「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

TESTING DEVICE AND WAVEFORM DISPLAY METHOD例文帳に追加

試験装置及び波形表示方法 - 特許庁

CLEAN ROOM AIRTIGHTNESS PERFORMANCE TESTING METHOD例文帳に追加

クリーンルームの気密性能試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER TESTING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

半導体ウエハー試験システムと方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR A/T TESTING APPARATUS例文帳に追加

Ａ／Ｔ試験装置の計測方法 - 特許庁

SAMPLING AND TESTING METHOD FOR MICROORGANISM例文帳に追加

微生物の捕集及び試験方法 - 特許庁

CONTROL UNIT, CONTROL METHOD, TESTING METHOD FOR INTERLOCK CONTROL AND MODULE FOR TESTING例文帳に追加

制御装置，制御方法，インターロック制御の試験方法，試験用モジュール - 特許庁

JOINT BOUNDARY FACE TESTING METHOD例文帳に追加

接合境界面を試験する方法 - 特許庁

DURABILITY TESTING METHOD OF MAGNETIC DISK例文帳に追加

磁気ディスクの耐久性試験方法 - 特許庁

ULTRASONIC TESTING DEVICE AND ULTRASONIC TESTING METHOD USING SAME例文帳に追加

超音波試験装置及びこれを用いた超音波試験方法 - 特許庁

To provide an ultrasonic fatigue testing apparatus enhanced in precision as compared with a conventional ultrasonic fatigue testing apparatus and a conventional ultrasonic fatigue testing method, and an ultrasonic fatigue testing method.例文帳に追加

超音波疲労試験において、従来の装置、方法にくらべて精度が高い装置および方法を提供する。 - 特許庁

ULTRASONIC TESTING METHOD AND ULTRASONIC TESTING DEVICE USED THEREFOR例文帳に追加

超音波試験方法及びこれに用いる超音波試験装置 - 特許庁

SOIL-FILLED COLUMN TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

土壌充填カラム試験装置及びそれを用いた試験方法 - 特許庁

BASE STATION APPARATUS, AND BASE STATION TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD例文帳に追加

基地局装置、基地局試験システム及び基地局試験方法 - 特許庁

PRINTED BOARD TESTING DEVICE AND SCANNING METHOD OF PRINTED BOARD TESTING DEVICE例文帳に追加

プリント板検査装置及びプリント板検査装置の走査方法 - 特許庁

PASSAGE TESTING DEVICE OF FLUID, AND PASSAGE TESTING METHOD OF FLUID例文帳に追加

流体の通過試験装置および流体の通過試験方法 - 特許庁

ELECTRICAL TESTING DEVICE AND ELECTRICAL TESTING METHOD FOR ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電気的試験用装置及び電子装置の電気的試験方法 - 特許庁

COLLECTION CAPACITY TESTING MACHINE OF MASK AND TESTING METHOD EMPLOYING IT例文帳に追加

マスク捕集性能試験機およびそれを使用する試験方法 - 特許庁

ROTARY DRUM TYPE CORROSION TESTING DEVICE OF REFRACTORY, AND TESTING METHOD例文帳に追加

耐火物の回転ドラム式侵食試験装置及び試験方法 - 特許庁

TESTING CIRCUIT FOR LSI PROVIDED WITH FUNCTIONAL BLOCK, AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

機能ブロックを備えたＬＳＩのテスト回路及びテスト方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND APPARATUS FOR IMPROVING YIELD RATIO OF TESTING OF MEMBERS例文帳に追加

部材の検査歩留りを向上させる検査方法と装置 - 特許庁

To provide testing device, test method and integrated circuit for testing a circuit having a counter, in a short time.例文帳に追加

カウンタを有する回路のテストを短時間で行うこと。 - 特許庁

BATTERY TESTING APPARATUS, BATTERY TESTING METHOD AND BATTERY TEST PROGRAM例文帳に追加

電池試験装置と電池試験方法及び電池試験プログラム - 特許庁

MEASUREMENT APPARATUS, TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD FOR FEMTOCELL BASE STATIONS例文帳に追加

フェムトセル基地局の測定装置、試験システム及び試験方法 - 特許庁

WATERPROOF TESTING DEVICE, WATERPROOF TESTING METHOD, AND WATERPROOF TEST PROGRAM例文帳に追加

防水試験装置、防水試験方法および防水試験プログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE-TESTING APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置試験装置および半導体装置試験方法 - 特許庁

PROGRAM TESTING DEVICE, PROGRAM TESTING METHOD, AND PROGRAM TEST SYSTEM例文帳に追加

プログラム検査装置、プログラム検査方法およびプログラム検査システム - 特許庁

VIBRATION TESTING APPARATUS FOR STRUCTURE AND ITS VIBRATION TESTING METHOD例文帳に追加

構造物の振動試験装置およびその振動試験方法 - 特許庁

AUTOMATIC TESTING DEVICE AND AUTOMATIC TESTING METHOD FOR PORTABLE TERMINAL EQUIPMENT例文帳に追加

携帯端末装置の自動試験装置および自動試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置の試験方法および試験装置 - 特許庁

TCP TESTING DEVICE, AND PREPARATORY WORK METHOD FOR TCP TESTING DEVICE例文帳に追加

ＴＣＰ試験装置及びＴＣＰ試験装置の段取方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, TESTING DEVICE THEREFOR, AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置、その試験装置及び試験方法 - 特許庁

EDDY-CURRENT FLAW DETECTION TESTING METHOD AND EDDY- CURRENT FLAW DETECTION TESTING DEVICE例文帳に追加

渦流探傷試験方法及び渦流探傷試験装置 - 特許庁

PRESSURE RESISTANCE TESTING METHOD OF PRESSURE CONTAINER AND PRESSURE RESISTANCE TESTING MACHINE例文帳に追加

圧力容器の耐圧試験方法及び耐圧試験装置 - 特許庁

SURFACE CONDITION TESTING METHOD AND SURFACE CONDITION TESTING DEVICE例文帳に追加

表面状態の検査方法および表面状態検査装置 - 特許庁

TESTING AND RECORDING DEVICE FOR DIE, AND TESTING AND RECORDING METHOD FOR DIE例文帳に追加

金型用検査記録装置、及び金型の検査記録方法 - 特許庁

HARDNESS AND SOFTNESS TESTING METHOD, TESTING APPARATUS AND, MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

硬軟試験方法、硬軟試験装置、及び硬軟測定装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER, PROBE APPARATUS, WAFER TESTING APPARATUS, AND WAFER TESTING METHOD例文帳に追加

半導体ウエハ，プローブ装置，ウエハテスト装置およびウエハテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING TIME OPTIMIZING METHOD例文帳に追加

半導体テスト装置および半導体テスト時間最適化方法 - 特許庁

EVALUATION TESTING ARRANGEMENT AND EVALUATION TESTING METHOD OF FOULING INHIBITOR例文帳に追加

ファウリング防止剤の評価試験装置および評価試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイス試験方法及び半導体デバイス試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY, ITS TESTING DEVICE, AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置並びにその試験装置および試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD OF PHOTOCATALYST FUNCTION, AND APPLIANCE USED FOR TESTING例文帳に追加

光触媒機能の試験方法および該試験に用いる器具 - 特許庁

TESTING METHOD AND TESTING PROGRAM OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置の試験方法および試験プログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS USING PROBE INFORMATION AND TESTING METHOD例文帳に追加

プローブ情報を用いた半導体検査装置及び検査方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND TESTING CIRCUIT FOR MEASURING OUTPUT DELAY TIME例文帳に追加

出力遅延時間測定用テスト方法およびそのテスト回路 - 特許庁