を提供する。 - 特許庁

To establish a test method eliminating the effect of reduction in conducting a heating test for baked and densified stability evaluation of gadolinia-added uranium dioxide pellets and prevent the increase of testing cost.例文帳に追加

ガドリニア添加二酸化ウランペレットの焼きしまり安定性評価のための加熱試験を行う場合に、還元による影響を排除する試験方法を確立すると共に、試験コストの増加を防止すること。 - 特許庁

To provide the inspecting method of semiconductor device which can measure in direct carrier distribution at the cross-section of a semiconductor testing sample using a scanning probe microscope without cutting out a thin semicoductor test sample.例文帳に追加

半導体試料を薄く切り出さずに、該半導体試料の断面におけるキャリア分布を走査型プローブ顕微鏡により直接測定することが可能な半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for testing a noise reduction performance of a drainage pavement which tests the noise reduction performance without use of an expensive measuring vehicle in a high S/N ratio in real time.例文帳に追加

高価な測定車両を用いることなく、高いＳ／Ｎ比で騒音低減性能をリアルタイムに試験することができる排水性舗装の騒音低減性能試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor storage device capable of efficiently discriminating a memory cell having disturbance generation possibility and discriminating defective products, and to provide a test program and the semiconductor storage device.例文帳に追加

ディスターブが生じる可能性のあるメモリセルを効率よく判定することができ、不良品を判定できる半導体記憶装置の試験方法、試験プログラム及び半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing the fracture toughness of a thin-walled pipe material which can easily perform a three-point bending test by fixing a holding member to the test piece sampled from the thin-walled pipe material.例文帳に追加

薄肉管材から採取した試験片に対し、保持部材を固定することにより、容易に３点曲げ試験を行うことができる薄肉管材の破壊靭性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test device and a test method which are capable of reliably testing heat resistance, peel strength, or the like of an adhesive sheet adhered to a concave surface in a stretched state.例文帳に追加

粘着性シートが凹曲面に伸長状態で接着された状態における粘着性シートの耐熱性や剥がれ強さ等を確実に試験できる試験装置と試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor memory device, which detects a minute defect in an SRAM memory cell without finely controlling a voltage or excessively increasing measuring time.例文帳に追加

電圧を細かく制御させることなく、かつ測定時間を極端に増大させることなく、ＳＲＡＭメモリセルの微小欠陥を検出可能な半導体記憶装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a smoke sensor and a smoke sensor testing method which safely and easily performs general tests of a fire alarm system having the smoke sensor attached to a high ceiling.例文帳に追加

加煙感知器が高天井に設置された火災警報システムの総合試験を地上で安全かつ容易に行うことができる加煙感知器および加煙感知器の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing device and a test method capable of shortening furthermore a time required for a burn-in test, and hereby reducing a manufacturing cost of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

バーンイン試験に要する時間を更に短縮することができ、ひいては半導体集積回路の製造コストを低下させることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for testing semiconductor device by which the reliability parameters of wiring can be found individually and accurately at conducting of reliability evaluation tests on the wiring in the state of a wafer.例文帳に追加

ウェハ状態での配線の信頼性評価試験において、配線の信頼性パラメータを個別にかつ正確に求めることができる半導体装置の試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method for automatic failure testing of macro-interface having a logical block and a logic gate in a chip which uses an at-speed logic built in self test circuit inside the chip.例文帳に追加

チップの内部にあるアットスピードの論理ＢＩＳＴ回路を用いた、論理ブロックおよびチップ内の論理ゲートを持つマクロのインタフェースの自動的な故障テストのためのシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing an igniter 40 joined to the inside of a gas turbine engine 10 including a combustor 20, a pressure converter 44 joined to the combustor 20, and a spark detector 42.例文帳に追加

燃焼器（２０）、該燃焼器（２０）に結合された圧力変換器（４４）、及びスパーク検出器（４２）を含むガスタービンエンジン（１０）内部に結合された点火器（４０）をテストする方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for testing a circuit component for performing a load test at an optional timing without depending on the timing of a test signal to a circuit component as an object to be tested.例文帳に追加

被試験体である回路部品に対して試験信号のタイミングに依存することなく任意のタイミングで負荷試験を行うことができる回路部品試験装置および方法を提供する - 特許庁

To provide a method for testing a fault existing in an electrocasting belt to increase manufacturing efficiency for a fixing belt and realize the high durability and high quality fixing belt.例文帳に追加

定着ベルトの製造効率を高めると同時に、高耐久性かつ高品質な定着ベルトを実現するために必要な、電鋳ベルトに存在する欠陥をあらかじめ検査できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a burn-in method for an integrated semiconductor laser device that can constantly hold temperatures of a plurality of semiconductor laser elements when they are to be tested respectively and can shorten a testing time.例文帳に追加

複数の半導体レーザ素子のそれぞれの試験時の温度を均一に保持し且つ試験時間を短くすることができる集積型半導体レーザ装置のバーンイン方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for testing lymph node metastasis in cervical cancer which can determine the presence of lymph node metastasis in cervical cancer with higher accuracy, a device for determining lymph node metastasis in cervical cancer and a computer program.例文帳に追加

子宮頸癌のリンパ節転移の有無をより高い精度で判定することができる子宮頸癌のリンパ節転移の検査方法、子宮頸癌のリンパ節転移判定装置およびコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a subject control method capable of holding the vertical stress applied to the shearing surface of a material test piece vertically to an almost constant state and a material testing device.例文帳に追加

材料試験片の剪断面に垂直に加わる垂直応力を略一定な状態に保つことができる材料試験装置における制御方法および材料試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a memory test method for a semiconductor integrated circuit in which a testing cost is reduced without providing an exclusive circuit for a memory test to perform a self-test of a memory incorporated in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路に内蔵されたメモリの自己テストのためにメモリテスト専用回路を設けることなく、低コスト化を図った半導体集積回路のメモリテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for evaluating segregation resistance of fresh concrete with a slump value of 18-23 cm which can be easily conducted by using a simple apparatus or device.例文帳に追加

簡単な器具ないし装置を用いて容易に実施することのできる、スランプ値が１８〜２３ｃｍのコンクリートのフレッシュ時の材料分離抵抗性を評価するための試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing nuclear fuel pellets which enable accurate and efficient tests on the whole surface of them without being affected by inspectors'vision and the like.例文帳に追加

原子力燃料ペレットの全表面を検査員の視力等によって影響されることなく正確に効率良く検査することのできる原子力燃料ペレット検査方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method capable of checking the characteristic of a DLL circuit resulting from an internal operation of an integrated circuit device having a built-in DLL circuit, and to provide an integrated circuit device allowing the test.例文帳に追加

ＤＬＬ回路を内蔵する集積回路装置の内部動作に起因するＤＬＬ回路の特性をチェックできる試験方法及びかかる試験ができる集積回路装置を提供する。 - 特許庁

In the method of ultrasonically testing the welding joint, the joint 12 is irradiated with ultrasonic waves from two focusing probes 8, 9 disposed oppositely on matrixes 10, 11 via the joint 12, for angle beam detection.例文帳に追加

溶接継手１２を挟んで母材１０、１１上に対向配置させた２つの集束超音波探触子８、９から上記溶接継手１２に対して各々、超音波を発射して斜角探傷する。 - 特許庁

To improve sensor testing method so as to use a signal for expressing a parameter to be measured at a very short time interval even when inspecting a sensor without interruption or relatively large interruption.例文帳に追加

センサが中断なしでまたは比較的に大きな中断なしで検査される場合でも、非常に短い時間間隔で、測定すべきパラメータを表す信号が使用されるように改善することである。 - 特許庁

To provide a method of ultrasonically testing a welding joint capable of detecting a defect existing in the joint with high reliability by efficiently judging and deciding a defect echo and a shape echo from a welding margin.例文帳に追加

欠陥エコーと溶接余盛からの形状エコーとを効率的に識別判定して溶接継手に存在する欠陥を信頼度高く検出できる超音波探傷方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for testing corrosion capable of accurately evaluating long-term reliability with respect to corrosion that depends on the installation environment of electronic devices, while reflecting and atmospheric corrosion environment, and to provide a device therefor.例文帳に追加

電子機器等の設置環境に依存して生じる腐食に対する長期的な信頼性を、大気腐食環境を反映しつつ的確に評価しうる腐食試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer in which the internal circuit of a chip is not short-circuited when a test pad is provided in a scribe region and the number of test pads can be reduced, and to provide a method for testing a semiconductor wafer.例文帳に追加

テストパッドをスクライブ領域に設けた場合に、チップの内部回路の短絡を生じないと共に、テストパッド数を削減できる半導体ウェハおよび該半導体ウェハのウェハテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a call-processing load test apparatus and a method therefor, enabling easy call-processing load testing, in which all radio resources are used uniformly, even when a base station is provided with a large amount of radio resources.例文帳に追加

基地局装置の無線リソースが多い場合でも、全無線リソースを均等に使用する呼処理負荷試験を容易に行うことができる呼処理負荷試験装置及び方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a performance evaluation method of a processed oil that allows the evaluation result of a laboratory level in a simplified testing machine to be adapted to the finishing machine of an actual machine, is precise and reliable, and has short test evaluation time.例文帳に追加

簡易型試験機による実験室レベルの評価結果が、実機の加工機に適応でき、精度および信頼性が高く、試験評価時間の短い加工油の性能評価方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a probe contactor that is used for testing semiconductor wafer, LSI package, printed-circuit board, and the like being formed on the flat surface of a substrate by a photolithography technique, and a method for forming a contactor.例文帳に追加

基板の平面上にフォトリソグラフィ技術により形成した、半導体ウエハ，ＬＳＩパッケージ、プリント回路基板等をテストするために用いるプローブコンタクタ及びコンタクタを形成する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing the conversion characteristics artificially in the case of a high speed operation of an ADC (analog to digital converter) without actually operating the ADC at high speed, and to provide its test method.例文帳に追加

実際にＡＤＣを高速動作させることなく、その高速動作時の変換特性を疑似的にテストすることができる半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a service life testing device for a bearing capable of realizing a long service life of a rolling bearing by acquiring establishment of a service life evaluation method in a slip generation domain, stability and high reliability.例文帳に追加

滑り発生領域での寿命評価法の確立、安定性、高信頼性を得ることにより転がり軸受の長寿命を図ることができる軸受用寿命試験装置を提供する。 - 特許庁

The method comprises testing the complementarity between a nucleic acid immobilized on the surface of a substrate and a target nucleic acid in such a condition that the nucleic acid immobilized on the surface of the substrate and the target nucleic acid are hybridizable with each other.例文帳に追加

基板表面に固定化された核酸とターゲット核酸とをハイブリダイゼーション可能な状態に置いて、基板表面に固定化された核酸とターゲット核酸との相補性を試験する方法。 - 特許庁

To provide an oil absorbency testing method of paper and cardboard for measuring the oil absorbency of paper and cardboard for a short period of time without causing the measuring error due to the judge error of a final point, and also to provide an oil absorbency tester therefor.例文帳に追加

紙及び板紙の吸油度を短い時間で測定し、且つ終点判定の誤差による測定誤差を生じない紙及び板紙の吸油度試験方法及び吸油度試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide the acceleration testing method of a computer for specifying a part where any failure is generated by reducing the reproducing period of any latent failure such as memory leak due to memory release leakage.例文帳に追加

メモリ解放漏れによるメモリリークなど潜在的な不具合は、不具合を持ったプログラムを計算機上で長期間動作させることではじめて顕在化するため、再現試験に長期間を要する。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor deterioration acceleration testing method and equipment, in which unevenness in the deterioration of an electrophotographic photoreceptor and unevenness in discharge are suppressed and uniform and sufficient charging can be given.例文帳に追加

電子写真感光体の劣化ムラ、放電ムラを抑制し、均一かつ充分な帯電を与える事が出来る電子写真用感光体劣化加速試験方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an integrated circuit which cannot be reverse-engineered easily by a third party, to provide a testing method for the integrated circuit, and to provide an integrated-circuit component.例文帳に追加

本発明は、第３者が容易にリバースエンジニアリングを行うことができない良好な集積回路と、この集積回路の試験方法及び、集積回路部品とを提供することを目的とする。 - 特許庁

In a solid cancer testing method, subjects are determined to suffer from solid cancers in the case that α1-antitrypsin (α1-AT^52) having a molecular weight of 52KDa has been detected in their urine.例文帳に追加

本発明は、分子量５２ＫＤａのα１−アンチトリプシン（α１−ＡＴ^５２）が尿中に検出された場合に固形癌に罹患していると判定する、固形癌の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing run-flat durability evaluation with the inputs to a tire being approached that of a general road so as to properly perform a traveling test of pneumatic rubber run-flat tire with safety wheels.例文帳に追加

中子式ランフラットタイヤの走行試験を適切に行うことができるように、タイヤへの入力を一般路に近づけたランフラット走行耐久性評価試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To prevent the operating efficiency of a tester from decreasing and to prevent the wafer map of the measuring device of a semiconductor wafer from deviating even in a wafer without any target patterns in wafer-testing device and method.例文帳に追加

ウェハテスト装置およびウェハテスト方法において、テスタの稼働率を低下させることなく、タ−ゲットとなるパタ−ンの無いウェハでも半導体ウェハの測定装置のウェハマップずれが生じさせない。 - 特許庁

To provide a reliability testing device and a reliability test method capable of performing a reliability test in a comparatively short time at low cost, and having a small error of an estimated value based on the test result.例文帳に追加

信頼性試験を比較的短時間で低コストに行うことができ、また、試験結果に基づく推定値の誤差が少ない信頼性試験装置および信頼性試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing a droplet ejecting head, capable of finding out a failure which could not be found in the past early by laying the head in a state equal to the actual using state.例文帳に追加

実際と同様の使用状態にすることで従来では発見できなかった不良を早期に発見することができる液滴吐出ヘッドの試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical pulse testing device and its adjusting method capable of adjusting light-receiving sensitivity of a light-receiving part for receiving back scattered light, regardless of the change in the ambient temperature, to desired light-receiving sensitivity.例文帳に追加

周囲温度の変化に拘わらず後方散乱光を受光する受光部の受光感度を所望の受光感度にすることができる光パルス試験装置及びその調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor crystal defect testing method, etc. which uses cathode luminescence (CL) that enables checking of the measurement position at a high spacial resolution, and a sample analysis at a high spacial resolution.例文帳に追加

高空間分解能で測定位置の確認ができ、且つ高空間分解能で試料分析ができるカソードルミネッセンス（ＣＬ）を用いた半導体結晶欠陥検出方法等を提供する。 - 特許庁

To provide a defect tolerance evaluation method for a structure within a reactor accurately carrying out defect tolerance evaluation by using material testing data obtained from a sample taken from an evaluation object portion itself.例文帳に追加

評価対象部位そのものから採取したサンプルから得られた材料試験データを用いて精度よく欠陥裕度評価を行う炉内構造物の欠陥裕度評価方法を提供する。 - 特許庁