「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(35ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR TESTING BURN-IN BOARD AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

バーンインボード及び半導体装置の試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND DEVICE FOR EMERGENCY STOPPING DEVICE例文帳に追加

非常止め装置の試験方法及び試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路及びその試験手法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND ITS PATH DIAGNOSING METHOD例文帳に追加

半導体試験装置とその経路診断方法 - 特許庁

HEAT CYCLE TESTING DEVICE AND HEAT CYCLE TEST METHOD例文帳に追加

熱サイクル試験装置及び熱サイクル試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

試験装置、試験方法、プログラム、及び記録媒体 - 特許庁

AUTOMOBILE SIDE COLLISION TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

自動車の側面衝突試験方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DYNAMICAL FRICTION TESTING OF VULCANIZED RUBBER例文帳に追加

加硫ゴムの動摩擦試験方法及びその装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING CONTINUOUSLY VARIABLE TRANSMISSION例文帳に追加

無段変速機の検査装置および検査方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING VOLTAGE EQUALIZER CIRCUIT例文帳に追加

電圧均等化回路の試験方法及び装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND MEMORY TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路およびメモリのテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING CONDUCTION OF SUBSTRATE FOR SEMICONDUCTOR PACKAGE例文帳に追加

半導体パッケージ用基板の導通検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS WAFER TESTING METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置およびそのウェハーテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体デバイス試験装置とその制御方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING A/D CONVERTER例文帳に追加

Ａ／Ｄコンバータの試験装置および試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND TIMING CALIBRATION METHOD例文帳に追加

半導体試験装置およびタイミング校正方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR ANALOG/DIGITAL CONVERTER, AND CIRCUIT THEREOF例文帳に追加

アナログ／デジタル変換器テスト方法、及びその回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM例文帳に追加

半導体試験方法および半導体テストシステム - 特許庁

a method of testing for tuberculosis, called tuberculin test 例文帳に追加

ツベルクリン反応という,結核感染の判定法 - EDR日英対訳辞書

DEVICE AND METHOD FOR TESTING MAGNETIC RECORDING MEDIUM例文帳に追加

磁気記録媒体の試験装置及び試験方法 - 特許庁

TEST ARRAY AND METHOD FOR TESTING MEMORY ARRAY例文帳に追加

メモリアレイをテストするためのテストアレイおよび方法 - 特許庁

NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD OF TESTING SAME例文帳に追加

不揮発性半導体メモリ及びそのテスト方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING MODEL STRUCTURE例文帳に追加

模型構造物の試験装置とその試験方法 - 特許庁

BLOOD TESTING EQUIPMENT AND TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

血液検査装置とこれを用いた検査方法 - 特許庁

PING TESTER, PING TESTING METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

ｐｉｎｇ試験機、ｐｉｎｇ試験方法およびプログラム - 特許庁

CONTACT SHEET FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT, DEVICE FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT, METHOD FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT, METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRONIC COMPONENT, AND ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

電子部品のテスト用コンタクトシート、電子部品のテスト装置、電子部品のテスト方法及び電子部品の製造方法、及び電子部品 - 特許庁

EXPOSURE SYSTEM, METHOD OF TESTING EXPOSURE APPARATUS, AND METHOD OF MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

露光システム、露光装置のテスト方法及びデバイス製造方法 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL, AND MANUFACTURING METHOD AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

液晶表示パネルとその製造方法及びその検査方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING PATTERN AND METHOD OF MANUFACTURING MASK例文帳に追加

パターン検査方法、パターン検査装置およびマスクの製造方法 - 特許庁

STORAGE DEVICE, METHOD FOR TESTING BUS, AND METHOD FOR SWITCHING DATA TRANSFER MODE例文帳に追加

記憶装置、バステスト方法、及びデータ転送モード切替方法 - 特許庁

PHOTOMASK FOR TESTING, METHOD OF EVALUATION ON FLARE, AND METHOD OF CORRECTION FOR FLARE例文帳に追加

試験用フォトマスク、フレア評価方法、及びフレア補正方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体集積回路装置の製造方法およびテスト方法 - 特許庁

HARD MACRO TEST CIRCUIT, TESTING METHOD THEREFOR, AND METHOD OF GENERATING TEST PATTERN例文帳に追加

ハードマクロテスト回路、そのテスト方法およびテストパタン生成方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD OF TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体装置、その製造方法およびその検査方法 - 特許庁

CLEANING METHOD FOR PROBE PIN, AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

プローブピンのクリーニング方法及び半導体チップの試験方法 - 特許庁

CELL HOLDING METHOD, CELL TESTING METHOD AND CELL TREATING DEVICE例文帳に追加

細胞保持方法、細胞試験方法及び細胞処理装置 - 特許庁

METHOD FOR FORMING SCAN CHAIN AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

スキャンチェーンの形成方法および集積回路の試験方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM TESTER, TESTING METHOD, ELECTRON BEAM DEVICE AND OBSERVING METHOD例文帳に追加

電子ビームテスタ、試験方法、電子ビーム装置、及び観察方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS MANUFACTURING METHOD, AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路および製造方法並びにテスト方法 - 特許庁

OBJECT TESTING DEVICE, OBJECT TESTING METHOD AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM HAVING OBJECT TESTING PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加

オブジェクト試験装置及びオブジェクト試験方法及びオブジェクト試験プログラムを記録したコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

TESTING ITEM EXTRACTION SYSTEM, TESTING ITEM EXTRACTION DEVICE, TESTING ITEM EXTRACTION METHOD USED FOR THE DEVICE, AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

テスト項目抽出システム、テスト項目抽出装置、及びそれに用いるテスト項目抽出方法並びにそのプログラム - 特許庁

COMPACT APPARATUS AND METHOD FOR TESTING MATERIAL例文帳に追加

小型材料試験装置および材料試験方法 - 特許庁

IMAGE FORMING DEVICE AND CUSTOMIZATION PROGRAM TESTING METHOD例文帳に追加

画像形成装置およびカスタマイズプログラム試験方法 - 特許庁

FUEL CELL POWER GENERATION SYSTEM AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

燃料電池発電システムおよびその試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING MONITORING CONTROL SYSTEM例文帳に追加

監視制御システムの試験装置及び試験方法 - 特許庁