「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(21ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING OPERATION例文帳に追加

操作試験方法及び操作試験装置 - 特許庁

OPTICAL RECORDING MEDIUM AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

光記録媒体及びその試験方法 - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING DRIVER IC例文帳に追加

ドライバＩＣのテスト回路及びテスト方法 - 特許庁

METHOD AND EQUIPMENT FOR TESTING THERMAL SHOCK例文帳に追加

熱衝撃試験方法およびその装置 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING ELECTROPLATING AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

電気めっき試験装置及びその方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING HIC IN RAW MATERIAL FOR STEEL PIPE例文帳に追加

鋼管素材のＨＩＣ試験方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TESTING OPTICAL FIBER LINE例文帳に追加

光線路試験方法及び試験システム - 特許庁

COMPOSITE TESTING APPARATUS AND ITS USE METHOD例文帳に追加

複合試験装置及びその使用方法 - 特許庁

CYCLE TESTING DEVICE AND CYCLE TEST METHOD例文帳に追加

サイクル試験装置及びサイクル試験方法 - 特許庁

DETERIORATION TESTING DEVICE AND DETERIORATION TEST METHOD例文帳に追加

劣化試験装置及び劣化試験方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加

集積回路の試験装置及び方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TESTING METHOD, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

検査装置及び検査方法、集積回路素子の製造方法、集積回路素子 - 特許庁

METHOD FOR TESTING NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

不揮発性半導体メモリの検査方法 - 特許庁

LSI TEST CIRCUIT AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

ＬＳＩテスト回路およびそのテスト方法 - 特許庁

CIRCUIT TESTER AND CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加

回路試験装置および回路試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体試験装置および試験方法 - 特許庁

REFRACTORY TESTING METHOD AND REFRACTORY TESTER例文帳に追加

耐火物の試験方法およびその装置 - 特許庁

TESTING METHOD OF BOARD, TESTING DEVICE OF BOARD, AND MANUFACTURING METHOD OF ELECTRO-OPTICAL DEVICE例文帳に追加

基板の検査方法、基板の検査装置および電気光学装置の製造方法 - 特許庁

DROP TESTING METHOD AND DROP TESTER例文帳に追加

落下試験方法及び落下試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING IC DEVICE ELECTRICALLY例文帳に追加

ＩＣデバイスを電気的にテストする方法 - 特許庁

TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT CHIP例文帳に追加

半導体集積回路チップ試験方法 - 特許庁

MATERIAL TESTING MACHINE AND CALIBRATION METHOD例文帳に追加

材料試験機およびキャリブレーション方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING QUALITY OF SOLID INSULATION CABLE例文帳に追加

固体絶縁ケーブルの品質試験方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING WAFER AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

ウェハおよび半導体装置のテスト方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING IC例文帳に追加

ＩＣ試験装置、及びＩＣ試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING DURABILITY例文帳に追加

耐久性試験方法および試験装置 - 特許庁

TENSILE TESTING METHOD FOR REINFORCED FIBER STRAND例文帳に追加

補強繊維ストランドの引張試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING WATERTIGHT PERFORMANCE OF WATERPROOF SHEET例文帳に追加

防水シートの止水性能試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

半導体装置およびその試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING IC例文帳に追加

ＩＣ試験システム、及びＩＣ試験方法 - 特許庁

CIRCUIT TESTING DEVICE AND ITS OPERATION METHOD例文帳に追加

回路試験装置及びその運用方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置とその試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND ITS CORRECTING METHOD例文帳に追加

半導体試験装置とその補正方法 - 特許庁

DOUBLE JUMPER WIRE TESTING METHOD AND DEVICE THEREOF例文帳に追加

二重ジャンパ線試験方法及び装置 - 特許庁

OPERATION TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC APPARATUS, OPERATION TESTING METHOD AND METHOD OF MANUFACTURING ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

電子装置の動作試験装置、動作試験方法、及び電子装置の製造方法 - 特許庁

CREEP TESTING TOOL AND CREEP TEST METHOD例文帳に追加

クリープ試験治具およびクリープ試験方法 - 特許庁

DIGITAL PAD CIRCUIT TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

デジタルパッド回路試験方法および装置 - 特許庁

ALKALI-SILICA REACTIVITY TESTING METHOD FOR AGGREGATE例文帳に追加

骨材のアルカリシリカ反応性試験方法 - 特許庁

MEMBRANE TANK AND TESTING METHOD FOR AMMONIA LEAKAGE例文帳に追加

メンブレンタンク、及び、アンモニアリーク試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING VACUUM CIRCUIT BREAKER例文帳に追加

真空遮断器試験装置及び方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING SOIL OF ENGINEERING WORK MATERIAL例文帳に追加

土木工事材料の土質試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電子デバイスのテスト装置及びその方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DARK FIBER SUPERVISORY TESTING例文帳に追加

ダークファイバ監視試験方法および装置 - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR NETWORK COMMUNICATION AND METHOD例文帳に追加

ネットワーク通信のテスト装置及び方法 - 特許庁

DETERIORATION TEST METHOD AND DETERIORATION TESTING MACHINE例文帳に追加

劣化試験方法及び劣化試験装置 - 特許庁