「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

CRACK DEVELOPMENT TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

き裂進展試験方法及び装置 - 特許庁

METABOLIC SYNDROME PREDICTING AND TESTING METHOD例文帳に追加

メタボリックシンドロームの予知検査方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING MUTUAL AUTHENTICATION DEVICE例文帳に追加

相互認証デバイスの試験方法 - 特許庁

METHOD FOR WITHSTAND VOLTAGE TESTING AND APPARATUS FOR WITHSTAND VOLTAGE TESTING USED FOR THIS METHOD例文帳に追加

耐電圧試験方法とこの方法に使用する耐電圧試験装置 - 特許庁

HAIL IMPACT TESTING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

ヘイルインパクト試験装置、及び方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体装置とそのテスト方法。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING DURABILITY OF CONCRETE例文帳に追加

コンクリートの耐久性試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD OF DIRECTIONAL GROUND RELAY例文帳に追加

方向地絡継電器の試験方式 - 特許庁

TESTING DEVICE AND CALIBRATION METHOD例文帳に追加

試験装置、及びキャリブレーション方法 - 特許庁

SYSTEM RESET CIRCUIT AND TESTING METHOD例文帳に追加

システムリセット回路およびテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

半導体試験装置および方法 - 特許庁

TEST DISK AND DRIVE TESTING METHOD例文帳に追加

テストディスクおよびドライブ検査方法 - 特許庁

TESTING METHOD OF TARGET FOR SPUTTERING例文帳に追加

スパッタリング用ターゲットの検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

半導体試験方法および装置 - 特許庁

MICROCOMPUTER AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

マイクロコンピュータ及びその試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE, AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加

テスト装置、及びその制御方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING CHARACTERISTICS OF COMMUNICATION DEVICE例文帳に追加

通信機器の特性試験方法 - 特許庁

DETECTOR AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

検出装置及びそのテスト方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING CELL例文帳に追加

セルをテストするシステムおよび方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SENSITIVITY OF SMOKE SENSOR例文帳に追加

煙感知器の感度試験方法 - 特許庁

MULTIAXIAL LOAD TESTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

多軸負荷試験装置及び方法 - 特許庁

CURRENT MEASURING DEVICE, TESTING DEVICE, CURRENT MEASURING METHOD, AND TESTING METHOD例文帳に追加

電流測定装置、試験装置、電流測定方法、および試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PLURAL DEVICE HOUSINGS例文帳に追加

複数デバイス筐体のテスト方法 - 特許庁

TEST BASAL PAPER AND TESTING METHOD例文帳に追加

検査用基紙および検査方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR SINTERED BODY, FLAW INSPECTION METHOD FOR SPECIMEN AND TESTING MACHINE例文帳に追加

焼結体の試験方法、供試体の欠陥検査方法、試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING POLLEN ADHESION-PREVENTING PERFORMANCE AND METHOD FOR TESTING POLLEN-RELEASING PERFORMANCE例文帳に追加

花粉付着防止性能および花粉脱落性能の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体デバイスおよび試験方法 - 特許庁

WAFER PROBER AND METHOD OF TESTING WAFER例文帳に追加

ウェハプローバおよびウェハ検査方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR FORMING TESTING AREA例文帳に追加

試験区形成装置及び方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING OPTICAL INFORMATION MEDIUM例文帳に追加

光情報媒体の試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR OPTICALLY TESTING WEATHERABILITY例文帳に追加

耐候光試験装置及び方法 - 特許庁

Also provided are a microbiological testing instrument and a testing method to use the microbiological testing chip 10.例文帳に追加

また、該微生物検査チップ１０を使用する微生物検査装置と、検査方法。 - 特許庁

TESTING TERMINAL OF CHIP TYPE ELECTRONIC PART AND TESTING METHOD AND TESTING DEVICE USING IT例文帳に追加

チップ型電子部品の検査端子とそれを用いた検査方法および検査装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING TIRE例文帳に追加

タイヤの試験方法及びその装置 - 特許庁

TESTING METHOD FOR FLUID BEARING DEVICE例文帳に追加

流体軸受装置の検査方法 - 特許庁

HOLDING FORCE TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

把駐力試験方法及び装置 - 特許庁

SEAT TESTER AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

シート試験装置および試験方法 - 特許庁

PROCESSING LINE TESTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

処理ライン試験装置および方法 - 特許庁

BEARING DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

軸受装置及びその検査方法 - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING MEMORY例文帳に追加

メモリテスト回路およびメモリテスト方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING ENGINE例文帳に追加

エンジン試験方法、及び、試験装置 - 特許庁

TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路テスト方法 - 特許庁

ACCESS CONTROLLER AND TESTING METHOD例文帳に追加

アクセス制御装置及び試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING WIRELESS SYSTEM例文帳に追加

無線系試験システムとその方法 - 特許庁

WIRING BOARD AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

配線基板およびそのテスト方法 - 特許庁