| 意味 | 例文 |
Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5393件
METHOD OF ELECTRONICALLY TESTING MEMORY MODULES例文帳に追加
メモリモジュールを電子的に試験する方法 - 特許庁
TEST CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT, AND TESTING METHOD例文帳に追加
テスト回路、集積回路及びテスト方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING OPTICAL DISK STAMPER例文帳に追加
光ディスクスタンパ検査方法及び装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING OUTER WALL CONTAMINATION例文帳に追加
外壁汚れ試験装置と、試験方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING HIGH-SPEED PRODUCT例文帳に追加
高速製品の試験方法及び装置 - 特許庁
ELECTRONIC DEVICE TESTING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加
電子部品検査システムおよびその方法 - 特許庁
DETERIORATION TESTER AND DETERIORATION TESTING METHOD例文帳に追加
劣化試験装置及び劣化試験方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS OF TESTING TRANSMISSION PROTOCOL例文帳に追加
伝送プロトコルテスト方法及びテスト装置 - 特許庁
LIGHT STABILITY TESTING METHOD FOR INTRAOCULAR LENS例文帳に追加
眼内レンズの光安定性試験方法 - 特許庁
FATIGUE TESTING DEVICE AND METHOD FOR THIN PLATE例文帳に追加
薄板の疲労試験装置および方法 - 特許庁
METHOD FOR UPDATING SETTING VALUE OF TESTING DEVICE例文帳に追加
試験装置の設定値の更新方法 - 特許庁
LIGHT SOURCE TESTING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加
光源テストシステム及び光源のテスト方法 - 特許庁
OPTICAL RECORDING MEDIUM AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
光記録媒体及びその試験方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC TAG例文帳に追加
電子タグのテスト装置およびその方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING CIGARETTE PACK, IN PARTICULAR例文帳に追加
特に、シガレットパックの試験方法と装置 - 特許庁
METHOD AND EQUIPMENT FOR TESTING THERMAL SHOCK例文帳に追加
熱衝撃試験方法およびその装置 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING ELECTROPLATING AND METHOD THEREFOR例文帳に追加
電気めっき試験装置及びその方法 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR TESTING OPTICAL FIBER LINE例文帳に追加
光線路試験方法及び試験システム - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING METHOD OF THE SAME例文帳に追加
半導体装置およびその試験方法 - 特許庁
OPERATION TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC APPARATUS, OPERATION TESTING METHOD AND METHOD OF MANUFACTURING ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加
電子装置の動作試験装置、動作試験方法、及び電子装置の製造方法 - 特許庁
CREEP TESTING TOOL AND CREEP TEST METHOD例文帳に追加
クリープ試験治具およびクリープ試験方法 - 特許庁
TESTING APPARATUS FOR NETWORK COMMUNICATION AND METHOD例文帳に追加
ネットワーク通信のテスト装置及び方法 - 特許庁
DETERIORATION TEST METHOD AND DETERIORATION TESTING MACHINE例文帳に追加
劣化試験方法及び劣化試験装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING VACUUM CIRCUIT BREAKER例文帳に追加
真空遮断器試験装置及び方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR DARK FIBER SUPERVISORY TESTING例文帳に追加
ダークファイバ監視試験方法および装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING MEMORY AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
メモリのテスト方法及び半導体装置 - 特許庁
MATERIAL TESTING MACHINE AND DATA CORRECTION METHOD例文帳に追加
材料試験機およびデータ補正方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING SOIL OF ENGINEERING WORK MATERIAL例文帳に追加
土木工事材料の土質試験方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加
電子デバイスのテスト装置及びその方法 - 特許庁
ALKALI-SILICA REACTIVITY TESTING METHOD FOR AGGREGATE例文帳に追加
骨材のアルカリシリカ反応性試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
テスト方法及び半導体集積回路 - 特許庁
SAMPLE TESTING METHOD FOR ION IMPLANTING APPARATUS例文帳に追加
イオン注入装置のサンプル試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR WAFER TESTING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加
半導体ウェハの検査装置及び方法 - 特許庁
METHOD FOR EARLY TESTING SEED OF ARBOREOUS PLANT例文帳に追加
木本植物種子の早期検定法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING ADDRESS LINE例文帳に追加
アドレス線の試験方法及び試験装置 - 特許庁
IMPACT PRINTER HEAD AND METHOD OF TESTING THE SAME例文帳に追加
インパクトプリンタヘッド及びその検査方法 - 特許庁
| 意味 | 例文 |
| Copyright © National Institute of Information and Communications Technology. All Rights Reserved. |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
