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Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5388件
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体集積回路及びその試験方法 - 特許庁
ANALOG/DIGITAL CONVERSION CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
アナログ/デジタル変換回路およびそのテスト方法 - 特許庁
ELECTROLUMINESCENCE PANEL AND PIXEL CURRENT TESTING METHOD例文帳に追加
エレクトロルミネセンスパネル及び画素電流テスト方法 - 特許庁
a method of early pregnancy testing, called the Friedman test 例文帳に追加
フリードマン反応という早期妊娠診断法 - EDR日英対訳辞書
METHOD AND DEVICE OF TESTING VISCOELASTIC BODY例文帳に追加
粘弾性体の試験方法および試験装置 - 特許庁
DURABILITY TEST METHOD AND DURABILITY TESTING MACHINE例文帳に追加
耐久試験方法および耐久試験装置 - 特許庁
X-RAY MEASUREMENT APPARATUS AND SUBJECT TESTING METHOD例文帳に追加
X線測定装置及び検体検査方法 - 特許庁
CIRCUIT BLOCK TESTING METHOD IN INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路における回路ブロック試験方法 - 特許庁
A DEVICE FOR ROTATIONAL ANALYSIS, MEASUREMENT METHOD, AND TESTING METHOD例文帳に追加
回転分析デバイス及び計量方法及び検査方法 - 特許庁
ANSWER DERIVATION COMPETITION METHOD AND POWER OF MEMORY TESTING METHOD例文帳に追加
解答導出競争方法及び記憶力テスト方法 - 特許庁
TESTING DEVICE, TEST METHOD, ELECTRONIC DEVICE AND DEVICE PRODUCTION METHOD例文帳に追加
試験装置、試験方法、電子デバイス、及びデバイス生産方法 - 特許庁
TESTING METHOD OF CMOS INTEGRATED CIRCUIT AND ANALYZING METHOD例文帳に追加
CMOS集積回路の試験方法および解析方法 - 特許庁
SEALED ARTICLE, ITS LEAKAGE TESTING METHOD, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
密閉品並びにその漏れ検査方法及び製造方法 - 特許庁
SILICON SUBSTRATE, METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE, DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加
シリコン基板、デバイスの製造方法、デバイスおよびテスト方法 - 特許庁
DEVICE PACKAGE, AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加
デバイスパッケージ、ならびにその製造方法および試験方法 - 特許庁
DEVICE PACKAGE AND ITS MANUFACTURING METHOD AND TESTING METHOD例文帳に追加
デバイスパッケージ、ならびにその製造方法および試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD AND SPECIFICATION VALUE DETERMINATION METHOD FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加
半導体素子の試験方法及び規格値決定方法 - 特許庁
INTER-HOLE PERMEABILITY TESTING METHOD AND GROUT EFFECT DETERMINING METHOD例文帳に追加
孔間透気試験方法及びグラウト効果判定方法 - 特許庁
CONTACTOR, ITS MANUFACTURING METHOD, AND TESTING METHOD USING CONTACTOR例文帳に追加
コンタクタ、その製造方法及びコンタクタを用いた試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD AND PRODUCTION METHOD FOR DRIVING FORCE TRANSMISSION SYSTEM例文帳に追加
駆動力伝達装置の試験方法及び製造方法 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR TESTING AT LEAST ONE ELECTRONIC CONTROL SYSTEM AND METHOD FOR OPERATING TESTING DEVICE例文帳に追加
少なくとも1つの電子的な制御システムをテストするためのテスト装置並びにテスト装置を作動するための方法 - 特許庁
POINT PENETRATION TESTING MACHINE USING DYNAMIC CONE PENETRATION TESTING MACHINE AND PENETRATION TESTING MACHINE USED FOR THE METHOD例文帳に追加
動的円錘貫入試験機を利用したポイント貫入試験方法と、この方法に使用する貫入試験機 - 特許庁
To provide an address line of flash memory for shortening the testing time, a testing method of a testing device, and the testing device.例文帳に追加
試験時間の短縮化を図ったフラッシュメモリのアドレス線及び試験装置の試験方法及び試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
To provide an immunological testing method of a specimen, constituted so as not only to more symplify an testing method, but also to shorten the testing time and capable of performing accurate diagnosis, and to provide a simple testing instrument used therein.例文帳に追加
検査方法をより簡便にし、検査所要時間を短縮すると共に正確な診断がおこなえる方法及びその検査に用いる簡便な器具の提供。 - 特許庁
PART CONVEYING POSITION CORRECTION METHOD IN PART TESTING DEVICE AND PART TESTING DEVICE例文帳に追加
部品試験装置における部品搬送位置の補正方法および部品試験装置 - 特許庁
TESTING METHOD OF DISPLAY DEVICE, TESTING INSTRUMENT OF DISPLAY DEVICE, DISPLAY DEVICE, AND ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加
表示装置の検査方法、表示装置の検査装置、表示装置及び電子機器 - 特許庁
TESTING METHOD, TESTING CIRCUIT, ELECTROOPTIC DEVICE-USE SUBSTRATE, AND ELECTROOPTIC DEVICE例文帳に追加
検査方法、検査回路及び電気光学装置用基板、並びに電気光学装置 - 特許庁
ELECTRONIC PART TESTING TRAY CONVEYANCE DEVICE, TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF ELECTRONIC PART例文帳に追加
電子部品試験用トレイ搬送装置、電子部品の試験装置および試験方法 - 特許庁
ROLLING/SLIDING FATIGUE LIFE TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR STEEL MATERIALS例文帳に追加
鋼製材料の転がりすべり疲労寿命試験方法およびその試験装置 - 特許庁
SPECIMEN TESTING RESULT COMBINATION METHOD AND SERVER, AND SPECIMEN TESTING RESULT COMBINATION PROGRAM例文帳に追加
検体検査結果結合方法及びサーバ並びに検体検査結果結合プログラム - 特許庁
ACCELERATION TESTING METHOD OF ELASTIC PAVING MATERIAL AND ACCELERATION TESTING MACHINE THEREFOR例文帳に追加
弾性舗装材の促進試験方法およびそれに用いられる促進試験装置 - 特許庁
TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路の試験装置及び半導体集積回路の試験方法 - 特許庁
COMMUNICATION APPARATUS, COMMUNICATION APPARATUS TESTING SYSTEM, SIGNAL PROCESSOR, TESTING METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
通信装置、通信装置試験システム、信号処理装置、試験方法、コンピュータプログラム - 特許庁
TESTING DEVICE OF FILM LOAD BEARING INSULATION AND TESTING METHOD OF FILM LOAD BEARING INSULATION例文帳に追加
フィルムの耐荷重絶縁性試験装置及びフィルムの耐荷重絶縁性試験方法 - 特許庁
AUTOMATIC POLISHING METHOD FOR BEDROCK TESTING SURFACE AND AUTOMATIC POLISHING DEVICE FOR BEDROCK TESTING SURFACE例文帳に追加
岩盤試験面の自動研磨方法および岩盤試験面の自動研磨装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置、半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験装置 - 特許庁
RAILWAY VEHICLE BRAKE PERFORMANCE TESTING MACHINE AND RAILWAY VEHICLE BRAKE PERFORMANCE TESTING METHOD例文帳に追加
鉄道車両ブレーキ性能試験機、及び鉄道車両ブレーキ性能試験方法 - 特許庁
PATTERN INSERTION CIRCUIT FOR OOR TESTING AND PATTERN INSERTION METHOD FOR OOR TESTING例文帳に追加
OOR試験用パターン挿入回路及びOOR試験用パターン挿入方法 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR FILE DEVICE, AND TEST METHOD IN THE TESTING DEVICE FOR FILE DEVICE例文帳に追加
ファイル装置の試験装置及び該ファイル装置の試験装置における試験方法 - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT TESTER HAVING MULTI-PORT TESTING FUNCTION, AND METHOD OF TESTING DEVICE TO BE TESTED例文帳に追加
マルチポート試験機能を持つ集積回路テスタおよび被験デバイスの試験方法 - 特許庁
FRACTURE MECHANICS TESTING METHOD AND TEST OBJECT THEREFOR例文帳に追加
破壊力学的試験方法及びその試験体 - 特許庁
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