| 意味 | 例文 |
Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5393件
METHOD FOR TESTING RUN-FLAT DURABILITY EVALUATION例文帳に追加
ランフラット耐久性評価試験方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路試験装置及び方法 - 特許庁
HARDNESS TESTER AND OF TESTING HARDNESS METHOD例文帳に追加
硬さ試験機及び硬さ試験方法 - 特許庁
DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加
表示装置およびその試験方法 - 特許庁
LITHOGRAPHY METHOD AND METHOD FOR TESTING LITHOGRAPHY DEVICE例文帳に追加
リソグラフィ方法及びリソグラフィ装置の試験方法 - 特許庁
CONTROL METHOD IN MATERIAL-TESTING DEVICE AND MATERIAL- TESTING DEVICE例文帳に追加
材料試験装置における制御方法及び材料試験装置 - 特許庁
METHOD FOR CONTROLLING MATERIAL-TESTING DEVICE AND MATERIAL-TESTING DEVICE例文帳に追加
材料試験装置における制御方法及び材料試験装置 - 特許庁
BASE-STATION TESTING DEVICE AND SYSTEM AND METHOD FOR TESTING VOICE SIGNAL例文帳に追加
基地局試験装置,音声信号試験システムおよび試験方法 - 特許庁
PRINTED WIRING BOARD TESTING JIG SUBSTRATE AND PRINTED WIRING BOARD TESTING METHOD例文帳に追加
プリント基板検査用治具基板およびプリント基板検査方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR METAL BONDING MATERIAL AND TESTING EQUIPMENT THEREOF例文帳に追加
金属接合材料の材料試験方法およびその試験装置 - 特許庁
SHOCK TESTING APPARATUS AND SHOCK TESTING METHOD OF SURFACE TREATMENT MATERIAL例文帳に追加
表面処理材の衝撃試験装置および衝撃試験方法 - 特許庁
MATERIAL TESTING MACHINE AND METHOD FOR MEASURING BENCH MARK OF MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加
材料試験機および材料試験機の標線測定方法 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR TESTING ATM AND CONTINUITY TESTING DEVICE例文帳に追加
ATM試験方法とATM試験システム及び導通試験装置 - 特許庁
TEMPERATURE TESTING BOOTH AND METHOD FOR CREATING ENVIRONMENT IN THE TEMPERATURE TESTING BOOTH例文帳に追加
温度試験ブースおよび温度試験ブース内の環境生成方法 - 特許庁
CIRCUIT DEVICE FOR TESTING ROM DECODER AND METHOD FOR TESTING ROM DECODER例文帳に追加
ROMのデコーダテスト回路装置及びROMのデコーダテスト方法 - 特許庁
PAPER IMPACT COMPRESSION TESTING DEVICE AND TESTING METHOD USING DEVICE例文帳に追加
用紙衝撃圧縮試験装置及び該装置を用いた試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING OPTICAL FIBER COMPONENT AND OPTICAL FIBER COMPONENT TESTING APPARATUS例文帳に追加
光ファイバ部品の試験方法及び光ファイバ部品試験装置 - 特許庁
TERMINAL EMULATION PROGRAM, RECORDING MEDIUM, LOAD TESTING METHOD, LOAD TESTING DEVICE例文帳に追加
端末エミュレーションプログラム、記録媒体、負荷試験方法、負荷試験装置 - 特許庁
CONTROL METHOD IN MATERIAL TESTING APPARATUS AND MATERIAL TESTING APPARATUS例文帳に追加
材料試験装置における制御方法及び材料試験装置 - 特許庁
MEMORY DEVICE AND TESTING METHOD FOR TESTING RANKING OF TELEVISION PROGRAM例文帳に追加
テレビ番組の格付けを試験するメモリー装置並びに試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD AND TESTING APPARATUS OF BONDING TERMINAL MEMBER例文帳に追加
接合端子部材の試験方法及び接合端子部材の試験装置 - 特許庁
TESTING METHOD OF TRANSMITTING-RECEIVING CIRCUIT AND TRANSMITTING-RECEIVING CIRCUIT WITH TESTING CIRCUIT例文帳に追加
送受信回路のテスト方法及びテスト回路付き送受信回路 - 特許庁
DEVICE AND ASSEMBLY FOR MICROBIOLOGICAL TESTING AND METHOD FOR THE SAME MICROBIOLOGICAL TESTING例文帳に追加
微生物学的検査のための装置、組み立て品、および方法 - 特許庁
CONTROL METHOD FOR MATERIAL TESTING DEVICE AND THE MATERIAL TESTING DEVICE例文帳に追加
材料試験装置における制御方法および材料試験装置 - 特許庁
TESTING FIXTURE SUBSTRATE, TEST DEVICE, AND TESTING METHOD OF SENSOR例文帳に追加
センサの試験用治具基板及び試験装置並びに試験方法 - 特許庁
ENVIRONMENT TESTING APPARATUS AND WORK FEEDING METHOD OF ENVIRONMENT TESTING APPARATUS例文帳に追加
環境試験装置および環境試験装置のワーク搬送方法 - 特許庁
CONTROL METHOD IN MATERIAL TESTING DEVICE AND MATERIAL TESTING DEVICE例文帳に追加
材料試験装置における制御方法および材料試験装置 - 特許庁
TESTING SYSTEM FOR BRANCH LIGHT RAY LINE AND TESTING METHOD FOR BRUNCH LIGHT RAY LINE例文帳に追加
分岐光線路試験システムおよび分岐光線路試験方法 - 特許庁
HUMIDITY ADJUSTING METHOD OF ENVIRONMENT TESTING DEVICE, AND ENVIRONMENT TESTING DEVICE例文帳に追加
環境試験装置の湿度調節方法及び環境試験装置 - 特許庁
TIRE ROLLING RESISTANCE TESTING MACHINE AND TIRE ROLLING RESISTANCE TESTING METHOD例文帳に追加
タイヤ転がり抵抗試験機及びタイヤ転がり抵抗試験方法 - 特許庁
FLUIDITY TESTING METHOD FOR FRESH CONCRETE AND TESTING DEVICE USED THEREFOR例文帳に追加
フレッシュコンクリートの流動性試験方法とそれに用いる試験装置 - 特許庁
TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験回路 - 特許庁
INFORMATION PROCESSING UNIT, SOFTWARE TESTING METHOD AND SOFTWARE TESTING PROGRAM例文帳に追加
情報処理装置、ソフトウェア検査方法およびソフトウェア検査プログラム - 特許庁
PERFORMANCE TESTING METHOD AND SERVER TESTING DEVICE FOR WWW SERVER例文帳に追加
WWWサーバーの性能試験方法およびサーバー試験装置 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT, AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加
半導体素子の試験装置および半導体素子の試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の試験方法および半導体装置の試験装置 - 特許庁
HYBRID IC TESTING APPARATUS AND CONTROL METHOD FOR THE IC TESTING APPARATUS例文帳に追加
混在IC試験装置及びこのIC試験装置の制御方法 - 特許庁
HUMIDITY REGULATION METHOD FOR ENVIRONMENTAL TESTING DEVICE, AND ENVIRONMENTAL TESTING DEVICE例文帳に追加
環境試験装置の湿度調整方法及び環境試験装置 - 特許庁
To provide a testing device and a testing method that reduce load to global environment and are capable of performing high-voltage testing without making a testing device or a facility for testing complex.例文帳に追加
地球環境への負荷を低減し、かつ、試験装置や試験のための設備を複雑にすることなく、高電圧試験を実現する。 - 特許庁
SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING DEVICE, SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING SYSTEM, SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING METHOD AND SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING PROGRAM例文帳に追加
加入者回路試験装置、加入者回路試験システム、加入者回路試験方法および加入者回路試験プログラム - 特許庁
To provide a testing device capable of testing a semiconductor device including a TSV, and a testing method.例文帳に追加
TSVを備える半導体デバイスを試験可能な試験装置、試験方法を提供する。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING APPARATUS, TESTING BOARD, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加
半導体集積回路試験装置及び試験用ボード並びに半導体集積回路試験方法 - 特許庁
| 意味 | 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|