「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体試験装置および方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体試験方法および装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING ELECTROSTATIC DISCHARGE RESISTANCE例文帳に追加

静電気放電耐性試験方法 - 特許庁

CRACK TESTING METHOD FOR PNEUMATIC TIRE例文帳に追加

空気入りタイヤのクラック試験方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING LINE OF COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加

通信システムの回線試験方法 - 特許庁

TIRE TESTER AND TIRE TESTING METHOD例文帳に追加

タイヤ試験機及びタイヤ試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING ABNORMALITIES例文帳に追加

異常検査方法及びその装置 - 特許庁

MOBILE TESTING SYSTEM AND ITS METHOD例文帳に追加

モバイル試験システムおよびその方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING BATTERY AND ELECTRODE例文帳に追加

電池および電極の試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING ENDOTOXIN ADSORBENT例文帳に追加

エンドトキシン吸着材の試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING MEMORY例文帳に追加

メモリを試験する方法及びデバイス - 特許庁

IC TESTER, AND TESTING METHOD FOR IC例文帳に追加

ＩＣテスタ、及びＩＣ試験方法 - 特許庁

OSCILLATOR TESTING METHOD AND OSCILLATOR例文帳に追加

発振器試験方法及び発振器 - 特許庁

METHOD OF TESTING PORTABLE DEFIBRILLATOR例文帳に追加

携帯用除細動器試験方法 - 特許庁

SOFTWARE TESTING METHOD FOR SOFTWARE SYSTEM例文帳に追加

ソフトウェアシステムのソフトウェア試験方法 - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR MEMORY TESTING例文帳に追加

メモリテスト回路およびメモリテスト方法 - 特許庁

LOAD TESTING METHOD FOR PILED RAFT FOUNDATION例文帳に追加

パイルド・ラフト基礎の載荷試験方法 - 特許庁

MULTICHIP MODULE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

マルチチップモジュール及びそのテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING PRECISION OF TIRE TESTING MACHINE例文帳に追加

タイヤ試験機の精度検査方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS, TEST METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

テスト装置、テスト方法、およびプログラム - 特許庁

INDIVIDUAL ENVIRONMENTAL TESTING DEVICE, INDIVIDUAL ENVIRONMENTAL TESTING METHOD AND MODULE TESTING DEVICE FOR OPTICAL TRANSMISSION例文帳に追加

個別環境試験装置、個別環境試験方法および光伝送用モジュール試験装置 - 特許庁

MOUNT TESTING APPARATUS FOR TESTING APPROPRIATE DESIGN OF LAND PATTERN, AND ITS MOUNT TESTING METHOD例文帳に追加

ランドパターンの設計の適否を試験する実装試験装置及びその実装試験方法 - 特許庁

TESTING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE WITH TESTING CIRCUIT BUILT IN, AND TESTING METHOD例文帳に追加

テスト回路、そのテスト回路を内蔵した半導体集積回路装置、及びそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING SYSTEM AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, WAFER TO BE TESTED, AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加

半導体試験システム、半導体試験装置、被試験ウェハおよび半導体試験方法 - 特許庁

STANDARD WAFER FOR TESTING SEMICONDUCTOR, METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR, AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体検査用標準ウエハ、半導体の検査方法および半導体検査装置 - 特許庁

STRESS-TESTING CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND STRESS-TESTING METHOD USING THE STRESS-TESTING CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のストレス試験回路、及びこの回路を用いたストレス試験方法 - 特許庁

SECURE MODULE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

セキュアモジュール及びその試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING CODE CLONE例文帳に追加

コードクローンのテスト装置および方法 - 特許庁

IMMUNOCHROMATOGRAPHIC TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

イムノクロマトグラフ検査方法および装置 - 特許庁

STRENGTH TESTING METHOD OF ADHESION STRUCTURE例文帳に追加

接着構造の強度試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING THIN FILM例文帳に追加

薄膜検査装置及びその方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

集積回路およびそのテスト方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING MEMBRANE ELECTRODE ASSEMBLY例文帳に追加

膜電極接合体の検査方法 - 特許庁

GAS-INSULATED BUS AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

ガス絶縁母線とその試験方法 - 特許庁

LIFE TESTING METHOD FOR DEBURRING TOOL例文帳に追加

バリ取り工具の寿命試験方法 - 特許庁

SWITCHING CIRCUIT, AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

スイッチング回路及びその試験方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

試験装置、及びデバイス製造方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

集積回路及びその試験方法 - 特許庁

PRESSURE TESTING METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

圧力試験方法及びその装置 - 特許庁

CAPILLARY TYPE LEAKAGE TESTING PIECE, TESTING METHOD THEREFOR, AND METHOD OF DETECTING BLINDING例文帳に追加

キャピラリー型漏れ試験片とその試験方法及び目詰まり検出方法 - 特許庁

TESTING SYSTEM AND BACK ANNOTATION METHOD例文帳に追加

試験システム及びバックアノテーション方法 - 特許庁

DRIVING CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

駆動回路およびそのテスト方法 - 特許庁

TESTING SYSTEM AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加

試験システムおよびその制御方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING WEATHER AND LIGHT RESISTANCE例文帳に追加

耐候光試験装置及び方法 - 特許庁

CONTROL UNIT AND TESTING METHOD FOR IT例文帳に追加

制御ユニット及びその検査方法 - 特許庁