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Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5393件
MATERIAL TESTING MACHINE AND DATA CORRECTION METHOD例文帳に追加
材料試験機およびデータ補正方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加
半導体装置およびそのテスト方法 - 特許庁
AUTOMATIC TESTING EQUIPMENT AND DEBRIS INSPECTION METHOD例文帳に追加
自動検査装置及び異物検査方法 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC COMPASS例文帳に追加
電子コンパスをテストするシステム及び方法 - 特許庁
LIGHT SOURCE TESTING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加
光源テストシステム及び光源のテスト方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC TAG例文帳に追加
電子タグのテスト装置およびその方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING CIGARETTE PACK, IN PARTICULAR例文帳に追加
特に、シガレットパックの試験方法と装置 - 特許庁
DURABILITY TESTING METHOD FOR PNEUMATIC TIRE例文帳に追加
空気入りタイヤの耐久性試験方法 - 特許庁
DETERIORATION TESTER AND DETERIORATION TESTING METHOD例文帳に追加
劣化試験装置及び劣化試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING MEMORY AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
メモリのテスト方法及び半導体装置 - 特許庁
ELECTRONIC DEVICE TESTING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加
電子部品検査システムおよびその方法 - 特許庁
TESTING APPARATUS AND METHOD OF TRANSMITTER例文帳に追加
送信機の試験装置および試験方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING OPTICAL DISK STAMPER例文帳に追加
光ディスクスタンパ検査方法及び装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING OUTER WALL CONTAMINATION例文帳に追加
外壁汚れ試験装置と、試験方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING HIGH-SPEED PRODUCT例文帳に追加
高速製品の試験方法及び装置 - 特許庁
METHOD OF ELECTRONICALLY TESTING MEMORY MODULES例文帳に追加
メモリモジュールを電子的に試験する方法 - 特許庁
TEST CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT, AND TESTING METHOD例文帳に追加
テスト回路、集積回路及びテスト方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS OF TESTING TRANSMISSION PROTOCOL例文帳に追加
伝送プロトコルテスト方法及びテスト装置 - 特許庁
LIGHT STABILITY TESTING METHOD FOR INTRAOCULAR LENS例文帳に追加
眼内レンズの光安定性試験方法 - 特許庁
FATIGUE TESTING DEVICE AND METHOD FOR THIN PLATE例文帳に追加
薄板の疲労試験装置および方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING GENERATION OF GAS例文帳に追加
ガス発生試験装置及び試験方法 - 特許庁
METHOD FOR UPDATING SETTING VALUE OF TESTING DEVICE例文帳に追加
試験装置の設定値の更新方法 - 特許庁
BENDING TESTING DEVICE AND BENDING TEST METHOD例文帳に追加
曲げ試験装置および曲げ試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING PROJECTION OPTICAL SYSTEM, TESTING DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME SYSTEM例文帳に追加
投影光学系の検査方法、検査装置、及び投影光学系の製造方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING COORDINATE INPUT-OUTPUT DEVICE例文帳に追加
座標入出力装置の試験方法 - 特許庁
DISPLAY APPARATUS AND POSITIONAL DEVIATION TESTING METHOD例文帳に追加
表示装置および位置ずれ検査方法 - 特許庁
TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
テスト方法及び半導体集積回路 - 特許庁
SAMPLE TESTING METHOD FOR ION IMPLANTING APPARATUS例文帳に追加
イオン注入装置のサンプル試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR WAFER TESTING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加
半導体ウェハの検査装置及び方法 - 特許庁
METHOD FOR EARLY TESTING SEED OF ARBOREOUS PLANT例文帳に追加
木本植物種子の早期検定法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING ADDRESS LINE例文帳に追加
アドレス線の試験方法及び試験装置 - 特許庁
IMPACT PRINTER HEAD AND METHOD OF TESTING THE SAME例文帳に追加
インパクトプリンタヘッド及びその検査方法 - 特許庁
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