「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(98ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a mobile communication testing device and method which can confirm normal operations of a packet data call process function, containing a wireless section of a base station wireless installation in a mobile communication system, and can estimate fault position.例文帳に追加

移動通信システムにおける基地局無線装置の、無線区間を含めたパケットデータ呼処理機能の正常動作確認ができ、更に障害位置の推測を可能にする移動通信試験装置及び方法の提案。 - 特許庁

To provide a semiconductor device wherein a test voltage of a gate withstand voltage is not restricted by a clamping voltage of a protection element, without having to enlarge chip size to the utmost, and to provide its testing method.例文帳に追加

本発明の課題は、極力、チップサイズを大きくすることなく、ゲート耐圧のテスト電圧が保護素子のクランプ電圧の制約を受けることのない半導体装置およびそのテスト方法を提供することである。 - 特許庁

To provide an IC package tray, an IC test apparatus and its test method, which can test electrical properties of an IC package without transferring ICs from an IC carrying package tray to an IC testing package tray.例文帳に追加

搬送用ＩＣパッケージトレイからテスト用ＩＣパッケージトレイにＩＣを移載することなく、ＩＣパッケージの電気的特性のテストを行うことができるＩＣパッケージトレイ、ＩＣテスト装置およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

The water absorption speed testing method: including putting 0.5 g water absorbing resin into a 100 ml container at 20°C followed by putting 50 g tap water thereinto at one time, and measuring a time (s) until the whole gels by 10 seconds.例文帳に追加

吸水速度試験法：２０℃において、吸水性樹脂０．５ｇを１００ｍｌ容器に入れ、その中に水道水５０ｇを一度に入れ、全体がゲル化するまでの時間（秒）を１０秒単位で測定する。 - 特許庁

When a slump testing method regulated by JIS(Japanese Industrial Standard) A1173 is applied to the material 25 to be cast in the water, slump can indicate a value of 0.5-2.0 cm.例文帳に追加

然も、この材料は、水中に投入するときの該材料２５に対しＪＩＳ（日本工業規格）Ａ１１７３で規定されているスランプ試験方法を実施した場合のスランプが、０．５ｃｍ以上２．０ｃｍ以下の値を示す。 - 特許庁

The method of simulating the surface acoustic wave (SAW) on a structure that is modeled on a computer or other processor-based device enables the testing of actual SAW devices or to develop improved SAW devices.例文帳に追加

コンピュータ又はその他のプロセッサベースのデバイス上でモデル化された構造体上の表面弾性波（SAW）をシミュレートする方法は、実際のSAWデバイスの試験を可能にするし、或いは改善されたSAWデバイスの開発を可能にする。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing a rotary balance of a crankshaft which facilitates an automation of a measurement and which can precisely measure the rotary balance of the crankshaft even when an error is included in a phase of a crank pin.例文帳に追加

測定の自動化が容易であり、かつクランクピンの位相に誤差が含まれている場合であってもクランク軸の回転バランスを正確に測定可能なクランクバランス試験装置および試験方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a nondestructive method and a nondestructive apparatus for testing a ceramic coating film, which can test cracks causing separation of the ceramic coating film and measure the thickness of the ceramic coating film.例文帳に追加

セラミックス被覆材の剥離を引き起こし得る亀裂の検査と、好ましくはセラミックス被覆材の膜厚の測定も行うことができるセラミックス被覆材の非破壊検査法及び非破壊検査装置を提供する。 - 特許庁

In the testing method for the nonvolatile memory device, test data are stored and held in a buffer in the semiconductor memory device when a test is conducted instead of loading the test data from outside each time memory cells are programmed.例文帳に追加

本発明の不揮発性メモリ装置のテスト方法は、テスト時に、メモリセルがプログラムされるとき毎にテストデータを外部からローディングしてくる代わりに、テストデータを半導体メモリ装置の内部のバッファに貯蔵して置く。 - 特許庁

To enable execution of probe cleaning and contact check or the like during measurement of a wafer in the wafer testing step for a wafer fixing jig and a manufacturing method of semiconductor device.例文帳に追加

本発明はウエハ固定治具および半導体装置の製造方法に関し、ウエハテストの工程において、ウエハの測定途中にプローブのクリーニングやコンタクトチェック等を実施することを可能とすることを目的とする。 - 特許庁

The method uses control valve (28) positions as feedback into a compensation algorithm to minimize flow disturbance caused by the closing and reopening of a turbine control valve (28) during periodic operational testing.例文帳に追加

本発明の方法は、制御弁（２８）位置を補償アルゴリズムへのフィードバックとして使用して、周期的動作試験中のタービン制御弁（２８）の閉じおよび再開によって引き起こされる流れの乱れを最小限に抑える。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which is capable of performing measurement of a continuous current waveform in one DC module in addition to conventional measurement without changing a measurement method, when measuring a voltage application current.例文帳に追加

電圧印加電流測定時において、測定手法を変更することなく、従来の測定に加えて、１つのＤＣモジュールでの連続的な電流波形も測定することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor element where a probe for testing hardly protrudes from an external electrode even if adjacent semiconductor element regions (IC region) are simultaneously inspected, and to provide a semiconductor wafer and a method of manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加

隣接した半導体素子領域（ＩＣ領域）を同時に検査しても、検査用のプローブが外部電極から食み出し難くい、半導体素子、半導体ウエハ、及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an accelerated exposure testing method and apparatus capable of making the period of time required for a test shorter than if an accelerated exposure test is conducted by conventional artificial means.例文帳に追加

本発明は、従来の人工的手段による促進暴露試験の場合よりも、試験に要する期間（時間）を短縮できる促進暴露試験方法および促進暴露試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a probe card, and a method for testing an electronic circuit device using the same which can be used in a test of a wide range of electronic circuit devices, prevents probes from contacting and crossing each other, and is not affected by an electromagnetic wave.例文帳に追加

広範囲の電子回路デバイスの検査に使用でき、プローブ同士が接触、混線することがない、また、電磁波の影響を受けないプローブカード、及びこれを用いた電子回路デバイスの検査方法を提供。 - 特許庁

To provide a testing device, a method and a test piece capable of preventing deformations or cracks caused by a local high-gradient temperature distribution, even if it is subjected to high-frequency induction heating, and properly evaluating thermal fatigue strength.例文帳に追加

高周波誘導加熱されても、局所的な急勾配の温度分布による変形や亀裂を防止することができ、適正に熱疲労強度評価できる試験装置、方法およびテストピースを提供する。 - 特許庁

The crack development testing method has a crack-forming process for forming the crack 2 in a test piece 1 and a holding process for holding the test piece 1, while applying definite displacement to the test piece 1 in a direction 4 vertical to the extending direction of the crack 2.例文帳に追加

き裂進展試験方法は、試験片１に、き裂２を形成するき裂形成工程と、試験片１に、き裂２が延びる方向に垂直な方向４に一定の変位を加えたまま保持する保持工程と、を有する。 - 特許庁

To provide a flushing occurrence testing device of powder and grain and a flushing occurrence prediction method of the powder and grain capable of predicting flushing occurrence of the powder and grain more accurately in consideration of a gap size and a differential pressure.例文帳に追加

間隙の大きさおよび差圧を考慮して、より正確に粉粒体のフラッシング発生の有無予測を可能とする、粉粒体のフラッシング発生試験装置および粉粒体のフラッシング発生予測方法を提供する。 - 特許庁

The recognition belt is manufactured by using a resin film having JIS A hardness of 60 to 120, 100% attraction stress of 6 to 12 MPa and elongation of 500 to 700% in a testing method of JIS K 7311.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｋ ７３１１の試験方法において、６０〜１２０ＪＩＳ Ａの硬さ、６〜１２ＭＰａの１００％引力応力、および５００〜７００％の伸びを有する樹脂フィルムを用いて、認識ベルトを製造する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of performing a test in a state that a maximum delay occurs in data transfer because a maximum load is applied to a bus, and to provide a maximum delay testing method of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

バスに最大負荷がかかり、データ転送に最大の遅延が生じた状態でのテストを可能にする半導体集積回路及び半導体集積回路の最大遅延試験定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a device and a method for inserting an additional delay time to the timing data of a specific event in an event type semiconductor test system for testing an electronic device to be tested by generating events of various timing.例文帳に追加

各種のタイミングのイベントを発生して被試験電子デバイスをテストするためのイベント型半導体テストシステムにおいて、特定のイベントのタイミングデータに追加の遅延時間を挿入する装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a forming workability evaluation system and its method capable of eliminating variation due to difference of experience of a person and estimating direct scale-up from a small-sized extrusion testing machine to a production machine.例文帳に追加

人の経験の違いによるバラツキを無くすことができると共に、小型の押出試験機からも生産機へ直接スケールアップ予測を行うことができる成形加工性評価システム及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for attaching an electronic component which can prevent an occurrence of a defective board by testing whether or not an area for attaching a large-sized electronic component is normal before the large-sized electronic component is attached thereto.例文帳に追加

大型電子部品を装着する前に大型電子部品を装着する領域が正常であるか否かを検査することにより、不良基板の発生を防止できる電子部品の装着方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit having a test response analysis circuit, capable of controlling increase in area and increase in the data required for the test, and to provide a method for testing delay fault which uses the circuit.例文帳に追加

本発明は、面積の増大を抑え、テストに必要なデータの増大も抑えることが可能なテスト応答解析回路を有する半導体集積回路及びそれを用いた遅延故障テスト方法を提供する。 - 特許庁

A method for testing the presence or absence of the fungus and/or the bacterium in a test specimen comprises a step of bringing the tracer into contact with the test specimen and a step of detecting the incorporation of the tracer into the test specimen.例文帳に追加

前記トレーサーを該被験体に接触させる工程および該トレーサーの該被験体内への取り込みを検出する工程を含む、被験体における真菌および／または細菌の存在の有無を検定する方法。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a sample for testing bending strength to be used in the RCCP (Roller Compacted Concrete) compound design or in the quality control without using special equipment and without needing huge labors.例文帳に追加

ＲＣＣＰにおける配合設計や品質管理などに用いられる曲げ強度試験用供試体を、特別な機材を使用することなく、かつ多大な労力を必要とせずに製造する方法を提供する。 - 特許庁

The test method for testing fitting comprises steps of supporting the fitting by a fitting holding member for test in a deformed state; and performing test using the fitting supported by the fitting holding member.例文帳に追加

建具を試験する試験方法であって、試験用建具保持部材に前記建具を、変形させた状態で支持させるステップと、前記試験用建具保持部材に支持された前記建具を用いて試験するステップと、を有する。 - 特許庁

METHOD OF PROVIDING PRODUCER, CONSUMER AND THE LIKE WITH DATA FROM DEVICE OR THE LIKE FOR MEASURING AND TESTING ARTICLE VIA COMMUNICATION LINE例文帳に追加

商品を計測・試験する装置等からのデータを通信回線を通じて生産者等に提供する方法と商品を計測・試験する装置等からのデータを通信回線を通じて消費者等に提供する方法 - 特許庁

To provide a method and a device for testing an electronic circuit device whereby the overall action of the electronic circuit device, the action of a single computing circuit chip, and the action of a single memory chip can be easily tested.例文帳に追加

電子回路装置の全体動作のテストと、演算回路チップの単体動作テストと、メモリチップの単体動作テストを容易に行うことができる電子回路装置のテスト方法、およびテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide an IC tester and an IC testing method which make it possible to perform frequency analysis only by current variation by the use of a test pattern signal more easily, without changing a pattern signal to be inputted.例文帳に追加

入力するパターン信号を変更することなく、より容易に試験パターン信号による電流変動のみの周波数分析を行なうことを可能とするＩＣテスタ、及びＩＣ試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a crash testing device and a crash test method for an automobile body capable of performing a crash test, while measuring acceleration applied to a vehicle compartment at a collision time, in a comparatively narrow footprint.例文帳に追加

比較的狭い設置面積で、衝突時の車室に作用する加速度を計測しながら衝突試験を行うことができる自動車車体の衝突試験装置及び衝突試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method and a device by which the contact area of a sample solution and the wall of a biochip is kept small and a reaction rate between a substance to be tested in a sample solution and a specific binding substance in the biochip is enhanced.例文帳に追加

サンプル液とバイオチップの壁面との接触面積を小さく保ち、且つ、サンプル液の被検物質とバイオチップの特異結合物質との反応速度を高める検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

In the method for testing or calibrating the lithographic device or the part thereof, a measurement point is individually excluded at each field of view or each substrate by using a predetermined objective criterion such as a Chauvenet's criterion.例文帳に追加

リソグラフィ装置又はその一部を検定又は較正する方法において、チョーベネットの判定基準などの所定の客観的判定基準を使用して、視野毎に、又は基板毎に個々に測定ポイントが除外される。 - 特許庁

This method makes it possible to determine whether to assemble a semiconductor device using the semiconductor element 11 based on the testing result of the electric characteristics of the distorted semiconductor element 11, and to reduce production cost of the semiconductor device.例文帳に追加

歪曲した半導体素子１１の電気特性の試験結果に基づいて、当該半導体素子１１を半導体装置に組み立てるか否かを判断できるようになり、半導体装置の製造コストが低減する。 - 特許庁

The carrier tape is produced from a sheet of a lactic acid based polymer having a storage elastic modulus E' at 120°C of at least 100 MPa in the testing method on temperature dependence of dynamic viscoelasticity based on JIS K 7198.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｋ７１９８に基づく動的粘弾性の温度依存性に関する試験方法における１２０℃での貯蔵弾性率Ｅ’が、１００ＭＰａ以上である乳酸系重合体からなるシートから製造する。 - 特許庁

To provide a confirmation testing method and a system for easily confirming a throughput on a target board at the time of performing a test by a real machine in the software development of a portable telephone set.例文帳に追加

携帯電話機のソフトウェア開発における実機による試験において、ターゲットボード上で、容易にスループットを確認することができるスループット確認試験方法およびスループット確認試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing quickly and easily how an antithrombogenetic medicine inhibits the promotion of blood coagulation, when a platelet activity activator serves as a cause of the promotion of the blood coagulation.例文帳に追加

血小板活性賦活剤が血液凝固促進の原因になっている場合、抗血栓薬が、どのように血液凝固の促進を阻害するのかを迅速かつ簡易に試験する方法を提供しようとするものである。 - 特許庁

A method of testing a blood sample from an individual for diagnosing chronic renal failure in the individual comprises determining the presence of BMP-1 isoforms BMP-1-3 and BMP-1-5 in the sample.例文帳に追加

個体の慢性腎不全を診断するために個体からの血液試料を試験する方法であって：ＢＭＰ−１イソ型であるＢＭＰ−１−３、およびＢＭＰ−１−５の試料中の存在を確定する。 - 特許庁

To prevent the generation of pseudo-leakage in a helium gas test conducted by a helium leakage detector, in a method for testing a semiconductor device which uses a ceramic wiring board with a common conductor layer on a side face removed after plating.例文帳に追加

側面の共通導体層がメッキ後に除去されてなるセラミック製の配線基板を用いた半導体装置の検査方法で、ヘリウムリークディテクターによるヘリウムガス試験における擬似リークの発生を防止する。 - 特許庁

To provide a new synchronizing method and apparatus whereby, when the pseudo-random-pattern generating circuits having the mark ratio of 1/4, 1/8, or the like are synchronized with each other, their synchronization takes a short time independently of the period of a testing pattern.例文帳に追加

マーク率１/４又は１/８のような擬似ランダムパターン発生回路間の同期をとるに際して、試験パターンの周期に関わらずに、短い時間で同期をとる新規な同期方法及び同期装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method capable of efficiently testing input circuits of a new remote monitoring controller (TC) as well as performing a replacement work with high safety when replacing an existing TC to the new TC.例文帳に追加

既設の遠方監視制御装置（ＴＣ）から新設ＴＣへ切り替える際に、新設ＴＣの入力回路について効率的に試験を行うことができ、安全性の高い切り替え作業を可能にすること。 - 特許庁

To provide a maintenance method that allows the online maintenance (testing) of a computer system having two groups (active system and standby system) of peripheral devices that cannot be operated at the same time while being connected to a CPU.例文帳に追加

ＣＰＵに接続して同時には動作させることができない２組（運用系と待機系）の周辺機器群を有するコンピュータシステムにおいて、オンラインでの保守（試験）を可能とする保守方法を提供する。 - 特許庁

To provide a tester and a testing method for IC device or solder ball of a wafer in which a pressure required for bringing all solder bumps in an IC array into contact with a test array is reduced significantly.例文帳に追加

ＩＣアレイ内のすべてのはんだバンプを、テスト用のアレイと接触させるのに必要な圧力を大幅に低減させるような、ＩＣデバイス、あるいはウェハ用のはんだボールのテスト方法／装置を提供する。 - 特許庁

The measurement method uses the testing apparatus for determination of the shrinkage amount, length and/or crimp properties such as the number of crimps, crimp removal and crimp stability of individual staple fiber.例文帳に追加

本発明は、特に、この試験装置を利用することによる、個々のステープルファイバの収縮量、長さ及び／または、捲縮数、捲縮除去及び捲縮安定性のような、捲縮特性の決定のための方法に関する。 - 特許庁

To provide a method of testing an optical fiber having a branch capable of monitoring increase in loss or the like in an N-branch optical fiber network, in a branched part of an optical fiber, by a simple process.例文帳に追加

本発明の課題は、簡単なプロセスにより、Ｎ分岐光ファイバネットワークの損失増加等のモニタリングを、分岐部以下の光ファイバにおいて可能とする分岐を有する光ファイバの試験方法を提供することにある。 - 特許庁