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Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5388件
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING ELECTRIFICATION例文帳に追加
帯電試験システムおよび帯電試験方法 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING MULTIPROCESSOR MEMORY例文帳に追加
マルチプロセッサメモリをテストするシステム及び方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING CONTINUITY BETWEEN DEVICES例文帳に追加
装置間導通試験方法および装置 - 特許庁
MONITORING CONTROL SYSTEM AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
監視制御システムおよびその試験方法 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING CONTROL CABLE例文帳に追加
制御ケーブル試験システム及び試験方法 - 特許庁
D/A CONVERTER AND OPERATION TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加
D/Aコンバータ及びその動作テスト方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING A/D CONVERTER例文帳に追加
A/D変換器のテスト装置及び方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING COMPUTER, AND COMPUTER SYSTEM例文帳に追加
コンピュータの試験方法およびコンピュータ・システム - 特許庁
CAMERA, COMMUNICATION SYSTEM, AND TESTING METHOD OF CAMERA例文帳に追加
カメラ、通信システム、及びカメラのテスト方法 - 特許庁
CLUTCH CONTROL DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
クラッチ制御装置およびその試験方法 - 特許庁
DISPLAY PANEL AND DISPLAY PANEL TESTING METHOD例文帳に追加
表示パネルおよび表示パネル検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTER AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体試験装置及びその試験方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加
半導体メモリ試験方法及びその装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の検査装置および方法 - 特許庁
SERIAL INTERFACE CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
シリアルインターフェイス回路及びその試験方法 - 特許庁
ELEVATOR DEVICE AND EMERGENCY STOP TESTING METHOD例文帳に追加
エレベータ装置および非常止め試験方法 - 特許庁
CIRCUIT BOARD TESTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
回路基板の検査装置および検査方法 - 特許庁
WIND TUNNEL TESTING METHOD AND DEVICE FOR VEHICLE例文帳に追加
車両の風洞試験方法及び装置 - 特許庁
METHOD OF TESTING AND VERIFYING VEHICLE SUSPENSION例文帳に追加
車両サスペンションの試験および実証法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING MEDICINE SENSITIVITY AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加
薬剤感受性試験方法及び装置 - 特許庁
RAPID TESTING METHOD FOR DETERMINING DRUG SENSITIVITY例文帳に追加
薬剤感受性試験の迅速判定法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING DUPLEX SUPERVISORY AND CONTROL SYSTEM例文帳に追加
二重化監視制御システムの試験方法 - 特許庁
CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING NON-VOLATILE MEMORY例文帳に追加
不揮発性メモリのテスト回路および方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING TRANSMISSION BELT例文帳に追加
伝動ベルトの試験装置及び試験方法 - 特許庁
METHOD AND KIT FOR RAPIDLY TESTING BACTERIAL GENE例文帳に追加
迅速細菌遺伝子検査法及びキット - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING MATERIAL OF STEEL PLATE例文帳に追加
鋼板の材質試験方法及び装置 - 特許庁
METHOD OF TESTING INTEGRATED CIRCUIT AND CIRCUIT ARRANGEMENT例文帳に追加
集積回路のテスト方法と回路配置 - 特許庁
EARTHQUAKE RESISTANCE TESTING FACILITY AND METHOD THEREOF例文帳に追加
耐震試験設備及び耐震試験方法 - 特許庁
ELECTRONIC BEAM-TESTING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加
電子ビームテストシステム及び電子ビームテスト方法 - 特許庁
PILE TESTING METHOD AND SENSOR PRESS-FITTING DEVICE例文帳に追加
杭検査方法及びセンサー圧着装置 - 特許庁
DEVICE TEST SYSTEM AND DEVICE TESTING METHOD例文帳に追加
装置試験システムおよび装置試験方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING PATTERN AND DATA PROCESSING SYSTEM例文帳に追加
パターン検証方法及びデータ処理システム - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING CHARACTERISTIC OF PM MOTOR例文帳に追加
PMモータの特性試験装置と方法 - 特許庁
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