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Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5388件
TESTING DEVICE, OPTICAL CONNECTION PART AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
試験装置、光接続部、及び製造方法 - 特許庁
BREAKING STRENGTH TESTING METHOD FOR GAS HYDRATE PELLET例文帳に追加
ガスハイドレートペレットの破壊強度の試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE, CONTROL METHOD, AND CONTROL PROGRAM例文帳に追加
試験装置、制御方法、および制御プログラム - 特許庁
METHOD FOR TESTING MOISTURE MOVEMENT CHARACTERISTIC OF FUTON例文帳に追加
ふとんの水分移動特性の試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD OF MAGNETIC HEAD, AND MAGNETIC HEAD TESTER例文帳に追加
磁気ヘッドの検査方法および磁気ヘッドテスタ - 特許庁
IMPACT TESTING DEVICE AND METHOD OF CONVEYOR BELT例文帳に追加
コンベヤベルトの衝撃試験装置および方法 - 特許庁
UNINTERRUPTIBLE POWER SUPPLY AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加
無停電電源装置及びその試験方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING CROSS POINT SWITCH例文帳に追加
クロスポイントスイッチのテスト方法及びテスト装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING MOBILE DEVICE例文帳に追加
移動機試験装置及び移動機試験方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING HARD DISK DRIVE例文帳に追加
ハードディスクドライブのテスト装置及びその方法 - 特許庁
MEASURING DEVICE, MEASURING METHOD, AND TESTING DEVICE例文帳に追加
測定装置、測定方法および試験装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING CRYSTALLINITY OF SEMICONDUCTOR THIN FILM例文帳に追加
半導体薄膜の結晶性検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加
半導体記憶装置及びそのテスト方法 - 特許庁
RADIO BASE STATION TESTING METHOD AND TESTER例文帳に追加
無線基地局試験方法及び試験装置 - 特許庁
UNINTERRUPTIBLE POWER SUPPLY AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
無停電電源装置およびその試験方法 - 特許庁
CRITICALITY ALARMING DEVICE AND TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加
臨界警報装置およびその試験方法 - 特許庁
METHOD FOR RECOGNIZING OR TESTING SECURITIES例文帳に追加
有価証券を認識し又はテストする方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR ELEVATOR EMERGENCY CALL DEVICE例文帳に追加
エレベーター用非常通話装置の試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR CHLORIDE ION DIFFUSION OF CONCRETE例文帳に追加
コンクリートの塩化物イオン拡散試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体記憶装置及びその試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体記憶装置およびその試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD AND TEST BOARD FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加
半導体素子のテスト方法及びテスト基板 - 特許庁
TESTING TOOL AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置のテスト用治具とテスト方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加
半導体試験装置及びその制御方法 - 特許庁
EXTREME-ULTRAVIOLET RAY MICROSCOPE AND TESTING METHOD例文帳に追加
極端紫外線顕微鏡及び検査方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
半導体集積回路装置の試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
半導体集積回路装置の検査方法 - 特許庁
VACUUM BLOOD COLLECTING TUBE AND BLOOD TESTING METHOD例文帳に追加
真空採血管および血液検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING MODE SETTING METHOD例文帳に追加
半導体装置及び試験モード設定方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING MICROCOMPUTER AND MICROCOMPUTER例文帳に追加
マイクロコンピュータの試験方法およびマイクロコンピュータ - 特許庁
METHOD FOR TESTING HYDROGEN RESISTANCE CHARACTERISTIC OF OPTICAL FIBER例文帳に追加
光ファイバの耐水素特性試験方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR CIRCUIT例文帳に追加
半導体回路のテスト方法、及びテスト装置 - 特許庁
CYCLE LIFE TESTING METHOD OF LITHIUM SECONDARY BATTERY例文帳に追加
リチウム二次電池のサイクル寿命検査方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR INSTALLATION OF OVERCURRENT ALARM DEVICE例文帳に追加
過電流警報装置の設置試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND LOADING BOARD例文帳に追加
半導体デバイスの試験方法及びロードボード - 特許庁
CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR TESTING AND CONTACT METHOD例文帳に追加
半導体試験用コンタクタ及びコンタクト方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING MICROORGANISM AND KIT FOR THE SAME例文帳に追加
微生物試験方法及びそのためのキット - 特許庁
INPUT/OUTPUT PORT PART AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
入出力ポート部およびその試験方法 - 特許庁
DISCHARGING PERFORMANCE EVALUATION TESTING METHOD FOR COAL SLAG例文帳に追加
石炭スラグの排出性評価試験方法 - 特許庁
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